CN220040719U - 一种ic插件平衡性检查工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及汽车电器零部件制造技术领域，具体涉及一种IC插件平衡性检查工装，包括基座，所述基座下部设有与IC插件相适配的卡槽，所述IC插件连接于所述卡槽内，且IC插件的针脚突出于基座下表面；所述基座在卡槽周围连接有两根探针，探针能够沿上下方向滑动；所述基座上部设有检测电路，该检测电路包括依次连接的电源、第一触点开关、第二触点开关和指示灯，所述第一触点开关、第二触点开关分别与两根探针顶端位置相对应。其能够检验出电器零部件手工插件过程IC插件倾斜不平的不良情况。

Description

一种IC插件平衡性检查工装

技术领域

本实用新型涉及汽车电器零部件制造技术领域，具体涉及一种IC插件平衡性检查工装。

背景技术

目前汽车电器零部件电路板的生产过程中，部分IC产品为手工插件材料，手工插件易出现左右高低不平，因IC插件不平导致IC安装过程隐形损伤接触不良，在后期使用过程导致电器功能失效，目前业界此类IC插件还无法完全避免高低不平的问题，只能通过检查的方法进行防错，目前的检查方法为目视检查IC的平衡性，目视检查方法一致性无法保证。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种IC插件平衡性检查工装，其能够检验出电器零部件手工插件过程IC插件倾斜不平的不良情况。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

本实用新型提供了一种IC插件平衡性检查工装，包括基座，所述基座下部设有与IC插件相适配的卡槽，所述IC插件连接于所述卡槽内，且IC插件的针脚突出于基座下表面；所述基座在卡槽周围连接有两根探针，探针能够沿上下方向滑动；所述基座上部设有检测电路，该检测电路包括依次连接的电源、第一触点开关、第二触点开关和指示灯，所述第一触点开关、第二触点开关分别与两根探针顶端位置相对应。

进一步，所述基座包括可拆卸连接的上基座和下基座，所述探针上下滑动连接于下基座内，所述检测电路布置于上基座内。

进一步，所述探针与基座之间连接有复位弹簧。

进一步，所述探针包括第一段和第二段，所述第二段下端与所述第一段上端固定连接，所述第二段外径小于第一段外径；所述基座内设有与所述第一段相适配的第一通孔和与所述第二段相适配的第二通孔；所述复位弹簧一端与第一段上端固定连接，复位弹簧另一端与第一通孔上端固定连接。

进一步，所述指示灯布置于基座上表面。

进一步，两根探针对称布置于卡槽的两侧。

本实用新型的有益效果：

采用本实用新型所述检查工装对IC插件平衡性进行检测，质量合格的IC插件在应用基座的卡槽套住IC插件后，下压工装，两根探针同时触发基座内部的第一触点开关、第二触点开关，形成电路通路，将指示灯点亮；IC插件倾斜不平时，无法触发两根探针同时接触第一触点开关、第二触点开关，进而无法形成导通回路，指示灯无法点亮。

本实用新型采用工装形式检查IC插件平衡量，当平衡量达到设定的精度要求时，形成导通电路，指示灯点亮，测量精准，易操作易识别，可靠性高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例。

图1是本实用新型所述IC插件平衡性检查工装的侧视图；

图2是本实用新型所述IC插件平衡性检查工装的俯视图；

图3是本实用新型所述IC插件平衡性检查工装的剖视图；

图4是本实用新型所述IC插件平衡性检查工装的下基座的结构示意图；

图5是本实用新型所述IC插件平衡性检查工装的检测电路示意图。

图中，1—基座，11—上基座，12—下基座，121—第一通孔，122—第二通孔，123—安装孔，13—紧固螺栓，2—卡槽，3—探针，31—第一段，32—第二段，4—电源，5—第一触点开关，6—第二触点开关，7—指示灯，8—复位弹簧，9—IC插件。

具体实施方式

以下将参照附图和优选实施例来说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说明书中所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本实用新型的精神下进行各种修饰或改变。应当理解，优选实施例仅为了说明本实用新型，而不是为了限制本实用新型的保护范围。

需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本实用新型的基本构想，图式中仅显示与本实用新型中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

根据本申请的一些实施例，参阅图1至图5所示，本申请提供了一种IC插件平衡性检查工装，包括基座1，所述基座1下部设有与IC插件9相适配的卡槽2，所述IC插件9连接于所述卡槽2内，且IC插件9的针脚突出于基座1下表面。所述基座1在卡槽2周围连接有两根探针3，探针3能够沿上下方向滑动；所述基座1上部设有检测电路，该检测电路包括依次连接的电源4、第一触点开关5、第二触点开关6和指示灯7，所述第一触点开关5、第二触点开关6分别与两根探针3顶端位置相对应。

采用本实用新型所述检查工装对IC插件9平衡性进行检测，参见图3所示，质量合格的IC插件9在应用基座1的卡槽2套住IC插件9后，下压工装，两根探针3同时触发基座1内部的第一触点开关5、第二触点开关6，形成电路通路，将指示灯7点亮。而当IC插件9倾斜不平时，无法触发两根探针3同时接触第一触点开关5、第二触点开关6，进而无法形成导通回路，指示灯7无法点亮。

进一步地，所述基座1包括可拆卸连接的上基座11和下基座12，所述探针3上下滑动连接于下基座12内，所述检测电路布置于上基座11内。当探针3或检测电路出现故障时，能够拆卸掉基座，单独更换或维修上基座11或下基座12，提高了便利性。本实施例中，所述上基座11和下基座12通过四颗紧固螺栓13连接，在下基座12上表面设有四个与紧固螺栓13相适配的安装孔123。

进一步地，所述探针3与基座1之间连接有复位弹簧8，当下压工装时，复位弹簧8受力被压缩，处于蓄能状态。当从检测平台上移开工装后，复位弹簧8处于释能状态，驱动探针3复位，为下一次检测作准备。

优选地，所述探针3包括第一段31和第二段32，所述第二段32下端与所述第一段31上端固定连接，所述第二段32外径小于第一段31外径。所述基座1的下基座12内设有与所述第一段31相适配的第一通孔121和与所述第二段32相适配的第二通孔122；所述复位弹簧8一端与第一段31上端固定连接，复位弹簧8另一端与第一通孔121上端固定连接。变径结构的探针3及第一通孔121和第二通孔122，为复位弹簧8提供了安装空间，并且结构简单，易于实现。

进一步地，所述指示灯7布置于基座1上表面，进而能够更好地观察检测结果，提高了检测效率。

进一步地，两根探针3对称布置于卡槽2的两侧，以提高检测结果的准确性。

以上实施例仅是为充分说明本实用新型而所举的较佳的实施例，本实用新型的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本实用新型基础上所作的等同替代或变换，均在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种IC插件平衡性检查工装，其特征在于：包括基座（1），所述基座（1）下部设有与IC插件（9）相适配的卡槽（2），所述IC插件（9）连接于所述卡槽（2）内，且IC插件（9）的针脚突出于基座（1）下表面；

所述基座（1）在卡槽（2）周围连接有两根探针（3），探针（3）能够沿上下方向滑动；

所述基座（1）上部设有检测电路，该检测电路包括依次连接的电源（4）、第一触点开关（5）、第二触点开关（6）和指示灯（7），所述第一触点开关（5）、第二触点开关（6）分别与两根探针（3）顶端位置相对应。

2.根据权利要求1所述的IC插件平衡性检查工装，其特征在于：所述基座（1）包括可拆卸连接的上基座（11）和下基座（12），所述探针（3）上下滑动连接于下基座（12）内，所述检测电路布置于上基座（11）内。

3.根据权利要求1或2所述的IC插件平衡性检查工装，其特征在于：所述探针（3）与基座（1）之间连接有复位弹簧（8）。

4.根据权利要求3所述的IC插件平衡性检查工装，其特征在于：所述探针（3）包括第一段（31）和第二段（32），所述第二段（32）下端与所述第一段（31）上端固定连接，所述第二段（32）外径小于第一段（31）外径；

所述基座（1）内设有与所述第一段（31）相适配的第一通孔（121）和与所述第二段（32）相适配的第二通孔（122）；

所述复位弹簧（8）一端与第一段（31）上端固定连接，复位弹簧（8）另一端与第一通孔（121）上端固定连接。

5.根据权利要求1或2所述的IC插件平衡性检查工装，其特征在于：所述指示灯（7）布置于基座（1）上表面。

6.根据权利要求1或2所述的IC插件平衡性检查工装，其特征在于：两根探针（3）对称布置于卡槽（2）的两侧。