CN220305966U - 一种液晶显示面板及液晶显示装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种液晶显示面板及液晶显示装置，该液晶显示面板包括第一测试信号线、第二测试信号线和多条数据信号线；第一测试信号线传输第一数据测试信号，第二测试信号线传输第二数据测试信号，第一数据测试信号和第二数据测试信号的电压相反；任意两条位于同一膜层且相邻的数据信号线分别与第一测试信号线和第二测试信号线电连接。本实用新型实施例的技术方案可以在保证正常点灯测试功能的同时，实现同一膜层的数据信号线之间短路不良的检测，减少损耗，提高良率和检测效率。

Description

一种液晶显示面板及液晶显示装置

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板及液晶显示装置。

背景技术

图1是现有一种液晶显示面板的结构示意图，如图1所示，液晶显示面板包括多条数据线03，一条数据线03分别与显示区AA内的多个子像素(未示出)以及绑定区F1的一个绑定端子(未示出)电连接，如此，在绑定区F1绑定驱动芯片之后，驱动芯片可以通过数据线03向各个子像素传输数据信号，以控制子像素的发光状态。

现有技术中，在绑定驱动芯片之前，通常会对液晶显示面板进行点灯测试，以测试液晶显示面板的子像素是否能够正常点亮，避免绑定驱动芯片后再发现点亮异常而造成芯片损耗，增加成本。如图1所示，为进行点灯测试，液晶显示面板通常还设置有测试走线01，而且，同一膜层的数据线03通常与同一条测试走线01电连接，如此，点灯测试时，测试设备可以通过测试走线01向数据线03传输测试信号，通过观察显示画面判断是否存在显示异常。

示例性的，图2是沿图1中BB’截取的液晶显示面板的剖面结构示意图，结合图1和图2所示，现有技术中，为了节省数据线03占用的非显示区NA的空间，设置数据线03包括位于第一金属层M1的第一数据线031和位于第二金属层M2的第二数据线032，并使相邻两条第一数据线031和第二数据线032在非显示区NA交叠设置。相应的，第一数据线031可以与第一测试走线011同层设置并电连接，第二数据线032可以与第二测试走线012同层设置并电连接，如此可以通过第一测试走线011和第二测试走线012向相应的数据线03传输测试信号D，进行点灯测试。第一测试走线011所接收的测试信号D1和第二测试走线012所接收的测试信号D2可以相同，也可以不同。示例性的，图3是与图1对应的一种测试信号的波形示意图，如图3所示，在一现有技术中，第一测试走线011所接收的测试信号D1与第二测试走线012所接收的测试信号D2极性相反且绝对值相等。

结合图1和图2所示，数据线03在绑定区F1与显示区AA之间的非显示区内的排布通常较为紧密，若刻蚀不良(如图2所示残留物04)，则容易导致同层的相邻数据线之间发生短路。如此，若采用上述点灯测试方案，由于同一膜层的数据线与同一条测试走线电连接，在子像素与数据线正常连接的情况下，无论相邻的数据线之间是否发生短路，同一膜层的各条数据线均能够接收到相同的测试信号，使对应的子像素均能够正常点亮，导致现有的点灯测试方案无法检测出数据线之间的短路不良。

实用新型内容

本实用新型提供了一种液晶显示面板及液晶显示装置，以在保证正常点灯测试功能的同时，实现同一膜层的数据信号线之间短路不良的检测，减少损耗，提高良率和检测效率。

一方面，本实用新型提供了一种液晶显示面板，包括第一测试信号线、第二测试信号线和多条数据信号线；

第一测试信号线传输第一数据测试信号，第二测试信号线传输第二数据测试信号，第一数据测试信号和第二数据测试信号的电压相反；

任意两条位于同一膜层且相邻的数据信号线分别与第一测试信号线和第二测试信号线电连接。

可选地，第一测试信号线包括电连接的第一走线分部和第二走线分部，第二测试信号线包括电连接的第三走线分部和第四走线分部；第一走线分部和第三走线分部的延伸方向与数据信号线的延伸方向相同，第二走线分部和第四走线分部的延伸方向与数据信号线的延伸方向相交；

液晶显示面板包括显示区、第一非显示区和第二非显示区，第一非显示区和第二非显示区沿数据信号线的延伸方向位于显示区的相对两侧；

第一非显示区设置有第一测试焊盘和第二测试焊盘，第一走线分部与第一测试焊盘电连接，第三走线分部与第二测试焊盘电连接；

第二走线分部和第四走线分部均位于第二非显示区，数据信号线远离第一非显示区的一端与其对应的第二走线分部或者第四走线分部电连接。

可选地，所有数据信号线同层设置；

第奇数条数据信号线均与第一测试信号线电连接，第偶数条数据信号线均与第二测试信号线电连接；或者，第偶数条数据信号线均与第一测试信号线电连接，第奇数条数据信号线均与第二测试信号线电连接。

可选地，第一测试信号线和第二测试信号线异层设置，第一测试信号线和第二测试信号线中的一者与数据信号线同层设置，另一者与对应的数据信号线通过过孔电连接。

可选地，多条数据信号线包括多条第一数据信号线和多条第二数据信号线，第一数据信号线和第二数据信号线异层设置；

任意两条相邻的第一数据信号线分别与第一测试信号线和第二测试信号线电连接；和/或，任意两条相邻的第二数据信号线分别与第一测试信号线和第二测试信号线电连接。

可选地，液晶显示面板包括显示区和位于显示区一侧的第一非显示区；

在显示区内，第一数据信号线和第二数据信号线交替间隔设置；

在第一非显示区内，沿液晶显示面板的厚度方向，每相邻两条第一数据信号线和第二数据信号线交叠绝缘设置。

可选地，第奇数条第一数据信号线和第奇数条第二数据信号线均与第一测试信号线电连接，第偶数条第一数据信号线和第偶数条第二数据信号线均与第二测试信号线电连接。

可选地，第奇数条第一数据信号线和第偶数条第二数据信号线均与第一测试信号线电连接，第偶数条第一数据信号线和第奇数条第二数据信号线均与第二测试信号线电连接。

可选地，第一测试信号线和第二测试信号线绝缘设置，且二者中的至少一者与第一数据信号线和第二数据信号线均异层设置；

至少部分数据信号线与其对应的第一测试信号线或者第二测试信号线通过过孔电连接。

另一方面，本实用新型实施例还提供了一种液晶显示装置，包括背光模组以及本实用新型任一实施例提供的液晶显示面板。

本实用新型实施例的技术方案，通过设置任意两条位于同一膜层且相邻的数据信号线分别与第一测试信号线和第二测试信号线电连接，并且设置第一测试信号线所传输的第一测试信号与第二测试信号线所传输的第二测试信号的电压相反，从而可以在绑定驱动芯片之前，在进行点灯测试的同时，检测出同一膜层的相邻两条数据信号线之间是否存在短路不良，从而可以提前发现不良，减少可能发生的损耗，提高良率和检测效率。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本实用新型的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本实用新型的范围。本实用新型的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有一种液晶显示面板的结构示意图；

图2是沿图1中BB’截取的液晶显示面板的剖面结构示意图；

图3是与图1对应的一种测试信号的波形示意图；

图4是本实用新型实施例提供的一种液晶显示面板的结构示意图；

图5是本实用新型实施例提供的另一种液晶显示面板的结构示意图；

图6是本实用新型实施例提供的另一种液晶显示面板的结构示意图；

图7是本实用新型实施例提供的另一种液晶显示面板的结构示意图；

图8是本实用新型实施例提供的一种液晶显示装置的结构示意图。

附图标记：

01-测试走线；011-第一测试走线；012-第二测试走线；03-数据线；031-第一数据线；032-第二数据线；04-残留物；

100-液晶显示面板；11-第一测试信号线；111-第一走线分部；112-第二走线分部；12-第二测试信号线；121-第三走线分部；122-第四走线分部；21-第一测试焊盘；22-第二测试焊盘；31-数据信号线；311-第一数据信号线；312-第二数据信号线；200-背光模组；10-液晶显示装置；

AA-显示区；NA-非显示区；NA1-第一非显示区；NA2-第二非显示区；F1-绑定区；M1-第一金属层；M2-第二金属层。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。需要说明的是，为便于理解和展示，本实用新型实施例的至少本部附图仅示意出关键结构，而非全部结构。

在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在本申请中能进行各种修改和变化，这对于本领域技术人员来说是显而易见的。因而，本申请意在覆盖落入所对应权利要求(要求保护的技术方案)及其等同物范围内的本申请的修改和变化。需要说明的是，本申请实施例所提供的实施方式，在不矛盾的情况下可以相互组合。

首先需要说明的是，除非另外定义，本实用新型使用的技术用语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”和“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。另外，附图中各部件的形状和大小不反应真实比例，目的只是示意说明本实用新型内容。

图4是本实用新型实施例提供的一种液晶显示面板的结构示意图，如图4所示，本实用新型提供的液晶显示面板100包括第一测试信号线11、第二测试信号线12和多条数据信号线31；第一测试信号线11用于传输第一数据测试信号，第二测试信号线12用于传输第二数据测试信号，第一数据测试信号和第二数据测试信号的电压相反；任意两条位于同一膜层且相邻的数据信号线31分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接。

如上所述，数据信号线31用于向与其电连接的子像素传输数据信号，以控制子像素的发光状态。需要说明的是，本实用新型实施例对数据信号线与子像素之间的连接方式不作限定。示例性的，液晶显示面板中的子像素可以沿扫描信号线和数据信号线的延伸方向阵列排布，沿数据信号线的延伸方向，一条数据信号线可以与同一列的子像素电连接，也可以与相邻两列子像素中错位排布的部分子像素电连接，当然也可以是本领域技术人员任意可知的其他连接方式，本实用新型实施例对此不作限定。

其中，第一测试信号线11用于传输第一数据测试信号，第二测试信号线12用于传输第二数据测试信号。具体的，第一测试信号线11用于在点灯测试阶段向与其电连接的数据信号线31传输第一数据测试信号，第二测试信号线12用于在点灯测试阶段向与其电连接的数据信号线31传输第二数据测试信号，以完成点灯测试。示例性的，在本实施例中，第一数据测试信号可以为上述测试信号D1，第二数据测试信号可以为上述测试信号D2，两者的电压相反。

进一步的，如图4所示，本实施例中，任意两条位于同一膜层且相邻的数据信号线31分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，如此设置，可以在点灯测试阶段实现同一膜层的相邻两条数据信号线之间短路不良的检测。具体原理如下：

液晶显示面板包括多个子像素，每个子像素具有与其对应设置的像素电极，液晶显示面板自身不发光，其主要作用是依靠像素电极与公共电极之间的电压差控制液晶的偏转角度，进而控制与各个像素电极对应的子像素的出光量。上述数据信号线向与其电连接的子像素传输数据信号，则具体是指，驱动芯片通过数据信号线31向与其电连接的子像素所对应的像素电极施加像素电压，实现液晶偏转角度的控制。在点灯测试阶段，由于绑定区F1尚未绑定驱动芯片，因此，可以通过测试信号线(如第一测试信号线11和第二测试信号线12)向数据信号线31传输数据测试信号，使像素电极和公共电极之间具有电压差，以点亮子像素，判断显示是否异常。示例性的，若子像素与数据信号线连接异常，则无法正常点亮，该子像素为坏点。

与此同时，本实施例通过改进测试信号线与数据信号线之间的连接方式，使任意两条位于同一膜层且相邻的数据信号线31分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，使得位于同一膜层且相邻的两条数据信号线31一旦发生短路，则会由于第一测试信号和第二测试信号的电压相反，而导致该两条数据信号线31上的不同极性的电荷相互中和，使得该两条数据信号线31所连接的像素电极与公共电极之间无电压差，液晶不偏转，进而会使点灯测试结果中，短路的数据信号线所在位置与周围其他位置存在明显的显示差异(出现明显的亮线或者暗线)，因而可以判断出亮线或暗线位置处的数据信号线之间存在短路不良。

示例性的，图4以多条数据信号线31包括多条第一数据信号线311和多条第二数据信号线312，且第一数据信号线311和第二数据信号线312异层设置为例进行示意。此时，位于同一膜层的相邻两条第一数据信号线311之间可能发生短路不良，位于同一膜层的相邻两条第二数据信号线312之间也可能发生短路不良，因此，可选任意两条相邻的第一数据信号线311分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接；和/或，任意两条相邻的第二数据信号线312分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，以在点灯测试阶段检测第一数据信号线311之间和/或第二数据信号线312之间是否存在短路不良。

示例性的，图4仅以两条相邻的第一数据信号线311分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，并且，任意两条相邻的第二数据信号线312分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接为例进行示意，如此，既可以检测相邻第一数据信号线311之间是否存在短路不良，也可以检测相邻第二数据信号线312之间是否存在短路不良。

在其他实施例中，当多条数据信号线31包括多条第一数据信号线311和多条第二数据信号线312，且第一数据信号线311和第二数据信号线312异层设置时，可以只针对第一数据信号线311，将任意两条相邻的第一数据信号线311分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，或者，也可以只针对第二数据信号线312，将任意两条相邻的第二数据信号线312分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接。

还需要说明的是，第一测试信号线11和第二测试信号线12可以同层设置，也可以异层设置，本实用新型实施例对此不作限定；第一测试信号线11和第二测试信号线12与其各自对应的数据信号线31可以同层设置，也可以异层设置并通过过孔电连接，只要保证位于同一膜层的任意两条相邻的数据信号线31分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接即可，具体的连接方式本实用新型实施例对此不作限定。

综上，本实用新型实施例通过设置任意两条位于同一膜层且相邻的数据信号线分别与第一测试信号线和第二测试信号线电连接，并且设置第一测试信号线所传输的第一测试信号与第二测试信号线所传输的第二测试信号的电压相反，可以在绑定驱动芯片之前，在进行点灯测试的同时，检测出同一膜层的相邻两条数据信号线之间是否存在短路不良，从而可以提前发现不良，减少可能发生的损耗(如驱动芯片的损耗)，提高良率和检测效率。

在上述实施例的基础上，继续参见图4，液晶显示面板100包括显示区AA、第一非显示区NA1和第二非显示区NA2，第一非显示区NA1和第二非显示区NA2沿数据信号线31的延伸方向位于显示区AA的相对两侧；可选地，第一测试信号线11包括电连接的第一走线分部111和第二走线分部112，第二测试信号线12包括电连接的第三走线分部121和第四走线分部122；第一走线分部111和第三走线分部121的延伸方向与数据信号线31的延伸方向相同，第二走线分部112和第四走线分部122的延伸方向与数据信号线31的延伸方向相交；第一非显示区NA1设置有第一测试焊盘21和第二测试焊盘22，第一走线分部111与第一测试焊盘21电连接，第三走线分部121与第二测试焊盘22电连接；第二走线分部112和第四走线分部122均位于第二非显示区NA2，数据信号线31远离第一非显示区NA1的一端与其对应的第二走线分部112或者第四走线分部122电连接。

其中，第一非显示区NA1具体可以是指绑定区F1所在的非显示区，第二非显示区NA2与第一非显示区NA1沿数据信号线31的延伸方向设置于显示区AA的相对两侧。

其中，第一测试焊盘21和第二测试焊盘22裸露在外，以便测试设备通过第一测试焊盘21向第一测试信号线11施加第一数据测试信号，以及通过第二测试焊盘22向第二测试信号线12施加第二数据测试信号。

其中，数据信号线31远离第一非显示区NA1的一端与其对应的第二走线分部112或者第四走线分部122电连接，具体是指，对于任意一条数据信号线31，若其与第一测试信号线11电连接，则该数据信号线31远离第一非显示区NA1的一端与第一测试信号线11中的第二走线分部112电连接，若其与第二测试信号线12电连接，则该数据信号线31远离第一非显示区NA1的一端与第二测试信号线12中的第四走线分部122电连接。

由于第一非显示区NA1的原有布线相对密集，而第二非显示区NA2的原有布线相对稀疏，本实施例通过设置第一测试信号线11包括第一走线分部111和第二走线分部112，设置第二测试信号线12包括第三走线分部121和第四走线分部122，并且使数据信号线31远离第一非显示区NA1的一端与对应的第二走线分部112和第四走线分部122电连接，可以降低布线难度，便于第一测试信号线11和第二测试信号线12分别与多条数据信号线31电连接。

继续参见图4，当多条数据信号线31包括多条第一数据信号线311和多条第二数据信号线312，且第一数据信号线311和第二数据信号线312异层设置时，可选地，在显示区AA内，第一数据信号线311和第二数据信号线312交替间隔设置；在第一非显示区NA1内，沿液晶显示面板的厚度方向，每相邻两条第一数据信号线311和第二数据信号线312交叠绝缘设置。如此设置，可以减少数据信号线31在第一非显示区NA1占用的空间，便于布局其他电路结构。

继续参见图4，当多条数据信号线31包括多条第一数据信号线311和多条第二数据信号线312，且第一数据信号线311和第二数据信号线312异层设置时，可选地，第奇数条第一数据信号线311和第奇数条第二数据信号线312均与第一测试信号线11电连接，第偶数条第一数据信号线311和第偶数条第二数据信号线312均与第二测试信号线12电连接。如此设置，可使位于同一膜层的任意两条相邻的第一数据信号线311分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，同时还可使位于同一膜层的任意两条相邻的第二数据信号线312分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，在点灯测试阶段实现第一数据信号线311和第二数据信号线312的短路不良的检测。

此外，图5是本实用新型实施例提供的另一种液晶显示面板的结构示意图，如图5所示，在其他实施例中，当多条数据信号线31包括多条第一数据信号线311和多条第二数据信号线312，且第一数据信号线311和第二数据信号线312异层设置时，也可以设置第奇数条第一数据信号线311和第偶数条第二数据信号线312均与第一测试信号线11电连接，第偶数条第一数据信号线311和第奇数条第二数据信号线312均与第二测试信号线12电连接。如此设置，同样可使位于同一膜层的任意两条相邻的第一数据信号线311分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，同时还可使位于同一膜层的任意两条相邻的第二数据信号线312分别与第一测试信号线11和第二测试信号线12电连接，在点灯测试阶段实现第一数据信号线311和第二数据信号线312的短路不良的检测。

进一步地，当多条数据信号线31包括多条第一数据信号线311和多条第二数据信号线312，且第一数据信号线311和第二数据信号线312异层设置时，可选第一测试信号线11和第二测试信号线12绝缘设置，且二者中的至少一者与第一数据信号线311和第二数据信号线312均异层设置；至少部分数据信号线31与其对应的第一测试信号线11或者第二测试信号线12通过过孔电连接(图4和图5以实心圆点表示过孔，下同)。

示例性的，图4和图5均以第一测试信号线11与第一数据信号线311同层设置，第二测试信号线12与第一数据信号线311和第二数据信号线312均异层设置为例进行示意，此时，第一测试信号线11与其电连接的第一数据信号线311可以一体成型，第一测试信号线11与第二数据信号线312可以通过过孔电连接，第二测试信号线12可以与其对应的第一数据信号线311和第二数据信号线312通过过孔电连接。

图6是本实用新型实施例提供的另一种液晶显示面板的结构示意图，如图6所示，在其他实施例中，可使第一测试信号线11和第二测试信号线12分别与第一数据信号线311和第二数据信号线312均异层设置，此时，各数据信号线31与其对应的第一测试信号线11或者第二测试信号线12均通过过孔电连接。

需要说明的是，图6仅以第一测试信号线11和第二测试信号线12同层绝缘设置为例进行示意，如此可以避免设置过多的膜层，有利于产品的薄型化设计，当然，在其他实施例中，第一测试信号线11和第二测试信号线12可以异层绝缘设置，本实用新型实施例对此不作限定。

综上，上述实施例仅以多条数据信号线31包括多条第一数据信号线311和多条第二数据信号线312，且第一数据信号线311和第二数据信号线312异层设置为例，对本实用新型实施例的技术方案作了详细说明，在其他实施例中，当所有数据信号线31同层设置时，上述方案同样适用。

示例性的，图7是本实用新型实施例提供的另一种液晶显示面板的结构示意图，如图7所示，可选地，所有数据信号线31同层设置；第奇数条数据信号线31均与第一测试信号线11电连接，第偶数条数据信号线31均与第二测试信号线12电连接。当然，在其他实施例中，当所有数据信号线31同层设置时，也可以设置第偶数条数据信号线31均与第一测试信号线11电连接，第奇数条数据信号线31均与第二测试信号线12电连接。

继续参见图7，当所有数据信号线31同层设置时，可选地，第一测试信号线11和第二测试信号线12异层设置，第一测试信号线11和第二测试信号线12中的一者与数据信号线31同层设置，另一者与对应的数据信号线31通过过孔电连接。

示例性的，图7以第一测试信号线11与数据信号线31同层设置，第二测试信号线12与数据信号线31异层设置，并与对应的数据信号线31通过过孔电连接为例进行示意。本实施例通过将第一测试信号线11和第二测试信号线12中的一者与数据信号线31同层设置，可以避免过多增加膜层数量，有利于产品的薄型化设计。

基于同一构思，本实用新型实施例还提供了一种液晶显示装置，图8是本实用新型实施例提供的一种液晶显示装置的结构示意图，如图8所示，该液晶显示装置10包括背光模组200以及本实用新型任一实施例提供的液晶显示面板100，背光模组200位于液晶显示面板100的非出光侧。本实用新型实施例提供的液晶显示装置包括上述任一实施例提供的液晶显示面板，因而具有与液晶显示面板相同的有益效果，相同之处可以参见上述液晶显示面板实施例的描述，在此不再赘述。

上述具体实施方式，并不构成对本实用新型保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本实用新型的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型保护范围之内。

Claims (10)

1.一种液晶显示面板，其特征在于，包括：第一测试信号线、第二测试信号线和多条数据信号线；

所述第一测试信号线传输第一数据测试信号，所述第二测试信号线传输第二数据测试信号，所述第一数据测试信号和所述第二数据测试信号的电压相反；

任意两条位于同一膜层且相邻的所述数据信号线分别与所述第一测试信号线和所述第二测试信号线电连接。

2.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述第一测试信号线包括电连接的第一走线分部和第二走线分部，所述第二测试信号线包括电连接的第三走线分部和第四走线分部；所述第一走线分部和所述第三走线分部的延伸方向与所述数据信号线的延伸方向相同，所述第二走线分部和所述第四走线分部的延伸方向与所述数据信号线的延伸方向相交；

所述液晶显示面板包括显示区、第一非显示区和第二非显示区，所述第一非显示区和所述第二非显示区沿所述数据信号线的延伸方向位于所述显示区的相对两侧；

所述第一非显示区设置有第一测试焊盘和第二测试焊盘，所述第一走线分部与所述第一测试焊盘电连接，所述第三走线分部与所述第二测试焊盘电连接；

所述第二走线分部和所述第四走线分部均位于所述第二非显示区，所述数据信号线远离所述第一非显示区的一端与其对应的所述第二走线分部或者所述第四走线分部电连接。

3.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所有所述数据信号线同层设置；

第奇数条所述数据信号线均与所述第一测试信号线电连接，第偶数条所述数据信号线均与所述第二测试信号线电连接；或者，第偶数条所述数据信号线均与所述第一测试信号线电连接，第奇数条所述数据信号线均与所述第二测试信号线电连接。

4.根据权利要求3所述的液晶显示面板，其特征在于，所述第一测试信号线和所述第二测试信号线异层设置，所述第一测试信号线和所述第二测试信号线中的一者与所述数据信号线同层设置，另一者与对应的所述数据信号线通过过孔电连接。

5.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，多条所述数据信号线包括多条第一数据信号线和多条第二数据信号线，所述第一数据信号线和所述第二数据信号线异层设置；

任意两条相邻的所述第一数据信号线分别与所述第一测试信号线和所述第二测试信号线电连接；和/或，任意两条相邻的所述第二数据信号线分别与所述第一测试信号线和所述第二测试信号线电连接。

6.根据权利要求5所述的液晶显示面板，其特征在于，所述液晶显示面板包括显示区和位于所述显示区一侧的第一非显示区；

在所述显示区内，所述第一数据信号线和所述第二数据信号线交替间隔设置；

在所述第一非显示区内，沿所述液晶显示面板的厚度方向，每相邻两条所述第一数据信号线和所述第二数据信号线交叠绝缘设置。

7.根据权利要求6所述的液晶显示面板，其特征在于，第奇数条所述第一数据信号线和第奇数条所述第二数据信号线均与所述第一测试信号线电连接，第偶数条所述第一数据信号线和第偶数条所述第二数据信号线均与所述第二测试信号线电连接。

8.根据权利要求6所述的液晶显示面板，其特征在于，第奇数条所述第一数据信号线和第偶数条所述第二数据信号线均与所述第一测试信号线电连接，第偶数条所述第一数据信号线和第奇数条所述第二数据信号线均与所述第二测试信号线电连接。

9.根据权利要求5所述的液晶显示面板，其特征在于，所述第一测试信号线和所述第二测试信号线绝缘设置，且二者中的至少一者与所述第一数据信号线和所述第二数据信号线均异层设置；

至少部分所述数据信号线与其对应的所述第一测试信号线或者所述第二测试信号线通过过孔电连接。

10.一种液晶显示装置，其特征在于，包括背光模组以及权利要求1-9任一项所述的液晶显示面板。