CN220019740U - 一种氧化锡电极电阻率检测用测试平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种氧化锡电极电阻率检测用测试平台，包括支撑台，所述支撑台的上表面中部开设有用于放置氧化锡电极的卡槽，且支撑台的上表面设有用于测量氧化锡电极长度的刻度线，所述卡槽的纵截面为上宽下窄的等腰梯形结构，所述卡槽的底部开设有两个对称设置的滑槽，且滑槽的内部滑动设置有定位件，所述定位件上活动安装对氧化锡电极的电阻进行检测的检测件。该氧化锡电极电阻率检测用测试平台，结构简单，可以快速对氧化锡电极进行卡接固定，并且无需调节即可对氧化锡电极端面不同部位的电阻的测量，还可以快速读取氧化锡电极的长度和半径，有助于快速计算氧化锡电极的电阻率，使用方便。

Description

一种氧化锡电极电阻率检测用测试平台

技术领域

本实用新型涉及氧化锡电极检测设备技术领域，具体为一种氧化锡电极电阻率检测用测试平台。

背景技术

氧化锡电极是一种高温导电陶瓷材料，氧化锡电极的特点是温度可调、能耗低、效率高等。在玻璃窑生产过程中，氧化锡电极能够快速、稳定地加热玻璃原料，同时去除表面气泡，保证了玻璃产品的质量。此外，氧化锡电极还具有结构简单、易制造等特点，因此广泛应用于玻璃、陶瓷、金属加热等领域。氧化锡电极在常温下电阻值较大，当加热至一定温度时，其电导率呈指数上升，成为一种良好的导体。氧化锡电极电阻率检测是其生产质量管控的主要内容之一。氧化锡电极的电阻率测试受温度、接触压力、接触位置的影响。为了保证氧化锡电极电阻率的准确测量，需要降低上述因素的影响。

专利号CN218383050U公开了一种氧化锡电极电阻检测装置，包括电极支撑组合、检测触头组合、支撑台面板；电极支撑组合固定设置在支撑台面板上部；检测触头组合设有两个，以对称方式活动设置在支撑台面板上部，位于电极支撑组合左右两侧；检测触头组合上固定设置有检测触头，该检测装置主要通过支撑台面板对氧化锡电极电阻进行放置，然后配合检测触头、重锤来施加检测式压力，并且通过调节检测触头来完成多点检测。虽然该装置可以对氧化锡电极电阻进行检测，但是该装置对氧化锡电极的固定结构比较复杂，而且需要多次调节检测触头才能完成不同部位电阻的检测；另外，无法对氧化锡电极电阻的尺寸进行检测，无法快速计算氧化锡电极的电阻率。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种氧化锡电极电阻率检测用测试平台，结构简单，可以快速对氧化锡电极进行卡接固定，并且无需调节即可对氧化锡电极端面不同部位的电阻的测量，还可以快速读取氧化锡电极的长度和半径，有助于快速计算氧化锡电极的电阻率，使用方便，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种氧化锡电极电阻率检测用测试平台，包括支撑台，所述支撑台的上表面中部开设有用于放置氧化锡电极的卡槽，且支撑台的上表面设有用于测量氧化锡电极长度的刻度线，所述卡槽的纵截面为上宽下窄的等腰梯形结构，所述卡槽的底部开设有两个对称设置的滑槽，且滑槽的内部滑动设置有定位件，所述定位件上活动安装对氧化锡电极的电阻进行检测的检测件，所述支撑台的侧面中部设有测量氧化锡电极半径的测量件，所述卡槽的内侧面上端均匀设置有滚球。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述定位件包括活动设置在滑槽内部的滑块，所述滑块靠近支撑台中部的一侧设有与支撑台连接的牵引弹簧，所述滑块的上表面开设有螺孔，且检测件安装在螺孔内部。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述滑块的侧面设有辊轴。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述滑块裸露在卡槽内部的底部设有滚珠。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述检测件包括安装盘，所述安装盘靠近支撑台中部的一侧设有均匀分布的检测触头，且安装盘的底部转动设置有调节螺杆，所述调节螺杆与螺孔螺纹连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述测量件包括安装在支撑台侧面中部的测量杆，所述测量杆上滑动设置有能够与氧化锡电极接触的半径测量尺。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型示例的氧化锡电极电阻率检测用测试平台，向远离支撑台端部的方向移动滑块，滑块带动牵引弹簧伸长，将氧化锡电极放置在支撑台的卡槽中，并缓慢松开滑块，牵引弹簧带动滑块在滑槽中移动，滑块通过调节螺杆和安装盘带动检测触头移动，并使两侧的检测触头均与氧化锡电极接触，从而完成氧化锡电极的固定以及氧化锡电极用检测触头的接触，方便不同部位电阻的检测。

2、本实用新型示例的氧化锡电极电阻率检测用测试平台，沿测量杆推动半径测量尺移动，并使半径测量尺与氧化锡电极接触，读取测量杆上半径测量尺的位置即可从而测得氧化锡电极的半径。

3、本实用新型示例的氧化锡电极电阻率检测用测试平台，结构简单，可以快速对氧化锡电极进行卡接固定，并且无需调节即可对氧化锡电极端面不同部位的电阻的测量，还可以快速读取氧化锡电极的长度和半径，有助于快速计算氧化锡电极的电阻率，使用方便。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为图1的仰视结构示意图；

图3为本实用新型中定位件的结构示意图；

图4为本实用新型安装盘的剖视结构示意图；

图5为本实用新型使用时的示意图。

图中：1支撑台、2牵引弹簧、3滑块、31辊轴、4调节螺杆、5安装盘、51检测触头、6测量杆、61半径测量尺、7滚球。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：一种氧化锡电极电阻率检测用测试平台，包括支撑台1，支撑台1的上表面中部开设有用于放置氧化锡电极的卡槽，且支撑台1的上表面设有用于测量氧化锡电极长度的刻度线，卡槽的纵截面为上宽下窄的等腰梯形结构，卡槽的底部开设有两个对称设置的滑槽，便于对氧化锡电极进行卡接，且滑槽的内部滑动设置有定位件，定位件上活动安装对氧化锡电极的电阻进行检测的检测件，支撑台1的侧面中部设有测量氧化锡电极半径的测量件，卡槽的内侧面上端均匀设置有滚球7，用于减小氧化锡电极在卡槽中移动时的摩擦力，沿滑槽移动定位件，定位件带动测量件移动，可以对氧化锡电极进行固定。

进一步的，定位件包括活动设置在滑槽内部的滑块3，滑块3靠近支撑台1中部的一侧设有与支撑台1连接的牵引弹簧2，滑块3的上表面开设有螺孔，且检测件安装在螺孔内部，向远离支撑台1端部的方向移动滑块3，滑块3带动牵引弹簧2伸长；缓慢松开滑块3，牵引弹簧2带动滑块3在滑槽中移动，滑块3可以带动检测件移动，从而对氧化锡电极进行固定。

进一步的，滑块3的侧面设有辊轴31，可以减小滑块3与滑槽之间的摩擦。

进一步的，滑块3裸露在卡槽内部的底部设有滚珠，可以减小滑块3与卡槽之间的摩擦。

进一步的，检测件包括安装盘5，安装盘5靠近支撑台1中部的一侧设有均匀分布的检测触头51，且安装盘5的底部转动设置有调节螺杆4，调节螺杆4与螺孔螺纹连接，转动调节螺杆4，调节螺杆4可以带动安装盘5上下移动，从而对检测触头51的高度进行调节。

在牵引弹簧2的牵引下，安装盘5侧面会保持与氧化锡电极平行，从而使所有的检测触头51均与氧化锡电极接触。

两个安装盘5上的检测触头51一一对应设置成若干组，依次控制每一组工作，即可完成不同部位氧化锡电极电阻的检测，然后求取平均数即可。

进一步的，测量件包括安装在支撑台1侧面中部的测量杆6，测量杆6上滑动设置有能够与氧化锡电极接触的半径测量尺61，当半径测量尺61与支撑台1接触时，半径测量尺61测量端面与支撑台1中部端面重合，因此，沿测量杆6推动半径测量尺61移动，并使半径测量尺61与氧化锡电极接触，读取测量杆6上半径测量尺61的位置即可从而测得氧化锡电极的半径。

通过检测触头51检测氧化锡电极电阻的方式为现有技术中常用的电阻测量方式，其具体结构和电路图在此不做赘述。

在使用时：

将测试平台和氧化锡电极均放置在恒温箱中恒温处理24小时，使两者温度保持一致；

向远离支撑台1端部的方向移动滑块3，滑块3带动牵引弹簧2伸长，将氧化锡电极放置在支撑台1的卡槽中，并缓慢松开滑块3，牵引弹簧2带动滑块3在滑槽中移动，滑块3通过调节螺杆4和安装盘5带动检测触头51移动，并使两侧的检测触头51均与氧化锡电极接触；

依次控制对应的检测触头51工作，从而测得多组氧化锡电极的电阻，计算电阻平均数为R；

沿测量杆6推动半径测量尺61移动，并使半径测量尺61与氧化锡电极接触，从而测得氧化锡电极的半径，然后感觉圆的面积公式测得氧化锡电极的横截面积S；

读取支撑台1上的氧化锡电极两侧对应的刻度线，并计算氧化锡电极的长度L；

根据电阻率的计算公式可得：ρ=RS/L；

ρ为氧化锡电极的电阻率；L为氧化锡电极的长度；S为氧化锡电极的横截面积；R为氧化锡电极的电阻。

本实用新型结构简单，可以快速对氧化锡电极进行卡接固定，并且无需调节即可对氧化锡电极端面不同部位的电阻的测量，还可以快速读取氧化锡电极的长度和半径，有助于快速计算氧化锡电极的电阻率，使用方便。

本实用新型中未公开部分均为现有技术，其具体结构、材料及工作原理不再详述。尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种氧化锡电极电阻率检测用测试平台，包括支撑台（1），其特征在于：所述支撑台（1）的上表面中部开设有用于放置氧化锡电极的卡槽，且支撑台（1）的上表面设有用于测量氧化锡电极长度的刻度线，所述卡槽的纵截面为上宽下窄的等腰梯形结构，所述卡槽的底部开设有两个对称设置的滑槽，且滑槽的内部滑动设置有定位件，所述定位件上活动安装对氧化锡电极的电阻进行检测的检测件，所述支撑台（1）的侧面中部设有测量氧化锡电极半径的测量件，所述卡槽的内侧面上端均匀设置有滚球（7）。

2.根据权利要求1所述的氧化锡电极电阻率检测用测试平台，其特征在于：所述定位件包括活动设置在滑槽内部的滑块（3），所述滑块（3）靠近支撑台（1）中部的一侧设有与支撑台（1）连接的牵引弹簧（2），所述滑块（3）的上表面开设有螺孔，且检测件安装在螺孔内部。

3.根据权利要求2所述的氧化锡电极电阻率检测用测试平台，其特征在于：所述滑块（3）的侧面设有辊轴（31）。

4.根据权利要求2所述的氧化锡电极电阻率检测用测试平台，其特征在于：所述滑块（3）裸露在卡槽内部的底部设有滚珠。

5.根据权利要求2所述的氧化锡电极电阻率检测用测试平台，其特征在于：所述检测件包括安装盘（5），所述安装盘（5）靠近支撑台（1）中部的一侧设有均匀分布的检测触头（51），且安装盘（5）的底部转动设置有调节螺杆（4），所述调节螺杆（4）与螺孔螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的氧化锡电极电阻率检测用测试平台，其特征在于：所述测量件包括安装在支撑台（1）侧面中部的测量杆（6），所述测量杆（6）上滑动设置有能够与氧化锡电极接触的半径测量尺（61）。