CN220853420U - 一种退火窑辊道套筒和键的检验工具 - Google Patents
一种退火窑辊道套筒和键的检验工具 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种退火窑辊道套筒和键的检验工具，包括圆盘，所述圆盘上端面向上凸出有至少两个定位块，至少两个所述定位块形状为半圆形，至少两个所述定位块组成的圆直径与套筒内径相等，至少两个所述定位块之间形成有键槽，所述键槽宽度与键的厚度相同。本申请通过采用圆盘和定位块的配合，可对键和套筒进行检测，其结构简单、成本低，且可以提高检验精度及检验工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及检验工具技术领域，具体涉及一种退火窑辊道套筒和键的检验工具。
背景技术
在玻璃生产线上，退火窑辊道输送是很关键的一项工作，其中，传动装置中传动轴之间的套筒、键的配合连接是保证辊道正常运行的核心所在。
套筒的键槽尺寸、对称度，键的尺寸及配合间隙直接影响传动轴整体的动能传递以及传动的安装的正常进行，从而影响传动装置的稳定性，导致辊道输送无法正常工作。
套筒加工的检验，内径使用内径百分表进行测量，校正内径百分表、及测量过程存在误差，工作效率不高；套筒中的键槽相对内径对称度使用直尺进行测量，准确度、精度无法进行保证，且检验效率较低。
实用新型内容
本实用新型的目的就在于解决套筒加工的检验，内径使用内径百分表进行测量，校正内径百分表、及测量过程存在误差，工作效率不高；套筒中的键槽相对内径对称度使用直尺进行测量，准确度、精度无法进行保证，且检验效率较低的问题，而提出一种退火窑辊道套筒和键的检验工具。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：
一种退火窑辊道套筒和键的检验工具，包括圆盘，所述圆盘上端面向上凸出有至少两个定位块，至少两个所述定位块形状为半圆形，至少两个所述定位块组成的圆直径与套筒内径相等，至少两个所述定位块之间形成有键槽，所述键槽宽度与键的厚度相同。
作为本实用新型进一步的方案：所述套筒内开设有滑槽，所述键通过所述滑槽插入在所述套筒内。
本实用新型的有益效果：本申请通过采用圆盘和定位块的配合，可对键和套筒进行检测，其结构简单、成本低，且可以提高检验精度及检验工作效率。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
图1是本实用新型的结构示意图；
图2是本实用新型检验过程示意图；
图3是本实用新型图2的侧视图；
图4是本实用新型图2的俯视图。
图中：1、套筒；101、滑槽；2、圆盘；201、定位块；202、键槽；3、键。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4所示，本实用新型为，一种退火窑辊道套筒和键的检验工具，包括圆盘2，所述圆盘2上端面向上凸出有至少两个定位块201，至少两个所述定位块201形状为半圆形，至少两个所述定位块201组成的圆直径与套筒1内径相等，至少两个所述定位块201之间形成有键槽202，所述键槽202宽度与键3的厚度相同。
所述套筒1内开设有滑槽101，所述键3通过所述滑槽101插入在所述套筒1内。
使用时，将套筒1放置于圆盘2上，可直观检测套筒1内径尺寸是否符合要求；
转动套筒1使套筒1内滑槽101与圆盘2上的键槽202对齐，然后放入键3，观测键3是否可正常落入键槽202内，落入检验工具上的键槽202内，可以判定套筒1中所加工的滑槽101(又称键槽)对称度符合要求，反之则不符合要求；放入键的过程中可直接适配键3的长度、厚度尺寸是否符合要求。
本发明结构简单、成本低，且可以提高检验精度及检验工作效率。
以上对本实用新型的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的权利要求涵盖范围之内。
Claims (2)
1.一种退火窑辊道套筒和键的检验工具，其特征在于，包括圆盘(2)，所述圆盘(2)上端面向上凸出有至少两个定位块(201)，至少两个所述定位块(201)形状为半圆形，至少两个所述定位块(201)组成的圆直径与套筒(1)内径相等，至少两个所述定位块(201)之间形成有键槽(202)，所述键槽(202)宽度与键(3)的厚度相同。
2.根据权利要求1所述的一种退火窑辊道套筒和键的检验工具,其特征在于，所述套筒(1)内开设有滑槽(101)，所述键(3)通过所述滑槽(101)插入在所述套筒(1)内。
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- 2023-10-11 CN CN202322729878.6U patent/CN220853420U/zh active Active
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