CN221124754U - 一种侧向下针的测试机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种侧向下针的测试机构,包括载板,载板设置有用于放置产品的产品槽,产品槽旁设有探针滑槽,探针滑槽设有从产品槽侧壁连通的过针孔,探针滑槽内设置有探针滑块,探针滑槽内安装有将探针滑块推至远离产品槽的滑块弹簧,探针滑块设有用于将其推近产品槽的探针推台,探针滑块设置有测试探针,探针滑块靠近产品槽时,测试探针穿过所述过针孔进入产品槽内;本实用新型通过在产品槽侧向设置可进内与产品接触的探针,从而实现在产品槽上方预留空间给予上下料装置实现自动化上下料或给予其他功能的测试装置安装的空间,以降低测试机构的体积和制造成本;本实用新型属于测试设备的技术领域。
Description
技术领域
本实用新型属于测试设备的技术领域,尤其涉及一种侧向下针的测试机构。
背景技术
随着人们对电子类消费品的品质越来越高,为了保证有足够的竞争力,因此,往往需要对电子类消费品实现各个功能的元组件进行功能性测试,以确保生产良率和提升产品质量。在常规的测试机构中,主要是利用动力模组驱动探针模组从上方下压至载具内与产品接触通电,以进行测试,因此,如果只需对产品进行单项测试的情况下,导致载具上方的空间则被探针模组和驱动其下降的动力模座占用,从而不能在载具上方设置自动上下料的装置,如利用输送机构实现将载具移送至实现上下料的装置处进行自动上下料,则会使设备变得庞大且制造成本也随之提高。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种侧向下针的测试机构,以通过在载具侧向设置进入与产品接触的探针,从而给予载具上方预留安装其他装置的空间。
所述一种侧向下针的测试机构包括载板,载板设置有用于放置产品的产品槽,产品槽旁设有探针滑槽,探针滑槽设有从产品槽侧壁连通的过针孔,探针滑槽内设置有探针滑块,探针滑槽内安装有将探针滑块推至远离产品槽的滑块弹簧,探针滑块设有用于将其推近产品槽的探针推台,探针滑块设置有测试探针,探针滑块靠近产品槽时,测试探针穿过所述过针孔进入产品槽内。
根据所述技术方案,以在对产品测试时,产品放入产品槽内后,动力模组通过探针推台将探针滑块推近产品槽,使测试探针穿过所述过针孔进入产品槽内与产品接触通电进行测试,完成测试后,动力模组停止对探针滑块推动,滑块弹簧将探针滑块推至远离产品槽,测试探针随之移离开产品槽,以将产品槽内的产品取出;因此,本实用新型相对于常规的测试机构具备以下有益效果:本实用新型通过在产品槽侧向设置可进内与产品接触的探针,从而实现在产品槽上方预留空间给予上下料装置实现自动化上下料或给予其他功能的测试装置安装的空间,以降低测试机构的体积和制造成本。
为了进一步优化以上技术方案,在不冲突的情况下,可选与以下一个或多个实施方式进行结合。
在一些实施方式中,探针滑块设有探针孔,测试探针包括均位于探针孔内的固定部和活动部,固定部固定于所探针孔内,固定部设有与活动部连接的探针弹簧,活动部的一端可穿过过针孔进入产品槽内;
根据所述技术方案,以使本实用新型进一步地实现以下有益效果:1、利用探针弹簧实现对探针与产品接触时的撞击力和压力进行缓冲;2、使测试探针能够实现与非平面接触进行测试;3、使测试探针无需等到产品在产品槽内完全定位固定后才与产品接触,即可在测试探针与产品接触后再调整产品在产品槽内的位置,从而降低装载时间、提高定位精度和测试效率。
在一些实施方式中,探针滑槽设有让位部,探针滑块设有位于让位部内滑动的探针加固部,探针孔位于探针加固部内;根据所述技术方案,以在探针滑块带动测试探针移动时,提高测试探针的强度。
在一些实施方式中,探针滑槽设有限制探针滑块滑动行程的限位部;根据所述技术方案,以避免探针滑块过度靠近产品槽而导致对产品或测试探针造成损坏。
在一些实施方式中,载板设有外设定位部;根据所述技术方案,以使设置于产品槽上方的设备能够精准地对产品槽内的产品进行加工、夹放或调整产品的位置。
在一些实施方式中,载板安装有横向定位座,横向定位座安装有横向导轴,横向导轴上滑动有可进入产品槽内的横向压块,横向压块设有带动其滑动的横向推台;根据所述技术方案,可通过横向推台推动横向压块进入产品槽内对产品进行横向定位,从而使测试探针能够更精准地与产品接触。
在一些实施方式中,横向定位座安装有将横向压块推至产品槽上的横向弹簧;根据所述技术方案,以通过利用横向弹簧实现自动地横向压块推至产品槽上对产品进行固定,而在取出产品时,则可通过横向推台将横向压块从产品槽拉出。
在一些实施方式中,载板设有浮动螺钉,浮动螺钉设置在上滑动并可滑入产品槽内的纵向压块,纵向压块设有用于带动其滑动的纵向推拉部;根据所述技术方案,以实现通过动力模组推动纵向压块推入产品槽内对产品进行纵向定位,从而测试探针能够更精准地与产品接触。
在一些实施方式中,载板安装有将纵向压块推出产品槽的纵向弹簧;根据所述技术方案,在动力模组停止对纵向压块推入产品槽内时,纵向弹簧自动地推动纵向压块移离开产品槽,以便于对产品槽内的产品取出。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型中的具体实施方式,以下将对具体实施方式中描述中需要使用的附图及标号作简单说明。
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的爆炸图;
图3是本实用新型所述横向定位座部位的剖面视图;
图4是本实用新型所述纵向压块部位的剖面视图;
图5是本实用新型所述探针滑块部位的剖面视图。
附图标记:
1、载板;11、产品槽;12、外设定位部;2、探针滑槽;21、过针孔;22、探针滑块;23、滑块弹簧;24、探针推台;25、探针孔;26、让位部;27、探针加固部;28、限位部;3、测试探针;31、固定部;32、活动部;33、探针弹簧;4、横向定位座;41、横向导轴;42、横向压块;43、横向推台;44、横向弹簧;5、浮动螺钉;51、纵向压块;52、纵向推拉部;53、纵向弹簧;6、产品。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了,下面结合具体实施方式并参照附图,对本实用新型进一步详细说明。应该理解,这些描述只是示例性的,而并非要限制本实用新型的范围。此外,在以下说明中,省略了对公知结构和技术的描述,以避免不必要地混淆本实用新型的概念。
如图1至5所示,本具体实施方式提供一种侧向下针的测试机构,其包括载板1,载板1设置有产品槽11和外设定位部12;产品槽11用于放置产品6;外设定位部12可选择为定位孔、定位柱或定位磁芯组件等,以使设置于产品槽11上方的外设下降时能够与载板1定位对齐,外设可以为上下料装置、另一下压式探针组等。
如图1、2和5所示,产品槽11旁设有探针滑槽2,探针滑槽2设有过针孔21、限位部28和让位部26;过针孔21从产品槽11侧壁连通,探针滑槽2内设置有探针滑块22,探针滑槽2内安装有将探针滑块22推至远离产品槽11的滑块弹簧23,探针滑块22设有用于将其推近产品槽11的探针推台24,探针限位部28用于限制探针滑块22靠近产品槽11滑动的行程,探针滑块22设有位于让位部26内滑动的探针加固部27,探针加固部27设有探针孔25,探针孔25内设置有测试探针3,测试探针3包括固定部31和活动部32,固定部31固定于探针孔25内,活动部32可在探针孔25内滑动,固定部31设有与活动部32连接的探针弹簧33,探针滑块22近产品槽11时,测试探针3的活动部32一端穿过所述过针孔21进入产品槽11内。
如图1、2和3所示,载板1安装有横向定位座4,横向定位座4安装有横向导轴41和横向弹簧44,横向导轴41上滑动有横向压块42,横向弹簧44与横向压块42连接,以将横向压块42推至产品槽11上,横向压块42设有带动去滑动的横向推台43。
如图1、2和4所示,载板1设有浮动螺钉5和纵向弹簧53,浮动螺钉5设置在上滑动纵向压块51,纵向弹簧53与纵向压块51连接,以将纵向压块51推出产品槽11的纵向弹簧53,纵向压块51设有用于带动其滑动至产品槽11内的纵向推拉部52。
以下为本具体实施方式所述测试机构的工作过程:
通过横向推台43拉动横向压块42移离产品槽11,然后将测试产品6放入至产品槽11内,此后,松开对横向推台43拉动,横向弹簧44推动横向压块42至产品槽11上,以对产品槽11内的产品6横向定位;此后,第一动力模组通过纵向推拉部52推动纵向压块51压入至产品槽11内,以对产品槽11内的产品6进行纵向定位;此后,第二动力模组通过探针推台24将探针滑块22推近产品槽11,使测试探针3的活动部32穿过所述过针孔21进入产品槽11内与产品6接触通电进行测试;
完成对产品6测试后,第二动力模组停止对探针滑块22推动,滑块弹簧23将探针滑块22推至远离产品槽11,测试探针3的活动部32随之移离开产品槽11;此后,第一动力模组停止对纵向压块51推动,此时,纵向弹簧53将纵向压块51推出产品槽11;此后,通过横向推台43拉动横向压块42移离产品槽11,将产品槽11内的产品6取出。
应当理解的是,本实用新型的上述具体实施方式仅用于示例性说明或解释本实用新型的原理,而不构成对本实用新型的限制。因此,在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。此外,本实用新型所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。
Claims (9)
1.一种侧向下针的测试机构,其包括载板(1),所述载板(1)设置有用于放置产品(6)的产品槽(11),其特征在于:所述产品槽(11)旁设有探针滑槽(2),所述探针滑槽(2)设有从所述产品槽(11)侧壁连通的过针孔(21),所述探针滑槽(2)内设置有探针滑块(22),所述探针滑槽(2)内安装有将所述探针滑块(22)推至远离所述产品槽(11)的滑块弹簧(23),所述探针滑块(22)设有用于将其推近所述产品槽(11)的探针推台(24),所述探针滑块(22)设置有测试探针(3),所述探针滑块(22)靠近所述产品槽(11)时,所述测试探针(3)穿过所述过针孔(21)进入所述产品槽(11)内。
2.根据权利要求1所述的一种侧向下针的测试机构,其特征在于:所述探针滑块(22)设有探针孔(25),所述测试探针(3)包括均位于所述探针孔(25)内的固定部(31)和活动部(32),所述固定部(31)固定于所探针孔(25)内,所述固定部(31)设有与所述活动部(32)连接的探针弹簧(33),所述活动部(32)的一端可穿过所述过针孔(21)进入所述产品槽(11)内。
3.根据权利要求2所述的一种侧向下针的测试机构,其特征在于:所述探针滑槽(2)设有让位部(26),所述探针滑块(22)设有位于所述让位部(26)内滑动的探针加固部(27),所述探针孔(25)位于所述探针加固部(27)内。
4.根据权利要求3所述的一种侧向下针的测试机构,其特征在于:所述探针滑槽(2)设有限制所述探针滑块(22)滑动行程的限位部(28)。
5.根据权利要求1所述的一种侧向下针的测试机构,其特征在于:所述载板(1)设有外设定位部(12)。
6.根据权利要求1至5任意一项所述的一种侧向下针的测试机构,其特征在于:所述载板(1)安装有横向定位座(4),所述横向定位座(4)安装有横向导轴(41),所述横向导轴(41)上滑动有可进入所述产品槽(11)内的横向压块(42),所述横向压块(42)设有带动其滑动的横向推台(43)。
7.根据权利要求6所述的一种侧向下针的测试机构,其特征在于:所述横向定位座(4)安装有将所述横向压块(42)推至产品槽(11)上的横向弹簧(44)。
8.根据权利要求1至5任意一项所述的一种侧向下针的测试机构,其特征在于:所述载板(1)设有浮动螺钉(5),所述浮动螺钉(5)设置在上滑动并可滑入所述产品槽(11)内的纵向压块(51),所述纵向压块(51)设有用于带动其滑动的纵向推拉部(52)。
9.根据权利要求8所述的一种侧向下针的测试机构,其特征在于:所述载板(1)安装有将所述纵向压块(51)推出所述产品槽(11)的纵向弹簧(53)。
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