CN220693002U - 一种电源控制电路及供电系统 - Google Patents

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Abstract

本申请提供一种电源控制电路及供电系统,该电源控制电路包括通断模块、检测模块以及控制模块;通断模块设置在电源的输入侧与输出侧之间,并用于控制输入侧与输出侧之间的通/断;检测模块连接在通断模块与输出侧之间,以用于获取通断模块向输出侧输出的第一电压;控制模块与通断模块以及检测模块连接,控制模块用于根据第一电压的电压值输出第一控制信号,以控制通断模块的通/断;一方面通过对通断模块输出的第一电压进行检测,有利于提高对电源输出电压的监控能力;另一方面设置控制模块根据第一电压来调节第一控制信号的占空比,以调节通断模块的关断周期以及第一电压,实现对电源输出电压的闭环控制,有利于提高对电源输出电压的控制精度。

Description

一种电源控制电路及供电系统
技术领域
本申请属于电源控制技术领域,尤其涉及一种电源控制电路及供电系统。
背景技术
目前,电子产品中的供电系统多包括有电源以及控制芯片,控制芯片输出控制信号以控制电源的通断。
然而,在相关的供电系统技术中,由于电路元器件本身误差或其他环境因素,可能存在电源的实际输出电压不同于预设输出电压的情况,进而可能会引发负载过压或带不动负载的情况。
因此,如何提高对电源输出电压的控制精度是本领域技术人员目前需要解决的问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种电源控制电路及供电系统,旨在解决传统技术中对电源输出电压的控制精度不高的问题。
本申请实施例的第一方面提出了一种电源控制电路,电源包括输入侧和输出侧,所述电源控制电路用于接入在所述输入侧和所述输出侧之间,所述电源控制电路包括:
通断模块,设置在所述输入侧与所述输出侧之间,并用于控制所述输入侧与所述输出侧之间的通/断;
检测模块,连接在所述通断模块与所述输出侧之间,所述检测模块用于获取所述通断模块向所述输出侧输出的第一电压;
控制模块,与所述通断模块以及所述检测模块连接,所述控制模块用于根据所述第一电压输出第一控制信号,以控制所述通断模块的通/断;
其中,所述控制模块用于根据所述第一电压调节所述第一控制信号的占空比,以调节所述通断模块的关断周期,进而调节所述第一电压。
在本申请的部分实施例中,所述检测模块包括:
第一检测单元,用于获取所述第一电压,并根据所述第一电压输出第一子检测信号;
第二检测单元,连接在所述通断模块与所述输出侧之间,所述第二检测单元用于获取所述通断模块输入到所述输出侧的第二电压,并根据所述第二电压输出第二子检测信号;
其中,所述第一子检测信号与所述第二子检测信号汇流后得到所述第一检测信号,所述控制模块响应所述第一检测信号输出所述第一控制信号。
在本申请的部分实施例中,所述第二检测单元包括第一芯片,所述第一芯片内存储有第一预设值,所述第一芯片用于获取所述第二电压,并将所述第二电压的信号值与所述第一预设值进行比较后,输出所述第二子检测信号;
其中,所述第一芯片被配置为当所述第二电压的信号值小于所述第一预设值时,所述第一芯片减小所述第二子检测信号的信号强度,以减小所述第一检测信号的信号强度;
当所述第二电压的信号值大于所述第一预设值时,所述第一芯片增大所述第二子检测信号的信号强度,以增大所述第一检测信号的信号强度。
在本申请的部分实施例中,所述通断模块包括第一晶体管,所述第一晶体管一端连接所述输入侧,另一端连接所述输出侧;所述第一晶体管还连接所述控制模块,且所述控制模块用于输出第一控制信号,以控制所述第一晶体管两端的通/断;
其中,所述控制模块被配置为用于调节所述第一控制信号,以调节所述第一电压和/或所述第二电压。
在本申请的部分实施例中,所述第二子检测信号为模拟信号,且所述第一芯片用于调节所述第二子检测信号的变化速率,以调节所述第一检测信号的变化速率,进而调节所述第一控制信号。
在本申请的部分实施例中,所述第二子检测信号为数字信号,所述第一芯片用于调节所述第二子检测信号的占空比变化速率,以调节所述第一检测信号的变化速率,进而调节所述第一控制信号。
在本申请的部分实施例中,所述第一检测单元包括第一电阻和第二电阻;其中,所述第一电阻一端连接在所述通断模块与所述输出侧之间,另一端连接所述第二电阻,所述第二电阻远离所述第一电阻的一端接地,所述控制模块连接在所述第一电阻和所述第二电阻之间。
在本申请的部分实施例中,所述第二检测单元还包括信号放大器,所述信号放大器具有第一输入端、第二输入端以及输出端,所述第一输入端连接所述第一芯片,并用于接收所述第二子检测信号,所述第二输入端与所述输出端短接,所述输出端连接在所述第一电阻和所述第二电阻之间。
在本申请的部分实施例中,所述第二检测单元还包括至少一个滤波结构,所述滤波结构包括第三电阻和第一电容,所述第三电阻串联在所述第一输入端与所述第一芯片之间,所述第一电容一端连接在所述第三电阻与所述第一输出端之间,另一端接地。
第二方面,本申请还提供一种供电系统,所述供电系统包括电源以及上述的电源控制系统,所述电源包括输入侧和输出侧,所述电源控制电路接入在所述输入侧和所述输出侧之间,并用于控制所述输入侧与所述输出侧之间的/通断。
本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是:上述的电源控制电路及供电系统,电源包括输入侧和输出侧,电源控制电路用于接入在输入侧和输出侧之间;该电源控制电路包括通断模块、检测模块以及控制模块;通断模块设置在输入侧与输出侧之间,并用于控制输入侧与输出侧之间的通/断;检测模块连接在通断模块与输出侧之间,以用于获取通断模块向输出侧输出的第一电压;控制模块与通断模块以及检测模块连接,控制模块用于根据第一电压的电压值输出第一控制信号,以控制通断模块的通/断;本申请中一方面通过检测模块对通断模块输出的第一电压进行检测,有利于提高对电源输出电压的监控能力;另一方面通过设置控制模块根据第一电压来调节第一控制信号的占空比,以调节通断模块的关断周期,进而调节第一电压,实现对电源输出电压的闭环控制,有利于提高对电源输出电压的控制精度。
附图说明
图1为本申请一实施例提供的电源控制电路的结构示意图;
图2为本申请另一实施例提供的电源控制电路的结构示意图;
图3为本申请一实施例提供的电源控制电路的电路结构示意图。
具体元素符号说明:100-通断模块,200-输入侧,300-输出侧,400-检测模块,410-第一检测单元,420-第二检测单元,500-控制模块,Q 1-第一晶体管,L1-第一电感,R4-第一电阻,R5-第二电阻,R6-第六电阻,R7-第七电阻,R8-第八电阻,R9-第九电阻,R10-第十电阻,R11-第三电阻,C3-第三电容,C7-第一电容,C6-第六电容,U2-信号放大器,U3-第一芯片。
具体实施方式
为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
需要说明的是,当元件被称为“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
需要说明的是,电子产品可应用在人工智能、仪器仪表、工业自动化、新能源等领域。目前的电子产品多采用供电系统提供所需电能。供电系统多包括电源以及控制芯片,通过控制芯片能够对电源的供电状态进行控制。
然而,在相关技术中,供电系统并不能对电源的输出电压进行检测,可能存在由于电路元器件本身误差或其他环境因素,可能存在电源的实际输出电压不同于预设输出电压的情况。在电源的实际输出电压大于预设输出电压时,可能存在负载过压的情况;在电源的实际输出电压小于预设输出电压时,可能存在负载低压导致负载无法正常工作的情况。例如,控制芯片为DC/DC芯片时,由于其为功率器件,工作温度相对较高,长时间工作会影响到周边元器件的精度,从而影响输出电压的精度。
本申请基于此对相关的电源控制电路及供电系统进行了改进。
请结合参阅图1,图1示出了本实施例提供的电源控制电路的框架结构示意图。本实施例的一种电源控制电路,电源包括输入侧200和输出侧300,电源控制电路用于接入在输入侧200和输出侧300之间。需要解释的是,当输入侧200和输出侧300之间导通时,电源能够通过输出侧300为电子产品供电,当输入侧200和输出侧300之间断开时,电源无法为电子产品供电。
该电源控制电路包括通断模块100、检测模块400以及控制模块500。通断模块100设置在输入侧200与输出侧300之间,并用于控制输入侧200与输出侧300之间的通/断。可以理解的是,通断模块100为单个开关型元件或多个开关型元件的组合,能够通过调节通断模块100的通/断,来调节输入侧200和输出侧300之间的通/断。
检测模块400连接在通断模块100与输出侧300之间,检测模块400用于获取通断模块100向输出侧300输出的第一电压。可以理解的是,检测模块400获取第一电压并输出第一检测信号,能够通过第一检测信号表征第一电压。
控制模块500与通断模块100以及检测模块400连接,控制模块500用于根据第一电压输出第一控制信号,以控制通断模块100的通/断。可以理解的是,控制模块500接收到第一检测信号,并根据第一检测信号来控制通断模块100的通/断。
具体地,控制模块500用于根据第一电压调节第一控制信号的占空比,以调节通断模块100的关断周期,进而调节第一电压。也就是说,控制模块500可根据检测到的第一电压,来调节第一电压,以此实现闭环控制。
当前的电源控制电路中,多仅通过控制模块500对通断模块100进行控制,从而控制输入侧200和输出侧300之间的通断。但是,电源输出到输出侧300的电压可能存在误差,进而会应影响到电源的供电性能。然而,本申请中一方面通过检测模块400对通断模块100输出的第一电压进行检测,有利于提高对电源输出电压的监控能力;另一方面通过设置控制模块500根据第一电压来调节第一控制信号的占空比,以调节通断模块100的关断周期,进而调节第一电压,实现对电源输出电压的闭环控制,有利于提高对电源输出电压的控制精度,进而有利于保障电源输出电压的稳定性。
在本申请的部分实施例中,请参阅图2,图2示出了本实施例提供的电源控制电路的框架结构图。本实施例的检测模块400包括第一检测单元410和第二检测单元420。第一检测单元410用于获取第一电压,并根据第一电压输出第一子检测信号。
第二检测单元420连接在通断模块100与输出侧300之间,第二检测单元420用于获取通断模块100输入到输出侧300的第二电压,并根据第二电压输出第二子检测信号。需要解释的是,第一检测单元410一端连接在通断模块100与输出侧300之间,另一端连接控制模块500;第二检测单元420一端连接在通断模块100与输出侧300之间,另一端与第一检测单元410共接于控制模块500。
其中,第一子检测信号与第二子检测信号汇流后得到第一检测信号,控制模块500响应第一检测信号输出第一控制信号。需要解释的是,通过对第一电压和第二电压进行同时检测,有利于提高检测精度。
在本申请的部分实施例中,请参阅图3,图3示出了本实施例提供的电源控制电路的电路结构图。本实施例的第二检测单元420包括第一芯片U3(对应图3中的MCU单元),第一芯片U3内存储有第一预设值,第一芯片U3用于获取第二电压,并将第二电压的信号值与第一预设值进行比较后,输出第二子检测信号。也就是说,第一芯片U3可根据第二电压输出第二子检测信号。
具体地,第一芯片U3被配置为当第二电压的信号值小于第一预设值时,第一芯片U3减小第二子检测信号的信号强度,以减小第一检测信号的信号强度。可以理解为,当第二电压小于第一预设值时,需要通过减小第一检测信号的信号强度,来减小第一控制信号的信号强度,以此来增大第一电压以及第二电压。直到第二电压的信号值落在第一预设值的范围内,才停止减小第一子检测信号,在此过程中,一方面能够对输出电压进行调控,另一方面能够缓慢增大第一电压以及第二电压,有利于实现电源的软启动。
需要解释的是,第一电压和第二电压均能够表征输出侧300的输出电压。
当第二电压的信号值大于第一预设值时,第一芯片U3增大第二子检测信号的信号强度,以增大第一检测信号的信号强度。可以理解为,当第二电压大于第一预设值时,需要通过增大第一检测信号的信号强度,来增大第一控制信号的信号强度,以此来减小第一电压以及第二电压。
在本申请的部分实施例中,请继续参阅图3,本实施例的通断模块100包括第一晶体管Q1,第一晶体管Q1一端连接输入侧200,另一端连接输出侧300;第一晶体管Q1还连接控制模块500,且控制模块500用于输出第一控制信号,以控制第一晶体管Q1两端的通/断。其中,控制模块500被配置为用于调节第一控制信号,以调节第一电压和/或第二电压。
在一些实施例中,第一晶体管Q1为MOS管或三极管。
具体地,第一晶体管Q1为P沟道MOS管,第一晶体管Q1的G极连接控制模块500,S极连接输入侧200,D极连接输出侧300。
在本申请的部分实施例中,第二子检测信号为模拟信号,且第一芯片U3用于调节第二子检测信号的变化速率,以调节第一检测信号的变化速率,进而调节第一控制信号。
在本申请的部分实施例中,第二子检测信号为数字信号,第一芯片U3用于调节第二子检测信号的占空比变化速率,以调节第一检测信号的变化速率,进而调节第一控制信号。
在本申请的部分实施例中,第一检测单元410包括第一电阻R4和第二电阻R5;其中,第一电阻R4一端连接在通断模块100与输出侧300之间,另一端连接第二电阻R5,第二电阻R5远离第一电阻R4的一端接地,控制模块500连接在第一电阻R4和第二电阻R5之间。
在本申请的部分实施例中,第二检测单元420还包括信号放大器U2,信号放大器U2具有第一输入端、第二输入端以及输出端,第一输入端连接第一芯片U3,并用于接收第二子检测信号,第二输入端与输出端短接,输出端连接在第一电阻R4和第二电阻R5之间。
在本申请的部分实施例中,第二检测单元420还包括至少一个滤波结构,滤波结构包括第三电阻R11和第一电容C7,第三电阻R11串联在第一输入端与第一芯片U3之间,第一电容C7一端连接在第三电阻R11与第一输出端之间,另一端接地。通过滤波结构能够提高第二子检测信号的信号精度。
在本申请的具体实施例中,请继续参阅图3,图3中的电源输入对应输入侧200,电源输出对应输出侧300,DC/DC芯片对应控制模块500,Q1对应第一晶体管Q1。
其中,第一晶体管Q1与输出侧300之间还设置有第一电感L1,第一子检测单元连接在第一电感L1与输出侧300之间。第一子检测单元还包括第三电容C3,第三电容C3一端连接在第一电感L1和输出侧300之间,另一端连接在第一电阻R4和第二电阻R5之间。
第二检测单元420还包括第七电阻R7、第八电阻R8以及第九电阻R9,其中,第七电阻R7一端连接输出侧300,另一端连接第八电阻R8,第八电阻R8远离第七电阻R7的一端接地。第九电阻R9一端连接在第七电阻R7和第八电阻R8之间,另一端连接第一芯片U3的Vos脚。
滤波结构的数量为两个,其中一个滤波结构包括第一电容C7和第三电阻R11;另一个滤波结构包括第六电容C6和第十电阻R10,第十电阻R10一端连接第三电阻R11,另一端连接信号放大器U2的第一输入端,第六电容C6连接在第十电阻R10和第一输入端之间;第三电阻R11远离第十电阻R10的一端连接第一芯片U3的Vset脚。
具体地,第二检测单元420还包括第六电阻R6,第六电阻R6一端连接信号放大器U2的输出端,另一端连接在第一电阻R4和第二电阻R5之间。
在本实施例中,第一晶体管Q1导通时,输入侧200经过第一晶体管Q1、第一电感L1输出电压至输出侧300;第一晶体管Q1关断时,第一电感L1能够持续为输出侧300供电。在实际的工作过程中,第一晶体管Q1以很高的频率在导通和关断之间切换;根据伏秒平衡原理,开通周期D*T内,电感电压为(Vin-Vout);关断周期(1-D)*T内,电感电压为Vout,前后两者乘积相等,即:(Vin-Vout)DT=Vout(1-D)T,其中,D为占空比,T为开关周期,Vin为输入电压,Vout为输出电压(对应第二电压),可以得到:Vout/Vin=D。也就是说,在输入电压确定的情况下,输出电压与占空比相关。而本申请中正是通过调节第一控制信号的占空比来调节电源的输出电压。
在更为具体的实施例中,第一晶体管Q1输出的第一电压经过第一电阻R4和第二电阻R5的分压后,得到第一子检测信号为:Vf1=Vout*R5/(R4+R5)。
将第二电压经过第七电阻R7、第八电阻R8以及第九电阻R9分压后得到Vos,第一芯片U3计算Vos与第一预设值的差值dv,其中,第一预设值可以理解为输出侧300预设的输出电压。若dv在预设误差范围内,则控制第一子检测信号保持不变,若dv大于预设误差范围内,则加强第一子检测信号,直到dv落在预设误差范围内;若dv小于预设误差范围,则减弱第一子检测信号,直到dv落在预设误差范围内。
在一些实施例中,第一芯片U3可根据Vos输出模拟信号或数字信号。
当第一芯片U3输出模拟信号时,Vset经过滤波结构之后得到Va,其中,Va=Vset。并且Va经过信号放大器U2之后得到Vb,其中,Vb=Va。Vout和Vb的关系为:(Vf–Vb)/R6+Vf/R5=(Vout–Vf)/R4,然后得到Vout=Vf*(R4/R6+R4/R5+1)-Vb*R4/R6。其中,R6为第六电阻R6的电阻值,R4为第一电阻R4的电阻值,R5为第二电阻R5的电阻值。
由此可以得出,Vout=Vf*(R4/R6+R4/R5+1)-Vset*R4/R6。因此能够通过调节Vset的变化速率来实现Vout的软启动。
当第一芯片U3输出数字信号时,Vset经过滤波结构之后得到Va,其中,Va=VL+(VH–VL)*TH/(TL+TH)。VL为PWM的低电位值,VH为PWM的高电位值,VL和VH是常数值。TL为PWM低电位值的持续时间,TH为PWM高电位值的持续时间,TL和TH是变量值。通常MCU输出的PWM信号中,VL=0,因此上述公式可以简化为:Va=VH*TH/(TL+TH)。
并且Va经过信号放大器U2之后得到Vb,其中,Vb=Va。Vout和Vb的关系为:(Vf–Vb)/R6+Vf/R5=(Vout–Vf)/R4,然后得到Vout=Vf*(R4/R6+R4/R5+1)-Vb*R4/R6。其中,R6为第六电阻R6的电阻值,R4为第一电阻R4的电阻值,R5为第二电阻R5的电阻值。
由此可以得出,Vout=Vf*(R4/R6+R4/R5+1)–(VH*TH/(TL+TH))*R4/R6。因此能够通过调节Vset的占空比变化速率来实现Vout的软启动。
请继续参阅图3,可调输出电压的DC/DC芯片有一个输入反馈基准电压VFB,将VFB与Vf(对应第一检测信号)比较,当Vf>VFB时,DC/DC芯片增加SW输出的占空比,Vout输出降低,直到Vf和VFB相等。当Vf<VFB时,DC/DC芯片减小SW输出的占空比,Vout输出升高,直到Vf和VFB相等。
进一步地,为了更好地实施例本申请的电源控制电路,在上述任意实施例提供的电源控制电路的基础上,本申请还提供一种供电系统,供电系统包括电源以及上述的电源控制系统,电源包括输入侧200和输出侧300,电源控制电路接入在输入侧200和输出侧300之间,并用于控制输入侧200与输出侧300之间的/通断。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
上文已对基本概念做了描述,显然,对于本领域技术人员来说,上述详细披露仅仅作为示例,而并不构成对本申请的限定。虽然此处并没有明确说明,本领域技术人员可能会对本申请进行各种修改、改进和修正。该类修改、改进和修正在本申请中被建议,所以该类修改、改进、修正仍属于本申请示范实施例的精神和范围。
同时,本申请使用了特定词语来描述本申请的实施例。如“一个实施例”、“一实施例”、和/或“一些实施例”意指与本申请至少一个实施例相关的某一特征、结构或特点。因此,应强调并注意的是,本说明书中在不同位置两次或多次提及的“一实施例”或“一个实施例”或“一个替代性实施例”并不一定是指同一实施例。此外,本申请的一个或多个实施例中的某些特征、结构或特点可以进行适当的组合。
同理,应当注意的是,为了简化本申请披露的表述,从而帮助对一个或多个发明实施例的理解,前文对本申请实施例的描述中,有时会将多种特征归并至一个实施例、附图或对其的描述中。但是,这种披露方法并不意味着本申请对象所需要的特征比权利要求中提及的特征多。实际上,实施例的特征要少于上述披露的单个实施例的全部特征。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电源控制电路,其特征在于,电源包括输入侧和输出侧,所述电源控制电路用于接入在所述输入侧和所述输出侧之间,所述电源控制电路包括:
通断模块,设置在所述输入侧与所述输出侧之间,并用于控制所述输入侧与所述输出侧之间的通/断;
检测模块,连接在所述通断模块与所述输出侧之间,所述检测模块用于获取所述通断模块向所述输出侧输出的第一电压;
控制模块,与所述通断模块以及所述检测模块连接,所述控制模块用于根据所述第一电压输出第一控制信号,以控制所述通断模块的通/断;
其中,所述控制模块用于根据所述第一电压调节所述第一控制信号的占空比,以调节所述通断模块的关断周期,进而调节所述第一电压。
2.根据权利要求1所述的电源控制电路,其特征在于,所述检测模块包括:
第一检测单元,用于获取所述第一电压,并根据所述第一电压输出第一子检测信号;
第二检测单元,连接在所述通断模块与所述输出侧之间,所述第二检测单元用于获取所述通断模块输入到所述输出侧的第二电压,并根据所述第二电压输出第二子检测信号;
其中,所述第一子检测信号与所述第二子检测信号汇流后得到第一检测信号,所述控制模块响应所述第一检测信号输出所述第一控制信号。
3.根据权利要求2所述的电源控制电路,其特征在于,所述第二检测单元包括第一芯片,所述第一芯片内存储有第一预设值,所述第一芯片用于获取所述第二电压,并将所述第二电压的信号值与所述第一预设值进行比较后,输出所述第二子检测信号;
其中,所述第一芯片被配置为:
当所述第二电压的信号值小于所述第一预设值时,所述第一芯片减小所述第二子检测信号的信号强度,以减小所述第一检测信号的信号强度;
当所述第二电压的信号值大于所述第一预设值时,所述第一芯片增大所述第二子检测信号的信号强度,以增大所述第一检测信号的信号强度。
4.根据权利要求3所述的电源控制电路,其特征在于,所述第二子检测信号为模拟信号,且所述第一芯片用于调节所述第二子检测信号的变化速率,以调节所述第一检测信号的变化速率,进而调节所述第一控制信号。
5.根据权利要求3所述的电源控制电路,其特征在于,所述第二子检测信号为数字信号,所述第一芯片用于调节所述第二子检测信号的占空比变化速率,以调节所述第一检测信号的变化速率,进而调节所述第一控制信号。
6.根据权利要求3至5任意一项所述的电源控制电路,其特征在于,所述第一检测单元包括第一电阻和第二电阻;其中,所述第一电阻一端连接在所述通断模块与所述输出侧之间,另一端连接所述第二电阻,所述第二电阻远离所述第一电阻的一端接地,所述控制模块连接在所述第一电阻和所述第二电阻之间。
7.根据权利要求6所述的电源控制电路,其特征在于,所述第二检测单元还包括信号放大器,所述信号放大器具有第一输入端、第二输入端以及输出端,所述第一输入端连接所述第一芯片,并用于接收所述第二子检测信号,所述第二输入端与所述输出端短接,所述输出端连接在所述第一电阻和所述第二电阻之间。
8.根据权利要求7所述的电源控制电路,其特征在于,所述第二检测单元还包括至少一个滤波结构,所述滤波结构包括第三电阻和第一电容,所述第三电阻串联在所述第一输入端与所述第一芯片之间,所述第一电容一端连接在所述第三电阻与所述输出端之间,另一端接地。
9.根据权利要求2至5任意一项所述的电源控制电路,其特征在于,所述通断模块包括第一晶体管,所述第一晶体管一端连接所述输入侧,另一端连接所述输出侧;所述第一晶体管还连接所述控制模块,且所述控制模块用于输出第一控制信号,以控制所述第一晶体管两端的通/断;
其中,所述控制模块被配置为用于调节所述第一控制信号,以调节所述第一电压和/或所述第二电压。
10.一种供电系统,其特征在于,所述供电系统包括电源以及权利要求1至9任意一项所述的电源控制电路,所述电源包括输入侧和输出侧,所述电源控制电路接入在所述输入侧和所述输出侧之间,并用于控制所述输入侧与所述输出侧之间的/通断。
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