CN221124831U - 一种电芯电性能测试头及电芯电性能测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电芯测试技术领域，尤其是指一种电芯电性能测试头及电芯电性能测试机构，包括基板、固定座及测试组件，测试组件包括第一安装块、第二安装块、第一测试探针和第二测试探针，固定座安装于基座，第一安装块和第二安装块夹设于固定座与基座之间，第一测试探针和第二测试探针分别装设于第一安装块和第二安装块，固定座开设有测试孔，第一测试探针和第二测试探针均贯穿测试孔，固定座靠近基座的一侧设置有调节腔，第一安装块或/和第二安装块滑动调节地设置于调节腔内。本申请既能够对电芯进行内阻测试，也能够对电芯进行绝缘测试，且第一测试探针和第二测试探针之间的距离能够调节，以满足对不同规格的电芯进行电性能测试，通用性好。

Description

一种电芯电性能测试头及电芯电性能测试机构

技术领域

本实用新型涉及电芯测试技术领域，尤其是指一种电芯电性能测试头及电芯电性能测试机构。

背景技术

电芯在生产加工的过程中，需要对电芯进行电性能测试，比如：短路测试、内阻测试、绝缘测试等，以保证电芯的质量。

现有专利中，申请号为201420616683.9的中国专利文件公开了一种种电池绝缘内阻自动测试装置，其具体公开了固定架上设有短路测试模块，短路测试模块包括设置于测试座上的测试气缸和设置于测试气缸活塞杆上的基板，所述的基板上设有两个测试头，所述的两个测试分别与测量电路中的正极和负极电连接，且所述测试气缸的活塞杆下压时所述的两个测试头可分别与电池的两个极柱相顶压。该两个测试头是固定的，两个测试头之间的距离不可调，无法满足对不同规格的电芯进行电性能测试。

因此，缺陷十分明显，亟需提供一种解决方案。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型的目的在于提供一种电芯电性能测试头及电芯电性能测试机构。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种电芯电性能测试头，其包括基板、固定座及测试组件，测试组件包括第一安装块、第二安装块、第一测试探针和第二测试探针，固定座安装于基座，第一安装块和第二安装块夹设于固定座与基座之间，第一测试探针装设于第一安装块，第二测试探针装设于第二安装块，固定座开设有测试孔，第一测试探针和第二测试探针均贯穿测试孔，固定座靠近基座的一侧设置有调节腔，第一安装块或/和第二安装块滑动调节地设置于调节腔内。

进一步地，基板设置有调节槽，基板设置有调节锁件，调节锁件的一端贯穿调节槽后与第一安装块或第二安装块连接，调节锁件用于将第一安装块或第二安装块锁紧在基板上。

进一步地，调节槽的数量和调节锁件的数量均为两组，两组调节槽分别与两组调节锁件一一对应设置，两组调节槽分别与第一安装块和第二安装块对应设置。

进一步地，调节槽的数量为一组，调节槽与第一安装块对应设置，第二安装块经由锁固件锁固在基板上。

进一步地，测试组件还包括装设于固定座远离基板的一侧的电芯定位套，第一测试探针和第二测试探针伸入电芯定位套内。

进一步地，电芯定位套远离固定座的一端内壁设置有倒锥面。

本实用新型还提供一种电芯电性能测试机构，包括第一升降驱动机构及上述的电芯电性能测试头，第一升降驱动机构的升降端与基板连接。

进一步地，还包括底座及装设于底座的第三测试探针，第三测试探针位于测试组件的下方，第三测试探针与第一测试探针或/和第二测试探针对应设置。

进一步地，还包括第二升降驱动机构，第二升降驱动机构的升降端与底座连接。

进一步地，第三测试探针的数量和测试组件的数量均为多个，多个第三测试探针分别与多个测试组件一一对应设置。

本实用新型的有益效果：在实际应用中，当电芯为单通电芯，即电芯的正负电极在电芯的同一端时，将本电芯电性能测试头的测试组件与电芯的正负电极电接触，使得第一测试探针和第二测试探针分别与电芯的正电极和电芯的负电极电接触，本电芯电性能测试头与外部的电性能测试机连接，使得电芯电性能测试头能够对电芯的内阻进行测试。当电芯为双通电芯，即电芯的正负电极分别位于电芯的两端时，本电芯电性能测试头的测试组件与电芯的一端接触，第三测试探针与电芯的另一端接触，使得第一测试探针与电芯的一电极电接触，第二测试探针与电芯的外壳接触，第三测试探针与电芯的另一电极电接触，通过第一测试探针与第三测试探针配合以对电芯的内阻进行测试，又通过第一测试探针与第二测试探针配合以对电芯进行绝缘测试。另外，根据不同规格的电芯，第一安装块或/和第二安装块能够在调节腔内相对调节，以调节第一安装块与第二安装块之间的距离，从而调节第一测试探针与第二测试探针之间的距离，使得第一测试探针和第二测试探针能够精准地对电芯进行内阻和绝缘测试。本实用新型的结构简单，既能够对电芯进行内阻测试，也能够对电芯进行绝缘测试，且第一测试探针和第二测试探针之间的距离能够调节，提高了第一测试探针和第二测试探针的灵动性，使用灵活，以满足对不同规格的电芯进行电性能测试，通用性好，适用范围广。

附图说明

图1为本实用新型的电芯电性能测试机构的立体结构示意图。

图2为本实用新型的电芯电性能测试机构隐藏测试架、底座、第三测试探针和第二升降驱动机构后的立体结构示意图。

图3为图2中A处的放大图。

图4为本实用新型的电芯电性能测试机构隐藏测试架、底座、第三测试探针和第二升降驱动机构后的另一视角的立体结构示意图。

图5为图4中B处的放大图。

附图标记说明：

1、基板；2、固定座；3、测试组件；4、第一安装块；5、第二安装块；6、第一测试探针；7、第二测试探针；8、测试孔；9、调节腔；10、调节槽；11、调节锁件；12、锁固件；13、电芯定位套；14、倒锥面；15、第一升降驱动机构；16、底座；17、第三测试探针；18、第二升降驱动机构；19、测试架；20、过线孔。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。

实施例一。

如图1至图5所示，本实用新型提供的一种电芯电性能测试头，其包括基板1、固定座2及测试组件3，测试组件3包括第一安装块4、第二安装块5、第一测试探针6和第二测试探针7，固定座2安装于基座，第一安装块4和第二安装块5夹设于固定座2与基座之间，第一测试探针6装设于第一安装块4，第二测试探针7装设于第二安装块5，固定座2开设有测试孔8，第一测试探针6和第二测试探针7均贯穿测试孔8，固定座2靠近基座的一侧设置有调节腔9，第一安装块4或/和第二安装块5滑动调节地设置于调节腔9内。

在实际应用中，当电芯为单通电芯，即电芯的正负电极在电芯的同一端时，将本电芯电性能测试头的测试组件3与电芯的正负电极电接触，使得第一测试探针6和第二测试探针7分别与电芯的正电极和电芯的负电极电接触，本电芯电性能测试头与外部的电性能测试机连接，使得电芯电性能测试头能够对电芯的内阻进行测试。当电芯为双通电芯，即电芯的正负电极分别位于电芯的两端时，本电芯电性能测试头的测试组件3与电芯的一端接触，第三测试探针17与电芯的另一端接触，使得第一测试探针与电芯的一电极电接触，第二测试探针7与电芯的外壳接触，第三测试探针17与电芯的另一电极电接触，通过第一测试探针6与第三测试探针17配合以对电芯的内阻进行测试，又通过第一测试探针6与第二测试探针7配合以对电芯进行绝缘测试。另外，根据不同规格的电芯，第一安装块4或/和第二安装块5能够在调节腔9内相对调节，以调节第一安装块4与第二安装块5之间的距离，从而调节第一测试探针6与第二测试探针7之间的距离，使得第一测试探针6和第二测试探针7能够精准地对电芯进行内阻和绝缘测试。本电芯电性能测试头的结构简单，既能够对电芯进行内阻测试，也能够对电芯进行绝缘测试，且第一测试探针6和第二测试探针7之间的距离能够调节，提高了第一测试探针6和第二测试探针7的灵动性，使用灵活，以满足对不同规格的电芯进行电性能测试，通用性好，适用范围广。

本实施例中，基板1设置有调节槽10，基板1可拆卸地设置有调节锁件11，调节锁件11的一端贯穿调节槽10后与第一安装块4或第二安装块5连接，调节锁件11用于将第一安装块4或第二安装块5锁紧在基板1上；具体地，调节锁件11为调节螺栓。

在实际应用中，调节锁件11将第一安装块4或第二安装块5锁固在基板1上，以保证第一安装块4与第二安装块5的稳定性，当需要调节第一测试探针6与第二测试探针7之间的距离时，松开调节锁件11，使得第一安装块4或第二安装块5能够在调节腔9内移动，随着第一安装块4或第二安装块5的移动，调节锁件11在调节槽10内移动，当第一安装块4与第二安装块5的相对位置调节完毕后，再通过调节锁件11将第一安装块4或第二安装块5锁紧在基板1上，以完成第一测试探针6和第二测试探针7之间的距离调节。

本实施例中，调节槽10的数量为一组，调节槽10与第一安装块4对应设置，第二安装块5经由锁固件12锁固在基板1上；一组调节槽10具有两个槽体。该结构设计，使得第二安装块5是固定的，第一安装块4能够相对第二安装块5移动调节，调节便捷。

具体地，基板1开设有过线孔20，导线经由过线孔20与第一测试探针6或/和第二测试探针7电连接。

本实施例中，测试组件3还包括装设于固定座2远离基板1的一侧的电芯定位套13，第一测试探针6和第二测试探针7伸入电芯定位套13内。在第一测试探针6和第二测试探针7对电芯进行电性能测试时，电芯定位套13套设于电芯的一端外，以对电芯进行定位，提高了第一测试探针6和第二测试探针7对电芯进行电性能测试的准确性。

本实施例中，电芯定位套13远离固定座2的一端内壁设置有倒锥面14。倒锥面14的设置，不但便于电芯的一端进入电芯定位套13内，还能够对电芯进行纠偏定位，保证测试的准确性。

具体地，第一安装块4远离基板1的一侧面凸设有第一凸块，第一凸块伸入测试孔8内；第二安装块5远离基板1的一侧面凸设有第二凸块，第二凸块伸入测试孔8内。测试孔8的内壁能够对第一凸块的周侧壁和第二凸块的周侧壁抵触，以限制第一安装块4和第二安装块5在测试孔8的范围内调节。

本实用新型还提供一种电芯电性能测试机构，包括第一升降驱动机构15及上述的电芯电性能测试头，第一升降驱动机构15的升降端与基板1连接。在实际应用中，第一升降驱动机构15驱动电芯电性能测试头升降，以便于测试组件3对电芯进行电性能测试。

本实施例中，还包括底座16及装设于底座16的第三测试探针17，第三测试探针17位于测试组件3的下方，第三测试探针17与第一测试探针6或/和第二测试探针7对应设置。

在实际应用中，当电芯为双通电芯，即电芯的正负电极分别位于电芯的两端时，本电芯电性能测试头的测试组件3与电芯的一端接触，第三测试探针17与电芯的另一端接触，使得第一测试探针6与电芯的一电极电接触，第二测试探针7与电芯的外壳接触，第三测试探针17与电芯的另一电极电接触，通过第一测试探针6与第三测试探针17配合以对电芯的内阻进行测试，又通过第一测试探针6与第二测试探针7配合以对电芯进行绝缘测试。

本实施例中，还包括第二升降驱动机构18，第二升降驱动机构18的升降端与底座16连接。在实际应用中，第二升降驱动机构18驱动底座16连带第三测试探针17升降，使得第三测试探针17与电芯的电极接触或分离，便于对电芯的内阻进行测试。

本实施例中，第三测试探针17的数量和测试组件3的数量均为多个，多个第三测试探针17分别与多个测试组件3一一对应设置。该结构设计，增加了一次性测试电芯的数量，提高了测试效率。

具体地，还包括测试架19，第一升降驱动机构15和第二升降驱动机构18分别装设于测试架19的上部和下部，基板1和底座16均与测试架19滑动连接。

实施例二。

本实施例与实施例一的不同点在于：本实施例中，调节槽10的数量和调节锁件11的数量均为两组，两组调节槽10分别与两组调节锁件11一一对应设置，两组调节槽10分别与第一安装块4和第二安装块5对应设置。该结构设计，使得第一安装块4和第二安装块5能够分别在调节腔9内移动，调节更加便捷。

本实施例中的所有技术特征均可根据实际需要而进行自由组合。

上述实施例为本实用新型较佳的实现方案，除此之外，本实用新型还可以其它方式实现，在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电芯电性能测试头，其特征在于：包括基板(1)、固定座(2)及测试组件(3)，测试组件(3)包括第一安装块(4)、第二安装块(5)、第一测试探针(6)和第二测试探针(7)，固定座(2)安装于基座，第一安装块(4)和第二安装块(5)夹设于固定座(2)与基座之间，第一测试探针(6)装设于第一安装块(4)，第二测试探针(7)装设于第二安装块(5)，固定座(2)开设有测试孔(8)，第一测试探针(6)和第二测试探针(7)均贯穿测试孔(8)，固定座(2)靠近基座的一侧设置有调节腔(9)，第一安装块(4)或/和第二安装块(5)滑动调节地设置于调节腔(9)内。

2.根据权利要求1所述的一种电芯电性能测试头，其特征在于：基板(1)设置有调节槽(10)，基板(1)设置有调节锁件(11)，调节锁件(11)的一端贯穿调节槽(10)后与第一安装块(4)或第二安装块(5)连接，调节锁件(11)用于将第一安装块(4)或第二安装块(5)锁紧在基板(1)上。

3.根据权利要求2所述的一种电芯电性能测试头，其特征在于：调节槽(10)的数量和调节锁件(11)的数量均为两组，两组调节槽(10)分别与两组调节锁件(11)一一对应设置，两组调节槽(10)分别与第一安装块(4)和第二安装块(5)对应设置。

4.根据权利要求2所述的一种电芯电性能测试头，其特征在于：调节槽(10)的数量为一组，调节槽(10)与第一安装块(4)对应设置，第二安装块(5)经由锁固件(12)锁固在基板(1)上。

5.根据权利要求1所述的一种电芯电性能测试头，其特征在于：测试组件(3)还包括装设于固定座(2)远离基板(1)的一侧的电芯定位套(13)，第一测试探针(6)和第二测试探针(7)伸入电芯定位套(13)内。

6.根据权利要求5所述的一种电芯电性能测试头，其特征在于：电芯定位套(13)远离固定座(2)的一端内壁设置有倒锥面(14)。

7.一种电芯电性能测试机构，其特征在于：包括第一升降驱动机构(15)及如权利要求1至6任一项所述的电芯电性能测试头，第一升降驱动机构(15)的升降端与基板(1)连接。

8.根据权利要求7所述的一种电芯电性能测试机构，其特征在于：还包括底座(16)及装设于底座(16)的第三测试探针(17)，第三测试探针(17)位于测试组件(3)的下方，第三测试探针(17)与第一测试探针(6)或/和第二测试探针(7)对应设置。

9.根据权利要求8所述的一种电芯电性能测试机构，其特征在于：还包括第二升降驱动机构(18)，第二升降驱动机构(18)的升降端与底座(16)连接。

10.根据权利要求8所述的一种电芯电性能测试机构，其特征在于：第三测试探针(17)的数量和测试组件(3)的数量均为多个，多个第三测试探针(17)分别与多个测试组件(3)一一对应设置。