CN220626276U - 一种ic基板超声波探伤机构 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 92
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 29
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 89
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012792 core layer Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型公开了一种IC基板超声波探伤机构,涉及IC基板生产技术领域,包括IC基板超声波探伤机构主体,所述IC基板超声波探伤机构主体包括有超声波探伤仪,所述超声波探伤仪的输入端插接有连接探头,所述超声波探伤仪的下方设置有超声波探伤仪固定结构,所述超声波探伤仪固定结构的一侧设置有IC基板固定移动结构。本实用新型通过启动电机其输出轴带动螺纹杆转动,IC基板固定架在安装固定板的限位配合下可以滑动使IC基板在连接探头下方匀速滑动,较之IC基板不动通过移动连接探头来检测的方式,IC基板移动时连接探头不动可以有效避免因此移动连接探头导致连接探头与超声波探伤仪的连接出现接触不良的问题,同时可以提升检测的精准性。
Description
技术领域
本实用新型涉及IC基板生产技术领域,具体涉及一种IC基板超声波探伤机构。
背景技术
IC基板是用以封装IC裸芯片的基板。BGA(球栅阵列封装)、CSP(芯片尺寸封装)为代表的新型集成电路(IC)高密度封装形式问世,从而产生了一种封装的必要新载体就是IC基板。其作用主要是承载半导体IC芯片、内部布有线路用以导通芯片与电路板之间连接、保护、固定、支撑IC芯片,提供散热通道,是沟通芯片与PCB的中间产品,IC载板要求更精细、高密度、高脚数、小体积,孔、盘、线更小,超薄芯层,所以,在IC基板生产完成后需要使用超声波探伤仪来进行质检,超声波探伤仪是一种便携式工业无损探伤仪器,它能够快速、便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷(裂纹、疏松、气孔、夹杂等)的检测、定位、评估和诊断,但是,现有技术中,一般都是质检人员手持超声波探伤仪进行质检,IC基板体积较小操作起来存在不便,探头和连接线头容易拉扯导致接触不良,因此,本实用新型提出一种IC基板超声波探伤机构。
现有技术中,提出了公开号为CN218726909U,公开日为2023年03月24日的中国专利文件,来解决上述技术问题,该专利文献所公开的技术方案如下:一种带有限位机构的超声波探伤仪,包括探伤仪主体和连接限位机构,所述探伤仪主体包括仪器体、超声探头、连接线和接头,所述接头插进仪器体上表面设置的插孔中,所述连接限位机构安装在接头和仪器体之间,所述连接限位机构包括立板、安装环、固定板、限位螺栓和调节组件,U型的所述立板端部通过螺钉固定在仪器体侧面,所述安装环套设在接头上。
为了解决现有的有些超声波探伤仪上的超声探头使用过程中,连接线或者接头可能因为外界拉扯力出现向外与插孔脱离的趋势,使得接头与插孔连接处可能接触不良甚至脱离,从而影响超声探头检测使用的问题,现有技术是采用将超声探头、连接限位机构和接头结合的方式进行处理,但是还会出现整体连接后虽然不容易脱离但是也不便于将探头与基板进行接触的情况,进而导致给操作增加难度的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种IC基板超声波探伤机构,以解决上述背景技术中提出的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:
一种IC基板超声波探伤机构,包括IC基板超声波探伤机构主体,所述IC基板超声波探伤机构主体包括有超声波探伤仪,所述超声波探伤仪的输入端插接有连接探头,所述超声波探伤仪的下方设置有超声波探伤仪固定结构,所述超声波探伤仪固定结构的一侧设置有IC基板固定移动结构;所述超声波探伤仪固定结构包括有超声波探伤仪固定单元和探头固定单元,所述超声波探伤仪固定单元设置在超声波探伤仪的下方,所述探头固定单元设置在超声波探伤仪固定单元的一侧;所述IC基板固定移动结构包括有IC基板固定单元和驱动移动单元,所述IC基板固定单元设置在探头固定单元的一侧,所述驱动移动单元设置在IC基板固定单元的下方。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述超声波探伤仪固定单元包括有安装固定板,所述安装固定板的一侧上表面设置有超声波探伤仪放置槽,所述超声波探伤仪放置槽的中部设置有安装卡板。
采用上述技术方案,安装卡板为前后两组L型卡板结构,便于对超声波探伤仪的倾斜固定安装,超声波探伤仪与连接探头为现有的超声波探伤仪和其附带的探头结构,为现有技术,在此不再赘述其使用方法和运行原理。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述探头固定单元包括有连接探头固定架,所述连接探头固定架的下端与安装固定板的上表面固定连接。
采用上述技术方案,连接探头固定架的内侧设置有与探头固定夹适配的滑轨。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述连接探头固定架的顶部转动安装有导线滑轮,所述连接探头固定架的侧壁滑动安装有探头固定夹。
采用上述技术方案,导线滑轮为绝缘硅胶材质,对连接探头的连接线进行限位。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述连接探头固定架的上方固定安装有伸缩杆,所述伸缩杆的输出端与探头固定夹的上表面固定连接。
采用上述技术方案,伸缩杆由安装在其上方的气缸驱动。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述IC基板固定单元包括有IC基板固定架,所述IC基板固定架的两侧设置有移动导轨,所述移动导轨的下表面与安装固定板的上表面固定连接,所述IC基板固定架的滑轮与移动导轨的内表面滑动连接。
采用上述技术方案,IC基板固定架的两侧设置有与移动导轨相适配的滑轮结构,使IC基板固定架的运行更加顺畅。
本实用新型技术方案的进一步改进在于:所述驱动移动单元包括有固定安装在安装固定板侧壁的电机,所述电机的输出轴固定安装有螺纹杆,所述螺纹杆的一端与安装固定板的内壁转动连接,所述螺纹杆的外表面与IC基板固定架的底部内壁螺纹连接。
采用上述技术方案,安装固定板的上表面设置有与IC基板固定架底部相适配的滑槽。
由于采用了上述技术方案,本实用新型相对现有技术来说,取得的技术进步是:
1、本实用新型提供一种IC基板超声波探伤机构,安装固定板可以将连接探头与IC基板进行整合,超声波探伤仪放置槽内部的安装卡板便于超声波探伤仪的安装和固定,便于质检人员在检测的同时可以查看超声波探伤仪输出的图像信息,连接探头固定架起到固定连接探头以及连接线的作用,使连接探头与超声波探伤仪的连接保持稳定。
2、本实用新型提供一种IC基板超声波探伤机构,导线滑轮起到对连接探头与超声波探伤仪的连接线进行限位的作用,探头固定夹对连接探头的表面进行卡接使连接探头保持稳定,伸缩杆驱动探头固定夹上下移动使其可以贴合待测IC基板的侧壁,保持高度稳定,超声波探伤仪得到的图像画面可以稳定输出。
3、本实用新型提供一种IC基板超声波探伤机构,IC基板固定架便于安装IC基板,通过启动电机其输出轴带动螺纹杆转动,IC基板固定架在安装固定板的限位配合下可以滑动使IC基板在连接探头下方匀速滑动,较之IC基板不动通过移动连接探头来检测的方式,IC基板移动时连接探头不动可以有效避免因此移动连接探头导致连接探头与超声波探伤仪的连接出现接触不良的问题,同时可以提升检测的精准性。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型的结构背面示意图;
图3为本实用新型的结构正面示意图;
图4为本实用新型的结构安装固定板示意图;
图5为本实用新型的结构连接探头固定架示意图。
图中:1、IC基板超声波探伤机构主体;11、超声波探伤仪;12、连接探头;2、超声波探伤仪固定结构;21、安装固定板;211、超声波探伤仪放置槽;212、安装卡板;22、连接探头固定架;23、导线滑轮;24、探头固定夹;25、伸缩杆;3、IC基板固定移动结构;31、IC基板固定架;32、移动导轨;33、螺纹杆;34、电机。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型做进一步详细说明:
实施例1
如图1-5所示,本实用新型提供了一种IC基板超声波探伤机构,包括IC基板超声波探伤机构主体1,IC基板超声波探伤机构主体1包括有超声波探伤仪11,超声波探伤仪11的输入端插接有连接探头12,超声波探伤仪11的下方设置有超声波探伤仪固定结构2,超声波探伤仪固定结构2的一侧设置有IC基板固定移动结构3;超声波探伤仪固定结构2包括有超声波探伤仪固定单元和探头固定单元,超声波探伤仪固定单元设置在超声波探伤仪11的下方,探头固定单元设置在超声波探伤仪固定单元的一侧;IC基板固定移动结构3包括有IC基板固定单元和驱动移动单元,IC基板固定单元设置在探头固定单元的一侧,驱动移动单元设置在IC基板固定单元的下方,超声波探伤仪固定单元包括有安装固定板21,安装固定板21的一侧上表面设置有超声波探伤仪放置槽211,超声波探伤仪放置槽211的中部设置有安装卡板212,安装固定板21可以将连接探头12与IC基板进行整合,超声波探伤仪放置槽211内部的安装卡板212便于超声波探伤仪11的安装和固定,便于质检人员在检测的同时可以查看超声波探伤仪11输出的图像信息,探头固定单元包括有连接探头固定架22,连接探头固定架22的下端与安装固定板21的上表面固定连接,连接探头固定架22起到固定连接探头12以及连接线的作用,使连接探头12与超声波探伤仪11的连接保持稳定。
实施例2
如图1-5所示,在实施例1的基础上,本实用新型提供一种技术方案:优选的,连接探头固定架22的顶部转动安装有导线滑轮23,连接探头固定架22的侧壁滑动安装有探头固定夹24,导线滑轮23起到对连接探头12与超声波探伤仪11的连接线进行限位的作用,探头固定夹24对连接探头12的表面进行卡接使连接探头12保持稳定,连接探头固定架22的上方固定安装有伸缩杆25,伸缩杆25的输出端与探头固定夹24的上表面固定连接,伸缩杆25驱动探头固定夹24上下移动使其可以贴合待测IC基板的侧壁,保持高度稳定,超声波探伤仪11得到的图像画面可以稳定输出。
实施例3
如图1-5所示,在实施例1的基础上,本实用新型提供一种技术方案:优选的,IC基板固定单元包括有IC基板固定架31,IC基板固定架31的两侧设置有移动导轨32,移动导轨32的下表面与安装固定板21的上表面固定连接,IC基板固定架31的滑轮与移动导轨32的内表面滑动连接,IC基板固定架31便于安装IC基板,通过启动电机34其输出轴带动螺纹杆33转动,驱动移动单元包括有固定安装在安装固定板21侧壁的电机34,电机34的输出轴固定安装有螺纹杆33,螺纹杆33的一端与安装固定板21的内壁转动连接,螺纹杆33的外表面与IC基板固定架31的底部内壁螺纹连接,IC基板固定架31在安装固定板21的限位配合下可以滑动使IC基板在连接探头12下方匀速滑动,较之IC基板不动通过移动连接探头12来检测的方式,IC基板移动时连接探头12不动可以有效避免因此移动连接探头12导致连接探头12与超声波探伤仪11的连接出现接触不良的问题,同时可以提升检测的精准性。
下面具体说一下该IC基板超声波探伤机构的工作原理。
如图1-5所示,首先,将超声波探伤仪11安装在超声波探伤仪放置槽211内部的安装卡板212之间进行固定,将连接探头12与超声波探伤仪11进行连接,使连接探头12与探头固定夹24卡接,整理连接线使其绕过导线滑轮23进行限位,然后,将IC基板安装在IC基板固定架31上,伸缩杆25驱动探头固定夹24下移使连接探头12的下端与IC基板侧壁接触,最后,开启超声波探伤仪11后启动电机34,电机34的输出轴带动螺纹杆33转动,IC基板固定架31在安装固定板21的限位配合下可以滑动使IC基板在连接探头12下方匀速滑动,进行探伤检测,超声波探伤仪11将反射的超声波信号进行处理后输出图像,可以通过图像判断IC基板是否存在损伤。
上文一般性的对本实用新型做了详尽的描述,但在本实用新型基础上,可以对之做一些修改或改进,这对于技术领域的一般技术人员是显而易见的。因此,在不脱离本实用新型思想精神的修改或改进,均在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种IC基板超声波探伤机构,适用于IC基板的超声波探伤使用,包括IC基板超声波探伤机构主体(1),所述IC基板超声波探伤机构主体(1)包括有超声波探伤仪(11),所述超声波探伤仪(11)的输入端插接有连接探头(12),其特征在于:所述超声波探伤仪(11)的下方设置有超声波探伤仪固定结构(2),所述超声波探伤仪固定结构(2)的一侧设置有IC基板固定移动结构(3);
所述超声波探伤仪固定结构(2)包括有超声波探伤仪固定单元和探头固定单元,所述超声波探伤仪固定单元设置在超声波探伤仪(11)的下方,所述探头固定单元设置在超声波探伤仪固定单元的一侧;
所述IC基板固定移动结构(3)包括有IC基板固定单元和驱动移动单元,所述IC基板固定单元设置在探头固定单元的一侧,所述驱动移动单元设置在IC基板固定单元的下方。
2.根据权利要求1所述的一种IC基板超声波探伤机构,其特征在于:所述超声波探伤仪固定单元包括有安装固定板(21),所述安装固定板(21)的一侧上表面设置有超声波探伤仪放置槽(211),所述超声波探伤仪放置槽(211)的中部设置有安装卡板(212)。
3.根据权利要求2所述的一种IC基板超声波探伤机构,其特征在于:所述探头固定单元包括有连接探头固定架(22),所述连接探头固定架(22)的下端与安装固定板(21)的上表面固定连接。
4.根据权利要求3所述的一种IC基板超声波探伤机构,其特征在于:所述连接探头固定架(22)的顶部转动安装有导线滑轮(23),所述连接探头固定架(22)的侧壁滑动安装有探头固定夹(24)。
5.根据权利要求3所述的一种IC基板超声波探伤机构,其特征在于:所述连接探头固定架(22)的上方固定安装有伸缩杆(25),所述伸缩杆(25)的输出端与探头固定夹(24)的上表面固定连接。
6.根据权利要求2所述的一种IC基板超声波探伤机构,其特征在于:所述IC基板固定单元包括有IC基板固定架(31),所述IC基板固定架(31)的两侧设置有移动导轨(32),所述移动导轨(32)的下表面与安装固定板(21)的上表面固定连接,所述IC基板固定架(31)的滑轮与移动导轨(32)的内表面滑动连接。
7.根据权利要求6所述的一种IC基板超声波探伤机构,其特征在于:所述驱动移动单元包括有固定安装在安装固定板(21)侧壁的电机(34),所述电机(34)的输出轴固定安装有螺纹杆(33),所述螺纹杆(33)的一端与安装固定板(21)的内壁转动连接,所述螺纹杆(33)的外表面与IC基板固定架(31)的底部内壁螺纹连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202322224830.XU CN220626276U (zh) | 2023-08-18 | 2023-08-18 | 一种ic基板超声波探伤机构 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202322224830.XU CN220626276U (zh) | 2023-08-18 | 2023-08-18 | 一种ic基板超声波探伤机构 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220626276U true CN220626276U (zh) | 2024-03-19 |
Family
ID=90227386
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202322224830.XU Active CN220626276U (zh) | 2023-08-18 | 2023-08-18 | 一种ic基板超声波探伤机构 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220626276U (zh) |
-
2023
- 2023-08-18 CN CN202322224830.XU patent/CN220626276U/zh active Active
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GR01 | Patent grant | ||
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