CN220136313U - 一种光学元器件厚度的测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量机构，所述测量机构的顶部设置有固定机构，所述固定机构的内部设置有光学透镜，所述固定机构包括放置板，所述放置板的底部开设有若干滑轨，所述放置板位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆，若干个所述活动杆的顶部固定连接有夹板，若干个所述夹板的内壁与光学透镜活动连接，所述放置板的顶部与光学透镜活动连接，所述放置板的底部中间转动连接有转动杆，所述转动杆靠近放置板的一侧开设有滑槽，通过旋转平台一侧的旋钮，链条转动可以使得夹板之间的间距进行扩大或减小，此外弧形的夹板契合光学透镜的边缘，使得光学透镜的各个方向都能得到支撑，使得夹持效果更稳定。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学技术领域，具体涉及一种光学元器件厚度的测量装置。
背景技术
光学元器件是指用于控制、操纵、传输和检测光的设备和零件，它们在光学系统中起着关键的作用，包括激光器、光纤通信、成像系统、传感器等领域，而光学透镜时最常见的光学元器件之一，光学透镜用于聚焦或分散光线，可以改变光的传播方向和聚焦点，而常见的透镜包括凸透镜和凹透镜。
在测量光学透镜厚度时常常会用到接触式测厚仪，测量时需要将测量探头直接接触待测物体表面，然而透镜通常是光学系统中非常精密的元件，表面质量对光学性能至关重要，使用接触式测厚仪时，如果没有夹具来稳定透镜并提供适当的支撑，测量探头可能会在接触的过程中产生额外的力量，导致透镜表面被刮擦、磨损或损坏，其次，透镜的厚度测量通常需要高精度和高重复性，接触式测厚仪缺乏夹具时，由于透镜无法保持稳定的位置和固定的压力，可能导致测量结果的不稳定性和误差的增加测量时的微小移动或变形可能会影响测得的厚度数值，此外，有些透镜的厚度可能在不同的位置存在变化，尤其是非均匀透镜或具有复杂曲率的透镜，在这种情况下，使用接触式测厚仪进行测量可能无法提供准确的厚度值，因为测量结果会受到透镜形状和位置的影响。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题如下：接触式测厚仪缺少夹具可能会导致光学透镜损伤或测量出现偏差。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：
一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量机构，所述测量机构的顶部设置有固定机构，所述固定机构的内部设置有光学透镜，所述固定机构包括放置板，所述放置板的底部开设有若干滑轨，所述放置板位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆，若干个所述活动杆的顶部固定连接有夹板，若干个所述夹板的内壁与光学透镜活动连接。
作为本实用新型进一步的方案：所述放置板的顶部与光学透镜活动连接，所述放置板的底部中间转动连接有转动杆，所述转动杆靠近放置板的一侧开设有滑槽，且所述滑槽为弧形。
作为本实用新型进一步的方案：若干个所述活动杆的外侧壁靠近转动杆的一侧固定安装有销轴，所述销轴的外侧壁与滑槽的内壁滑动连接。
作为本实用新型进一步的方案：所述测量机构包括平台，所述平台的顶部固定安装有上支撑架，所述上支撑架的底部内壁滑动连接有接触探头，所述接触探头的底部与光学透镜活动连接。
作为本实用新型进一步的方案：所述平台的顶部中间与放置板固定连接，所述夹板的底部与平台滑动连接。
作为本实用新型进一步的方案：所述转动杆的底部外侧壁固定安装有齿轮圈，所述齿轮圈的外侧壁啮合连接有链条，所述链条的另一端内壁啮合连接有齿轮，所述齿轮的顶部穿过平台且固定连接有旋钮，所述旋钮的外侧壁与平台转动连接。
作为本实用新型进一步的方案：若干个所述夹板之间活动连接，若干个所述夹板互相闭合时为环形且内壁与放置板活动连接。
本实用新型的有益效果：
(1)本实用新型在测厚仪的平台顶部设置了可以自由调节的固定机构，固定机构由弧形夹板组成，通过旋转平台一侧的旋钮，链条转动动可以使得夹板之间的间距进行扩大或减小，以此夹持不同大小的光学透镜，此外弧形的夹板契合光学透镜的边缘，使得光学透镜的各个方向都能得到支撑，使得夹持效果更稳定；
(2)夹具的间距调节通过唯一的旋钮顺时针或逆时针旋转即可完成，操作简单，使用时将光学透镜放置在固定机构内部的放置板上方即可夹持，固定方便。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
图1是本实用新型整体结构示意图；
图2是本实用新型中平台内部结构示意图；
图3是本实用新型中固定机构整体结构俯视示意图；
图4是本实用新型中固定机构整体结构仰视图；
图5是本实用新型中固定机构完全收紧时整体结构剖视图。
图中：1、测量机构；101、平台；102、上支撑架；103、接触探头；2、固定机构；201、放置板；202、夹板；203、销轴；204、滑槽；205、转动杆；206、链条；207、齿轮；208、旋钮；209、活动杆；3、光学透镜。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1-5所示，一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量机构1，测量机构1的顶部设置有固定机构2，固定机构2的内部设置有光学透镜3，固定机构2包括放置板201，放置板201的底部开设有若干滑轨，放置板201位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆209，若干个活动杆209的顶部固定连接有夹板202，若干个夹板202的内壁与光学透镜3活动连接，夹板202为弧形，使得夹板202在收缩接触光学透镜3时能更好的契合其边缘；
放置板201的顶部与光学透镜3活动连接，放置板201的底部中间转动连接有转动杆205，转动杆205靠近放置板201的一侧开设有滑槽204，且滑槽204为弧形，转动杆205在旋转时，弧形的滑槽204可以推动销轴203在水平方向不变的情况下在滑轨内壁滑动；
若干个活动杆209的外侧壁靠近转动杆205的一侧固定安装有销轴203，销轴203的外侧壁与滑槽204的内壁滑动连接，活动杆209的数量与滑槽204的数量一致，活动杆209负责带动夹板202收缩；
测量机构1包括平台101，平台101的顶部固定安装有上支撑架102，上支撑架102的底部内壁滑动连接有接触探头103，接触探头103的底部与光学透镜3活动连接，本实用新型中列举的测量机构1为机械式接触测厚仪，其具体型号为CHY-CA测厚仪，此测厚仪依靠接触探头103接触至平台101顶部的物品进行测后，此为现有技术为此不再赘述；
平台101的顶部中间与放置板201固定连接，夹板202的底部与平台101滑动连接，放置板201的高度与平台101水平，目的是为了方便测量机构1的接触探头103触底调零；
转动杆205的底部外侧壁固定安装有齿轮圈，齿轮圈的外侧壁啮合连接有链条206，链条206的另一端内壁啮合连接有齿轮207，齿轮207的顶部穿过平台101且固定连接有旋钮208，旋钮208的外侧壁与平台101转动连接，转动旋钮208通过链条206进而使得转动杆205旋转；
若干个夹板202之间活动连接，若干个夹板202互相闭合时为环形且内壁与放置板201活动连接，夹板202闭合时与放置板201进行接触，放置板201对夹板202的运动距离进程限位。
本实用新型的工作原理：
首先将光学透镜3置入放置板201的上方，接着转动旋钮208使得齿轮207旋转，齿轮207在旋转的过程中通过链条206转动带动齿轮圈转动，进而转动杆205在放置板201的底部旋转；
转动杆205顶部的滑槽204在旋转的过程中带动销轴203运动，销轴203受到滑槽204内壁的挤压推动向着转动杆205的圆心方向运动，销轴带动活动杆209在放置板201底部的滑轨内壁滑动，进而活动杆209带动夹板202逐渐收缩，且夹板202此时的互相间距逐渐减小，直到光学透镜3的外侧壁与全部的夹板202内壁接触时，停止旋转旋钮208完成夹持；
接着启动测量机构1使得接触探头103下降，接触探头103与光学透镜3相接时即可测算出光学透镜3的具体厚度。
以上对本实用新型的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
Claims (7)
1.一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量机构(1)，其特征在于，所述测量机构(1)的顶部设置有固定机构(2)，所述固定机构(2)的内部设置有光学透镜(3)，所述固定机构(2)包括放置板(201)，所述放置板(201)的底部开设有若干滑轨，所述放置板(201)位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆(209)，若干个所述活动杆(209)的顶部固定连接有夹板(202)，若干个所述夹板(202)的内壁与光学透镜(3)活动连接。
2.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于，所述放置板(201)的顶部与光学透镜(3)活动连接，所述放置板(201)的底部中间转动连接有转动杆(205)，所述转动杆(205)靠近放置板(201)的一侧开设有滑槽(204)，且所述滑槽(204)为弧形。
3.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于，若干个所述活动杆(209)的外侧壁靠近转动杆(205)的一侧固定安装有销轴(203)，所述销轴(203)的外侧壁与滑槽(204)的内壁滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于，所述测量机构(1)包括平台(101)，所述平台(101)的顶部固定安装有上支撑架(102)，所述上支撑架(102)的底部内壁滑动连接有接触探头(103)，所述接触探头(103)的底部与光学透镜(3)活动连接。
5.根据权利要求4所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于，所述平台(101)的顶部中间与放置板(201)固定连接，所述夹板(202)的底部与平台(101)滑动连接。
6.根据权利要求2所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于，所述转动杆(205)的底部外侧壁固定安装有齿轮圈，所述齿轮圈的外侧壁啮合连接有链条(206)，所述链条(206)的另一端内壁啮合连接有齿轮(207)，所述齿轮(207)的顶部穿过平台(101)且固定连接有旋钮(208)，所述旋钮(208)的外侧壁与平台(101)转动连接。
7.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于，若干个所述夹板(202)之间活动连接，若干个所述夹板(202)互相闭合时为环形且内壁与放置板(201)活动连接。
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