CN221280943U - 一种集成电路芯片的外观检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及集成电路芯片技术领域，具体为一种集成电路芯片的外观检测装置，包括工作台，所述工作台的表面安装有控制面板，所述工作台的一端固定有支撑架，所述工作台的表面设置有检测盘，所述所述支撑架的表面安装有摄像头，所述检测盘的表面皆设置有吸附固定机构，所述吸附固定机构由吸附固定组件和定位板组成，所述摄像头的外侧设置有照明机构，所述照明机构由照明组件、安装板和紧固螺栓组成，所述检测盘的底部设置有步进旋转机构，所述步进旋转机构由步进旋转构件和步进电机组成。本实用新型不仅提高了检测装置固定集成电路芯片时的便利程度，提高了检测装置使用时的工作效率，而且提高了检测装置使用时拍摄的清晰程度。

Description

一种集成电路芯片的外观检测装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路芯片技术领域，具体为一种集成电路芯片的外观检测装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件瓦整件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管电阻电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管克内，成为具有所需电路功能的微型结构，集成电路在生产完成后需对外观进行检测。

集成电路芯片在固定时一般通过夹块固定，较为繁琐，从而影响了检测装置固定集成电路芯片时的便利程度；检测装置在对集成电路芯片检测时一般仅一个检测工位，检测较为缓慢，从而降低了检测装置使用时的工作效率；检测装置一般通过摄像头对集成电路芯片进行拍摄进行外观检测，摄像头拍摄时容易受光线影响导致拍摄的清晰度较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成电路芯片的外观检测装置，以解决上述背景技术中提出检测装置固定集成电路芯片时的便利程度低，工作效率低，以及容易受光线影响导致拍摄的清晰度较低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路芯片的外观检测装置，包括工作台，所述工作台的表面安装有控制面板，所述工作台的一端固定有支撑架，所述工作台的表面设置有检测盘，所述所述支撑架的表面安装有摄像头，所述摄像头的输入端与控制面板的输出端电性连接，所述摄像头位于检测盘的上方，所述检测盘的表面皆设置有吸附固定机构，所述吸附固定机构由吸附固定组件和定位板组成，所述摄像头的外侧设置有照明机构，所述照明机构由照明组件、安装板和紧固螺栓组成，所述检测盘的底部设置有步进旋转机构，所述步进旋转机构由步进旋转构件和步进电机组成。

优选的，所述检测盘的表面沿周向固定有定位板，所述定位板的结构为L型结构，所述检测盘的表面皆设置有吸附固定组件，所述吸附固定组件位于定位板的一侧。

优选的，所述吸附固定组件的内部包括有空腔、活塞部、吸附孔和吹气管，所述检测盘的表面皆开设有吸附孔，所述检测盘的内部沿周向开设有空腔，所述空腔与吸附孔相连通。

优选的，所述空腔的内部设置有活塞部，所述活塞部与空腔相互滑动配合，所述活塞部的一端延伸至检测盘的外侧，所述活塞部的结构类似于注射针管内部的推杆结构，所述活塞部一端与空腔内壁的摩擦力较大，所述检测盘的表面沿周向固定有吹气管，所述吹气管与空腔相连通，所述吹气管的另一端位于检测盘的上方。

优选的，所述摄像头的外侧设置有照明组件，所述照明组件表面的两侧皆固定有安装板，所述安装板的表面螺纹连接有紧固螺栓，所述紧固螺栓的一端贯穿安装板并与支撑架的表面螺纹紧固。

优选的，所述照明组件的内部设置有灯架和灯珠，所述摄像头的外侧设置有灯架，所述灯架的表面与安装板的表面相固定连接，所述灯架的底部皆安装有灯珠，所述灯珠的输入端与控制面板的输出端电性连接。

优选的，所述检测盘的底部安装有步进旋转构件，所述步进旋转构件通过步进电机进行驱动，所述步进电机的输入端与控制面板的输出端电性连接。

优选的，所述步进旋转构件的内部包括有推动块、扇型板、转盘、弧型槽和U型槽，所述步进电机的输出端通过联轴器固定有转轴，所述转轴的表面固定有推动块，所述推动块的上方设置有扇型板，所述扇型板与转轴的表面相固定连接。

优选的，所述检测盘的底部固定有转盘，所述转盘与工作台的表面相互转动连接，所述转盘的边缘位置处沿周向开设有四个弧型槽，所述弧型槽与扇型板相互配合，所述弧型槽之间设置有U型槽，所述U型槽开设在转盘的表面，所述U型槽与推动块相互配合。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该集成电路芯片的外观检测装置不仅提高了检测装置固定集成电路芯片时的便利程度，提高了检测装置使用时的工作效率，而且提高了检测装置使用时拍摄的清晰程度；

1.通过设置有吸附固定机构，将待检测的集成电路芯片放至检测盘的表面，使集成电路芯片的拐角与定位板的拐角接触，对集成电路芯片进行快速定位放置，此时，集成电路芯片将吸附孔遮挡，此时，可拉动活塞部，使活塞部将吸附孔与空腔内部的空气抽出，使空腔形成负压，将集成电路芯片进行吸附固定，同时，气体通过吹气管排出，可对集成电路芯片表面的灰尘进行吹落，由于活塞部的结构类似于注射针管内部，使活塞部与空腔内壁的摩擦力较大，不会自动移动，以实现检测装置对集成电路芯片的吸附固定功能，从而提高了检测装置固定集成电路芯片时的便利程度；

2.通过设置有步进旋转机构，通过操作控制面板，使控制面板控制步进电机工作，在步进电机的作用下带动推动块与扇型板旋转，在推动块与U型槽、扇型板与弧型槽的配合下使转盘九十度步进旋转，使一侧的集成电路芯片运动至摄像头下方，可在取下检测完成的集成电路芯片同时对另一个集成电路芯片进行检测，以实现检测装置的多工位检测功能，从而提高了检测装置使用时的工作效率；

3.通过设置有照明机构，在摄像头的作用下对集成电路芯片的外观进行拍摄，并将影像传至控制面板表面的显示屏表面，方便工作人员对集成电路芯片的外观进行检测，同时，灯架通过安装板和紧固螺栓固定在支撑架的表面，并位于摄像头的外侧，在摄像头检测时可将灯珠开启进行照明，方便摄像头拍摄更为清晰，以实现检测装置的照明功能，从而提高了检测装置使用时拍摄的清晰程度。

附图说明

图1为本实用新型的三维外观结构示意图；

图2为本实用新型的主视剖面结构示意图；

图3为本实用新型的检测盘俯视结构示意图；

图4为本实用新型的步进旋转构件俯视放大结构示意图。

图中：1、工作台；101、控制面板；102、支撑架；103、检测盘；104、摄像头；2、吸附固定机构；201、吸附固定组件；2011、空腔；2012、活塞部；2013、吸附孔；2014、吹气管；202、定位板；3、照明机构；301、照明组件；3011、灯架；3012、灯珠；302、安装板；303、紧固螺栓；4、步进旋转机构；401、步进旋转构件；4011、推动块；4012、扇型板；4013、转盘；4014、弧型槽；4015、U型槽；402、步进电机。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，此外，术语“第一”、“第二”、“第三”“上、下、左、右”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。同时，在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电性连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供的一种集成电路芯片的外观检测装置的结构如图1和图2所示，包括工作台1，工作台1的表面安装有控制面板101，该控制面板101的内部嵌入设置有锂电池和处理器，处理器包括放大管、保护电阻Rm、滤波器、A/D转换器和单片机，传感器和保护电阻Rm并联放大管后与滤波器串联，并通过A/D转换器将信号转换后发送至单片机，显示屏接收单片机发出的处理信号，工作台1的一端固定有支撑架102，工作台1的表面设置有检测盘103，支撑架102的表面安装有摄像头104，摄像头104的输入端与控制面板101的输出端电性连接，摄像头104位于检测盘103的上方。

进一步地，如图3所示，检测盘103的表面皆设置有吸附固定机构2，吸附固定机构2由吸附固定组件201和定位板202组成，检测盘103的表面沿周向固定有定位板202，定位板202的结构为L型结构，检测盘103的表面皆设置有吸附固定组件201，吸附固定组件201位于定位板202的一侧，吸附固定组件201的内部包括有空腔2011、活塞部2012、吸附孔2013和吹气管2014，检测盘103的表面皆开设有吸附孔2013，检测盘103的内部沿周向开设有空腔2011，空腔2011与吸附孔2013相连通，空腔2011的内部设置有活塞部2012，活塞部2012与空腔2011相互滑动配合，活塞部2012的一端延伸至检测盘103的外侧，活塞部2012的结构类似于注射针管内部的推杆结构，活塞部2012一端与空腔2011内壁的摩擦力较大，检测盘103的表面沿周向固定有吹气管2014，吹气管2014与空腔2011相连通，吹气管2014的另一端位于检测盘103的上方。

使用时，将待检测的集成电路芯片放至检测盘103的表面，使集成电路芯片的拐角与定位板202的拐角接触，对集成电路芯片进行快速定位放置，此时，集成电路芯片将吸附孔2013遮挡，此时，可拉动活塞部2012，使活塞部2012将吸附孔2013与空腔2011内部的空气抽出，使空腔2011形成负压，将集成电路芯片进行吸附固定，同时，气体通过吹气管2014排出，可对集成电路芯片表面的灰尘进行吹落，由于活塞部2012的结构类似于注射针管内部，使活塞部2012与空腔2011内壁的摩擦力较大，不会自动移动，以实现检测装置对集成电路芯片的吸附固定功能。

进一步地，如图2所示，摄像头104的外侧设置有照明机构3，照明机构3由照明组件301、安装板302和紧固螺栓303组成，摄像头104的外侧设置有照明组件301，照明组件301表面的两侧皆固定有安装板302，安装板302的表面螺纹连接有紧固螺栓303，紧固螺栓303的一端贯穿安装板302并与支撑架102的表面螺纹紧固，照明组件301的内部设置有灯架3011和灯珠3012，摄像头104的外侧设置有灯架3011，灯架3011的表面与安装板302的表面相固定连接，灯架3011的底部皆安装有灯珠3012，灯珠3012的输入端与控制面板101的输出端电性连接。

使用时，在摄像头104的作用下对集成电路芯片的外观进行拍摄，并将影像传至控制面板101表面的显示屏表面，方便工作人员对集成电路芯片的外观进行检测，同时，灯架3011通过安装板302和紧固螺栓303固定在支撑架102的表面，并位于摄像头104的外侧，在摄像头104检测时可将灯珠3012开启进行照明，方便摄像头104拍摄更为清晰，以实现检测装置的照明功能。

进一步地，如图4所示，检测盘103的底部设置有步进旋转机构4，步进旋转机构4由步进旋转构件401和步进电机402组成，检测盘103的底部安装有步进旋转构件401，步进旋转构件401通过步进电机402进行驱动，该步进电机402的型号可选用ZX系列，步进电机402的输入端与控制面板101的输出端电性连接，步进旋转构件401的内部包括有推动块4011、扇型板4012、转盘4013、弧型槽4014和U型槽4015，步进电机402的输出端通过联轴器固定有转轴，转轴的表面固定有推动块4011，推动块4011的上方设置有扇型板4012，扇型板4012与转轴的表面相固定连接，检测盘103的底部固定有转盘4013，转盘4013与工作台1的表面相互转动连接，转盘4013的边缘位置处沿周向开设有四个弧型槽4014，弧型槽4014与扇型板4012相互配合，弧型槽4014之间设置有U型槽4015，U型槽4015开设在转盘4013的表面，U型槽4015与推动块4011相互配合。

使用时，通过操作控制面板101，使控制面板101控制步进电机402工作，在步进电机402的作用下带动推动块4011与扇型板4012旋转，在推动块4011与U型槽4015、扇型板4012与弧型槽4014的配合下使转盘4013九十度步进旋转，使一侧的集成电路芯片运动至摄像头104下方，可在取下检测完成的集成电路芯片同时对另一个集成电路芯片进行检测，以实现检测装置的多工位检测功能。

工作原理：使用时，首先将待检测的集成电路芯片放至检测盘103的表面，使集成电路芯片的拐角与定位板202的拐角接触，对集成电路芯片进行快速定位放置，此时，集成电路芯片将吸附孔2013遮挡，此时，可拉动活塞部2012，使活塞部2012将吸附孔2013与空腔2011内部的空气抽出，使空腔2011形成负压，将集成电路芯片进行吸附固定，同时，气体通过吹气管2014排出，可对集成电路芯片表面的灰尘进行吹落，由于活塞部2012的结构类似于注射针管内部，使活塞部2012与空腔2011内壁的摩擦力较大，不会自动移动，以实现检测装置对集成电路芯片的吸附固定功能，从而提高了检测装置固定集成电路芯片时的便利程度。

随后在摄像头104的作用下对集成电路芯片的外观进行拍摄，并将影像传至控制面板101表面的显示屏表面，方便工作人员对集成电路芯片的外观进行检测，同时，灯架3011通过安装板302和紧固螺栓303固定在支撑架102的表面，并位于摄像头104的外侧，在摄像头104检测时可将灯珠3012开启进行照明，方便摄像头104拍摄更为清晰，以实现检测装置的照明功能，从而提高了检测装置使用时拍摄的清晰程度。

待一个集成电路芯片检测完成后，可通过操作控制面板101，使控制面板101控制步进电机402工作，在步进电机402的作用下带动推动块4011与扇型板4012旋转，在推动块4011与U型槽4015、扇型板4012与弧型槽4014的配合下使转盘4013九十度步进旋转，使一侧的集成电路芯片运动至摄像头104下方，可在取下检测完成的集成电路芯片同时对另一个集成电路芯片进行检测，以实现检测装置的多工位检测功能，从而提高了检测装置使用时的工作效率，最终完成检测装置的使用工作。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (9)

1.一种集成电路芯片的外观检测装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的表面安装有控制面板(101)，所述工作台(1)的一端固定有支撑架(102)，所述工作台(1)的表面设置有检测盘(103)，所述支撑架(102)的表面安装有摄像头(104)，所述摄像头(104)的输入端与控制面板(101)的输出端电性连接，所述摄像头(104)位于检测盘(103)的上方，所述检测盘(103)的表面皆设置有吸附固定机构(2)，所述吸附固定机构(2)由吸附固定组件(201)和定位板(202)组成，所述摄像头(104)的外侧设置有照明机构(3)，所述照明机构(3)由照明组件(301)、安装板(302)和紧固螺栓(303)组成，所述检测盘(103)的底部设置有步进旋转机构(4)，所述步进旋转机构(4)由步进旋转构件(401)和步进电机(402)组成。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的外观检测装置，其特征在于：所述检测盘(103)的表面沿周向固定有定位板(202)，所述定位板(202)的结构为L型结构，所述检测盘(103)的表面皆设置有吸附固定组件(201)，所述吸附固定组件(201)位于定位板(202)的一侧。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片的外观检测装置，其特征在于：所述吸附固定组件(201)的内部包括有空腔(2011)、活塞部(2012)、吸附孔(2013)和吹气管(2014)，所述检测盘(103)的表面皆开设有吸附孔(2013)，所述检测盘(103)的内部沿周向开设有空腔(2011)，所述空腔(2011)与吸附孔(2013)相连通。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路芯片的外观检测装置，其特征在于：所述空腔(2011)的内部设置有活塞部(2012)，所述活塞部(2012)与空腔(2011)相互滑动配合，所述活塞部(2012)的一端延伸至检测盘(103)的外侧，所述活塞部(2012)的结构类似于注射针管内部的推杆结构，所述活塞部(2012)一端与空腔(2011)内壁的摩擦力较大，所述检测盘(103)的表面沿周向固定有吹气管(2014)，所述吹气管(2014)与空腔(2011)相连通，所述吹气管(2014)的另一端位于检测盘(103)的上方。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的外观检测装置，其特征在于：所述摄像头(104)的外侧设置有照明组件(301)，所述照明组件(301)表面的两侧皆固定有安装板(302)，所述安装板(302)的表面螺纹连接有紧固螺栓(303)，所述紧固螺栓(303)的一端贯穿安装板(302)并与支撑架(102)的表面螺纹紧固。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路芯片的外观检测装置，其特征在于：所述照明组件(301)的内部设置有灯架(3011)和灯珠(3012)，所述摄像头(104)的外侧设置有灯架(3011)，所述灯架(3011)的表面与安装板(302)的表面相固定连接，所述灯架(3011)的底部皆安装有灯珠(3012)，所述灯珠(3012)的输入端与控制面板(101)的输出端电性连接。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片的外观检测装置，其特征在于：所述检测盘(103)的底部安装有步进旋转构件(401)，所述步进旋转构件(401)通过步进电机(402)进行驱动，所述步进电机(402)的输入端与控制面板(101)的输出端电性连接。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路芯片的外观检测装置，其特征在于：所述步进旋转构件(401)的内部包括有推动块(4011)、扇型板(4012)、转盘(4013)、弧型槽(4014)和U型槽(4015)，所述步进电机(402)的输出端通过联轴器固定有转轴，所述转轴的表面固定有推动块(4011)，所述推动块(4011)的上方设置有扇型板(4012)，所述扇型板(4012)与转轴的表面相固定连接。

9.根据权利要求8所述的一种集成电路芯片的外观检测装置，其特征在于：所述检测盘(103)的底部固定有转盘(4013)，所述转盘(4013)与工作台(1)的表面相互转动连接，所述转盘(4013)的边缘位置处沿周向开设有四个弧型槽(4014)，所述弧型槽(4014)与扇型板(4012)相互配合，所述弧型槽(4014)之间设置有U型槽(4015)，所述U型槽(4015)开设在转盘(4013)的表面，所述U型槽(4015)与推动块(4011)相互配合。