CN220602372U - 一种测量装置及切片机 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种测量装置及切片机，所述测量装置包括：基座，所述基座用于将所述测量装置可拆卸地连接于切片机；刻度尺，所述刻度尺连接于所述基座；透镜，所述透镜可伸缩地连接于所述基座，且与所述刻度尺相对设置。本实用新型中，通过基座将测量装置可拆卸地连接于切片机，对测量装置进行定位，以确定测量基准。将刻度尺和透镜连接于基座，透镜与刻度尺相对设置，且透镜相对于基座可伸缩，通过透镜放大刻度尺的刻度，以便于作业人员读数。

Description

一种测量装置及切片机

技术领域

本实用新型涉及光伏组件加工技术领域，具体涉及一种测量装置及切片机。

背景技术

在光伏组件的加工过程中，需要通过切片机将硅锭或者硅棒切片，以形成硅片。通常，采用的切片机为多线切片机，多线切片机具有至少两个转动辊，至少两个转动辊平行设置，将一根切割线沿垂直于转动辊轴线的方向，在至少两个转动辊之间绕设多匝，通过转动辊转动带动切割线高速运转，以将硅锭或者硅棒切割成硅片。在转动辊高速运转的情况下，转动辊的转动速度越快，切割线的压强越小，导致切割线之间相互吸附，硅片薄厚不一致。

现有技术中，通过调整切割线的缠绕方式，使切割线与垂直于转动辊轴线方向之间存在一定的夹角，以降低切割线之间的相互吸引力，提高硅片薄厚一致性。

根据硅锭或者硅棒在切割过程中的受力分析可以得知，切割线与垂直于转动辊轴线方向的夹角越大，切割线的切割力越弱。切割线与垂直于转动辊轴线方向的夹角越小，切割线的切割力越强，但是容易出现硅片薄厚不一致的问题。因此，切割线与垂直于转动辊轴线方向的夹角影响硅片的良率，需要测量绕设于两个转动辊最外侧的切割线相对于两个转动辊，沿垂直于转动辊轴线方向的偏移距离，以确定切割线与垂直于转动辊轴线方向的夹角。

现有技术中，通常采用普通钢尺或者卷尺分别测量绕设于两个转动辊最外侧的切割线相对于两个转动辊，沿垂直于转动辊轴线方向的偏移距离。但因待测量距离的单位已经达到微米级，因此，采用现有的测量工具存在测量基准不准，读数困难等问题。

实用新型内容

本实用新型提供了一种测量装置及切片机，以解决或者至少部分解决现有技术中存在的，采用普通钢尺或者卷尺测量绕设于两个转动辊最外侧的切割线相对于两个转动辊，沿垂直于转动辊轴线方向的偏移距离，存在的测量基准不准，读数困难等问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型是这样实现的：

第一方面，本实用新型提供了一种测量装置，包括：基座，所述基座用于将所述测量装置可拆卸地连接于切片机；刻度尺，所述刻度尺连接于所述基座；透镜，所述透镜可伸缩地连接于所述基座，且与所述刻度尺相对设置。

可选地，所述基座为半圆筒状结构，所述半圆筒状结构基座用于与所述切片机的转动辊配合；所述基座还设置有连接部，所述连接部连接于所述半圆筒状结构基座靠近测量位置的端部，所述刻度尺转动连接于所述连接部靠近所述测量位置的侧面。

可选地，所述测量装置还包括：第一旋转套筒，所述第一旋转套筒包括第一转轴和套设于所述第一转轴外侧的第一套筒，其中，所述第一套筒固定连接于所述连接部靠近所述测量位置的侧面，所述第一转轴转动连接于所述第一套筒，所述刻度尺连接于所述第一转轴。

可选地，所述测量装置还包括：折叠件，其中，所述折叠件的一端连接于所述第一转轴，所述折叠件的另一端连接于所述刻度尺；所述连接部靠近所述刻度尺的端部设置有第一连接件，所述第一连接件与所述第一旋转套筒沿所述连接部的高度方向间隔设置，在所述折叠件折叠的情况下，所述刻度尺收纳于所述第一连接件。

可选地，所述测量装置还包括：第一磁体，所述连接部靠近所述刻度尺的端部设置有第一凹槽，所述第一磁体卡接于所述第一凹槽内，所述刻度尺为金属件，在所述折叠件折叠的情况下，所述刻度尺磁吸连接于所述第一磁体。

可选地，所述透镜沿所述基座的周向滑动连接于所述基座的外壁。

可选地，所述测量装置还包括：滑块，其中，所述基座的外壁设置有导轨，所述导轨沿所述基座的周向设置，所述滑块滑动连接于所述导轨；所述透镜可伸缩地连接于所述滑块。

可选地，所述测量装置还包括：第二旋转套筒，所述第二旋转套筒包括第二转轴和套设于所述第二转轴外侧的第二套筒，所述第二套筒连接于所述滑块，所述第二转轴转动连接于所述第二套筒，且沿所述第二旋转套筒的轴向方向，所述第二转轴可伸缩地连接于所述第二套筒，其中，所述透镜连接于所述第二转轴远离所述滑块的一端。

第二方面，本实用新型提供了一种切片机，包括切片机本体和第一方向所述的测量装置，所述测量装置可拆卸地连接于所述切片机本体。

可选地，所述切片机还包括：至少两个转动辊和辊箱，其中，所述辊箱固定连接于所述切片机本体，所述至少两个转动辊转动连接于所述辊箱，所述基座磁吸连接于所述辊箱的端部；或者，所述基座通过螺栓连接于所述辊箱的端部。

本实用新型提供了一种测量装置及切片机，所述测量装置包括基座，所述基座用于将所述测量装置可拆卸地连接于切片机；刻度尺，所述刻度尺连接于所述基座；透镜，所述透镜可伸缩地连接于所述基座，且与所述刻度尺相对设置。本实用新型中，通过基座将测量装置可拆卸地连接于切片机，对测量装置进行定位，以确定测量基准。将刻度尺和透镜连接于基座，透镜与刻度尺相对设置，且透镜相对于基座可伸缩，通过透镜放大刻度尺的刻度，以便于作业人员读数。

附图说明

图1表示本实用新型实施例中所述测量装置的结构示意图；

图2表示本实用新型实施例中所述测量装置的主视图；

图3表示本实用新型实施例中所述切片机的俯视图。

附图标记：

10：基座；11：连接部；12：导轨；

20：刻度尺；

30：透镜；

40：第一旋转套筒；

50：折叠件；

60：第一磁体；

70：滑块；

80：第二旋转套筒；81：第二转轴；82：第二套筒；

90：转动辊；

100：切割线；

110：辊箱；

D：待测量距离。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本实用新型的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

参照图1，示出了本实用新型实施例中所述测量装置的结构示意图；参照图2，示出了本实用新型实施例中所述测量装置的主视图；参照图3，示出了本实用新型实施例中所述切片机的俯视图。

现有技术中，采用普通钢尺或者卷尺分别测量绕设于两个转动辊90最外侧的切割线100相对于两个转动辊90，沿垂直于转动辊90轴线方向的偏移距离D。从而确定切割线100与垂直于转动辊90轴线方向的夹角。然而，由于待测量距离D已经达到微米级，采用普通钢尺或者卷尺测量，存在测量基准不准，读数困难等问题。因此，本实用新型提供了一种测量装置，以便于确定测量基准，同时，便于作业人员读数。

如图1至图2所示，本实用新型实施例提供了一种测量装置，所述测量装置包括：基座10，基座10用于将所述测量装置可拆卸地连接于切片机；刻度尺20，刻度尺20连接于基座10；透镜30，透镜30可伸缩地连接于基座10，且与刻度尺20相对设置。

本实用新型实施例提供了一种测量装置，如图1至图2所示，所述测量装置包括基座10，基座10可拆卸地连接于切片机，以使测量装置可拆卸地连接于切片机。通过基座10对测量装置进行定位，从而能够较为准确的确定测量基准。

示例性地，如图3所示，可以将基座10可拆卸地连接于切片机的一个转动辊90的端部，并将基座10的端部设置为与该转动辊90的端部平齐，以将该转动辊90的端部作为测量基准，测量绕设于两个转动辊90最外侧的切割线100相对于两个转动辊90，沿垂直于转动辊90轴线方向的偏移距离D。

在本实用新型实施例中，可以在基座10上设置通孔，将螺栓穿过通孔连接于切片机，从而将测量装置连接于切片机。也可以在基座10上设置磁性件，将磁性件磁吸连接于切片机，从而将测量装置连接于切片机。也可以在基座10上设置凸起，在切片机上设置凹槽，将凸起卡接于凹槽中，从而将测量装置连接于切片机。

当然，在本实用新型实施例中，对于基座10可拆卸地连接于切片机的具体方式，不做过多的限制，在实际的使用中，技术人员可以根据需要设置合适的方式。

如图1至图2所示，本实用新型实施例提供的测量装置还包括刻度尺20。其中，刻度尺20连接于基座10的一端。将基座10可拆卸地连接于切片机，通过基座10对测量装置进行定位。使得刻度尺20与切割线100相对，通过刻度尺20测量绕设于两个转动辊90最外侧的切割线100相对于两个转动辊90，沿垂直于转动辊90轴线方向的偏移距离D。

需要说明的是，在本实用新型实施例中，刻度尺20上的刻度可以根据待测量距离D的需要精度进行设置。在此，不再赘述。

本实用新型实施例中的测量装置还包括透镜30，具体地，将透镜30设置为放大透镜。透镜30可伸缩地连接于基座10，并且，透镜30与刻度尺20相对间隔设置。通过透镜30放大刻度尺20的刻度，以便于作业人员在测量的过程中，对刻度尺20进行读数。

本实用新型提供了一种测量装置，所述测量装置包括：基座10，基座10用于将所述测量装置可拆卸地连接于切片机；刻度尺20，刻度尺20连接于基座10；透镜30，透镜30可伸缩地连接于基座10，且与刻度尺20相对设置。在本实用新型实施例中，通过基座10将测量装置可拆卸地连接于切片机，对测量装置进行定位，以确定测量基准。将刻度尺20和透镜30连接于基座10，透镜30与刻度尺20相对设置，且透镜30相对于基座10可伸缩，通过透镜30放大刻度尺20的刻度，以便于作业人员读数。

作为一种可选地实施方式，如图1所示，基座10为半圆筒状结构，所述半圆筒状结构基座10用于与所述切片机的转动辊90配合；基座10还设置有连接部11，连接部11连接于所述半圆筒状结构基座10靠近测量位置的端部，刻度尺20转动连接于连接部11靠近所述测量位置的侧面。

在本实用新型实施例中，如图1所示，将基座10设置为半圆筒状结构，通过半圆筒状结构基座10与切片机的转动辊90配合。

具体地，可以将半圆筒状结构基座10的内壁的直径设置为与转动辊90的外壁的直径适配，以使半圆筒状结构基座10可以卡接于转动辊90外侧，以便于将半圆筒状结构基座10可拆卸地连接于转动辊90，并使基座10远离侧面位置的端部与转动辊90的一端平齐。

如图1和图2所示，本实用新型实施例中的基座10还设置有连接部11，连接部11连接于半圆筒状结构基座10靠近测量位置的端部。并将刻度尺20转动连接于连接部11靠近测量位置的侧面，通过连接部11对刻度尺20进行固定。

示例性地，连接部11可以为块状结构，将块状结构连接部11连接于基座10靠近测量位置的端部，将刻度尺20转动连接于连接部11靠近测量位置的侧面，且刻度尺20沿连接部11朝向远离基座10的方向延伸。

作为一种可选地实施方式，如图1和图2所示，所述测量装置还包括：第一旋转套筒40，第一旋转套筒40包括第一转轴和套设于所述第一转轴外侧的第一套筒，其中，所述第一套筒固定连接于连接部11靠近测量位置的侧面，所述第一转轴转动连接于所述第一套筒，刻度尺20连接于所述第一转轴。

在本实用新型实施例中，如图1和图2所示，在连接部11和刻度尺20之间设置第一旋转套筒40，通过第一旋转套筒40使得刻度尺20转动连接于连接部11。

具体地，第一旋转套筒40可以包括第一转轴和套设于所述第一转轴外侧的第一套筒。第一套筒的一端固定连接于连接部11靠近测量位置的侧面，第一转轴从第一套筒的另一端伸入第一套筒，并转动连接于第一套筒。将刻度尺20连接于第一转轴，使得刻度尺20可以绕着第一转轴的轴线转动。

作为一种可选地实施方式，如图1和图2所示，所述测量装置还包括：折叠件50，其中，折叠件50的一端连接于所述第一转轴，折叠件50的另一端连接于刻度尺20；连接部11靠近刻度尺20的端部设置有第一连接件，所述第一连接件与第一旋转套筒40沿连接部11的高度方向间隔设置，在折叠件50折叠的情况下，刻度尺20收纳于所述第一连接件。

在本实用新型实施例中，如图1和图2所示，在第一旋转套筒40和刻度尺20之间设置折叠件50，折叠件50可以折叠。将折叠件50的一端连接于第一转轴，并将折叠件50的另一端连接于刻度尺20。

在连接部11靠近刻度尺20的端部设置第一连接件，且将第一连接件与第一旋转套筒40沿连接部11的高度方向间隔设置。在折叠件50折叠的情况下，将刻度尺20收纳于所述第一连接件，对刻度尺20进行折叠收纳，以便于对测量装置进行转移。

具体地，可以将第一连接件设置为卡槽，在折叠件50折叠的情况下，将刻度尺20卡接于所述卡槽中。也可以将第一连接件设置为磁性件，将刻度尺20采用金属材质制成，在折叠件50折叠的情况下，将刻度尺20与磁性件磁吸连接。

当然，在本实用新型实施例中，对于第一连接件的具体类型不做过多的限制，在实际的使用中，技术人员可以根据需要进行设置。

作为一种可选地实施方式，如图1所示，所述第一连接件包括：第一磁体60，连接部11靠近刻度尺20的端部设置有第一凹槽，第一磁体60卡接于所述第一凹槽内，刻度尺20为金属件，在折叠件50折叠的情况下，刻度尺20磁吸连接于第一磁体60。

在本实用新型实施例中，如图1所示，将第一连接件设置为第一磁体60。在连接部11靠近刻度尺20的端部设置第一凹槽，将第一磁体60卡接于第一凹槽中，对第一磁体60进行固定，使得第一磁体60设置于连接部11靠近刻度尺20的端部，且与第一旋转套筒40沿连接部11高度方向间隔设置。

并且，将刻度尺20设置为金属件，具体地，可以将刻度尺20设置为铸铁件、合金件等等。在折叠件50折叠的情况下，将刻度尺20磁吸连接于第一磁体60，以对刻度尺20进行收纳，从而便于对测量装置进行转移。

作为一种可选地实施方式，如图1所示，透镜30沿基座10的周向滑动连接于基座10的外壁。

在本实用新型实施例中，如图1所示，将透镜30沿基座10的周向滑动连接于基座10的外壁。以在刻度尺20旋转至不同角度的情况下，将透镜30沿基座10的周向滑动，使透镜30可以滑动至与刻度尺20相对的位置，从而通过透镜30对刻度尺20上的刻度进行放大。

作为一种可选地实施方式，如图1所示，所述测量装置还包括：滑块70，其中，基座10的外壁设置有导轨12，导轨12沿基座10的周向设置，滑块70滑动连接于导轨12；透镜30可伸缩地连接于滑块70。

在本实用新型实施例中，如图1所示，在基座10的外壁上设置导轨12，且导轨12沿基座10的周向设置。将滑块70滑动连接于导轨12，以使滑动70可以沿基座10的周向滑动。并将透镜30连接于滑块70，以通过滑块70带动透镜沿基座10的周向滑动。

需要说明的是，本实用新型实施例中的透镜30相对于滑块70可伸缩。也就是说，透镜30可以伸长，以对刻度尺20上的较大刻度进行放大，透镜30也可以缩短，以对刻度尺20上的较小刻度进行放大。

作为一种可选地实施方式，如图1和图2所示，所述测量装置还包括：第二旋转套筒80，第二旋转套筒80包括第二转轴81和套设于第二转轴81外侧的第二套筒82，第二套筒82连接于滑块70，第二转轴81转动连接于第二套筒82，且沿第二旋转套筒80的轴向方向，第二转轴81可伸缩地连接于第二套筒82，其中，透镜30连接于第二转轴81远离滑块70的一端。

在本实用新型实施例中，如图1和图2所示，在滑块70和透镜30之间设置第二旋转套筒80，以通过第二旋转套筒80使得透镜30可伸缩且转动连接于滑块70，以对刻度尺20上不同位置的刻度进行放大。

具体地，第二旋转套筒80包括第二转轴81和套设于第二转轴81外侧的第二套筒82。将第二套筒82的一端连接于滑块70，将第二转轴81的一端伸入第二套筒82的另一端，并转动连接于第二套筒82。同时，沿第二旋转套筒80的轴向方向，第二转轴81相对于第二套筒82可伸缩。将透镜30连接于第二转轴81远离滑块70的一端，使得透镜30转动连接于滑块70，且相对于滑动70可伸缩。

本实用新型提供了一种测量装置，所述测量装置包括基座，所述基座用于将所述测量装置可拆卸地连接于切片机；刻度尺，所述刻度尺连接于所述基座；透镜，所述透镜可伸缩地连接于所述基座，且与所述刻度尺相对设置。本实用新型中，通过基座将测量装置可拆卸地连接于切片机，对测量装置进行定位，以确定测量基准。将刻度尺和透镜连接于基座，透镜与刻度尺相对设置，且透镜相对于基座可伸缩，通过透镜放大刻度尺的刻度，以便于作业人员读数。

如图3所示，本实用新型实施例还提供了一种切片机，所述切片机包括切片机本体和上述实施例中所述的测量装置，所述测量装置可拆卸地连接于所述切片机本体。

需要说明的是，在本实用新型实施例中，所述切片机包括的测量装置与上述实施例中所述的测量装置的结构相同，其有益效果也类似，在此不再赘述。

作为一种可选地实施方式，如图3所示，所述切片机还包括：至少两个转动辊90和辊箱110，其中，辊箱110连接于所述切片机本体，至少两个转动辊90转动连接于辊箱110，基座10磁吸连接于辊箱110的端部；或者，基座10通过螺栓连接于辊箱110的端部。

在实际的使用中，由于转动辊90经常拆装，且高速转动，所以转动辊90的装配可能会存在间隙，导致相邻两个转动辊90端面的测量基准不一致。因此，在本实用新型实施例中，将辊箱110作为测量基准，以提高测量基准的精准度。

在本实用新型实施例中，如图3所示，切片机还包括至少两个转动辊90和辊箱110。将辊箱110固定连接于切片机本体。具体地，可以将辊箱110焊接于切片机本体上，也可以将辊箱110与切片机本体一体成型，对此，不做具体地限制。在实际的使用中，技术人员可以根据需要进行设置。

需要说明的是，辊箱110的端部至少部分设置为圆筒状结构，且与基座10适配。以使基座10可以卡接于辊箱110的外侧，且可拆卸地连接于辊箱110。

如图3所示，将转动辊90转动连接于辊箱110，并将基座10磁吸连接于辊箱110的端部，或者，将基座10通过螺栓可拆卸地连接于辊箱110的端部。使得基座10的端部与辊箱110的端部平齐，以将辊箱110的端部作为测量基准，从而测量切割线100与辊箱110的端部之间的距离。将辊箱110的端部作为测量基准，可以提高测量基准的精准度。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

尽管已描述了本实用新型实施例的可选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括可选实施例以及落入本实用新型实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体与另一个实体区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本实用新型所提供的技术方案进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的原理及实现方式，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (10)

1.一种测量装置，其特征在于，包括：

基座，所述基座用于将所述测量装置可拆卸地连接于切片机；

刻度尺，所述刻度尺连接于所述基座；

透镜，所述透镜可伸缩地连接于所述基座，且与所述刻度尺相对设置。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述基座为半圆筒状结构，所述半圆筒状结构基座用于与所述切片机的转动辊配合；

所述基座还设置有连接部，所述连接部连接于所述半圆筒状结构基座靠近测量位置的端部，所述刻度尺转动连接于所述连接部靠近所述测量位置的侧面。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：第一旋转套筒，所述第一旋转套筒包括第一转轴和套设于所述第一转轴外侧的第一套筒，其中，

所述第一套筒固定连接于所述连接部靠近所述测量位置的侧面，所述第一转轴转动连接于所述第一套筒，所述刻度尺连接于所述第一转轴。

4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：折叠件，其中，所述折叠件的一端连接于所述第一转轴，所述折叠件的另一端连接于所述刻度尺；

所述连接部靠近所述刻度尺的端部设置有第一连接件，所述第一连接件与所述第一旋转套筒沿所述连接部的高度方向间隔设置，

在所述折叠件折叠的情况下，所述刻度尺收纳于所述第一连接件。

5.根据权利要求4所述的测量装置，其特征在于，所述第一连接件包括：第一磁体，所述连接部靠近所述刻度尺的端部设置有第一凹槽，所述第一磁体卡接于所述第一凹槽内，

所述刻度尺为金属件，在所述折叠件折叠的情况下，所述刻度尺磁吸连接于所述第一磁体。

6.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述透镜沿所述基座的周向滑动连接于所述基座的外壁。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：滑块，其中，

所述基座的外壁设置有导轨，所述导轨沿所述基座的周向设置，所述滑块滑动连接于所述导轨；

所述透镜可伸缩地连接于所述滑块。

8.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：第二旋转套筒，所述第二旋转套筒包括第二转轴和套设于所述第二转轴外侧的第二套筒，所述第二套筒连接于所述滑块，所述第二转轴转动连接于所述第二套筒，且沿所述第二旋转套筒的轴向方向，所述第二转轴可伸缩地连接于所述第二套筒，其中，

所述透镜连接于所述第二转轴远离所述滑块的一端。

9.一种切片机，其特征在于，包括：切片机本体和权利要求1-8中任一项所述的测量装置，所述测量装置可拆卸地连接于所述切片机本体。

10.根据权利要求9所述的切片机，其特征在于，所述切片机还包括：至少两个转动辊和辊箱，其中，所述辊箱固定连接于所述切片机本体，所述至少两个转动辊转动连接于所述辊箱，所述基座磁吸连接于所述辊箱的端部；

或者，所述基座通过螺栓连接于所述辊箱的端部。