CN221124789U - 一种用于光电子器件制造的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于光电子器件制造的测试装置，包括光电子器件本体、传动带一、传动带二、从动轴和限位机构，所述传动带一的一端下方设有传动带二，所述传动带上设有多个等距离分布的凹槽，所述传动带二的一端设有支撑架，所述支撑架的上端固定连接有支撑箱，所述支撑箱的下端滑动连接有连接板，所述连接板的下端固定连接有测试板，所述传动带二的左侧内壁上设有驱动轴，所述传动带二右侧内壁上设有从动轴，所述从动轴与连接板之间设有传动机构，本实用新型可对多个光电子器件本体进行不间断的测试，增加了测试效率和测试速度，使得装置使用便捷且大大降低了工作人员的劳动强度。
Description
技术领域
本实用新型涉及光电子器件制造测试技术领域，具体为一种用于光电子器件制造的测试装置。
背景技术
光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，光电子集成就是把光器件和电子器件集成在同一基片上的集成电路，电子器件在生产出来后，往往需要对其进行各种测试。
但是现有测试装置对电子器件进行测试只能单个电子器件测试，需要操作人员来回更换电子器件，在对测试完成后的电子器件进行更换时测试装置处于空闲状态，降低了测试效率和测试速度慢，且费时费力。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于光电子器件制造的测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为了解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种用于光电子器件制造的测试装置，包括光电子器件本体、传动带一、传动带二、凹槽、支撑架、支撑箱、连接板、测试板、驱动轴、从动轴和限位机构，所述传动带一的一端下方设有传动带二，所述传动带上设有多个等距离分布的凹槽，所述传动带二的一端设有支撑架，所述支撑架的上端固定连接有支撑箱，所述支撑箱的下端滑动连接有连接板，所述连接板的下端固定连接有测试板，所述限位机构设于传动带一侧壁处，对光电子器件本体的位置进行限位，所述传动带二的左侧内壁上设有驱动轴，所述传动带二右侧内壁上设有从动轴，所述从动轴与连接板之间设有传动机构。
在一个优选的实施方式中：所述传动机构包括转轴一、锥齿轮一、锥齿轮二、转轴二、棘齿轮、齿轮和连接柱，所述支撑箱内转动连接有转轴一，所述转轴一的外壁上固定连接有锥齿轮一，所述锥齿轮一啮合连接有锥齿轮二，所述锥齿轮二的内壁上固定连接有转轴二，所述转轴二的一端固定连接有棘齿轮，所述棘齿轮啮合连接有齿轮，所述齿轮的一端转动连接有转轴三，所述转轴三的一端与连接板转动连接。
在一个优选的实施方式中：所述齿轮的内壁上固定连接有转轴三，所述转轴三与支撑箱内壁之间设有扭簧，所述转轴三与转轴二均与支撑箱内壁转动连接。
在一个优选的实施方式中：所述转轴一与从动轴的外壁上均固定连接有链轮，两个所述链轮通过链条传动连接。
在一个优选的实施方式中：所述驱动轴的一端固定连接有电机输出轴，所述传动带二的一侧下方设有收集槽，所述收集槽内壁上设有缓冲绵。
在一个优选的实施方式中：所述限位机构包括阻尼转轴和限位板，所述传动带一的两端均设有支撑板，所述支撑板上转动连接有阻尼转轴，所述阻尼转轴的上端外壁上固定连接有限位板，所述限位板活动设于传动带一的上端。
与现有技术相比，本实用新型所达到的有益效果是：
本实用新型通过传动带一、传动带二、凹槽、支撑架、支撑箱、连接板、测试板和从动轴配合着传动机构的设置，可对多个光电子器件本体进行不间断的测试，不需要操作人员来回更换电子器件，且能够避免在对测试完成后的电子器件进行更换时测试装置处于空闲状态的问题发生，增加了测试效率和测试速度，使得装置使用便捷且大大降低了工作人员的劳动强度。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：
图1是本实用新型的整体主视结构示意图；
图2是本实用新型的整体去除光电子器件本体后的俯视结构示意图；
图3是本实用新型的棘齿轮和齿轮连接结构示意图；
图4是本实用新型的收集槽结构示意图
图中：1、光电子器件本体；2、传动带一；3、传动带二；4、凹槽；5、支撑架；6、支撑箱；7、连接板；8、测试板；9、驱动轴；10、从动轴；11、转轴一；12、锥齿轮二；13、棘齿轮；14、齿轮；15、连接柱；16、转轴三；17、链条；18、收集槽；19、阻尼转轴；20、限位板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-图4，本实用新型提供技术方案：一种用于光电子器件制造的测试装置，包括光电子器件本体1、传动带一2、传动带二3、凹槽4、支撑架5、支撑箱6、连接板7、测试板8、驱动轴9、从动轴10和限位机构，所述传动带一2的一端下方设有传动带二3，所述传动带上设有多个等距离分布的凹槽4，所述传动带二3的一端设有支撑架5，所述支撑架5的上端固定连接有支撑箱6，所述支撑箱6的下端滑动连接有连接板7，所述连接板7的下端固定连接有测试板8，所述限位机构设于传动带一2侧壁处，对光电子器件本体1的位置进行限位，所述传动带二3的左侧内壁上设有驱动轴9，所述传动带二3右侧内壁上设有从动轴10，所述从动轴10与连接板7之间设有传动机构。
将光电子器件本体1放置于传动带一2上进行传送，通过限位机构对光电子器件本体1的位置进行调整，调整后的光电子器件本体1掉落至凹槽4内，当光电子器件本体1传送至测试板8下端时，随着从动轴10的转动通过传动机构的设置，带动连接板7间接性的下压，进而通过测试板8对光电子器件本体1的弹性进行测试，测试完成后再由传动带二3传送至收集槽18内，后被统一收集，通过传动带一2、传动带二3、凹槽4、支撑架5、支撑箱6、连接板7、测试板8和从动轴10配合着传动机构的设置，可对多个光电子器件本体1进行不间断的测试，不需要操作人员来回更换电子器件，且能够避免在对测试完成后的电子器件进行更换时测试装置处于空闲状态的问题发生，增加了测试效率和测试速度，使得装置使用便捷且大大降低了工作人员的劳动强度。
所述传动机构包括转轴一11、锥齿轮一、锥齿轮二12、转轴二、棘齿轮13、齿轮14和连接柱15，所述支撑箱6内转动连接有转轴一11，所述转轴一11的外壁上固定连接有锥齿轮一，所述锥齿轮一啮合连接有锥齿轮二12，所述锥齿轮二12的内壁上固定连接有转轴二，所述转轴二的一端固定连接有棘齿轮13，所述棘齿轮13啮合连接有齿轮14，所述齿轮14的一端转动连接有转轴三16，所述转轴三16的一端与连接板7转动连接。
使用时，随着从动轴10的转动通过链轮与链条17的设置带动转轴一11转动，进而带动锥齿轮一转动，锥齿轮二12开始转动，进而带动转轴二转动，转轴二转动带动棘齿轮13转动，进而带动齿轮14间接性转动，从而使得连接板7可上下移动。
所述齿轮14的内壁上固定连接有转轴三16，所述转轴三16与支撑箱6内壁之间设有扭簧，所述转轴三16与转轴二均与支撑箱6内壁转动连接。
所述转轴一11与从动轴10的外壁上均固定连接有链轮，两个所述链轮通过链条17传动连接。
所述驱动轴9的一端固定连接有电机输出轴，所述传动带二3的一侧下方设有收集槽18，所述收集槽18内壁上设有缓冲绵。
缓冲绵的设置，可使得光电子器件本体1掉落至收集槽18内时起到一定的缓冲作用，增加了对光电子器件本体1的保护效果。
所述限位机构包括阻尼转轴19和限位板20，所述传动带一2的两端均设有支撑板，所述支撑板上转动连接有阻尼转轴19，所述阻尼转轴19的上端外壁上固定连接有限位板20，所述限位板20活动设于传动带一2的上端。
使用时，通过对阻尼转轴19的转动，进而可带动限位板20转动，从而当将限位板20转动至适宜位置时，可对光电子器件本体1的位置进行校正。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：包括光电子器件本体（1）、传动带一（2）、传动带二（3）、凹槽（4）、支撑架（5）、支撑箱（6）、连接板（7）、测试板（8）、驱动轴（9）、从动轴（10）和限位机构，所述传动带一（2）的一端下方设有传动带二（3），所述传动带上设有多个等距离分布的凹槽（4），所述传动带二（3）的一端设有支撑架（5），所述支撑架（5）的上端固定连接有支撑箱（6），所述支撑箱（6）的下端滑动连接有连接板（7），所述连接板（7）的下端固定连接有测试板（8），所述限位机构设于传动带一（2）侧壁处，对光电子器件本体（1）的位置进行限位，所述传动带二（3）的左侧内壁上设有驱动轴（9），所述传动带二（3）右侧内壁上设有从动轴（10），所述从动轴（10）与连接板（7）之间设有传动机构。
2.根据权利要求1所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述传动机构包括转轴一（11）、锥齿轮一、锥齿轮二（12）、转轴二、棘齿轮（13）、齿轮（14）和连接柱（15），所述支撑箱（6）内转动连接有转轴一（11），所述转轴一（11）的外壁上固定连接有锥齿轮一，所述锥齿轮一啮合连接有锥齿轮二（12），所述锥齿轮二（12）的内壁上固定连接有转轴二，所述转轴二的一端固定连接有棘齿轮（13），所述棘齿轮（13）啮合连接有齿轮（14），所述齿轮（14）的一端转动连接有转轴三（16），所述转轴三（16）的一端与连接板（7）转动连接。
3.根据权利要求2所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述齿轮（14）的内壁上固定连接有转轴三（16），所述转轴三（16）与支撑箱（6）内壁之间设有扭簧，所述转轴三（16）与转轴二均与支撑箱（6）内壁转动连接。
4.根据权利要求3所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述转轴一（11）与从动轴（10）的外壁上均固定连接有链轮，两个所述链轮通过链条（17）传动连接。
5.根据权利要求4所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述驱动轴（9）的一端固定连接有电机输出轴，所述传动带二（3）的一侧下方设有收集槽（18），所述收集槽（18）内壁上设有缓冲绵。
6.根据权利要求1所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述限位机构包括阻尼转轴（19）和限位板（20），所述传动带一（2）的两端均设有支撑板，所述支撑板上转动连接有阻尼转轴（19），所述阻尼转轴（19）的上端外壁上固定连接有限位板（20），所述限位板（20）活动设于传动带一（2）的上端。
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