CN221261054U - 一种应用于芯片测试中的仰俯角结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种芯片测试技术领域，且公开了一种应用于芯片测试中的仰俯角结构。包括调节机构，调节机构的左侧设置有支撑机构，所述调节机构的表面设置有连接机构，所述连接机构位于调节机构的右侧，所述调节机构包括调节板，所述调节板的下端开设有螺纹槽，所述螺纹槽的内部螺纹连接有螺纹顶杆，所述螺纹顶杆的左侧固定连接有半圆顶块，该应用于芯片测试中的仰俯角结构，当测试头角度倾斜时，先用扳手卡住方槽块，转动扳手，带动螺纹顶杆向靠近支撑主体的方向移动，从而使半圆顶块挤压支撑主体，形成反作用力，使调节板的下端向远离支撑主体的方向转动，带动连接杆转动，从而调节连接杆上端的测试头的角度，达到使测试头保持稳定水平的效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种应用于芯片测试中的仰俯角结构。
背景技术
目前集成电路已广泛应用到众多领域，比如计算机、通信、工业控制和消费性电子等。集成电路产业包括芯片设计、芯片制造和芯片封装测试。晶片经过曝光、刻蚀、离子注入、沉积、生长等复杂工艺制造过程后，形成芯片并封装完毕后，还需要极其严格的各种测试比如在自动测试系统(ATE)上的电参数测试、功能测试等，直至合格，才能将其交付给客户，然而在CP、FT测试中，测试头容易因为自身重力导致相对于测试机支架倾斜。
目前市面上的应用于芯片测试中的仰俯角结构大多因测试头倾斜导致docking组件对位困难，操作费力难以控制，效率低，因此我们提出了一种应用于芯片测试中的仰俯角结构。
实用新型内容
为解决上述的技术问题，本实用新型提供一种应用于芯片测试中的仰俯角结构，包括调节机构，调节机构的左侧设置有支撑机构，所述调节机构的表面设置有连接机构，所述连接机构位于调节机构的右侧，所述调节机构包括调节板，所述调节板的下端开设有螺纹槽，所述螺纹槽的内部螺纹连接有螺纹顶杆，所述螺纹顶杆的左侧固定连接有半圆顶块，所述螺纹顶杆的右侧固定连接有方槽块，所述调节板的表面固定连接有限位块，所述限位块的顶部开设有卡槽，所述调节板的表面固定连接有支撑块，所述支撑块的表面开设有小孔，所述调节板的上端固定连接有横梁旋转轴。
通过上述技术方案，完善调节机构。
作为上述方案的进一步改进，所述限位块位于螺纹槽的上方，所述支撑块位于限位块的上方，所述小孔位于支撑块的中心，所述螺纹顶杆贯穿螺纹槽延伸至调节板的左侧。
通过上述技术方案，通过设置螺纹顶杆，来推动调节板的下端，从而调节调节板的角度。
作为上述方案的进一步改进，所述支撑机构包括支撑主体，所述支撑主体的上端固定连接有两个转动架，所述转动架的表面开设有转孔。
通过上述技术方案，完善支撑机构。
作为上述方案的进一步改进，所述一个转动架位于支撑主体上端的背面，所述横梁旋转轴的尺寸与转孔的尺寸相适配，所述横梁旋转轴的圆弧面与转孔的内壁之间转动连接。
通过上述技术方案，通过转动架使调节板通过横梁旋转轴与支撑主体之间转动。
作为上述方案的进一步改进，所述连接机构包括连接杆，所述连接杆的下端固定连接有限位环，所述连接杆的圆弧面开设有凹槽，所述连接杆的圆弧面固定连接有转动块。
通过上述技术方案，完善连接机构。
作为上述方案的进一步改进，所述连接杆贯穿支撑块延伸至限位块的内部，所述连接杆的底部位于卡槽的内部，所述限位环位于限位块的上方，所述凹槽位于转动块的下方，所述转动块的尺寸与小孔的尺寸相适配，所述小孔与转动块之间转动连接。
通过上述技术方案，通过连接杆的下端与卡槽卡接，小孔与转动块之间转动连接，使连接机构与调节机构之间转动连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
本实用新型通过设置，首先测量测试头的角度是否倾斜，如果倾斜，则用活络扳手卡住方槽块，转动扳手，带动螺纹顶杆在螺纹槽的支撑下向靠近支撑主体的方向移动，从而使与支撑主体右侧相抵的半圆顶块挤压，形成反作用力，从而使调节板的下端在横梁旋转轴的支撑下向远离支撑主体的方向转动，带动连接杆转动，从而调节连接杆上端的测试头的角度，达到使测试头保持稳定水平的效果；
本实用新型通过设置，先将位于支撑主体背部的转动架取下，然后将调节板上端的横梁旋转轴插入到位于支撑主体表面的转动架内部，使横梁旋转轴与转孔之间转动连接，然后再将取下的转动架固定在支撑主体的表面，使调节机构固定在支撑机构的表面，随后将测试头安装在连接杆的上端，将连接杆对准小孔插入到调节机构的内部，方便工作人员进行组装。
附图说明
图1为本实用新型立体结构示意图；
图2为本实用新型调节机构结构示意图；
图3为本实用新型主体机构俯视结构示意图；
图4为本实用新型A处放大结构示意图。
图中：1、调节机构；101、调节板；102、螺纹槽；103、螺纹顶杆；104、半圆顶块；105、方槽块；106、限位块；107、卡槽；108、支撑块；109、小孔；110、横梁旋转轴；2、支撑机构；201、支撑主体；202、转动架；203、转孔；3、连接机构；301、支架；302、限位环；303、凹槽；304、转动块。
具体实施方式
下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
实施例：
请结合图1-4，本实施例的一种应用于芯片测试中的仰俯角结构，包括调节机构1，调节机构1的左侧设置有支撑机构2，调节机构1的表面设置有连接机构3，连接机构3位于调节机构1的右侧，调节机构1包括调节板101，调节板101的下端开设有螺纹槽102，螺纹槽102的内部螺纹连接有螺纹顶杆103，螺纹顶杆103的左侧固定连接有半圆顶块104，螺纹顶杆103的右侧固定连接有方槽块105，调节板101的表面固定连接有限位块106，限位块106的顶部开设有卡槽107，调节板101的表面固定连接有1支撑块108，支撑块108的表面开设有小孔109，调节板101的上端固定连接有横梁旋转轴110，首先测量测试头的角度是否倾斜，如果倾斜，则用活络扳手卡住方槽块105，转动扳手，带动螺纹顶杆103在螺纹槽102的支撑下向靠近支撑主体201的方向移动，从而使与支撑主体201右侧相抵的半圆顶块104挤压，形成反作用力，从而使调节板101的下端在横梁旋转轴110的支撑下向远离支撑主体201的方向转动，带动连接杆301转动，从而调节连接杆301上端的测试头的角度，达到使测试头保持稳定水平的效果。
限位块106位于螺纹槽102的上方，支撑块108位于限位块106的上方，小孔109位于支撑块108的中心，螺纹顶杆103贯穿螺纹槽102延伸至调节板101的左侧。
支撑机构2包括支撑主体201，支撑主体201的上端固定连接有两个转动架202，转动架202的表面开设有转孔203，先将位于支撑主体201背部的转动架202取下，然后将调节板101上端的横梁旋转轴110插入到位于支撑主体201表面的转动架202内部，使横梁旋转轴110与转孔203之间转动连接，然后再将取下的转动架202固定在支撑主体201的表面，使调节机构1固定在支撑机构2的表面，随后将测试头安装在连接杆301的上端，将连接杆301对准小孔109插入到调节机构1的内部，方便工作人员进行组装。
一个转动架202位于支撑主体201上端的背面，横梁旋转轴110的尺寸与转孔203的尺寸相适配，横梁旋转轴110的圆弧面与转孔203的内壁之间转动连接。
连接机构3包括连接杆301，连接杆301的下端固定连接有限位环302，连接杆301的圆弧面开设有凹槽303，连接杆301的圆弧面固定连接有转动块304。
连接杆301贯穿支撑块108延伸至限位块106的内部，连接杆301的底部位于卡槽107的内部，限位环302位于限位块106的上方，凹槽303位于转动块304的下方，转动块304的尺寸与小孔109的尺寸相适配，小孔109与转动块304之间转动连接。
本申请实施例中一种应用于芯片测试中的仰俯角结构的实施原理为：首先需要工作人员先将位于支撑主体201背部的转动架202取下，然后将调节板101上端的横梁旋转轴110插入到位于支撑主体201表面的转动架202内部，使横梁旋转轴110与转孔203之间转动连接，然后再将取下的转动架202固定在支撑主体201的表面，使调节机构1固定在支撑机构2的表面，随后将测试头安装在连接杆301的上端，将连接杆301对准小孔109插入到调节机构1的内部，使连接杆301的下端与卡槽107卡接，使转动块304与小孔109之间转动连接，然后测量测试头的角度是否倾斜，如果倾斜，则用活络扳手卡住方槽块105，转动扳手，带动螺纹顶杆103在螺纹槽102的支撑下向靠近支撑主体201的方向移动，从而使与支撑主体201右侧相抵的半圆顶块104挤压，形成反作用力，从而使调节板101的下端在横梁旋转轴110的支撑下向远离支撑主体201的方向转动，带动连接杆301转动，从而调节连接杆301上端的测试头的角度，达到保证测试头在测试中保持稳定水平的作用。
上述实施方式仅为本实用新型的优选实施方式，不能以此来限定本实用新型保护的范围，本领域的技术人员在本实用新型的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本实用新型所要求保护的范围。
Claims (6)
1.一种应用于芯片测试中的仰俯角结构，包括调节机构(1)，其特征在于：调节机构(1)的左侧设置有支撑机构(2)，所述调节机构(1)的表面设置有连接机构(3)，所述连接机构(3)位于调节机构(1)的右侧，所述调节机构(1)包括调节板(101)，所述调节板(101)的下端开设有螺纹槽(102)，所述螺纹槽(102)的内部螺纹连接有螺纹顶杆(103)，所述螺纹顶杆(103)的左侧固定连接有半圆顶块(104)，所述螺纹顶杆(103)的右侧固定连接有方槽块(105)，所述调节板(101)的表面固定连接有限位块(106)，所述限位块(106)的顶部开设有卡槽(107)，所述调节板(101)的表面固定连接有1支撑块(108)，所述支撑块(108)的表面开设有小孔(109)，所述调节板(101)的上端固定连接有横梁旋转轴(110)。
2.根据权利要求1所述的一种应用于芯片测试中的仰俯角结构，其特征在于：所述限位块(106)位于螺纹槽(102)的上方，所述支撑块(108)位于限位块(106)的上方，所述小孔(109)位于支撑块(108)的中心，所述螺纹顶杆(103)贯穿螺纹槽(102)延伸至调节板(101)的左侧。
3.根据权利要求1所述的一种应用于芯片测试中的仰俯角结构，其特征在于：所述支撑机构(2)包括支撑主体(201)，所述支撑主体(201)的上端固定连接有两个转动架(202)，所述转动架(202)的表面开设有转孔(203)。
4.根据权利要求3所述的一种应用于芯片测试中的仰俯角结构，其特征在于：所述一个转动架(202)位于支撑主体(201)上端的背面，所述横梁旋转轴(110)的尺寸与转孔(203)的尺寸相适配，所述横梁旋转轴(110)的圆弧面与转孔(203)的内壁之间转动连接。
5.根据权利要求1所述的一种应用于芯片测试中的仰俯角结构，其特征在于：所述连接机构(3)包括连接杆(301)，所述连接杆(301)的下端固定连接有限位环(302)，所述连接杆(301)的圆弧面开设有凹槽(303)，所述连接杆(301)的圆弧面固定连接有转动块(304)。
6.根据权利要求5所述的一种应用于芯片测试中的仰俯角结构，其特征在于：所述连接杆(301)贯穿支撑块(108)延伸至限位块(106)的内部，所述连接杆(301)的底部位于卡槽(107)的内部，所述限位环(302)位于限位块(106)的上方，所述凹槽(303)位于转动块(304)的下方，所述转动块(304)的尺寸与小孔(109)的尺寸相适配，所述小孔(109)与转动块(304)之间转动连接。
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