CN221200764U - 一种测试设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试设备，所述测试设备包括用于测试存储芯片的测试装置和测试表，所述测试装置包括测试板和测试座，所述测试座与所述测试板电连接，所述测试座用于放置待测试的存储芯片；所述测试板包括工作电压输入引脚和接地引脚；所述测试表包括第一测试端口和第二测试端口，所述工作电压输入引脚与所述第一测试端口通过导线连接，所述接地引脚与所述第二测试端口通过导线连接；所述测试表通过所述工作电压输入引脚和接地引脚对所述存储芯片进行开短路测试，并输出测试阻值。本申请设计一款新的测试装置，结合测试表，针对存储芯片的VDD电压进行开短路测试，避免上电测试时电流过大烧毁测试装置。

Description

一种测试设备

技术领域

本申请涉及存储芯片测试领域，尤其涉及一种测试设备。

背景技术

近来，随着DDR SDRAM(双数据率同步动态随机存储器)的不断优化，其在存储器工业界获得了广泛的支持；再者，由于DDR SDRAM能够在时脉信号的上升沿及下降沿持续传送数据，使其单位时间内的数据传送量加倍，而它只需要2.5V的供应电压，其存储器芯片内部具有较低的电容而使电力消耗明显减少等等优于PC133 SDRAM的特点，使得以DDR SDRAM作为个人计算机、笔记型计算机的内存模块的时代迅速地来到。

DDR芯片在封测过程中，需要对芯片进行100％的上电功能测试来保证芯片的品质，芯片在封装过程中由于各种原因会导致部分不良芯片的产生，如无ID、开卡失败、降容等问题；而无ID的部分会有一些大电流的不良问题，直接上电测试时会出现电流过大损坏测试治具。

实用新型内容

本申请的目的是提供一种测试设备，测试完成的良品再进行开短路测试，避免因短路大电流造成烧坏测试治具的问题。

本申请公开了一种测试设备，所述测试设备包括用于测试存储芯片的测试装置和测试表，所述测试装置包括测试板和测试座，所述测试座与所述测试板电连接，所述测试座用于放置待测试的存储芯片；所述测试板包括工作电压输入引脚和接地引脚；所述测试表包括第一测试端口和第二测试端口，所述工作电压输入引脚与所述第一测试端口通过导线连接，所述接地引脚与所述第二测试端口通过导线连接；所述测试表通过所述工作电压输入引脚和接地引脚对所述存储芯片进行开短路测试，并输出测试阻值。

可选的，所述测试表为万用表，所述测试表包括旋钮、档位模块和阻值显示模块，所述档位模块包括欧姆档位，通过旋转旋钮将当前档位切换至欧姆档位以对所述工作电压输入引脚和接地引脚进行测试，所述阻值显示模块用于显示所述。

可选的，所述测试表包括红色指示灯、绿色指示灯和判断模块，所述判断模块分别与所述红色指示灯和绿色指示灯连接，所述判断模块内设有预设值，所述判断模块用于判断测试阻值是否等于预设值，以根据判断结果控制所述绿色指示灯与所述红色指示灯的打开与关闭。

可选的，所述预设值的取值范围为4.3-4.6KΩ。

可选的，所述工作电压输入引脚为VDD引脚，所述接地引脚为VSS引脚，所述工作电压输入引脚和所述接地引脚设置在所述测试板的同一侧，且相互间隔设置。

可选的，所述第一测试端口为GND插口，所述第二测试端口为COM插口。

可选的，所述测试板为印刷电路板。

可选的，所述测试板包括金手指，所述测试座固定在所述金手指上，通过所述金手指与所述测试板实现电连接。

可选的，所述测试座内部设有多个测试探针，多个所述测试探针相互间隔且等距设置，所述存储芯片通过所述测试探针与测试座实现电连接。

可选的，所述存储芯片为DDR芯片。

相对于现有的测试多个引脚的电压的测试装置来说，本申请发现存储芯片的工作电压输入引脚和接地引脚的短路比例高，针对该引脚的位置，设置测试板和测试座，通过对工作电压输入引脚和接地引脚进行开短路测试，筛选工作电压输入引脚和接地引脚，实现低成本和高效率，测试完成的良品在进行上电后的功能测试，避免因短路大电流造成烧坏测试治具的问题，提高存储芯片的测试效率。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本申请的一实施例的一种测试设备结构示意图；

图2是本申请的一实施例的测试装置结构示意图；

图3是本申请的另一实施例的测试设备结构示意图。

其中，100、测试设备；200、测试装置；210、测试板；211、工作电压输入引脚；212、接地引脚；220、测试座；230、金手指；240、测试探针；300、测试表；310、第一测试端口；320、第二测试端口；330、挡位模块；331、欧姆挡位；340、阻值显示模块；350、绿色指示灯；360、红色指示灯；370、判断模块；380、旋钮；400、存储芯片；500、导线。

具体实施方式

需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。

如图1所示，作为本申请的一实施例，公开了一种测试设备100，测试设备100包括用于测试存储芯片400的测试装置200和测试表300，测试装置200包括测试板210和测试座220，测试座220与测试板210电连接，测试座220用于放置待测试的存储芯片400；测试板210包括工作电压输入引脚211和接地引脚212；测试表300包括第一测试端口310和第二测试端口320，工作电压输入引脚211与第一测试端口310通过导线500连接，接地引脚212与第二测试端口320通过导线500连接；测试表300通过工作电压输入引脚211和接地引脚212对存储芯片400进行开短路测试，并输出测试阻值；其中，测试板210为印刷电路板，存储芯片400为DDR芯片。

由上可知，确定工作电压输入引脚211和接地引脚212，通过导线500将测试表300的测试端口与对应的引脚进行连接，主要对工作电压输入引脚211和接地引脚212进行开短路测试，通过对工作电压输入引脚211和接地引脚212测试，可避免测试大量的其他引脚，在工作电压输入引脚211和接地引脚212没有问题的情况下，可以判断为存储芯片400为良品，测试完成的良品在进行上电后的功能测试，避免因短路大电流造成烧坏测试治具的问题。

一般的，测试表300为万用表，测试表300包括旋钮380、挡位模块330和阻值显示模块340，挡位模块330包括欧姆挡位331和阻值显示模块340，通过旋转旋钮380将当前档位切换至欧姆档位331以对工作电压输入引脚211和接地引脚212进行测试，阻值显示模块340用于显示测试阻值，显示模块包括显示屏幕，测试阻值会在测试屏幕上进行显示；工作电压输入引脚为VDD引脚，接地引脚212为VSS引脚，工作电压输入引脚和接地引脚212设置在测试板210的同一侧，且相互间隔设置；第一测试端口310为GND插口，第二测试端口320为COM插口，查找对应的引脚定义图纸，确定VSS和VDD的位置，单独制作一款测试板210和测试座220，将VSS和VDD接到万用表的GND和COM口。

DDR芯片测试前使用本申请单独制作的测试治具进行开短路(open short)测试，将万用表打到欧姆档位，通过测试电阻的方式来判断待测试的存储芯片400是否属于良品，进而筛选出VSS和VDD短路的异常品，避免异常品因短路大电流造成烧坏测试治具。

另外，如图2所示，测试板210包括金手指230，金手指230包括多个接脚，测试座220固定在金手指230上，通过金手指230与测试板210实现电连接，测试板210通过金手指230与外接设备进行连接。测试座220内部设有多个测试探针240，多个测试探针240相互间隔且等距设置，避免相互之间接触，影响电信号的正常输入输出，存储芯片400通过测试探针240与测试座220实现电连接。

如图3所示，为了可以使得测试的时候，更能快速的得知测试的存储芯片400是否属于良品，测试表300包括红色指示灯360、绿色指示灯350和判断模块370，判断模块370分别与红色指示灯360和绿色指示灯350连接，判断模块370内设有预设值，判断模块370用于判断测试阻值是否等于预设值，根据判断结果控制绿色指示灯350与红色指示灯360的打开与关闭；若测试阻值等于预设值，则绿色指示灯350亮，若测试阻值不等于预设值，则红色指示灯360亮，通过红灯和绿灯的显示能够更快速的获得测试结果，进而提高测试效率；其中，预设值的取值范围为4.3-4.6KΩ，超出这个范围判定不良品。

需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例，但是申请文件的篇幅有限，无法一一列出，因而，在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例，各实施例或技术特征组合之后，将会增强原有的技术效果。

以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括用于测试存储芯片的测试装置和测试表，所述测试装置包括测试板和测试座，所述测试座与所述测试板电连接，所述测试座用于放置待测试的存储芯片；所述测试板包括工作电压输入引脚和接地引脚；

所述测试表包括第一测试端口和第二测试端口，所述工作电压输入引脚与所述第一测试端口通过导线连接，所述接地引脚与所述第二测试端口通过导线连接；

所述测试表通过所述工作电压输入引脚和接地引脚对所述存储芯片进行开短路测试，并输出测试阻值。

2.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试表为万用表，所述测试表包括旋钮、档位模块和阻值显示模块，所述档位模块包括欧姆档位，通过旋转旋钮将当前档位切换至欧姆档位以对所述工作电压输入引脚和接地引脚进行测试，所述阻值显示模块用于显示所述测试阻值。

3.如权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述测试表包括红色指示灯、绿色指示灯和判断模块，所述判断模块分别与所述红色指示灯和绿色指示灯连接，所述判断模块内设有预设值，所述判断模块用于判断测试阻值是否等于预设值，以根据判断结果控制所述绿色指示灯与所述红色指示灯的打开与关闭。

4.如权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述预设值的取值范围为4.3-4.6KΩ。

5.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述工作电压输入引脚为VDD引脚，所述接地引脚为VSS引脚，所述工作电压输入引脚和所述接地引脚设置在所述测试板的同一侧，且相互间隔设置。

6.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一测试端口为GND插口，所述第二测试端口为COM插口。

7.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试板为印刷电路板。

8.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试板包括金手指，所述测试座固定在所述金手指上，通过所述金手指与所述测试板实现电连接。

9.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试座内部设有多个测试探针，多个所述测试探针相互间隔且等距设置，所述存储芯片通过所述测试探针与测试座实现电连接。

10.如权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述存储芯片为DDR芯片。