CN220650816U - 一种芯片测试台 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种芯片测试台，涉及芯片测试台技术领域，本实用新型包括芯片测试台底座，所述芯片测试台底座的顶部固定连接有支架，所述支架的顶部固定连接有所述气缸，所述气缸的输出端与支架的顶部穿设连接，所述气缸的输出端固定连接有测试探针板，所述芯片测试台底座的一侧设置有若干个控制键，所述芯片测试台底座的顶部设置有顶出装置，本实用新型通过设置顶出装置，在测试完成后，可以手动握住螺纹杆的一端将其在圆孔中转动至一定位置，带动滑动梯形块在凹槽中向一侧滑动，然后使其倾斜面的一侧在弧槽梯形块的倾斜面上挤压推动，使其带动顶出板从凹槽中向上滑动，将其测试的芯片顶出，方便操作人员将其取出，提高测试效率。

Description

一种芯片测试台

技术领域

本实用新型涉及芯片测试台技术领域，尤其涉及一种芯片测试台。

背景技术

芯片测试台是芯片生产过程中，用于对生产成功后的芯片进行一系列性能测试，检测是否合格的一种设备，以此来挑选检测出不合格的芯片，保留合格的芯片。

发明人在日常工作中发现在对人工智能所使用的芯片进行生产过程中，使用芯片测试台对生产完成后的人工智能所使用的芯片进行测试时，通常会将芯片放置在芯片测试台底座上的凹槽中进行固定，然后启动支架上的气缸，带动测试探针板向下移动，使其对芯片进行测试，由于测试时需要芯片不易发生晃动，通常放置的凹槽尺寸大小与芯片的大小较为贴合，从而在测试完将其拿取时，很难将其从凹槽中取出，从而影响测试时长，使其降低测试效率。

为了解决由于测试时需要芯片不易发生晃动，通常放置的凹槽尺寸大小与芯片的大小较为贴合，从而在测试完将其拿取时，很难将其从凹槽中取出，从而影响测试时长，使其降低测试效率的问题，现有技术是采用在凹槽的两侧开设弧形槽，方便手指放入弧形槽中后捏住凹槽中的芯片两侧，将其拿取上来的方式进行处理，本申请提供了另一种解决方式。

实用新型内容

本实用新型为解决由于测试时需要芯片不易发生晃动，通常放置的凹槽尺寸大小与芯片的大小较为贴合，从而在测试完将其拿取时，很难将其从凹槽中取出，从而影响测试时长，使其降低测试效率的问题，现有技术是采用在凹槽的两侧开设弧形槽，方便手指放入弧形槽中后捏住凹槽中的芯片两侧，将其拿取上来的方式进行处理，本申请提供了另一种解决方式所提出一种芯片测试台。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种芯片测试台，包括芯片测试台底座，所述芯片测试台底座的顶部固定连接有支架，所述支架的顶部固定连接有气缸，所述气缸的输出端与支架的顶部穿设连接，所述气缸的输出端固定连接有测试探针板，所述芯片测试台底座的一侧设置有若干个控制键，所述芯片测试台底座的顶部设置有顶出装置，所述芯片测试台底座的一侧设置有若干个防护装置，所述顶出装置包括顶出板，所述芯片测试台底座的顶部开设有凹槽，所述凹槽的内壁开设有圆孔，所述顶出板的外表面与凹槽的内壁滑动连接，所述顶出板的底部固定连接有弧槽梯形块，所述圆孔的内壁转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆的外表面螺纹连接有滑动梯形块，所述滑动梯形块的底部与凹槽的底部滑动连接，所述滑动梯形块的一侧与弧槽梯形块的一侧抵接，所述弧槽梯形块的一侧内壁大小与螺纹杆的外表面大小相适配。

上述部件所达到的效果为：通过设置顶出装置，在对人工智能所使用的芯片进行生产过程中，使用芯片测试台对生产完成后的人工智能所使用的芯片进行测试时，先将芯片放置在芯片测试台底座上的凹槽中，使其一侧放置在顶出板上进行限位固定，然后通过对控制键的操作启动支架上的气缸，带动测试探针板向下移动对芯片进行测试，测试完成后，手动握住螺纹杆的一端将其在圆孔中转动至一定位置，带动滑动梯形块在凹槽中向一侧滑动，然后使其倾斜面的一侧在弧槽梯形块的倾斜面上挤压推动，使其带动顶出板从凹槽中向上滑动，将其测试的芯片顶出，方便操作人员将其取出，提高测试效率。

优选的，所述螺纹杆的一端固定连接有操作块，所述操作块的两侧均固定连接有若干个防滑凸起。

上述部件所达到的效果为：通过设置操作块，可以增大螺纹杆一端的接触面积，方便手动将其握住并转动。

优选的，所述螺纹杆远离操作块的一端固定连接有轴承，所述轴承的外圈与凹槽的内壁固定连接。

上述部件所达到的效果为：通过设置轴承，可以将螺纹杆远离操作块的一端固定限位在凹槽的内壁中，使其带动滑动梯形块运动至末端时，螺纹杆不易发生晃动不稳的情况。

优选的，所述顶出板的底部中心对称有伸缩杆，所述伸缩杆的底部与凹槽的底部固定连接。

上述部件所达到的效果为：通过设置伸缩杆，在顶出板上下运动时，伸缩杆可以将其限位固定在一定的方向上使其运动过程中不易发生左右晃动。

优选的，所述顶出板的顶部固定连接有若干个防滑块，若干个所述防滑块呈等距离排列。

上述部件所达到的效果为：通过设置防滑块，可以增大顶出板顶部的接触摩擦力，使其将芯片放置在顶出板上后不易发生滑动。

优选的，所述防护装置包括矩形环块，所述矩形环块的内壁大小与控制键的外表面大小相适配，所述矩形环块一侧与芯片测试台底座的一侧固定连接，所述矩形环块的顶部转动连接有防护盖。

上述部件所达到的效果为：通过设置防护装置，在对控制键进行操作完成后，将防护盖在矩形环块上旋转转动至一定位置后，将其控制键完全罩在矩形环块的内部，这样可以将控制键防护在芯片测试台底座的一侧上，使其不易误触按到，导致在取芯片时，误启动气缸带动测试探针板下压发生误伤的情况出现。

优选的，所述防护盖的顶部固定连接有圆块，所述圆块的顶部固定连接有十字块。

上述部件所达到的效果为：通过设置圆块和十字块，在将防护盖转动在矩形环块的顶部上时，方便手动将其防护盖的顶部一侧抓握住后并将其转动。

优选的，所述矩形环块的顶部固定连接有铁片块，所述防护盖的底部固定连接有磁铁块，所述磁铁块的一侧与铁片块的一侧磁性相吸。

上述部件所达到的效果为：通过设置磁铁块和铁片块，当将防护盖在矩形环块的顶部转动至一定位置后，使其一侧上的磁铁块吸附在矩形环块顶部上的铁片块上，将其固定住，使其防护盖在发生碰撞或者晃动时不容易被打开。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于：

本实用新型中，通过设置顶出装置，在对人工智能所使用的芯片进行生产过程中，使用芯片测试台对生产完成后的人工智能所使用的芯片进行测试时，先将芯片放置在芯片测试台底座上的凹槽中，使其一侧放置在顶出板上进行限位固定，然后通过对控制键的操作启动支架上的气缸，带动测试探针板向下移动对芯片进行测试，测试完成后，手动握住螺纹杆的一端将其在圆孔中转动至一定位置，带动滑动梯形块在凹槽中向一侧滑动，然后使其倾斜面的一侧在弧槽梯形块的倾斜面上挤压推动，使其带动顶出板从凹槽中向上滑动，将其测试的芯片顶出，方便操作人员将其取出，提高测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的芯片测试台底座立体结构示意图；

图2为本实用新型的气缸立体结构示意图；

图3为本实用新型的顶出板立体结构示意图；

图4为本实用新型的螺纹杆立体结构示意图；

图5为本实用新型的矩形环块立体结构示意图；

图6为本实用新型的防护盖立体结构示意图。

图例说明：1、芯片测试台底座；2、顶出装置；3、防护装置；4、支架；5、气缸；6、测试探针板；7、控制键；21、凹槽；22、圆孔；23、顶出板；24、弧槽梯形块；25、螺纹杆；26、滑动梯形块；27、操作块；28、轴承；29、伸缩杆；210、防滑块；31、矩形环块；32、防护盖；33、圆块；34、十字块；35、铁片块；36、磁铁块。

具体实施方式

实施例1，如图1-6所示，一种芯片测试台，包括芯片测试台底座1，芯片测试台底座1的顶部固定连接有支架4，支架4的顶部固定连接有气缸5，气缸5的输出端与支架4的顶部穿设连接，气缸5的输出端固定连接有测试探针板6，芯片测试台底座1的一侧设置有若干个控制键7，芯片测试台底座1的顶部设置有顶出装置2，芯片测试台底座1的一侧设置有若干个防护装置3，顶出装置2包括顶出板23，芯片测试台底座1的顶部开设有凹槽21，凹槽21的内壁开设有圆孔22，顶出板23的外表面与凹槽21的内壁滑动连接，顶出板23的底部固定连接有弧槽梯形块24，圆孔22的内壁转动连接有螺纹杆25，螺纹杆25的外表面螺纹连接有滑动梯形块26，滑动梯形块26的底部与凹槽21的底部滑动连接，滑动梯形块26的一侧与弧槽梯形块24的一侧抵接，弧槽梯形块24的一侧内壁大小与螺纹杆25的外表面大小相适配。在对人工智能所使用的芯片进行生产过程中，使用芯片测试台对生产完成后的人工智能所使用的芯片进行测试时，先将芯片放置在芯片测试台底座1上的凹槽21中，使其一侧放置在顶出板23上进行限位固定，然后通过对控制键7的操作启动支架4上的气缸5，带动测试探针板6向下移动对芯片进行测试，测试完成后，手动握住螺纹杆25的一端将其在圆孔22中转动至一定位置，带动滑动梯形块26在凹槽21中向一侧滑动，然后使其倾斜面的一侧在弧槽梯形块24的倾斜面上挤压推动，使其带动顶出板23从凹槽21中向上滑动，将其测试的芯片顶出，方便操作人员将其取出，提高测试效率。

参照图2-4所示，本实施例公开了螺纹杆25的一端固定连接有操作块27，操作块27的两侧均固定连接有若干个防滑凸起。通过设置操作块27，可以增大螺纹杆25一端的接触面积，方便手动将其握住并转动。螺纹杆25远离操作块27的一端固定连接有轴承28，轴承28的外圈与凹槽21的内壁固定连接。通过设置轴承28，可以将螺纹杆25远离操作块27的一端固定限位在凹槽21的内壁中，使其带动滑动梯形块26运动至末端时，螺纹杆25不易发生晃动不稳的情况。

参照图2-4所示，本实施例公开了顶出板23的底部中心对称有伸缩杆29，伸缩杆29的底部与凹槽21的底部固定连接。通过设置伸缩杆29，在顶出板23上下运动时，伸缩杆29可以将其限位固定在一定的方向上使其运动过程中不易发生左右晃动。顶出板23的顶部固定连接有若干个防滑块210，若干个防滑块210呈等距离排列。通过设置防滑块210，可以增大顶出板23顶部的接触摩擦力，使其将芯片放置在顶出板23上后不易发生滑动。

参照图5和图6所示，本实施例公开了防护装置3包括矩形环块31，矩形环块31的内壁大小与控制键7的外表面大小相适配，矩形环块31一侧与芯片测试台底座1的一侧固定连接，矩形环块31的顶部转动连接有防护盖32。通过设置防护装置3，在对控制键7进行操作完成后，将防护盖32在矩形环块31上旋转转动至一定位置后，将其控制键7完全罩在矩形环块31的内部，这样可以将控制键7防护在芯片测试台底座1的一侧上，使其不易误触按到，导致在取芯片时，误启动气缸5带动测试探针板6下压发生误伤的情况出现。

参照图5和图6所示，本实施例公开了防护盖32的顶部固定连接有圆块33，圆块33的顶部固定连接有十字块34。通过设置圆块33和十字块34，在将防护盖32转动在矩形环块31的顶部上时，方便手动将其防护盖32的顶部一侧抓握住后并将其转动。矩形环块31的顶部固定连接有铁片块35，防护盖32的底部固定连接有磁铁块36，磁铁块36的一侧与铁片块35的一侧磁性相吸。通过设置磁铁块36和铁片块35，当将防护盖32在矩形环块31的顶部转动至一定位置后，使其一侧上的磁铁块36吸附在矩形环块31顶部上的铁片块35上，将其固定住，使其防护盖32在发生碰撞或者晃动时不容易被打开。

工作原理，在对人工智能所使用的芯片进行生产过程中，使用芯片测试台对生产完成后的人工智能所使用的芯片进行测试时，先将芯片放置在芯片测试台底座1上的凹槽21中，使其一侧放置在顶出板23的顶部防滑块210上进行限位固定，然后通过对控制键7的操作启动支架4上的气缸5，带动测试探针板6向下移动对芯片进行测试，测试完成后，手动握住操作块27转动，可以带动螺纹杆25的一端和轴承28分别在圆孔22的内壁中和凹槽21的内壁中转动至一定位置，可以带动滑动梯形块26在凹槽21的内壁底部向一侧滑动，然后使其倾斜面的一侧在弧槽梯形块24的倾斜面上挤压推动，在伸缩杆29的限位作用下，可以带动顶出板23从凹槽21中向上滑动，将其测试的芯片顶出，方便操作人员将其取出，提高测试效率。

在对控制键7进行操作完成后。手动握住十字块34和圆块33以防护盖32的一角为中心转动，可以带动防护盖32在矩形环块31上旋转转动至一定位置后，使其一侧上的磁铁块36吸附在矩形环块31顶部上的铁片块35上，将其固定住，从而可以将控制键7完全罩在矩形环块31的内部，这样可以将控制键7防护在芯片测试台底座1的一侧上，使其不易误触按到，导致在取芯片时，误启动气缸5带动测试探针板6下压发生误伤的情况出现。

Claims (8)

1.一种芯片测试台，包括芯片测试台底座(1)，其特征在于：所述芯片测试台底座(1)的顶部固定连接有支架(4)，所述支架(4)的顶部固定连接有气缸(5)，所述气缸(5)的输出端与支架(4)的顶部穿设连接，所述气缸(5)的输出端固定连接有测试探针板(6)，所述芯片测试台底座(1)的一侧设置有若干个控制键(7)，所述芯片测试台底座(1)的顶部设置有顶出装置(2)，所述芯片测试台底座(1)的一侧设置有若干个防护装置(3)，所述顶出装置(2)包括顶出板(23)，所述芯片测试台底座(1)的顶部开设有凹槽(21)，所述凹槽(21)的内壁开设有圆孔(22)，所述顶出板(23)的外表面与凹槽(21)的内壁滑动连接，所述顶出板(23)的底部固定连接有弧槽梯形块(24)，所述圆孔(22)的内壁转动连接有螺纹杆(25)，所述螺纹杆(25)的外表面螺纹连接有滑动梯形块(26)，所述滑动梯形块(26)的底部与凹槽(21)的底部滑动连接，所述滑动梯形块(26)的一侧与弧槽梯形块(24)的一侧抵接，所述弧槽梯形块(24)的一侧内壁大小与螺纹杆(25)的外表面大小相适配。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试台，其特征在于：所述螺纹杆(25)的一端固定连接有操作块(27)，所述操作块(27)的两侧均固定连接有若干个防滑凸起。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试台，其特征在于：所述螺纹杆(25)远离操作块(27)的一端固定连接有轴承(28)，所述轴承(28)的外圈与凹槽(21)的内壁固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试台，其特征在于：所述顶出板(23)的底部中心对称有伸缩杆(29)，所述伸缩杆(29)的底部与凹槽(21)的底部固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试台，其特征在于：所述顶出板(23)的顶部固定连接有若干个防滑块(210)，若干个所述防滑块(210)呈等距离排列。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试台，其特征在于：所述防护装置(3)包括矩形环块(31)，所述矩形环块(31)的内壁大小与控制键(7)的外表面大小相适配，所述矩形环块(31)一侧与芯片测试台底座(1)的一侧固定连接，所述矩形环块(31)的顶部转动连接有防护盖(32)。

7.根据权利要求6所述的一种芯片测试台，其特征在于：所述防护盖(32)的顶部固定连接有圆块(33)，所述圆块(33)的顶部固定连接有十字块(34)。

8.根据权利要求6所述的一种芯片测试台，其特征在于：所述矩形环块(31)的顶部固定连接有铁片块(35)，所述防护盖(32)的底部固定连接有磁铁块(36)，所述磁铁块(36)的一侧与铁片块(35)的一侧磁性相吸。