CN220773213U - 一种双探针芯片测试装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 79
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 34
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型涉及检测装置技术领域，具体为一种双探针芯片测试装置，其能够快速完成芯片测试，提高效率，降低劳动强度，其包括测试平台和测试设备，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升降的测试盒，所述测试盒的左侧内壁上安装有固定块、右侧内壁上设置有活动块，所述活动块连接所述测试盒内壁的测试气缸，所述固定块上插装有第一探针，所述活动块上插装有第二探针，所述第一探针和所述第二探针分别通过导线连接所述测试盒顶部的转接头，所述转接头与所述测试设备电控连接。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测装置技术领域，具体为一种双探针芯片测试装置。
背景技术
在芯片完成焊接后，需要对其进行电压和电流测试，现有常见的操作是人工将芯片取放到测试平台上，定位固定后，开启测试设备，两个手分别手持测试探针接触到芯片上的两个测试点进行测试，测试完成后，需先将探针放置复位，再将芯片取走，准备下一个芯片的测试，整个过程，操作人员需要频繁在芯片取放和探针取放之间切换，劳动强度大，探针需依靠人手来控制接触点，容易出现接触位置偏差等问题，影响测试效率。
发明内容
为了解决现有测试效率低，操作人员劳动强度大的问题，本实用新型提供了一种双探针芯片测试装置，其能够快速完成芯片测试，提高效率，降低劳动强度。
其技术方案是这样的：一种双探针芯片测试装置，其包括测试平台和测试设备，其特征在于，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升降的测试盒，所述测试盒的左侧内壁上安装有固定块、右侧内壁上设置有活动块，所述活动块连接所述测试盒内壁的测试气缸，所述固定块上插装有第一探针，所述活动块上插装有第二探针，所述第一探针和所述第二探针分别通过导线连接所述测试盒顶部的转接头，所述转接头与所述测试设备电控连接。
其进一步特征在于，所述测试盒底部开口，所述测试平台上开设有位置对应所述测试盒且尺寸大于所述测试盒的矩形槽，所述定位块和所述真空吸附口设置于所述矩形槽内的矩形块上；
所述固定块与所述活动块相对的一面分别设置有对应的凸块和凹槽。
采用本实用新型后，对芯片测试时，操作人员只需要进行芯片的上下料操作，再启动真空吸附口和气缸测试开关即可完成测试，大大简化了操作难度，降低了劳动强度，芯片定位后，位置固定的探针能够顺利接触到位，确保了测试精确度，整体检测效率也得到了较大的提高。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为测试盒内部结构示意图；
图3为测试平台俯视图；
图4为固定块与活动块接触面俯视图。
具体实施方式
见图1至图4所示，一种双探针芯片测试装置，其包括测试平台1和测试设备2，测试平台1上设置有定位块3和竖向布置的无杆气缸4，定位块3两侧分别设置有真空吸附口5，无杆气缸4上安装有可升降的测试盒6，测试盒6的左侧内壁上安装有固定块7、右侧内壁上设置有活动块8，活动块8连接测试盒6内壁的测试气缸9，固定块7上插装有第一探针10，活动块8上插装有第二探针11，第一探针10和第二探针11分别通过导线12连接测试盒6顶部的转接头13，转接头13与测试设备2电控连接。为了安全性，第一探针10与第二探针11均不露出测试盒6，因此测试盒6底部开口，测试平台1上开设有位置对应测试盒6且尺寸大于测试盒6的矩形槽14，定位块3和真空吸附口5设置于矩形槽14内的矩形块17上，当测试盒6下降时，测试盒6的四面侧壁可以插入矩形槽14内，使测试盒6内的第一探针10和第二探针11能够顺利接触到芯片；固定块7与活动块8相对的一面分别设置有对应的凸块15和凹槽16，对活动块8起到了一定的导向作用。
开始测试时，将芯片放在矩形块17上，背面利用凸起的定位块3定位，放置到位后，真空吸附口5吸附住芯片，无杆气缸4驱动测试盒6下降，先让第一探针10接触到芯片进行电压测试，然后测试气缸9驱动第二探针11下降一点点距离，使其接触到芯片进行电流测试，测试完成后，无杆气缸4和测试气缸9均复位，真空吸附口5不再吸附，将芯片取下，准备下一个芯片的测试。
Claims (3)
1.一种双探针芯片测试装置，其包括测试平台和测试设备，其特征在于，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升降的测试盒，所述测试盒的左侧内壁上安装有固定块、右侧内壁上设置有活动块，所述活动块连接所述测试盒内壁的测试气缸，所述固定块上插装有第一探针，所述活动块上插装有第二探针，所述第一探针和所述第二探针分别通过导线连接所述测试盒顶部的转接头，所述转接头与所述测试设备电控连接。
2.根据权利要求1所述的一种双探针芯片测试装置，其特征在于，所述测试盒底部开口，所述测试平台上开设有位置对应所述测试盒且尺寸大于所述测试盒的矩形槽，所述定位块和所述真空吸附口设置于所述矩形槽内的矩形块上。
3.根据权利要求1所述的一种双探针芯片测试装置，其特征在于，所述固定块与所述活动块相对的一面分别设置有对应的凸块和凹槽。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202322296016.9U CN220773213U (zh) | 2023-08-25 | 2023-08-25 | 一种双探针芯片测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202322296016.9U CN220773213U (zh) | 2023-08-25 | 2023-08-25 | 一种双探针芯片测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN220773213U true CN220773213U (zh) | 2024-04-12 |
Family
ID=90603303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN202322296016.9U Active CN220773213U (zh) | 2023-08-25 | 2023-08-25 | 一种双探针芯片测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN220773213U (zh) |
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2023
- 2023-08-25 CN CN202322296016.9U patent/CN220773213U/zh active Active
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