CN220381167U - 测试治具及测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测试治具及测试设备，涉及测试设备技术领域。本实用新型的测试治具包括上天盘组件、下天盘组件以及测试组件；上天盘组件能够沿上下方向移动；下天盘组件与所述上天盘组件可拆卸地连接；测试组件位于所述下天盘组件的下方，所述测试组件用于放置并测试待测电路板；其中，所述下天盘组件可随所述上天盘组件沿上下方向移动，以压紧所述待测电路板，使所述待测电路板的元件面上的检测点与所述测试组件相接触。本实用新型所公开的技术方案能够减少物料消耗、降低生产成本。

Description

测试治具及测试设备

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，特别地涉及一种测试治具及测试设备。

背景技术

随着电子技术的不断发展，电子产品正不断丰富着我们的生活，而电路板作为其中最重要的部分，其质量关系着电子产品的性能及质量。为了保证电路板质量需要对电路板进行测试。

测试治具是电路板测试过程中的重要装置，测试治具可以保证有效地对电路板的元件面进行有效检测，测试治具包括天盘以及针床，天盘可在上下方向运动，以压紧电路板，使电路板的元件面与针床上的探针相接触，从而完成测试。

但是申请人发现现有技术中至少存在以下问题：天盘通常为不便拆卸的整体式结构，为了匹配不同类型的电路板，需要更换整个天盘，增加了物料消耗以及生产成本。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种测试治具及测试设备，能够减少物料消耗、降低生产成本。

第一方面，本实用新型实施例提供一种测试治具，包括：

上天盘组件，能够沿上下方向移动；

下天盘组件，与所述上天盘组件可拆卸地连接；以及

测试组件，位于所述下天盘组件的下方，所述测试组件用于放置并测试待测电路板；

其中，所述下天盘组件可随所述上天盘组件沿所述上下方向移动，以压紧所述待测电路板，使所述待测电路板的元件面上的检测点与所述测试组件相接触。

通过上天盘组件与下天盘组件可拆卸连接，使上天盘组件与下天盘组件形成相对独立的分体式结构，所以待测电路板的型号变化时，仅需要单独对下天盘组件进行更换，而无需对可作为通用结构的上天盘组件进行更换，从而节约了物料、降低了生产成本。

在一个实施方式中，所述上天盘组件包括固定夹，所述下天盘组件包括与所述固定夹一一对应的固定件；

其中，所述固定夹可夹紧或松开相对应的所述固定件，以使所述下天盘组件可拆卸地连接于所述上天盘组件上。

通过固定夹与固定件的配合来实现下天盘组件与上天盘组件的可拆卸连接，方便快捷，提高了测试效率。

在一个实施方式中，所述上天盘组件包括：

第一上天板，用于在驱动作用下沿所述上下方向移动；以及

第二上天板，与所述第一上天板靠近所述下天盘组件的一侧可拆卸连接，所述固定夹设置于所述第二上天板；

其中，所述第二上天板上设置有定位件。

通过设置可拆卸连接的第一上天板与第二上天板，使上天盘组件为相对独立的分体式结构，当第一上天板或第二上天板出现损坏时，可只对第一上天板、第二上天板进行更换，而无需更换整个上天盘组件，从而进一步节约了物料、降低了生产成本。

在一个实施方式中，所述第一上天板/或所述第二上天板上设置有多个镂空孔。

通过设置多个镂空孔减轻上天盘组件的重量。

在一个实施方式中，所述下天盘组件包括：

下天板，所述固定件设置于所述下天板上；以及

压棒，设置于所述下天板远离所述上天盘组件的一侧，所述压棒用于压紧所述待测电路板；

其中，所述下天板上设置有与所述定位件一一对应的定位孔，所述定位孔用于供相对应的所述定位件插入。

通过压棒压紧待测电路板，保证待测电路板与探针相接触，进而保证待测电路板与外部的测试仪器相导通。通过定位孔与定位件相配合，使固定夹与固定件快速对准，从而提高测试速度。

在一个实施方式中，所述测试组件包括：

针床，包括主体部以及设置于所述主体部靠近所述下天盘组件的一侧的探针；

托盘，移动地设置于所述主体部靠近所述下天盘组件的一侧上，所述托盘用于放置所述待测电路板；

其中，所述托盘可在所述下天盘组件的作用下相对于所述针床沿所述上下方向运动，以使所述探针穿过所述托盘并与所述待测电路板的元件面上的检测点相接触。

通过设置托盘不仅为放置待测电路板提供结构基础，同时还在待测电路板与探针之间起到缓冲作用，减小下天盘组件带来的冲击力，避免造成检测点、探针因冲击力过大而发生损坏。

在一个实施方式中，所述托盘上设置有供所述探针穿过的探针孔。

通过设置探针孔为探针穿过托盘提供结构基础。

在一个实施方式中，所述测试组件包括：

主导向轴，设置于所述托盘靠近所述主体部的一侧；

主直线轴承，设置于所述主体部靠近托盘的一侧，所述主直线轴承与所述主导向轴相配合；

弹性件，位于所述托盘与所述主体部之间，所述弹性件的一端与所述托盘相连且另一端与所述主体部相连。

通过设置相配合的主导向轴与主直线轴承，对托盘在上下方向的运动起到导向作用，使托盘只能够在上下方向上运动。通过弹性件不仅能够对托盘起到复位作用，还具有缓冲功能，能够减小托盘与针床之间的冲击力。

在一个实施方式中，所述下天盘组件上设置有副导向轴，所述测试组件上设置有与所述副导向轴相配合的副直线轴承。

通过设置相配合的副导向轴与副直线轴承，对下天盘组件在上下方向的运动起到导向作用。

第二方面，本实用新型实施例提供一种测试设备，包括如前所述的测试治具。

与现有技术相比，本实用新型实施例的优点在于，通过上天盘组件与下天盘组件可拆卸连接，使上天盘组件与下天盘组件形成相对独立的分体式结构，因下天盘组件的具体结构与待测电路板的型号相关，而上天盘组件是用于与能够驱动其上下运动的驱动件相连，所以一旦待测电路板的型号变化，仅需要单独对下天盘组件进行更换，而无需对可作为通用结构的上天盘组件进行更换，就可以匹配不同型号的待测电路板，从而节约了物料、降低了生产成本，解决了现有天盘为了匹配不同类型的电路板，需要更换整个天盘，增加了物料消耗以及生产成本的问题。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本实用新型进行更详细的描述。

图1是本实用新型的实施例提供的测试治具的立体结构示意图；

图2是图1中实施例提供的上天盘组件的立体结构示意图；

图3是图1中实施例提供的上天盘组件的主视图；

图4是图1中实施例提供的下天盘组件的立体结构示意图；

图5是图1中实施例提供的测试治具的主视图；

图6是图1中实施例提供的测试治具的右视图。

附图标记：

10、上天盘组件；110、固定夹；120、第一上天板；

1201、辅助槽；130、第二上天板；140、定位件；

20、下天盘组件；210、下天板；2101、定位孔；

220、压棒；230、副导向轴；240、固定件；

30、测试组件；310、针床；3101、主体部；

3102、探针；320、托盘；330、主导向轴；

340、主直线轴承；350、弹性件；360、副直线轴承；

40、镂空孔；50、支撑杆。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。

治具主要是作为协助控制位置或动作的一种工具。治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类。线路板测试治具是电路板测试过程中的重要装置，线路板测试治具可以保证有效地对电路板的元件面进行有效检测，测试治具包括天盘以及针床，天盘可在上下方向运动，以压紧电路板，使电路板的元件面与针床上的探针相接触，从而完成测试。

但是实用新型人发现现有技术中至少存在以下问题：天盘通常为不便拆卸的整体式结构，为了匹配不同类型的电路板，需要更换整个天盘，增加了物料消耗以及生产成本。

为了解决上述技术问题，本实用新型至少一实施例提供一种测试治具，包括上天盘组件10、下天盘组件20以及测试组件30；上天盘组件10能够沿上下方向移动；下天盘组件20与上天盘组件10可拆卸地连接；测试组件30位于下天盘组件20的下方，测试组件30用于放置并测试待测电路板；其中，下天盘组件20可随上天盘组件10沿上下方向移动，以压紧待测电路板，使待测电路板的元件面上的检测点与测试组件30相接触。

由上可见，通过上天盘组件10与下天盘组件20可拆卸连接，使上天盘组件10与下天盘组件20形成相对独立的分体式结构，因下天盘组件20的具体结构与待测电路板的型号相关，而上天盘组件是用于与能够驱动其上下运动的驱动件相连，所以一旦待测电路板的型号变化，仅需要单独对下天盘组件20进行更换，而无需对可作为通用结构的上天盘组件10进行更换，就可以匹配不同型号的待测电路板，从而节约了物料、降低了生产成本，解决了现有天盘为了匹配不同类型的电路板，需要更换整个天盘，增加了物料消耗以及生产成本的问题。

如图1所示，测试治具包括上天盘组件10、下天盘组件20以及测试组件30；上天盘组件10能够沿上下方向移动；下天盘组件20与上天盘组件10可拆卸地连接；测试组件30位于下天盘组件20的下方，测试组件30用于放置并测试待测电路板。

相较于现有的测试治具中的天盘为不便拆卸的整体式结构，需要进行整体式更换后才能与相应的待测电路板相匹配而言，本实用新型通过上天盘组件10与下天盘组件20可拆卸连接，使上天盘组件10与下天盘组件20形成相对独立的分体式结构，只需单独对非通用结构的下天盘组件20进行更换，而无需对可作为通用结构的上天盘组件10进行更换，从而减少了上天盘的制作数量，节约了物料消耗，也降低了生产成本。

其中，下天盘组件20可随上天盘组件10沿上下方向移动，以压紧待测电路板，使待测电路板的元件面上的检测点与测试组件30相接触。

通过测试组件30用于连接待测电路板与外部的测试仪器，使待测电路板的电子元器件以及线路信息传输到测试仪器上，测试仪器通过分析比对，确定待测电路板电子元器件、线路正常与否，最终判断待测电路板是否合格。

需要说明的是，如图1所示，上下方向与Z方向相平行。

还需要说明的是，待测电路板包括相对设置的元件面与非元件面，元件面上安装有电子元器件。

还需要说明的是，测试治具包括与上天盘组件10相连的驱动件，驱动件用于驱动上天盘组件10在上下方向往复运动，驱动件包括但不限于气缸、电动推杆。

还需要说明的是，因下天盘组件20的具体结构与待测电路板的型号相关，所以下天盘组件20是非通用结构，一旦待测电路板变化，就需要对下天盘组件20进行更换。而上天盘组件10是用于与驱动件相连的，上天盘组件10的具体结构与待测电路板的型号不相关，所以上天盘组件10是通用结构，可适用于多种待测电路板，即使待测电路板变化，上天盘组件10也无需更换。

如图2-图4所示，在一些实施例中，上天盘组件10包括固定夹110，下天盘组件20包括与固定夹110一一对应的固定件240；其中，固定夹110可夹紧或松开相对应的固定件240，以使下天盘组件20可拆卸地连接于上天盘组件10上。

通过固定夹110与固定件240的配合来实现下天盘组件20与上天盘组件10的可拆卸连接，方便快捷，提高了测试效率。

需要说明的是，固定夹110、固定件240的数量均可以为多个，多个固定夹110与多个固定件240一一对应，例如，如图3所示，固定夹110的数量为两个。

还需要说明的是，固定夹110与固定件240均为外购件，固定夹具有夹紧功能，固定夹110包括但不限于是气动夹具、电动夹具以及手动夹具。例如，固定夹110与固定件240采用手动夹具中的按钮式夹紧器，固定夹110是按钮式夹紧器中的插入式自锁型夹具，固定件240是按钮式夹紧器中的夹紧销，当夹紧销插入插入式自锁型夹具内，可实现对夹紧销的夹紧自锁，从而实现上天盘组件10与下天盘组件20的连接，当按压插入式自锁型夹具上的按钮，可使插入式自锁型夹具松开夹紧销，从而断开上天盘组件10与下天盘组件20之间的连接。

如图2、图3所示，在一些实施例中，上天盘组件10包括第一上天板120以及第二上天板130；第一上天板120用于在驱动作用下沿上下方向移动；第二上天板130与第一上天板120靠近测试组件30的一侧可拆卸连接，固定夹110设置于第二上天板130；其中，第二上天板130上设置有定位件140。

通过设置可拆卸连接的第一上天板120与第二上天板130，使上天盘组件10为相对独立的分体式结构，当第一上天板120或第二上天板130出现损坏时，可只对第一上天板120、第二上天板130进行更换，而无需更换整个上天盘组件10，从而进一步节约了成本。

需要说明的是，第一上天板120与第二上天板130可拆卸连接。例如，如图2所示，第一上天板120与第二上天板130之间设置有支撑杆50，支撑杆50的两端分别与第一上天板120、第二上天板130通过螺钉连接。通过设置支撑杆50使第一上天板120与第二上天板130之间具有预设距离，支撑杆50的高度等于预设距离，从而保证固定夹110的成功安装，第一上天板120与第二上天板130之间的距离过小，造成固定夹110与第一上天板120之间发生结构干涉，导致固定夹110无正常安装。

还需要说明的是，如图2所示，第一上天板120上设置有辅助槽1201，辅助槽1201与固定夹110一一对应，以便对固定夹110进行操作，使固定夹110完成对固定件240的夹紧或松开。

在一个实施方式中，第一上天板120和/或第二上天板130上设置有多个镂空孔40。通过设置多个镂空孔40减轻上天盘组件10的重量。

需要说明的是，如图2所示，第一上天板120和第二上天板130上均设置有多个镂空孔40。

如图4所示，在一个实施方式中，下天盘组件20包括下天板210以及压棒220；固定件240设置于下天板210上；压棒220设置于下天板210远离上天盘组件10的一侧，压棒220用于压紧待测电路板；其中，下天板210上设置有与定位件140一一对应的定位孔2101，定位孔2101用于供相对应的定位件140插入。

通过压棒220压紧待测电路板，保证待测电路板与探针3102相接触，进而保证待测电路板与外部的测试仪器相导通，使待测电路板能够顺利完成测试。通过定位孔2101与定位件140相配合，为下天盘组件20安装于上天盘组件10起到定位作用，使固定夹110与固定件240快速对准，从而提高测试速度。

需要说明的是，压棒220的具体位置以及数量和待测电路板的型号相关，压棒220与待测电路板的非元件面上的空白区域相对应，以使压棒220避开引脚、焊点等所在的位置，避免压棒220对待测电路板的测试造成影响，导致测试结果不准确。

还需要说明的是，定位孔2101的形状与定位件140的形状相适配，定位孔2101的形状包括但不限于是圆形。

还需要说明的是，定位孔2101、定位件140的数量均可以是多个，多个定位件140与多个定位孔2101一一对应。例如，如图3、图4所示，定位孔2101、定位件140的数量均为四个，四个定位孔2101分别位于下天板210的角部，四个定位件140分别位于第二上天板130的角部。

在一个实施方式中，测试组件30包括针床310以及托盘320；针床310包括主体部3101以及设置于主体部3101靠近下天盘组件20的一侧的探针3102；托盘320移动地设置于主体部3101靠近下天盘组件20的一侧上，托盘320用于放置待测电路板；其中，托盘320可在下天盘组件20的作用下相对于针床310沿上下方向运动，以使探针3102穿过托盘320并与待测电路板的元件面上的检测点相接触。

通过设置托盘320不仅为放置待测电路板提供结构基础，同时还在待测电路板与探针3102之间起到缓冲作用，减小下天盘组件20带来的冲击力，避免造成检测点、探针3102因冲击力过大而发生损坏。通过探针3102使待测电路板与测试仪器相导通，为待测电路板的测试工作提供结构基础。

需要说明的是，探针3102的具体位置以及数量和待测电路板的型号相关，探针3102与待测电路板的元件面上的检测点相对应，探针3102可将待测电路板的电子元器件以及线路信息传输到测试设备的测试仪器上，测试仪器通过分析比对，确定待测电路板电子元器件、线路正常与否，最终判断待测电路板是否合格。

还需要说明的是，待测电路板的元件面上的检测点包括但不限于是金属引脚。

在一个实施方式中，托盘320上设置有供探针3102穿过的探针孔。通过设置探针孔为探针3102穿过托盘320提供结构基础。

需要说明的是，探针孔的具体位置以及数量与探针3102相关，探针孔与探针3102一一对应。

如图5、图6所示，在一个实施方式中，测试组件30包括主导向轴330、主直线轴承340以及弹性件350；主导向轴330设置于托盘320靠近主体部3101的一侧；主直线轴承340设置于主体部3101靠近托盘320的一侧，主直线轴承340与主导向轴330相配合；弹性件350位于托盘320与主体部3101之间，弹性件350的一端与托盘320相连且另一端与主体部3101相连。

通过设置相配合的主导向轴330与主直线轴承340，对托盘320在上下方向的运动起到导向作用，使托盘320只能够在上下方向上运动。通过弹性件350起到复位作用，当测试开始时，驱动件带动上天盘组件10、下天盘组件20向下运动时，压棒220压紧电路板，电路板、托盘320向下运动，弹性件350弹性变形储存弹性势能，当测试结束后，驱动件带动上天盘组件10、下天盘组件20向上运动，压棒220离开电路板，电路板、托盘320在弹性件350的弹性势能的作用下向上运动，回到测试开始时的状态。另外，弹性件350具有缓冲功能，能够减小托盘320与针床310之间的冲击力。

需要说明的是，弹性件350具有弹性变形的功能，弹性件350包括但不限于弹簧。

还需要说明的是，主直线轴承340是一种精度高、成本低、摩擦阻力小的直线运动系统；主直线轴承340在外圈之内装有钢球保持架，保持架装有多个滚球，滚珠作无限循环运动。保持架的两端以密封垫挡圈固定，在各钢球受力工作的直线轨道方向上设有缺口窗，此部分是使受载荷的钢球与导向轴作滚动接触，用非常低的磨擦系数相对移动。

如图6所示，在一个实施方式中，下天盘组件20上设置有副导向轴230，测试组件30上设置有与副导向轴230相配合的副直线轴承360。

通过设置相配合的副导向轴230与副直线轴承360，对下天盘组件20在上下方向的运动起到导向作用。

本实用新型至少一实施例还提供一种测试设备，包括本实用新型任一实施例的测试治具，进而具有上述实施例的技术方案所带来的所有技术效果。

需要说明的是，测试设备包括开关以及与探针电连接的测试仪器，开关用于控制测试仪器与待测电路板的导通或断开，从而控制待测电路板的测试时间，以满足测试要求。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“底”、“顶”、“前”、“后”、“内”、“外”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

虽然已经参考优选实施例对本实用新型进行了描述，但在不脱离本实用新型的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本实用新型并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (10)

1.一种测试治具，其特征在于，包括：

上天盘组件，能够沿上下方向移动；

下天盘组件，与所述上天盘组件可拆卸地连接；以及

测试组件，位于所述下天盘组件的下方，所述测试组件用于放置并测试待测电路板；

其中，所述下天盘组件可随所述上天盘组件沿所述上下方向移动，以压紧所述待测电路板，使所述待测电路板的元件面上的检测点与所述测试组件相接触。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述上天盘组件包括固定夹，所述下天盘组件包括与所述固定夹一一对应的固定件；

其中，所述固定夹可夹紧或松开相对应的所述固定件，以使所述下天盘组件可拆卸地连接于所述上天盘组件上。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述上天盘组件包括：

第一上天板，用于在驱动作用下沿所述上下方向移动；以及

第二上天板，与所述第一上天板靠近所述下天盘组件的一侧可拆卸连接，所述固定夹设置于所述第二上天板；

其中，所述第二上天板上设置有定位件。

4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述第一上天板/或所述第二上天板上设置有多个镂空孔。

5.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述下天盘组件包括：

下天板，所述固定件设置于所述下天板上；以及

压棒，设置于所述下天板远离所述上天盘组件的一侧，所述压棒用于压紧所述待测电路板；

其中，所述下天板上设置有与所述定位件一一对应的定位孔，所述定位孔用于供相对应的所述定位件插入。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述测试组件包括：

针床，包括主体部以及设置于所述主体部靠近所述下天盘组件的一侧的探针；

托盘，移动地设置于所述主体部靠近所述下天盘组件的一侧上，所述托盘用于放置所述待测电路板；

其中，所述托盘可在所述下天盘组件的作用下相对于所述针床沿所述上下方向运动，以使所述探针穿过所述托盘并与所述待测电路板的元件面上的检测点相接触。

7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述托盘上设置有供所述探针穿过的探针孔。

8.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述测试组件包括：

主导向轴，设置于所述托盘靠近所述主体部的一侧；

主直线轴承，设置于所述主体部靠近托盘的一侧，所述主直线轴承与所述主导向轴相配合；

弹性件，位于所述托盘与所述主体部之间，所述弹性件的一端与所述托盘相连且另一端与所述主体部相连。

9.根据权利要求1-5中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述下天盘组件上设置有副导向轴，所述测试组件上设置有与所述副导向轴相配合的副直线轴承。

10.一种测试设备，其特征在于，包括如权利要求1-9中任一项所述的测试治具。