CN220019795U - 一种接口测试设备 - Google Patents

Abstract

本申请涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种接口测试设备，包括基板、第一测试机构及第二测试机构；基板设有用于承载待测试的电路板的测试位；第一测试机构包括与第一接口形状对应的第一测试头及通过丝杆传动组件与第一测试头传动连接的第一驱动件；第一驱动件用于通过丝杆传动组件驱动第一测试头与第一接口电连接或分离；第二测试机构包括与第二测试头形状对应的第二测试头及均与第二测试头传动连接的第二驱动件和第三驱动件；第二驱动件用于驱动第二测试头靠近或远离第二接口；第三驱动件用于驱动第二测试头与第二接口电连接或分离。本申请有效提升在对不同大小的电路板接口时，测试头移位的准确性。

Description

一种接口测试设备

技术领域

本申请涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种接口测试设备。

背景技术

目前，电路板上具有多种大小不同的接口，现有不同接口测试时均是通过气缸驱动测试头靠近电路板的接口电连接进行测试；但对于电路板上较大的接口，对于气缸的驱动力难以控制，容易导致测试头移位准确性差造成测试头以及接口的损坏；但对于电路板上较小的接口，由于行程过长导致气缸驱动后测试头与接口的对位准确性差，影响测试头移位准确性，易造成测试头以及接口的损坏。

发明内容

本申请提供一种接口测试设备，以解决用于测试不同大小的电路板接口时，测试头移位准确性差的问题。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供一种接口测试设备，采用了如下所述的技术方案：

一种接口测试设备，用于对电路板的第一接口以及第二接口进行测试，所述第二接口的体积小于所述第一接口的体积，所述接口测试设备包括基板、以及设于所述基板的第一测试机构和第二测试机构；

所述基板设有用于承载待测试的电路板的测试位；

所述第一测试机构包括第一测试头、丝杆传动组件以及第一驱动件，所述第一测试头与所述第一接口的形状对应；所述第一驱动件的输出端通过所述丝杆传动组件与所述第一测试头传动连接，用于驱动所述第一测试头与所述第一接口电连接或分离；

所述第二测试机构包括第二测试头、第二驱动件以及第三驱动件；所述第二测试头与所述第二接口的形状对应；所述第二驱动件的输出端与所述第二测试头传动连接，用于驱动所述第二测试头靠近或远离所述第二接口；所述第三驱动件的输出端与所述第二测试头传动连接，用于驱动所述第二测试头与所述第二接口电连接或分离。

优选的，所述丝杆传动组件包括均设于所述基板远离所述测试位一面的第一滑轨、第一滑板以及丝杆；

所述第一滑轨装设于所述基板远离所述测试位的一面；所述第一滑板滑动安装于所述第一滑轨，且所述第一滑板与所述丝杆传动连接；所述丝杆的另一端与所述第一驱动件的输出端传动连接；

所述基板开设有第一滑槽，所述第一测试头设于所述第一滑槽，且所述第一测试头装设于所述第一滑板。

优选的，所述第二测试机构还包括第二滑轨、第二滑板以及立板；

所述第二滑轨装设于所述基板远离所述测试位的一面；所述第二滑板滑动安装于所述第二滑轨；所述第二测试头设于所述基板靠近所述测试位的一面；所述基板开设有第二滑槽，所述立板设于所述第二滑槽，且所述第二测试头设于所述立板的一端，所述立板的另一端与所述第二滑板的连接固定；

所述第二驱动件设于所述基板远离所述测试位的一面，且所述第二驱动件的输出端与所述第二滑板传动连接；

所述第三驱动件装设于所述立板靠近所述基板靠近所述测试位的一面，且所述第三驱动件的输出端与所述第二测试头传动连接。

优选的，所述第二测试机构还包括缓冲组件；

所述缓冲组件包括第一缓冲板、第二缓冲板、缓冲弹簧以及活动导柱；

所述第一缓冲板设于所述立板，且所述第一缓冲板与所述第三驱动件的输出端传动连接；

所述活动导柱的一端与所述第二缓冲板连接固定，所述活动导柱的另一端活动安装于所述第一缓冲板；

所述缓冲弹簧的两端分别与所述第一缓冲板以及所述第二缓冲板抵接；

所述第二测试头装设于所述第二缓冲板。

优选的，所述第二测试机构还包括装设于所述第二缓冲板的重力传感器；

所述重力传感器设于所述第一缓冲板和所述第二缓冲板之间。

与现有技术相比，本申请实施例主要有以下有益效果：在实际应用中，操作人员将待测试的电路板放置于基板的测试位上；此时，可利用第一驱动件通过丝杆传动组件驱动第一测试头移动，靠近待测试的电路板上的第一接口，直至第一测试头与待测试的电路板上的第一接口进行电连接，这样利用丝杆传动组件可有效保证第一测试头移位的准确性，以避免由于第一测试头移位偏差导致待测试的电路板上的第一接口损坏的现象，同时也保证第一测试头与待测试的电路板上的第一接口连接的稳固性。

并且，还可利用第二驱动件驱动第二测试头靠近待测试的电路板上的第二接口，直接第二测试头移动至目标位置处，此时再通过第二驱动件的第二测试头继续靠近待测试的电路板上的第二接口，使第二测试头与待测试的电路板上的第二接口进行电连接，这样利用第二驱动件先进行一次对位，之后再利用第三驱动件驱动第二测试头与待测试的电路板上的第二接口进行电连接，可有效保证第二测试头移位的精确性，以避免由于第二测试头移位偏差导致待测试的电路板上的第二接口损坏的现象，同时也保证第二测试头与待测试的电路板上的第二接口连接的稳固性。

附图说明

图1是本申请一种接口设备第一视角的立体结构示意图；

图2 是本申请一种接口设备第二视角的立体结构示意图；

图3是本申请一种接口设备中第二测试机构的立体结构分解示意图。

附图标记：

100、基板；110、测试位；120、第一滑槽；130、第二滑槽；200、第一测试机构；210、第一测试头；220、第一驱动件；230、第一滑轨；240、第一滑板；250、丝杆；300、第二测试机构；310、第二测试头；320、第二驱动件；330、第三驱动件；340、第二滑轨；350、第二滑板；360、立板；370、第一缓冲板；380、第二缓冲板；390、缓冲弹簧；3A0、活动导柱；3B0、重力传感器；400、电路板；410、第一接口；420、第二接口。

实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。

如图1至图3所示，本申请实施例提供一种接口测试设备，用于对电路板400的第一接口410以及第二接口420进行测试，其特征在于，所述接口测试设备包括基板100、以及设于所述基板100的第一测试机构200和第二测试机构300；

所述基板100设有用于承载待测试的电路板400的测试位110；

所述第一测试机构200包括第一测试头210、丝杆250传动组件以及第一驱动件220，所述第一测试头210与所述第一接口410的形状对应；所述第一驱动件220的输出端通过所述丝杆250传动组件与所述第一测试头210传动连接，用于驱动所述第一测试头210与所述第一接口410电连接或分离；

所述第二测试机构300包括第二测试头310、第二驱动件320以及第三驱动件330；所述第二测试头310与所述第二接口420的形状对应；所述第二驱动件320的输出端与所述第二测试头310传动连接，用于驱动所述第二测试头310靠近或远离所述第二接口420；所述第三驱动件330的输出端与所述第二测试头310传动连接，用于驱动所述第二测试头310与所述第二接口420电连接或分离。

在实际应用中，操作人员将待测试的电路板400放置于基板100的测试位110上；此时，可利用第一驱动件220通过丝杆250传动组件驱动第一测试头210移动，靠近待测试的电路板400上的第一接口410，直至第一测试头210与待测试的电路板400上的第一接口410进行电连接，这样利用丝杆250传动组件可有效保证第一测试头210移位的准确性，以避免由于第一测试头210移位偏差导致待测试的电路板400上的第一接口410损坏的现象，同时也保证第一测试头210与待测试的电路板400上的第一接口410连接的稳固性。

并且，还可利用第二驱动件320驱动第二测试头310靠近待测试的电路板400上的第二接口420，直接第二测试头310移动至目标位置处，此时再通过第二驱动件320的第二测试头310继续靠近待测试的电路板400上的第二接口420，使第二测试头310与待测试的电路板400上的第二接口420进行电连接，这样利用第二驱动件320先进行一次对位，之后再利用第三驱动件330驱动第二测试头310与待测试的电路板400上的第二接口420进行电连接，可有效保证第二测试头310移位的精确性，以避免由于第二测试头310移位偏差导致待测试的电路板400上的第二接口420损坏的现象，同时也保证第二测试头310与待测试的电路板400上的第二接口420连接的稳固性。

在一些实施例中，所述丝杆250传动组件包括均设于所述基板100远离所述测试位110一面的第一滑轨230、第一滑板240以及丝杆250；

所述第一滑轨230装设于所述基板100远离所述测试位110的一面；所述第一滑板240滑动安装于所述第一滑轨230，且所述第一滑板240与所述丝杆250传动连接；所述丝杆250的另一端与所述第一驱动件220的输出端传动连接；

所述基板100开设有第一滑槽120，所述第一测试头210设于所述第一滑槽120，且所述第一测试头210装设于所述第一滑板240。

在本实施例中，上述第一驱动件220为驱动电机。

在实际应用中，通过第一驱动件220驱动丝杆250旋转，以使与丝杆250传动连接的第一滑板240在第一滑轨230上进行滑动，从而实现带动与第一滑板240连接固定的第一测试头210与所述第一接口410电连接或分离；并且，将第一滑轨230、第一滑板240以及丝杆250设置在基板100远离测试位110的一面，以避免压缩测试位110的空间，提升布局的合理性，且通过在基板100上开设第一滑槽120，以供第一测试头210与第一滑板240之间的传动连接，从而实现第一测试头210与待测试的电路板400上的第一接口410连接测试。

在一些实施例中，所述第二测试机构300还包括第二滑轨340、第二滑板350以及立板360；

所述第二滑轨340装设于所述基板100远离所述测试位110的一面；所述第二滑板350滑动安装于所述第二滑轨340；所述第二测试头310设于所述基板100靠近所述测试位110的一面；所述基板100开设有第二滑槽130，所述立板360设于所述第二滑槽130，且所述第二测试头310设于所述立板360的一端，所述立板360的另一端与所述第二滑板350的连接固定；

所述第二驱动件320设于所述基板100远离所述测试位110的一面，且所述第二驱动件320的输出端与所述第二滑板350传动连接；

所述第三驱动件330装设于所述立板360靠近所述基板100靠近所述测试位110的一面，且所述第三驱动件330的输出端与所述第二测试头310传动连接。

在本实施例中，上述第二驱动件320和第三驱动件330均为驱动气缸。

在实际应用中，通过第二驱动件320驱动第二滑板350在第二滑轨340上进行滑动，以使立板360在第二滑槽130内进行滑动，从而使位于立板360上的第二测试头310向靠近待测试的电路板400的第二接口420的方向移动，直至第二测试头310移动至目标位置处，之后第二驱动件320停止驱动，第三驱动件330启动驱动第二测试头310靠近待测试的电路板400的第二接口420，直至二者电连接，从而实现对第二接口420的测试；测试完成后，第三驱动件330和第二驱动件320相继进行复位。

将第二滑轨340、第二滑板350以及第二驱动件320设置在基板100远离测试位110的一面，以避免压缩测试位110的空间，提升布局的合理性，且通过在基板100上开设第二滑槽130，以供立板360设置，实现第二测试头310与第二滑板350之间的传动连接，从而实现第二测试头310与待测试的电路板400上的第二接口420连接测试。

在一些实施例中，所述第二测试机构300还包括缓冲组件；

所述缓冲组件包括第一缓冲板370、第二缓冲板380、缓冲弹簧390以及活动导柱3A0；

所述第一缓冲板370设于所述立板360，且所述第一缓冲板370与所述第三驱动件330的输出端传动连接；

所述活动导柱3A0的一端与所述第二缓冲板380连接固定，所述活动导柱3A0的另一端活动安装于所述第一缓冲板370；

所述缓冲弹簧390的两端分别与所述第一缓冲板370以及所述第二缓冲板380抵接；

所述第二测试头310装设于所述第二缓冲板380。

在本实施例中，当第二测试头310与待测试的电路板400上的第二接口420接触时，此时第二接口420对第二测试头310产生反作用力，使第二缓冲板380向靠近第一缓冲板370的方向移动，并对缓冲弹簧390进行压缩，吸收该反作用力形成缓冲，进而形成对测试头以及待测试的电路板400上的第二接口420的保护；同时利用活动导柱3A0保证第二缓冲板380移动位置的准确性，进而保证第二测试头310与待测试的电路板400上的第二接口420连接的稳定性。

在一些实施例中，所述第二测试机构300还包括装设于所述第二缓冲板380的重力传感器3B0；所述重力传感器3B0设于所述第一缓冲板370和所述第二缓冲板380之间。

在本实施例中，重力传感器3B0用于检测第二缓冲板380的位置，从而确定安装在第二缓冲板380上的第二测试头310位置是否准确，以避免第二测试头310由于位置偏差，造成第二测试头310与待测试的电路板400上的第二接口420碰撞磨损。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，对于方位词，如有术语“中心”，“横向(X)”、“纵向(Y)”、“竖向(Z)”“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于叙述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作，不能理解为限制本实用新型的具体保护范围。

此外，如有术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”特征可以明示或者隐含包括一个或者多个该特征，在本实用新型描述中，“数个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除另有明确规定和限定，如有术语“组装”、“相连”、“连接”术语应作广义去理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是机械连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本实用新型中的具体含义。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的若干实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (5)

1.一种接口测试设备，用于对电路板(400)的第一接口(410)以及第二接口(420)进行测试，所述第二接口(420)的体积小于所述第一接口(410)的体积，其特征在于，所述接口测试设备包括基板(100)、以及设于所述基板(100)的第一测试机构(200)和第二测试机构(300)；

所述基板(100)设有用于承载待测试的电路板(400)的测试位(110)；

所述第一测试机构(200)包括第一测试头(210)、丝杆(250)传动组件以及第一驱动件(220)，所述第一测试头(210)与所述第一接口(410)的形状对应；所述第一驱动件(220)的输出端通过所述丝杆(250)传动组件与所述第一测试头(210)传动连接，用于驱动所述第一测试头(210)与所述第一接口(410)电连接或分离；

所述第二测试机构(300)包括第二测试头(310)、第二驱动件(320)以及第三驱动件(330)；所述第二测试头(310)与所述第二接口(420)的形状对应；所述第二驱动件(320)的输出端与所述第二测试头(310)传动连接，用于驱动所述第二测试头(310)靠近或远离所述第二接口(420)；所述第三驱动件(330)的输出端与所述第二测试头(310)传动连接，用于驱动所述第二测试头(310)与所述第二接口(420)电连接或分离。

2.根据权利要求1所述的接口测试设备，其特征在于，所述丝杆(250)传动组件包括均设于所述基板(100)远离所述测试位(110)一面的第一滑轨(230)、第一滑板(240)以及丝杆(250)；

所述第一滑轨(230)装设于所述基板(100)远离所述测试位(110)的一面；所述第一滑板(240)滑动安装于所述第一滑轨(230)，且所述第一滑板(240)与所述丝杆(250)传动连接；所述丝杆(250)的另一端与所述第一驱动件(220)的输出端传动连接；

所述基板(100)开设有第一滑槽(120)，所述第一测试头(210)设于所述第一滑槽(120)，且所述第一测试头(210)装设于所述第一滑板(240)。

3.根据权利要求1或2所述的接口测试设备，其特征在于，所述第二测试机构(300)还包括第二滑轨(340)、第二滑板(350)以及立板(360)；

所述第二滑轨(340)装设于所述基板(100)远离所述测试位(110)的一面；所述第二滑板(350)滑动安装于所述第二滑轨(340)；所述第二测试头(310)设于所述基板(100)靠近所述测试位(110)的一面；所述基板(100)开设有第二滑槽(130)，所述立板(360)设于所述第二滑槽(130)，且所述第二测试头(310)设于所述立板(360)的一端，所述立板(360)的另一端与所述第二滑板(350)的连接固定；

所述第二驱动件(320)设于所述基板(100)远离所述测试位(110)的一面，且所述第二驱动件(320)的输出端与所述第二滑板(350)传动连接；

所述第三驱动件(330)装设于所述立板(360)靠近所述基板(100)靠近所述测试位(110)的一面，且所述第三驱动件(330)的输出端与所述第二测试头(310)传动连接。

4.根据权利要求3所述的接口测试设备，其特征在于，所述第二测试机构(300)还包括缓冲组件；

所述缓冲组件包括第一缓冲板(370)、第二缓冲板(380)、缓冲弹簧(390)以及活动导柱(3A0)；

所述第一缓冲板(370)设于所述立板(360)，且所述第一缓冲板(370)与所述第三驱动件(330)的输出端传动连接；

所述活动导柱(3A0)的一端与所述第二缓冲板(380)连接固定，所述活动导柱(3A0)的另一端活动安装于所述第一缓冲板(370)；

所述缓冲弹簧(390)的两端分别与所述第一缓冲板(370)以及所述第二缓冲板(380)抵接；

所述第二测试头(310)装设于所述第二缓冲板(380)。

5.根据权利要求4所述的接口测试设备，其特征在于，所述第二测试机构(300)还包括装设于所述第二缓冲板(380)的重力传感器(3B0)；

所述重力传感器(3B0)设于所述第一缓冲板(370)和所述第二缓冲板(380)之间。