CN220473413U - X射线荧光分析仪的制样装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种X射线荧光分析仪的制样装置，用于与样品杯组件配合，包括：支架；驱动组件，设于所述支架上；压力测试组件，与所述驱动组件连接，所述压力测试组件具有作用于所述样品杯组件的压头；其中，所述驱动组件驱使所述压头靠近或是远离所述样品杯组件，所述压头被配置为感测施加于所述样品杯组件上的压力大小。

Description

X射线荧光分析仪的制样装置

技术领域

本实用新型属于试验样品制造技术领域，具体涉及一种X射线荧光分析仪的制样装置。

背景技术

在使用X射线荧光分析仪进行样品分析时，首先需要制样，即把待测样品按照一定的流程进行处理，然后把制好的样品放入仪器进行测量，得出样品中的待测元素的种类和含量信息。制样的好坏会对最终的测量结果造成影响，有时甚至是影响测量结果的决定性因素。

在对粉末样品进行制样时，需对粉末样品进行压片处理，以使制作出来的样品被有效压实。现有的粉末样品压实作业依赖手工的方式，基本上无法制作出压实程度一致的样品，会造成测量结果的偏差。因此，有必要对现有技术予以改良以克服现有技术中的所述缺陷。

实用新型内容

因此，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种制样方便且制样精度高的X射线荧光分析仪的制样装置。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种X射线荧光分析仪的制样装置，用于与样品杯组件配合，包括：支架；驱动组件，设于所述支架上；压力测试组件，与所述驱动组件连接，所述压力测试组件具有作用于所述样品杯组件的压头；其中，所述驱动组件驱使所述压头靠近或是远离所述样品杯组件，所述压头被配置为感测施加于所述样品杯组件上的压力大小。

优选的，所述驱动组件包括转动设于所述支架上的齿轮、活动设于所述支架上且与所述齿轮啮合的齿条、固设有所述齿条的支撑件、抵接于所述支架与所述支撑件之间的弹性件，所述压力测试组件固设于所述支撑件上，以与所述支撑件、所述齿条形成一整体；

其中，所述齿条响应于所述齿轮的转动而驱使所述压力测试组件朝向所述样品杯组件运动，并且响应于所述弹性件的弹性力的作用而驱使所述压力测试组件远离所述样品杯组件。

优选的，所述齿轮固设于转轴上，所述转轴转动设于所述支架上；

其中，所述转轴端部设有手柄，所述转轴通过所述手柄以手动方式转动；或者，

所述转轴传动连接有旋转输出件，所述转轴通过所述旋转输出件自动转动。

优选的，所述支撑件包括沿所述齿条的延伸方向设置的主板体、设于所述主板体两端的一对端板，其中，所述一对端板垂直于所述主板体设置，所述齿条的两端固设于所述端板上，所述弹性件抵接于所述支架与一所述端板之间。

优选的，所述支架包括底板、垂直设于所述底板上的立柱、垂直设于所述立柱上的承载臂；

其中，所述驱动组件和所述压力测试组件设于所述承载臂上。

优选的，所述承载臂上设有用于收容所述齿轮的第一通孔、用于供所述齿条穿设的第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔相贯通，其中，所述第一通孔具有第一中心线，所述第二通孔具有第二中心线，所述第一中心线与所述第二中心线垂直交错分布。

优选的，所述承载臂上设有调高结构，所述调高结构被配置为调节所述承载臂与所述底板之间的距离。

优选的，所述调高结构包括螺接于所述承载臂上的锁紧把手，所述承载臂上设有用于供所述立柱贯穿的第三通孔，所述承载臂的端部还设有与所述第三通孔连通的豁口，所述豁口使得所述承载臂的端部形成一对夹臂，所述一对夹臂上螺接有所述锁紧把手；

其中，所述第三通孔具有第三中心线，所述第三中心线与所述第二中心线平行，所述一对夹臂上设有与所述锁紧把手配合的螺纹孔，所述螺纹孔的中心线与所述第三中心线垂直交错分布。

优选的，所述齿轮固设于转轴上，以形成齿轮轴，所述齿轮轴的端部螺接有挡块，所述挡块的外径大于所述第一通孔的孔径，所述挡块抵设于所述第一通孔的外端侧，所述转轴的外径大于所述齿轮的齿顶圆直径，以在所述转轴与所述齿轮的连接处形成卡肩，所述卡肩抵设于所述第一通孔的另一外端侧。

优选的，所述支架上还设有工装固定件，所述工装固定件位于所述压头的下方，其中，所述工装固定件上固设有定位块，所述定位块上设有用于所述样品杯组件定位的弧形开口。

本实用新型提供的技术方案，具有以下优点：

1)利用驱动组件可驱使压头靠近或是远离样品杯组件，避免了采用手工压实的缺陷，具有制样方便、制样效率高的优点

2)压力测试组件的压头能够感测施加于样品杯组件上的压力大小，从而保证样品的压实程度基本一致，具有制样精度高的优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的制样装置的立体结构示意图；

图2为本实用新型提供的制样装置设有样品杯组件后的示意图；

图3为本实用新型提供的制样装置在仰视方向上的示意图；

图4为支架、驱动组件和压力测试组件之间的位置关系示意图；

图5为转轴、齿轮和挡块之间的位置关系示意图；

图6为承载臂、锁紧把手之间的位置关系示意图；

图7为支撑件的结构示意图；

图8为在使用所述制样装置进行套环绷膜时的示意图；

图9为在使用所述制样装置进行压样时的示意图；

图10为在使用所述制样装置退压杆时的示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

在本实用新型中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本实用新型。

本实用新型提供了一种X射线荧光分析仪的制样装置，用于与样品杯组件200配合，制样时，所述X射线荧光分析仪的制样装置能够对样品杯组件200内的粉末样品进行压实作业，从而制作出符合试验要求的粉末样品。当然，所述X射线荧光分析仪的制样装置还可以用于其他类型仪器的制样，包括但不局限于X射线荧光分析仪。为了简化描述，下文将“X射线荧光分析仪的制样装置”简称为“制样装置”。

下文将主要以所述制样装置用作为粉末样品制样为主述场景来阐述的。但基于上文描述可知，本实用新型实施例的保护范围并不因此而受到限定。

请参阅图1至图3所示，所述制样装置包括：支架100、驱动组件300和压力测试组件400。支架100用于承载驱动组件300和压力测试组件400，其中，驱动组件300设于支架100上，压力测试组件400与驱动组件300连接。驱动组件300用于施加压实粉末样品的外力，同时还用于带动压力测试组件400运动。压力测试组件400具有作用于样品杯组件200的压头410，压头410用于感测施加于样品杯组件200上的压力大小，从而保证样品的压实程度基本一致。优选的，压力测试组件400为数显式压力表，由此，压力数值能够被显示出，读数方便。应予说明，在本说明书中，“大致”或“基本”可以理解为接近、近似，或者是与目标值相差在预定范围内。

支架100包括底板110、垂直设于底板110上的立柱120、垂直设于立柱120上的承载臂130。其中，驱动组件300和压力测试组件400设于承载臂130上。所述制样装置的尺寸小于120mm长*80mm宽*220mm高，重量不足1kg，方便携带至户外现场使用。

驱动组件300驱使压头410靠近或是远离样品杯组件200。请参阅图4所示，驱动组件300包括转动设于承载臂130上的齿轮320、活动设于承载臂130上且与齿轮320啮合的齿条330、固设有齿条330的支撑件340、抵接于承载臂130与支撑件340之间的弹性件350。

齿轮320固设于转轴310上，转轴310转动设于支架100上。在本实施例中，齿轮320与转轴310形成了齿轮轴。请参阅图6所示，承载臂130上设有用于收容齿轮320的第一通孔131、用于供齿条330穿设的第二通孔132，第一通孔131与第二通孔132相贯通，由此，保证齿轮320与齿条330顺利地啮合。其中，第一通孔131具有第一中心线，第二通孔132具有第二中心线，第一中心线与第二中心线垂直交错分布。

请参阅图5所示，齿轮轴的端部螺接有挡块370，挡块370的外径大于第一通孔131的孔径，挡块370抵设于第一通孔131的外端侧。转轴310的外径大于齿轮320的齿顶圆直径，以在转轴310与齿轮320的连接处形成卡肩311，卡肩311抵设于第一通孔131的另一外端侧。由此，能够在齿轮轴的轴向上实现限位，从而将齿轮轴限制于承载臂130上。

转轴310的转动方式有手动方式和自动方式。当转轴310以手动方式旋转时，转轴310端部设有手柄360，工作时，用户手动操作手柄360，使得转轴310转动。当转轴310以自动方式旋转时，转轴310传动连接有旋转输出件(图未示)，旋转输出件可以为电机；工作时，通过旋转输出件驱使转轴310转动。

在本实施例中，压力测试组件400固设于支撑件340上，以与支撑件340、齿条330形成一整体。也就是说，当齿条330运动时，支撑件340、压力测试组件400跟随齿条330同步运动。

具体地，请参阅图7所示，支撑件340包括沿齿条330的延伸方向设置的主板体341、设于主板体341两端的一对端板342。其中，一对端板342垂直于主板体341设置，齿条330的两端固设于端板342上，弹性件350抵接于承载臂130与一端板342之间。

齿条330的运动过程如下：齿条330响应于齿轮320的转动而驱使压力测试组件400朝向样品杯组件200运动，并且响应于弹性件350的弹性力的作用而驱使压力测试组件400远离样品杯组件200。其中，弹性件350为压簧，用于使得齿条330自动复位。

下文以转轴310采用手动方式转动为例具体阐述齿轮320、齿条330、支撑件340、弹性件350与压力测试组件400之间的运动关系，但基于上文描述可知，本实用新型实施例的保护范围并不因此而受到限定。

当按压手柄360时，齿轮轴转动，带动与之啮合的齿条330向下运动；当松开手柄360时，在弹性件350的作用力下，齿条330向上复位，带动齿轮轴回复至原位，从而带动手柄360复位。在上述过程中，支撑件340上固设有压力测试组件400，当压力测试组件400的压头410与样品杯组件200接触后产生的压力可以通过压力测试组件400读出，具有制样方便、制样精度高的优点。

在本实施例中，立柱120和齿条330沿上、下方向延伸，为了便于调节承载臂130的高度，承载臂130上设有调高结构，通过调高结构可调节承载臂130与底板110之间的距离，从而实现承载臂130高度的调节。

具体地，调高结构包括螺接于承载臂130上的锁紧把手140，承载臂130上设有用于供立柱120贯穿的第三通孔133，承载臂130的端部还设有与第三通孔133连通的豁口134，豁口134使得承载臂130的端部形成一对夹臂，一对夹臂上螺接有上述锁紧把手140。其中，第三通孔133具有第三中心线，第三中心线与第二中心线平行，一对夹臂上设有与锁紧把手140配合的螺纹孔，螺纹孔的中心线与第三中心线垂直交错分布。

当用户沿第一方向转动锁紧把手140时，一对夹臂呈逐渐靠近的态势，此时，承载臂130被夹紧于立柱120上，承载臂130的位置相对立柱120固定。当需要调节承载臂130的高度时，沿第二方向转动锁紧把手140，一对夹臂呈之间的豁口134恢复至初始状态，此时，承载臂130能够在立柱120上滑动，用户可将承载臂130移动至预设位置后，再沿第一方向转动锁紧把手140，将承载臂130固定于立柱120上，由此，可以手动调节所述制样装置的整体高度。值得注意的是，上述第一方向与第二方向的方向相反，例如，当第一方向为逆时针方向时，则第二方向为顺时针方向。

在本实施例中，支架100上还设有工装固定件500，工装固定件500位于压头410的下方。其中，工装固定件500上固设有定位块510，定位块510上设有用于样品杯组件200定位的弧形开口511。

样品杯组件200包括样品杯210、套环220、分析薄膜、套环压杆230、压杆240和O型圈250。上述已经充分描述了所述制样装置的具体结构，本领域技术人员将理解如下的制样工作过程：

第一步，使用所述制样装置进行套环220绷膜：请参阅图8所示，1)将样品杯210倒扣于工装固定件500上，利用定位块510的弧形开口511进行定位；2)将分析薄膜(图未示)置于样品杯210的顶部开口上；3)将套环220放置于分析薄膜上；4)将套环压杆230放置于套环220的上方；5)向下按压手柄360，听到“咔哒”一声表明套环220按压到位；6)松开手柄360让其复位，完成套环220绷膜。

第二步，压样：请参阅图9所示，1)将粉末样品装入已经绷好膜的样品杯210内；2)将样品杯210放置于工装固定件500上，并利用定位块510的弧形开口511进行定位；3)将套好O型圈250的压杆240塞入样品杯210内；4)按压手柄360，观察压力测试组件400的读数，当达到设定的压力时，松开手柄360让其复位，完成压样；O型圈250可以防止粉末样品从压杆240与样品杯210之间的间隙中撒出。

第三步，利用工具将套环220从样品杯210上取下，之后移除分析薄膜，清理样品杯210内部的粉末样品；

第四步，退压杆：请参阅图10所示，1)将样品杯210正放于定位块510上，样品杯210中间的台阶部与定位块510的上表面贴合，此时样品杯210的底部开口与工装固定件500有一段距离；2)按压手柄360，直到O型圈250从样品杯210中脱出，此时压杆240会从样品杯210中掉落下来，退压杆完成，松开手柄360让其复位。

显然，上述所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，可以做出其它不同形式的变化或变动，都应当属于本实用新型保护的范围。

Claims (10)

1.一种X射线荧光分析仪的制样装置，用于与样品杯组件(200)配合，其特征在于，包括：

支架(100)；

驱动组件(300)，设于所述支架(100)上；

压力测试组件(400)，与所述驱动组件(300)连接，所述压力测试组件(400)具有作用于所述样品杯组件(200)的压头(410)；

其中，所述驱动组件(300)驱使所述压头(410)靠近或是远离所述样品杯组件(200)，所述压头(410)被配置为感测施加于所述样品杯组件(200)上的压力大小。

2.如权利要求1所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述驱动组件(300)包括转动设于所述支架(100)上的齿轮(320)、活动设于所述支架(100)上且与所述齿轮(320)啮合的齿条(330)、固设有所述齿条(330)的支撑件(340)、抵接于所述支架(100)与所述支撑件(340)之间的弹性件(350)，所述压力测试组件(400)固设于所述支撑件(340)上，以与所述支撑件(340)、所述齿条(330)形成一整体；

其中，所述齿条(330)响应于所述齿轮(320)的转动而驱使所述压力测试组件(400)朝向所述样品杯组件(200)运动，并且响应于所述弹性件(350)的弹性力的作用而驱使所述压力测试组件(400)远离所述样品杯组件(200)。

3.如权利要求2所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述齿轮(320)固设于转轴(310)上，所述转轴(310)转动设于所述支架(100)上；

其中，所述转轴(310)端部设有手柄(360)，所述转轴(310)通过所述手柄(360)以手动方式转动；或者，

所述转轴(310)传动连接有旋转输出件，所述转轴(310)通过所述旋转输出件自动转动。

4.如权利要求2所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述支撑件(340)包括沿所述齿条(330)的延伸方向设置的主板体(341)、设于所述主板体(341)两端的一对端板(342)，其中，所述一对端板(342)垂直于所述主板体(341)设置，所述齿条(330)的两端固设于所述端板(342)上，所述弹性件(350)抵接于所述支架(100)与一所述端板(342)之间。

5.如权利要求2所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述支架(100)包括底板(110)、垂直设于所述底板(110)上的立柱(120)、垂直设于所述立柱(120)上的承载臂(130)；

其中，所述驱动组件(300)和所述压力测试组件(400)设于所述承载臂(130)上。

6.如权利要求5所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述承载臂(130)上设有用于收容所述齿轮(320)的第一通孔(131)、用于供所述齿条(330)穿设的第二通孔(132)，所述第一通孔(131)与所述第二通孔(132)相贯通，其中，所述第一通孔(131)具有第一中心线，所述第二通孔(132)具有第二中心线，所述第一中心线与所述第二中心线垂直交错分布。

7.如权利要求6所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述承载臂(130)上设有调高结构，所述调高结构被配置为调节所述承载臂(130)与所述底板(110)之间的距离。

8.如权利要求7所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述调高结构包括螺接于所述承载臂(130)上的锁紧把手(140)，所述承载臂(130)上设有用于供所述立柱(120)贯穿的第三通孔(133)，所述承载臂(130)的端部还设有与所述第三通孔(133)连通的豁口(134)，所述豁口(134)使得所述承载臂(130)的端部形成一对夹臂，所述一对夹臂上螺接有所述锁紧把手(140)；

其中，所述第三通孔(133)具有第三中心线，所述第三中心线与所述第二中心线平行，所述一对夹臂上设有与所述锁紧把手(140)配合的螺纹孔，所述螺纹孔的中心线与所述第三中心线垂直交错分布。

9.如权利要求6所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述齿轮(320)固设于转轴(310)上，以形成齿轮轴，所述齿轮轴的端部螺接有挡块(370)，所述挡块(370)的外径大于所述第一通孔(131)的孔径，所述挡块(370)抵设于所述第一通孔(131)的外端侧，所述转轴(310)的外径大于所述齿轮(320)的齿顶圆直径，以在所述转轴(310)与所述齿轮(320)的连接处形成卡肩(311)，所述卡肩(311)抵设于所述第一通孔(131)的另一外端侧。

10.如权利要求1所述的X射线荧光分析仪的制样装置，其特征在于，

所述支架(100)上还设有工装固定件(500)，所述工装固定件(500)位于所述压头(410)的下方，其中，所述工装固定件(500)上固设有定位块(510)，所述定位块(510)上设有用于所述样品杯组件(200)定位的弧形开口(511)。