CN220077864U - 一种激光芯片测试用上料机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种激光芯片测试用上料机构，包括基台，基台上端左右两侧均固定设有支柱，其一支柱上端固定装配有纵向电动滑轨，另一支柱上端固定设有滑轨，滑轨以及纵向电动滑轨的输出端共同固定装配有横向电动滑轨，横向电动滑轨输出端固定装配有运料机构，基台上端装配有料盘，料盘与基台之间装配有移动机构；运料机构包括运料电动滑轨、安装板以及定位探针；本装置自动化程度高，通过定位探针能够增加启动吸嘴对激光芯片的吸附精度，通过若干气动吸嘴与料盘的批量化设计，能够利于后续对激光芯片进行批量化测试，提高激光芯片的测试效率。
Description
技术领域
本实用新型属于激光芯片上料技术领域，具体涉及一种激光芯片测试用上料机构。
背景技术
随着光电子技术的飞速发展，半导体激光芯片在光纤通信以及信息存储等领域得到了广泛的应用，在半导体激光芯片的生产制造过程中，需要对制造完成的半导体激光芯片进行测试，测试过程中需要对半导体激光芯片进行上下料，从而保证芯片的稳定生产，但是现有的芯片上下料设备在使用过程中还是存在一定的不足，其自动化程度较低，无法保证半导体激光芯片的稳定生产，没有充分体现出自动化生产的优势，为此提供一种激光芯片测试用上料机构解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是：旨在提供一种激光芯片测试用上料机构，用于解决背景技术中存在的问题。
为实现上述技术目的，本实用新型采用的技术方案如下：
一种激光芯片测试用上料机构，包括基台，所述基台上端左右两侧均固定设有支柱，其一所述支柱上端固定装配有纵向电动滑轨，另一所述支柱上端固定设有滑轨，所述滑轨以及所述纵向电动滑轨的输出端共同固定装配有横向电动滑轨，所述横向电动滑轨输出端固定装配有运料机构，所述基台上端装配有料盘，所述料盘与所述基台之间装配有移动机构；
所述运料机构包括运料电动滑轨、安装板以及定位探针，所述运料电动滑轨固定装配于所述横向电动滑轨的输出端，所述安装板固定装配于所述运料电动滑轨输出端，所述定位探针固定装配于所述安装板，所述安装板固定装配有若干气动吸嘴，若干所述气动吸嘴与所述安装板之间装配有推动组件。
优选地，所述推动组件包括若干气缸，若干所述气缸均固定装配于所述安装板，若干所述气缸输出端分别与若干所述气动吸嘴上侧固定连接。
优选地，所述移动机构包括驱动电机以及两个滑杆，所述驱动电机固定装配于所述基台上端，所述基台上端左右两侧均装配有支架，两个所述滑杆分别滑动装配于两个所述支架上端，两个所述滑杆上端共同固定设有与所述料盘相匹配的料架，所述基台上端转动装配有螺杆，所述螺杆与所述驱动电机输出端传动连接，所述螺杆螺纹转动装配有T形架，所述T形架固定装配于两个滑杆。
优选地，两个所述支架上侧均固定装配有辅助轴承，所述辅助轴承与所述滑杆下侧相匹配。
优选地，所述横向电动滑轨以及所述纵向电动滑轨侧边均固定装配有坦克链。
本实用新型的益处，通过横向电动滑轨、纵向电动滑轨以及运料电动滑轨能够对定位探针以及气动吸嘴进行快速移动，通过定位探针进行定位后，依靠气缸带动气动吸嘴下移接近激光芯片，再通过气动吸嘴对激光芯片进行吸附运输，整个流程自动化程度高，通过探针定位增加了上下料的精准度，其中依靠气动吸嘴吸附能够避免上下料过程中对激光芯片造成损伤；其中依靠驱动电机能够带动料架移动，使其带动装填有激光芯片的料盘移动，实现批量运料，利于后续对激光芯片进行批量化测试，提高测试效率，并且依靠辅助轴承能够减少零部件之间的机械摩擦，提高零部件的使用寿命。
附图说明
本实用新型可以通过附图给出的非限定性实施例进一步说明。
图1为本实用新型一种激光芯片测试用上料机构的结构示意图1；
图2为图1中A处的放大示意图；
图3为图1中B处的放大示意图；
图4为本实用新型一种激光芯片测试用上料机构的结构示意图2；
图5为图4中C处的放大示意图；
主要元件符号说明如下：
基台1、支柱11、纵向电动滑轨12、滑轨13、横向电动滑轨14、料盘15、运料电动滑轨16、安装板161、定位探针162、气动吸嘴163、气缸164、驱动电机21、滑杆22、料架23、螺杆24、T形架25、辅助轴承26、坦克链27、支架28。
具体实施方式
为了使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型，下面结合附图和实施例对本实用新型技术方案进一步说明。
实施例：
如图1、4所示，本实用新型的一种激光芯片测试用上料机构，包括基台1，基台1上端左右两侧均固定设有支柱11，其一支柱11上端固定装配有纵向电动滑轨12，另一支柱11上端固定设有滑轨13，滑轨13以及纵向电动滑轨12的输出端共同固定装配有横向电动滑轨14，横向电动滑轨14以及纵向电动滑轨12侧边均固定装配有坦克链27，横向电动滑轨14与纵向电动滑轨12配合能够带动运料机构前后左右移动，其中通过坦克链27能够减少接线的磨损，提高接线使用寿命，横向电动滑轨14输出端固定装配有运料机构，基台1上端装配有料盘15，料盘15用于装填上下料的激光芯片，料盘15与基台1之间装配有移动机构；
如图1-3所示，运料机构包括运料电动滑轨16、安装板161以及定位探针162，运料电动滑轨16固定装配于横向电动滑轨14的输出端，安装板161固定装配于运料电动滑轨16输出端，定位探针162固定装配于安装板161，安装板161固定装配有若干气动吸嘴163，若干气动吸嘴163与安装板161之间装配有推动组件，推动组件包括若干气缸164，若干气缸164均固定装配于安装板161，若干气缸164输出端分别与若干气动吸嘴163上侧固定连接；
如图4-5所示，移动机构包括驱动电机21以及两个滑杆22，驱动电机21固定装配于基台1上端，基台1上端左右两侧均装配有支架28，两个滑杆22分别滑动装配于两个支架28上端，两个滑杆22上端共同固定设有与料盘15相匹配的料架23，基台1上端转动装配有螺杆24，螺杆24与驱动电机21输出端传动连接，螺杆24螺纹转动装配有T形架25，T形架25固定装配于两个滑杆22，两个支架28上侧均固定装配有辅助轴承26，辅助轴承26能够对两个支架28起到辅助支撑作用，减少机械磨损，提高零部件的使用寿命，辅助轴承26与滑杆22下侧相匹配；
在对激光芯片进行测试时，先启动驱动电机21带动螺杆24转动，以此带动料架23向后移动，将载有料盘15的料架23移至测试部位侧边，然后通过横向电动滑轨14与纵向电动滑轨12配合能够带动运料机构移动，使安装板161靠近料盘15，然后通过横向电动滑轨14、纵向电动滑轨12以及运料电动滑轨16带动定位探针162移动，以此对激光芯片位置进行定位，然后启动气缸164带动启动吸嘴163向下移动对激光芯片进行吸附，然后气缸164向上移动，使激光芯片脱离料盘15，此时再启动横向电动滑轨14与纵向电动滑轨12对激光芯片进行运输，使其到达测试部位，然后通过气缸164向下移动以及气动吸嘴163解除对激光芯片的吸附，能够使激光芯片进行测试处，其运行快速，自动化程度高，通过定位探针162的定位能够增加启动吸嘴163吸附的精准性，并且通过料盘15与若干气动吸嘴163的配合，能够对多个激光芯片进行运输，利于实现激光芯片的批量测试。
上述实施例仅示例性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。
Claims (5)
1.一种激光芯片测试用上料机构，包括基台，其特征在于：所述基台上端左右两侧均固定设有支柱，其一所述支柱上端固定装配有纵向电动滑轨，另一所述支柱上端固定设有滑轨，所述滑轨以及所述纵向电动滑轨的输出端共同固定装配有横向电动滑轨，所述横向电动滑轨输出端固定装配有运料机构，所述基台上端装配有料盘，所述料盘与所述基台之间装配有移动机构；
所述运料机构包括运料电动滑轨、安装板以及定位探针，所述运料电动滑轨固定装配于所述横向电动滑轨的输出端，所述安装板固定装配于所述运料电动滑轨输出端，所述定位探针固定装配于所述安装板，所述安装板固定装配有若干气动吸嘴，若干所述气动吸嘴与所述安装板之间装配有推动组件。
2.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试用上料机构，其特征在于：所述推动组件包括若干气缸，若干所述气缸均固定装配于所述安装板，若干所述气缸输出端分别与若干所述气动吸嘴上侧固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试用上料机构，其特征在于：所述移动机构包括驱动电机以及两个滑杆，所述驱动电机固定装配于所述基台上端，所述基台上端左右两侧均装配有支架，两个所述滑杆分别滑动装配于两个所述支架上端，两个所述滑杆上端共同固定设有与所述料盘相匹配的料架，所述基台上端转动装配有螺杆，所述螺杆与所述驱动电机输出端传动连接，所述螺杆螺纹转动装配有T形架，所述T形架固定装配于两个滑杆。
4.根据权利要求3所述的一种激光芯片测试用上料机构，其特征在于：两个所述支架上侧均固定装配有辅助轴承，所述辅助轴承与所述滑杆下侧相匹配。
5.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试用上料机构，其特征在于：所述横向电动滑轨以及所述纵向电动滑轨侧边均固定装配有坦克链。
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