CN220626416U - 一种传感器芯片测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及传感器技术领域，且公开了一种传感器芯片测试治具，包括固定面板，所述固定面板的上表面左侧安装有安装架，所述安装架的顶板下表面安装有步进电机，所述步进电机的转子同轴安装有丝杆，所述丝杆的表面旋接有限位板，所述固定面板的上表面开设有安装槽，所述限位板的表面开设有限位槽。通过将芯片放入安装槽中，启动步进电机的转子同轴顺时针旋转能够带动限位板向下移动，限位板向下移动能够带动限位槽向下移动，通过启动步进电机的转子同轴逆时针旋转，能够带动限位板向上移动，即可将安装槽中的芯片取出，使得工人员无需花费大量时间将限位板进行拆卸，节省了时间，方便了工作人员的使用。

Description

一种传感器芯片测试治具

技术领域

本实用新型涉及传感器技术领域，具体为一种传感器芯片测试治具。

背景技术

传感器是能感受到被测量的信息，并能将感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求的检测装置。

常见的传感器芯片在生产时，需要采用测试治具对传感器芯片进行检测，一般通过检测芯片的电性能、结构、静电特性等，进行质量检测，确保芯片的准确性和可靠性；但是由于在对芯片进行检测时，需要通过限位板对芯片固定在固定面板的表面，通过探针对芯片进行检测，待检测后需要将限位板表面的螺纹杆取出，才能将限位板进行拆卸，将芯片进行更换，费时、费力不方便工作人员的使用。

发明内容

解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种传感器芯片测试治具，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种传感器芯片测试治具，包括固定面板，所述固定面板的上表面左侧安装有安装架，所述安装架的顶板下表面安装有步进电机，所述步进电机的转子同轴安装有丝杆，所述丝杆的表面旋接有限位板，所述固定面板的上表面开设有安装槽，所述限位板的表面开设有限位槽。

优选的，所述安装槽与限位槽的位置、大小相适配，所述固定面板的上表面右侧安装有限位杆，所述限位杆插设于限位板的表面，限位杆用于对限位板进行限位，使得限位板能够垂直运动。

优选的，所述限位板的上方设有盖板，所述盖板的下表面设有安装框，所述安装框安装于限位板的表面。

优选的，所述安装框的左侧安装有连接杆，所述盖板的左侧安装有连接筒，所述连接杆套接于连接杆的外周，使得盖板能够发生折叠，通过将盖板打开能够对安装框中的结构进行维修。

优选的，所述盖板的下表面开设有安装腔室，所述安装腔室的内腔安装有限位块，限位块的下方设有限位框，所述限位框安装于安装框的内腔中，所述安装框的内腔安装有钻孔板，所述钻孔板的上表面安装有承接板。

优选的，所述限位块与承接板之间安装有IC板，所述钻孔板的底部安装有探针，将盖板盖在安装框的上表面，能够带动限位块对限位框进行挤压，限位框受到挤压将会带动IC板向下移动，IC板将会对承接板进行挤压，承接板将会带动钻孔板进行挤压，探针会随着钻孔板向下移动，通过探针检测芯片的电性能、结构、静电特性等，进行质量检测，确保芯片的准确性和可靠性。

有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了一种传感器芯片测试治具，具备以下有益效果：

该传感器芯片测试治具，通过将芯片放入安装槽中，启动步进电机的转子同轴顺时针旋转能够带动限位板向下移动，限位板向下移动能够带动限位槽向下移动，限位槽与安装槽配合能够对芯片进行框住，为探针提供封闭的空间，使得探针在对芯片进行检测时不会受到外界光线的影响，通过启动步进电机的转子同轴逆时针旋转，能够带动限位板向上移动，即可将安装槽中的芯片取出，使得工人员无需花费大量时间将限位板进行拆卸，节省了时间，方便了工作人员的使用。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型剖视结构示意图；

图3为本实用新型安装框的爆炸立体图。

图中：1、固定面板；2、安装架；3、步进电机；4、丝杆；5、限位板；6、安装槽；7、限位槽；8、限位杆；9、盖板；10、安装框；11、连接杆；12、连接筒；13、安装腔室；14、限位块；15、限位框；16、钻孔板；17、承接板；18、IC板；19、探针。

实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供一种技术方案，一种传感器芯片测试治具，包括固定面板1、安装架2、步进电机3、丝杆4、限位板5、安装槽6、限位槽7、限位杆8、盖板9、安装框10、连接杆11、连接筒12、安装腔室13、限位块14、限位框15、钻孔板16、承接板17、IC板18和探针19，请参阅图1，固定面板1的上表面左侧安装有安装架2，安装架2的顶板下表面安装有步进电机3，步进电机3的转子同轴安装有丝杆4，丝杆4的表面旋接有限位板5，请参阅图2，固定面板1的上表面开设有安装槽6，限位板5的表面开设有限位槽7，将芯片放入安装槽6中，启动步进电机3的转子同轴顺时针旋转能够带动限位板5向下移动，限位板5向下移动能够带动限位槽7向下移动，限位槽7与安装槽6配合能够对芯片进行框住，为探针19提供封闭的空间，使得探针19在对芯片进行检测时不会受到外界光线的影响，通过启动步进电机3的转子同轴逆时针旋转，能够带动限位板5向上移动，即可将安装槽6中的芯片取出，使得工人员无需花费大量时间将限位板5进行拆卸，节省了时间，方便了工作人员的使用；

安装槽6与限位槽7的位置、大小相适配，固定面板1的上表面右侧安装有限位杆8，限位杆8插设于限位板5的表面，限位杆8用于对限位板5进行限位，使得限位板5能够垂直运动。

限位板5的上方设有盖板9，盖板9的下表面设有安装框10，安装框10安装于限位板5的表面；

请参阅图3，安装框10的左侧安装有连接杆11，盖板9的左侧安装有连接筒12，连接杆11套接于连接杆11的外周，使得盖板9能够发生折叠，通过将盖板9打开能够对安装框10中的结构进行维修；

盖板9的下表面开设有安装腔室13，安装腔室13的内腔安装有限位块14，限位块14的下方设有限位框15，限位框15安装于安装框10的内腔中，安装框10的内腔安装有钻孔板16，钻孔板16的上表面安装有承接板17；

限位块14与承接板17之间安装有IC板18，钻孔板16的底部安装有探针19，探针19的外端连接有传感器芯片测试用仪器，如芯片检测仪、芯片测试仪等，为现有技术的成熟产品，非本方案的主要改进方向，故不再赘述，将盖板9盖在安装框10的上表面，能够带动限位块14对限位框15进行挤压，限位框15受到挤压将会带动IC板18向下移动，IC板18将会对承接板17进行挤压，承接板17将会带动钻孔板16进行挤压，探针19会随着钻孔板16向下移动，通过探针19检测芯片的电性能、结构、静电特性等，进行质量检测，确保芯片的准确性和可靠性。

本装置的工作原理：首先将芯片放入安装槽6中，启动步进电机3的转子同轴顺时针旋转能够带动限位板5向下移动，限位板5向下移动能够带动限位槽7向下移动，限位槽7与安装槽6配合能够对芯片进行框住，为探针19提供封闭的空间，使得探针19在对芯片进行检测时不会受到外界光线的影响，然后将盖板9盖在安装框10的上表面，能够带动限位块14对限位框15进行挤压，限位框15受到挤压将会带动IC板18向下移动，IC板18将会对承接板17进行挤压，承接板17将会带动钻孔板16进行挤压，探针19会随着钻孔板16向下移动，通过探针19检测芯片的电性能、结构、静电特性等，进行质量检测，确保芯片的准确性和可靠性，最后通过启动步进电机3的转子同轴逆时针旋转，能够带动限位板5向上移动，即可将安装槽6中的芯片取出，使得工人员无需花费大量时间将限位板5进行拆卸，节省了时间，方便了工作人员的使用。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种传感器芯片测试治具，包括固定面板（1），其特征在于：所述固定面板（1）的上表面左侧安装有安装架（2），所述安装架（2）的顶板下表面安装有步进电机（3），所述步进电机（3）的转子同轴安装有丝杆（4），所述丝杆（4）的表面旋接有限位板（5），所述固定面板（1）的上表面开设有安装槽（6），所述限位板（5）的表面开设有限位槽（7）。

2.根据权利要求1所述的一种传感器芯片测试治具，其特征在于：所述安装槽（6）与限位槽（7）的位置、大小相适配，所述固定面板（1）的上表面右侧安装有限位杆（8），所述限位杆（8）插设于限位板（5）的表面。

3.根据权利要求1所述的一种传感器芯片测试治具，其特征在于：所述限位板（5）的上方设有盖板（9），所述盖板（9）的下表面设有安装框（10），所述安装框（10）安装于限位板（5）的表面。

4.根据权利要求3所述的一种传感器芯片测试治具，其特征在于：所述安装框（10）的左侧安装有连接杆（11），所述盖板（9）的左侧安装有连接筒（12），所述连接杆（11）套接于连接杆（11）的外周。

5.根据权利要求3所述的一种传感器芯片测试治具，其特征在于：所述盖板（9）的下表面开设有安装腔室（13），所述安装腔室（13）的内腔安装有限位块（14），限位块（14）的下方设有限位框（15），所述限位框（15）安装于安装框（10）的内腔中，所述安装框（10）的内腔安装有钻孔板（16），所述钻孔板（16）的上表面安装有承接板（17）。

6.根据权利要求5所述的一种传感器芯片测试治具，其特征在于：所述限位块（14）与承接板（17）之间安装有IC板（18），所述钻孔板（16）的底部安装有探针（19）。