CN221631567U - 一种针对分立器件电路测试板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种针对分立器件电路测试板,包括若干板卡测试槽位,板卡测试槽位内置板卡测试电路,板卡测试电路包括若干滤波电容、若干滤波电阻以及跳线电路,滤波电容、滤波电阻以及跳线电路分别连接于板卡测试槽位的不同测试引脚;跳线电路包括测试引脚插孔、高电位引脚插孔和低电位引脚插孔;若干电压信号输入电路,分别与各个板卡测试槽位连接,用于接收外部输入的电压源信号并输入至各个板卡测试槽位;在第一测试状态下,测试引脚插孔和高电位引脚插孔跳线连接,跳线电路连接的测试引脚接收高电位信号;在第二测试状态下,测试引脚插孔和低电位引脚插孔跳线连接,跳线电路连接的测试引脚接收低电位信号。本实用新型可以板片测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试板技术领域,特别涉及一种针对分立器件电路测试板。
背景技术
高电路是验证承受规定条件的产品在整个工作时间内的质量或可靠性的测试电路,通过对电路器件持续施加电加压,来加速电路器件内部物理、化学反应过程,用来剔除有制造缺陷的器件。
而目前器件封装种类繁多,针对不同的HAST设备所需插入方式不同,从而需要制作不同的测试板来满足不同设备的测试需求。
因此目前需要一种针对分立器件电路测试板,提高板片测试效率,节约成本投入。
实用新型内容
为解决不同测试环境下需要制造不同测试板片的技术问题,本实用新型提供一种针对分立器件电路测试板,具体的技术方案如下:
本实用新型提供一种针对分立器件电路测试板,包括:
若干板卡测试槽位,所述板卡测试槽位内置板卡测试电路,所述板卡测试电路包括若干滤波电容、若干滤波电阻以及跳线电路,所述滤波电容、所述滤波电阻以及所述跳线电路分别连接于所述板卡测试槽位的不同测试引脚;
所述跳线电路包括测试引脚插孔、高电位引脚插孔和低电位引脚插孔;
若干电压信号输入电路,分别与各个所述板卡测试槽位连接,用于接收外部输入的电压源信号并输入至各个所述板卡测试槽位;
在第一测试状态下,所述测试引脚插孔和所述高电位引脚插孔跳线连接,所述跳线电路连接的所述测试引脚接收高电位信号;
在第二测试状态下,所述测试引脚插孔和所述低电位引脚插孔跳线连接,所述跳线电路连接的所述测试引脚接收低电位信号。
本实用新型通过设置若干板卡测试槽位以及电压信号输入电路,调整不同板卡测试槽位中板卡测试电路的跳线电路引脚连接关系即可实现针对不同测试环境的模拟,节约测试成本提高测试效率。
在一些实施方式中,所述板卡测试槽位包括第一测试输入端、第二测试输入端、第三测试输入端和接地端;
所述第一测试输入端、所述第二测试输入端、所述第三测试输入端分别连接至不同所述电压信号输入电路,接收不同所述电压信号输入电路输入的电压信号。
在一些实施方式中,本实用新型提供的一种针对分立器件电路测试板,还包括若干测试信号输入电路,
若干所述测试信号输入电路分别与所述第一测试输入端、所述第二测试输入端和所述第三测试输入端连接,向所述第一测试输入端、所述第二测试输入端和所述第三测试输入端输入测试信号;
在一些实施方式中,所述测试信号输入电路包括:
测试信号输入端;
第一保险丝,与所述测试信号输入端连接;
第一滤波回路,与所述第一保险丝串联并接地,所述第一滤波回路内包括若干相互并联的滤波电容;
测试信号输出端,与所述第一滤波回路连接,向所述板卡测试槽位传输所述测试信号。
在一些实施方式中,各个所述电压信号输入电路包括:
电压信号输入端,接收外部输入的电压信号;
至少一个连接器,每个所述连接器通过若干连接插头与所述板卡测试槽位连接;
第二保险丝,串联连接于所述电压信号输入端和所述连接器之间;
第二滤波回路,与所述第二保险丝串联,所述第二滤波回路包括并联的若干滤波电容和滤波电阻,所述滤波电容与所述第二保险丝串联接地;
发光二极管,与所述电压信号输入端串联接地。
在一些实施方式中,所述电压信号输入电路与所述板卡测试槽位之间,还包括:
第三保险丝,与所述电压信号输入电路连接;
第三滤波回路,与所述第三保险丝连接并接地,向所述板卡测试槽位传输经过所述第三滤波回路滤波后的电压信号。
在一些实施方式中,所述电压信号输入电路包括第一电压信号输入电路、第二电压信号输入电路和第三电压信号输入电路;
所述第一电压信号输入电路与所述第一测试输入端连接,所述第二电压信号输入电路与所述第二测试输入端连接,所述第三电压信号输入电路与所述第三测试输入端连接;
所述第一电压信号输入电路输入18V电压,所述第二电压信号输入电路输入5.5V电压,所述第三电压信号输入电路输入1.8V电压。
本实用新型提供的针对分立器件电路测试板的技术效果如下:通过设置若干板卡测试槽位以及电压信号输入电路,调整不同板卡测试槽位中板卡测试电路的跳线电路引脚连接关系即可实现针对不同测试环境的模拟,节约测试成本提高测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型一种针对分立器件电路测试板的示例图;
图2为本实用新型一种针对分立器件电路测试板中板卡测试槽位的示例图;
图3为本实用新型一种针对分立器件电路测试板中电压信号输入电路的示例图;
图4为本实用新型一种针对分立器件电路测试板中板卡测试电路的示例图;
图5为本实用新型一种针对分立器件电路测试板中板卡测试槽位的具体示例图;
图6为本实用新型一种针对分立器件电路测试板中测试信号输入电路的示例图;
图7为本实用新型一种针对分立器件电路测试板中第三保险丝和第三滤波回路的示例图;
图8为本实用新型一种针对分立器件电路测试板中电压信号输入电路的具体示例图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其他实施例中也可以实现本申请。在其他情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所述描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或集合的存在或添加。
为使图面简洁,各图中只示意性地表示出了与本实用新型相关的部分,它们并不代表其作为产品的实际结构。另外,以使图面简洁便于理解,在有些图中具有相同结构或功能的部件,仅示意性地绘出了其中的一个,或仅标出了其中的一个。在本文中,“一个”不仅表示“仅此一个”,也可以表示“多于一个”的情形。
还应当进一步理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
另外,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对照附图说明本实用新型的具体实施方式。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图,并获得其他的实施方式。
本实用新型的一个实施例,如图1、图2、图3所示,本实用新型提供一种针对分立器件电路测试板,包括若干板卡测试槽位SITE1-SITE128以及若干电压信号输入电路,若干板卡测试槽位SITE1-SITE128和若干电压信号输入电路均设置于测试板板面上。
板卡测试槽位SITE1-SITE128内置板卡测试电路,其中一种板卡测试电路如图4所示,板卡测试电路包括若干滤波电容C25-C62、若干滤波电阻R5-R17以及跳线电路J7-J10,滤波电容C25-C62、滤波电阻R5-R17以及跳线电路J7-J10分别连接于板卡测试槽位的不同测试引脚,具体测试引脚连接关系设置需要根据待测板卡的型号设置。
其中,如图4所示,跳线电路包括测试引脚插孔2、高电位引脚插孔1和低电位引脚插孔3。
如图3所示,若干电压信号输入电路分别与各个板卡测试槽位连接,用于接收外部输入的电压源信号并输入至各个板卡测试槽位,在第一测试状态下,测试引脚插孔和高电位引脚插孔跳线连接,跳线电路连接的测试引脚接收高电位信号;在第二测试状态下,测试引脚插孔和低电位引脚插孔跳线连接,跳线电路连接的测试引脚接收低电位信号。
本实用新型通过设置若干板卡测试槽位以及电压信号输入电路,调整不同板卡测试槽位中板卡测试电路的跳线电路引脚连接关系即可实现针对不同测试环境的模拟,节约测试成本提高测试效率。
在一个实施例中,如图5所示,板卡测试槽位包括第一测试输入端PS1、第二测试输入端PS2、第三测试输入端PS3和接地端GND;第一测试输入端PS1、第二测试输入端PS2、第三测试输入端PS3分别连接至不同电压信号输入电路,接收不同电压信号输入电路输入的电压信号。
在一个实施例中,如图6所示,本实用新型提供的一种针对分立器件电路测试板,还包括若干测试信号输入电路,若干测试信号输入电路分别与第一测试输入端PS1、第二测试输入端PS2和第三测试输入端PS3连接,向第一测试输入端PS1、第二测试输入端PS2和第三测试输入端PS3输入测试信号。
在一个实施例中,如图6所示,测试信号输入电路包括测试信号输入端、第一保险丝F1-F3和第一滤波回路。
其中,第一保险丝F1-F3与测试信号输入端连接,第一滤波回路与第一保险丝F1-F3串联并接地,第一滤波回路内包括若干相互并联的滤波电容C19-C24;测试信号输出端与第一滤波回路连接,向板卡测试槽位SITE1-SITE128传输测试信号。
在一个实施例中,如图3所示,各个电压信号输入电路包括电压信号输入端、至少一个连接器WJ1-WJ2、第二保险丝WPF1、第二滤波回路和发光二极管ZD1RED,其中电压信号输入端接收外部输入的电压信号;每个连接器通过若干连接插头与板卡测试槽位SITE1-SITE128中对应槽位连接;第二保险丝WPF1串联连接于电压信号输入端和连接器之间;第二滤波回路与第二保险丝WPF1串联,第二滤波回路包括并联的若干滤波电容WPC1-WPC3和滤波电阻WR1,滤波电容WPC1-WPC3与第二保险丝WPF1串联接地;发光二极管ZD1RED与电压信号输入端串联接地。
在一个实施例中,如图7所示,电压信号输入电路与板卡测试槽位SITE1-SITE128之间,还包括第三保险丝PF1-PF3和第三滤波回路,其中第三保险丝PF1-PF3与电压信号输入电路连接;第三滤波回路与第三保险丝PF1-PF3连接并接地,向板卡测试槽位SITE1-SITE128传输经过第三滤波回路滤波后的电压信号。
在一个实施例中,如图8所示,电压信号输入电路包括第一电压信号输入电路、第二电压信号输入电路和第三电压信号输入电路;第一电压信号输入电路与第一测试输入端连接,第二电压信号输入电路与第二测试输入端连接,第三电压信号输入电路与第三测试输入端连接;第一电压信号输入电路输入18V电压,第二电压信号输入电路输入5.5V电压,第三电压信号输入电路输入1.8V电压。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详细描述或记载的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的一种针对分立器件电路测试板,可以通过其他的方式实现。例如,以上所描述的一种针对分立器件电路测试板实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如,多个单元或模块可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的通讯连接或集成电路,可以是电性、机械或其他的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可能集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
应当说明的是,以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (7)
1.一种针对分立器件电路测试板,其特征在于,包括:
若干板卡测试槽位,所述板卡测试槽位内置板卡测试电路,所述板卡测试电路包括若干滤波电容、若干滤波电阻以及跳线电路,所述滤波电容、所述滤波电阻以及所述跳线电路分别连接于所述板卡测试槽位的不同测试引脚;
所述跳线电路包括测试引脚插孔、高电位引脚插孔和低电位引脚插孔;
若干电压信号输入电路,分别与各个所述板卡测试槽位连接,用于接收外部输入的电压源信号并输入至各个所述板卡测试槽位;
在第一测试状态下,所述测试引脚插孔和所述高电位引脚插孔跳线连接,所述跳线电路连接的所述测试引脚接收高电位信号;
在第二测试状态下,所述测试引脚插孔和所述低电位引脚插孔跳线连接,所述跳线电路连接的所述测试引脚接收低电位信号。
2.根据权利要求1所述的一种针对分立器件电路测试板,其特征在于,
所述板卡测试槽位包括第一测试输入端、第二测试输入端、第三测试输入端和接地端;
所述第一测试输入端、所述第二测试输入端、所述第三测试输入端分别连接至不同所述电压信号输入电路,接收不同所述电压信号输入电路输入的电压信号。
3.根据权利要求2所述的一种针对分立器件电路测试板,其特征在于,还包括若干测试信号输入电路,
若干所述测试信号输入电路分别与所述第一测试输入端、所述第二测试输入端和所述第三测试输入端连接,向所述第一测试输入端、所述第二测试输入端和所述第三测试输入端输入测试信号。
4.根据权利要求3所述的一种针对分立器件电路测试板,其特征在于,所述测试信号输入电路包括:
测试信号输入端;
第一保险丝,与所述测试信号输入端连接;
第一滤波回路,与所述第一保险丝串联并接地,所述第一滤波回路内包括若干相互并联的滤波电容;
测试信号输出端,与所述第一滤波回路连接,向所述板卡测试槽位传输所述测试信号。
5.根据权利要求1所述的一种针对分立器件电路测试板,其特征在于,各个所述电压信号输入电路包括:
电压信号输入端,接收外部输入的电压信号;
至少一个连接器,每个所述连接器通过若干连接插头与所述板卡测试槽位连接;
第二保险丝,串联连接于所述电压信号输入端和所述连接器之间;
第二滤波回路,与所述第二保险丝串联,所述第二滤波回路包括并联的若干滤波电容和滤波电阻,所述滤波电容与所述第二保险丝串联接地;
发光二极管,与所述电压信号输入端串联接地。
6.根据权利要求1所述的一种针对分立器件电路测试板,其特征在于,所述电压信号输入电路与所述板卡测试槽位之间,还包括:
第三保险丝,与所述电压信号输入电路连接;
第三滤波回路,与所述第三保险丝连接并接地,向所述板卡测试槽位传输经过所述第三滤波回路滤波后的电压信号。
7.根据权利要求2所述的一种针对分立器件电路测试板,其特征在于,
所述电压信号输入电路包括第一电压信号输入电路、第二电压信号输入电路和第三电压信号输入电路;
所述第一电压信号输入电路与所述第一测试输入端连接,所述第二电压信号输入电路与所述第二测试输入端连接,所述第三电压信号输入电路与所述第三测试输入端连接;
所述第一电压信号输入电路输入18V电压,所述第二电压信号输入电路输入5.5V电压,所述第三电压信号输入电路输入1.8V电压。
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