CN220488798U - 综合测试卡位置调整装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出了综合测试卡位置调整装置，属于影像设备检测技术领域，其包括综合测试卡本体固定架、云台以及第一升降架，云台设置在第一升降架的顶部，综合测试卡本体固定架包括综合测试卡安装支架与底座；底座固定在云台的顶部，综合测试卡安装支架通过底座固定在云台上且与云台垂直设置。本实用新型通过第一升降架对综合测试卡本体固定架的高度进行调节，利用云台对综合测试卡本体固定架的角度进行调整，进而可以完成对综合测试卡的位置调整并固定，有效避免综合测试卡抖动的问题。

Description

综合测试卡位置调整装置

技术领域

本实用新型属于安防图像检测技术领域，涉及摄像机图像检测用的位置调节辅助装置，具体为综合测试卡位置调整装置。

背景技术

综合测试卡是用于测试摄像机镜头的整体对焦以及分辨率的单元，主要是测试摄像机镜头评估，检查摄像机镜头中心后焦及各区的几何畸变失真及分辨率。其由圆形图案，灰度，楔形线的光栅，波带片、网格、对角线和水平线组成。

综合测试卡在使用时，需要精确调整其放置位置，使其平行置于被测摄像机镜头前且使其调整的有效高度正好充满摄像机镜头的画面。目前，在实际检测时通常都是一个检测人员手持综合测试卡并站在所测监控点位的摄像机正前方，通过对讲机或电话接受监控中心的另一个检测人员的指示，手动调整综合测试卡相对于摄像机镜头的高度、水平以及角度等来满足综合测试卡正好充满摄像机镜头的画面要求，最终再由监控中心现场检测人员主观读数，由于综合测试卡在手持过程中容易被抖动，特别是对于一些较高位置的摄像机的检测，人工持卡还存在够不着达不到正对摄像机镜头的检测要求，导致摄像机的测试数据不准确，不能对摄像机作出准确、客观的评估。

实用新型内容

针对上述所描述的现有的综合测试卡位置调整方法，其在调整综合测试卡的位置时人工持卡存在卡片容易抖动、无法达到检测高度等的问题，本实用新型提出了综合测试卡位置调整装置。

本实用新型所采用的技术方案是：

综合测试卡位置调整装置，其包括综合测试卡本体固定架、云台以及第一升降架，所述云台设置在第一升降架的顶部，所述综合测试卡本体固定架包括综合测试卡安装支架与底座；所述底座固定在云台的顶部，所述综合测试卡安装支架通过底座固定在云台上且与云台垂直设置。

进一步限定，还包括滑动组件和搁置板，所述第一升降架通过滑动组件与搁置板连接，并通过滑动组件在搁置板上运动。

进一步限定，所述滑动组件包括滑动块以及滑槽，滑动块与第一升降架的底端连接；所述滑槽开设在搁置板的上表面，滑动块置于滑槽内，第一升降架通过滑动块在滑槽内滑动调整位移。

进一步限定，所述滑槽的槽壁上设置有限位孔，所述限位孔内设置限位条。

进一步限定，所述调整装置还包括第二升降架，所述搁置板设置在第二升降架上方。

进一步限定，所述综合测试卡位置调整装置还包括移动推车，所述移动推车设置在第二升降架的下方，且所述移动推车与第二升降架固定连接。

进一步限定，所述移动推车的底部安装有万向轮。

进一步限定，所述第一升降架包括伸缩杆、限位插销和套筒，所述套筒的底部与滑动块固定连接，所述伸缩杆的一端部沿着套筒的顶部延伸至套筒内，所述伸缩杆的另一端部与云台固定连接，所述套筒上设置有限位孔，所述伸缩杆上与套筒对应的位置设置有限位孔，所述限位插销穿过套筒上的限位孔以及伸缩杆上的限位孔将套筒与伸缩杆连接。

进一步限定，所述第一升降架还包括固定支腿，所述固定支腿与套筒底部连接。

进一步限定，所述固定支腿是伸缩型结构。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

1、本实用新型综合测试卡位置调整装置，其包括综合测试卡本体固定架、云台、第一升降架、搁置板和第二升降架，通过第一升降架和第二升降架对综合测试卡本体固定架的高度进行调节，通过搁置板使得第一升降架和第二升降架之间的连接位置稳固；通过云台对综合测试卡本体固定架的角度进行调整，本实用新型可以快速地将综合测试卡本体固定架的位置调整到位并对综合测试卡本体固定架进行定位，解决了现有技术中人工手持综合测试卡导致卡片抖动、高度不够等问题，确保对摄像机的检测准确性，以便于对摄像机作出准确、客观的评估。

2、本实用新型综合测试卡位置调整装置利用电动云台或手动云台完成角度微调，使综合测试卡本体固定架的角度满足摄像机的检测位置要求。

3、本实用新型综合测试卡位置调整装置还包括滑动块，在搁置板的顶部端面设置有滑槽，将滑动块置于滑槽内，使得搁置板与滑动块滑动连接，通过滑动块在滑槽内的滑动方便对综合测试卡本体固定架的水平位置进行调节。

4、本实用新型在滑槽的槽壁上设置有限位孔，同时在限位孔内设置限位条，通过限位条对滑动块的位置进行固定和限制，确保滑动块在滑动至合适的位置后进行定位。

5、本实用新型综合测试卡位置调整装置还包括移动推车，同时在移动推车的底部安装万向轮，方便对综合测试卡本体固定架的安装点位进行调节，也方便对整个综合测试卡位置调整装置的位置进行移动。

6、本实用新型的第一升降架包括伸缩杆、限位插销和套筒，通过调节伸缩杆在套筒内的伸入长度，实现对综合测试卡本体固定架高度的微调，通过限位插销对调整好的伸缩杆与套筒的相对位置进行固定，稳定伸缩杆的位置稳定，避免综合测试卡在综合测试卡安装支架上晃动。

附图说明

图1为本实用新型综合测试卡位置调整装置的结构示意图；

图2为综合测试卡本体固定架的结构示意图；

图3为第一升降架的结构示意图；

图4为第一升降架的另一种结构示意图。

其中，1-综合测试卡本体固定架，11-综合测试卡安装支架，12-底座，2-云台，3-第一升降架，31-伸缩杆，32-限位插销，33-套筒，34-固定支腿，4-滑动块，5-搁置板，6-第二升降架，7-移动推车，8-万向轮。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型的技术方案进行进一步地解释说明，但本实用新型并不限于以下说明的实施方式。

实施例1

参见图1～3，本实施例综合测试卡位置调整装置，包括综合测试卡本体固定架1、云台2、第一升降架3、滑动组件、搁置板5和第二升降架6，其中，搁置板5设置在第二升降架6上方，第一升降架3通过滑动组件设置在搁置板5上方，第一升降架3的顶部安装云台2，在云台2的顶部通过螺钉安装综合测试卡本体固定架11。

具体的，本实施例的综合测试卡本体固定架11是用于安装固定综合测试卡，参见图2，其主要是包括综合测试卡安装支架11与底座12，综合测试卡安装支架11正好将综合测试卡卡紧，防止其在测试过程中随风晃动。本实施例中综合测试卡安装支架11是由背板和底边连接成L型镂空板，即综合测试卡安装支架11的底边弯折成放置台，综合测试卡放置在该弯折边上。在综合测试卡安装支架11的背板与综合测试卡平行的部分是镂空板，在其上边沿处设置有卡槽，用于将综合测试卡卡紧固定。底座12是L形底座12，底座12的长臂延伸至综合测试卡安装支架11的背板后侧并通过螺钉、螺母组件与综合测试卡安装支架11的背板紧固。底座12的短臂水平与云台2的顶部紧贴并通过螺钉紧固，使综合测试卡安装支架11的背板与云台2的顶部垂直。

云台2是用于固定综合测试卡本体固定架11的，本实施例中采用电动云台，其可以水平0～360°连续旋转，还可以+60°～-60°俯仰角度调整，自动调整；也可采用手动云台，手动调节适应多种检测角度。

本实施例第一升降架3包括伸缩杆31、限位插销32和套筒33，伸缩杆31的一端部可沿着套筒33伸缩，延伸至套筒33内，伸缩杆31的另一端部与云台2固定连接，套筒33上设置有限位孔，伸缩杆31上与套筒33对应的位置设置有限位孔，限位插销32沿着径向穿过套筒33上的限位孔以及伸缩杆31上的限位孔将套筒33与伸缩杆31同轴连接。优选的，伸缩杆31与套筒33同轴设置；在伸缩杆31上以及套筒33上自下而上均设置有多个限位孔，通过多个限位孔和限位插销32配合使得伸缩杆31与套筒33之间有多个高度调节档位，方便对综合测试卡本体固定架11的高度进行更好的微调。

限位插销32贯穿套筒33的径向以及伸缩杆31的径向。具体的，套筒33上的限位孔以及伸缩杆31上的限位孔沿着套筒33的径向以及伸缩杆31的径向是贯通的，使得限位插销32能够沿着套筒33的径向以及伸缩杆31的径向贯穿，确保限位插销32对套筒33以及伸缩杆31之间限定位置的稳定性。

第一升降架3还包括固定支腿34，固定支腿34固定连接在套筒33的底端，且与滑动组件连接。具体的，固定支腿34是伸缩型结构，可以是三脚架结构也可以是门型升降支架，其高度调整好之后，固定支腿34的底端与滑动组件的上端面固定连接，固定支腿34的顶部与套筒33的底部固定连接。

本实施例的滑动组件包括滑动块4以及滑槽，滑动块与第一升降架3的底端即固定支腿34的底端连接；滑槽开设在搁置板5的上表面，滑动块置于滑槽内，第一升降架3通过滑动块在滑槽内滑动调整位移。具体的，滑槽沿着搁置板5面板的长度方向设置，将滑动块4置于滑槽内可实现滑动块4沿着搁置板5面板的长度方向滑动，第一升降架3的底部即固定支腿34的底端与滑动块4的上端面固定连接。

优选的，在滑槽的槽壁上设置有限位孔，限位孔内设置限位条，该限位条可以采用橡胶或者尼龙等具有弹性材质的条状结构，其限位条朝着滑槽的内壁设置稍突出于滑槽槽壁，借助外力调整滑动块4在滑槽中的滑动会产生轻微摩擦，控制其滑动速度，当滑动块4滑到限位孔位置处时对滑动块4进行限位，防止其滑动。

为了进一步保证限位条的限位固定效果，限位条还可以采用弹性部件如弹簧或者簧片等，即可以沿着滑槽两侧槽壁的长度方向均设置有多个限位孔，限位条的一端部通过弹簧固定在一侧槽壁的限位孔内，当滑动块4滑动到限位孔位置时通过限位条弹出，对滑动块4调整好的位置进行固定，防止滑动块4位置不稳定，在固定后出现滑动的现象。

本实施例的搁置板5的下端面与第二升降架6的顶部固定连接，通过第二升降架6对综合测试卡本体固定架11的高度进行粗调，通过第一升降架3对综合测试卡本体固定架11的高度进行微调，两个高度调节方式配合，实现户外较高位置摄像机的对准。优选的，第二升降架6为剪叉式升降结构，能适用于高度要求较高的户外场地的使用。

为了能够适应户外场地的使用，本实施例的综合测试卡位置调整装置还包括移动推车7，移动推车7设置在第二升降架6的下方，且移动推车7与第二升降架6固定连接。具体的，在第二升降架6的底部与移动推车7的车厢固定连接，在移动推车7的一侧部设置有手推把。

优选的，移动推车7的底部安装有万向轮8；具体的，万向轮8安装在移动推车7车厢的底部。

本实施例综合测试卡位置调整装置，其工作过程为：将综合测试卡固定在综合测试卡本体固定架11上，通过移动推车7将整个综合测试卡位置调整装置移动至目的地，将云台2与综合测试卡本体固定架11的底座12连接，先通过第二升降架6对综合测试卡本体固定架11的高度进行整体调节，再通过调节伸缩杆31在套筒33内的伸入长度，对综合测试卡本体固定架11的高度进行微调；通过滑动块4在滑槽内的滑动对综合测试卡本体固定架11的水平位置进行微调，调节好综合测试卡本体固定架11的水平位置后通过限位条对滑动块4的位置进行限位；通过云台2对综合测试卡本体固定架11的角度进行调节，重复粗调和微调的调节步骤，直至综合测试卡本体固定架11上的综合测试卡与户外的摄像头镜头正对，满足校测评估的位置要求，完成综合测试卡的位置调整。

实施例2

与实施例1不同之处在于，本实施例综合测试卡位置调整装置，包括综合测试卡本体固定架1、云台2和第一升降架3，其中，第一升降架3的顶部安装云台2，在云台2的顶部通过螺钉安装综合测试卡本体固定架11。本实施例的综合测试卡本体固定架11是用于安装固定综合测试卡，其主要是包括综合测试卡安装支架11与底座12，综合测试卡安装支架11正好将综合测试卡固定，防止其在测试过程中随风晃动。本实施例中综合测试卡安装支架11是镂空板，综合测试卡粘贴在综合测试卡安装支架11上。底座12是L形底座12，底座12的长臂延伸至综合测试卡安装支架11的背板后侧并通过螺钉、螺母组件与综合测试卡安装支架11的背板紧固。底座12的短臂水平与云台2的顶部紧贴并通过螺钉紧固，使综合测试卡安装支架11的背板与云台2的顶部垂直。

云台2是用于固定综合测试卡本体固定架11的，本实施例中采用电动云台，其可以水平0～360°连续旋转，还可以+60°～-60°俯仰角度调整，自动调整；也可采用手动云台，手动调节适应多种检测角度。

本实施例第一升降架3包括伸缩杆31、限位插销32、套筒33和固定支腿34，所述伸缩杆31的一端部可沿着套筒33伸缩，延伸至套筒33内，伸缩杆31的另一端部与云台2固定连接，套筒33上设置有限位孔，伸缩杆31上与套筒33对应的位置设置有限位孔，限位插销32沿着径向穿过套筒33上的限位孔以及伸缩杆31上的限位孔将套筒33与伸缩杆31同轴连接。优选的，伸缩杆31与套筒33同轴设置；在伸缩杆31上以及套筒33上自下而上均设置有多个限位孔，通过多个限位孔和限位插销32配合使得伸缩杆31与套筒33之间有多个高度调节档位，方便对综合测试卡本体固定架11的高度进行更好的微调。限位插销32贯穿套筒33的径向以及伸缩杆31的径向。具体的，套筒33上的限位孔以及伸缩杆31上的限位孔沿着套筒33的径向以及伸缩杆31的径向是贯通的，使得限位插销32能够沿着套筒33的径向以及伸缩杆31的径向贯穿，确保限位插销32对套筒33以及伸缩杆31之间限定位置的稳定性。固定支腿34固定连接在套筒33的底端。具体的，固定支腿34是伸缩型三脚架结构，其高度调整好之后，固定支腿34的底端直接固定在地面上，固定支腿34的顶部与套筒33的底部固定连接。

本实施例的结构适用于高度要求相对低的位置调整，其主要利用固定支腿34的伸缩长度以及伸缩杆31的伸缩长度调整到目的高度，然后利用电动云台调整综合测试卡的角度，进而使其位置和角度满足摄像机检测和评估的要求。

实施例3

与实施例1不同之处在于，本实施例综合测试卡位置调整装置，包括综合测试卡本体固定架1、云台2、第一升降架3、滑动组件和搁置板5，其中，第一升降架3的顶部安装云台2，在云台2的顶部通过螺钉安装综合测试卡本体固定架11，第一升降架3的底端通过滑动组件与搁置板5连接，并通过滑动组件在搁置板5上运动。

参见图4，本实施例第一升降架3包括伸缩杆31、限位插销32、套筒33和固定支腿34，所述伸缩杆31的一端部可沿着套筒33伸缩，延伸至套筒33内，伸缩杆31的另一端部与云台2固定连接，套筒33上设置有限位孔，伸缩杆31上与套筒33对应的位置设置有限位孔，限位插销32沿着径向穿过套筒33上的限位孔以及伸缩杆31上的限位孔将套筒33与伸缩杆31同轴连接。优选的，伸缩杆31与套筒33同轴设置；在伸缩杆31上以及套筒33上自下而上均设置有多个限位孔，通过多个限位孔和限位插销32配合使得伸缩杆31与套筒33之间有多个高度调节档位，方便对综合测试卡本体固定架11的高度进行更好的微调。限位插销32贯穿套筒33的径向以及伸缩杆31的径向。具体的，套筒33上的限位孔以及伸缩杆31上的限位孔沿着套筒33的径向以及伸缩杆31的径向是贯通的，使得限位插销32能够沿着套筒33的径向以及伸缩杆31的径向贯穿，确保限位插销32对套筒33以及伸缩杆31之间限定位置的稳定性。固定支腿34是门式伸缩型结构，其高度调整好之后，固定支腿34的底端与滑动块4固定连接，固定支腿34的顶部与套筒33的底部固定连接，通过滑动块4在搁置板5的滑槽内滑动带动整体装置的水平移动。

本实施例的结构适用于高度要求相对低且摄像头排布紧密的检测位置调整，其主要推动第一升降架3随着滑动组件在搁置板5上的移动位置调整水平移动距离，之后固定支腿34的伸缩长度以及伸缩杆31的伸缩长度调整到目的高度，然后利用电动云台调整综合测试卡的角度，进而使其位置和角度满足摄像机检测和评估的要求。

其具体的构造、连接关系与实施例1相同。

在上述实施例1～3中所涉及的综合测试卡本体固定架1、第一升降架3、第二升降架6等具体的结构不仅限于上述的实施情形，其还可以选用能够满足其使用功能要求的其他结构，只要在本实用新型的技术方案构思范围内的变换均属于本实用新型保护的范围。

Claims (10)

1.综合测试卡位置调整装置，其特征在于，包括综合测试卡本体固定架(1)、云台(2)以及第一升降架(3)，所述云台(2)设置在第一升降架(3)的顶部，所述综合测试卡本体固定架(1)包括综合测试卡安装支架(11)与底座(12)；所述底座(12)固定在云台(2)的顶部，所述综合测试卡安装支架(11)通过底座(12)固定在云台(2)上且与云台(2)垂直设置。

2.根据权利要求1所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，还包括滑动组件和搁置板(5)，所述第一升降架(3)通过滑动组件与搁置板(5)连接，并通过滑动组件在搁置板(5)上运动。

3.根据权利要求2所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，所述滑动组件包括滑动块以及滑槽，滑动块与第一升降架(3)的底端连接；所述滑槽开设在搁置板(5)的上表面，滑动块置于滑槽内，第一升降架(3)通过滑动块在滑槽内滑动调整位移。

4.如权利要求3所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，所述滑槽的槽壁上设置有限位孔，所述限位孔内设置限位条。

5.如权利要求2～4任意一项所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，所述调整装置还包括第二升降架(6)，所述搁置板(5)设置在第二升降架(6)上方。

6.如权利要求5所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，所述综合测试卡位置调整装置还包括移动推车(7)，所述移动推车(7)设置在第二升降架(6)的下方，且所述移动推车(7)与第二升降架(6)固定连接。

7.如权利要求6所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，所述移动推车(7)的底部安装有万向轮(8)。

8.如权利要求5所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，所述第一升降架(3)包括伸缩杆(31)、限位插销(32)和套筒(33)，所述套筒(33)的底部与滑动块(4)固定连接，所述伸缩杆(31)的一端部沿着套筒(33)的顶部延伸至套筒(33)内，所述伸缩杆(31)的另一端部与云台(2)固定连接，所述套筒(33)上设置有限位孔，所述伸缩杆(31)上与套筒(33)对应的位置设置有限位孔，所述限位插销(32)穿过套筒(33)上的限位孔以及伸缩杆(31)上的限位孔将套筒(33)与伸缩杆(31)连接。

9.如权利要求8所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，所述第一升降架(3)还包括固定支腿(34)，所述固定支腿(34)与套筒(33)底部连接。

10.如权利要求9所述的综合测试卡位置调整装置，其特征在于，所述固定支腿(34)是伸缩型结构。