CN219936067U - Led老化测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于老化试验设备技术领域，尤其涉及一种LED老化测试装置，包括母板、多个连接组件和多个子板；一个所述子板通过一个所述连接组件与所述母板连接；所述子板上设置有多个测试工位，多个所述测试工位呈线性排列。根据本实用新型实施例的LED老化测试装置，分成母板和子板两部分，将测试工位集中设置于子板上，将电气器件设置于母板上，子板和母板各自独立，测试产生的热量集中在子板上，从而降低对母板上的电气器件的损伤。
Description
技术领域
本实用新型属于老化试验设备技术领域，尤其涉及一种LED老化测试装置。
背景技术
参照附图2，现有LED的老化装置是在PCB板的基础上再设置多个测试工位5，多个测试工位5呈环形分布。
LED老化试验时，测试工位5上的工件正常工作，热量集中于工件以及测试工位5上，多个测试工位5所处区域温度聚集，若该区域温度过高，PCB板上的电气元件容易损坏。
因PCB板的面积和散热能力的限制，现有的老化板的测试工位数量有限，老化测试效率较低。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是：因PCB板的面积和散热能力的限制，现有的老化板的测试工位数量有限，老化测试效率较低的问题，提供一种LED老化测试装置。
为解决上述技术问题，本实用新型实施例提供一种LED老化测试装置，包括母板、多个连接组件和多个子板；
每一所述子板通过一个所述连接组件与所述母板连接；
所述子板上设置有多个测试工位，多个所述测试工位呈线性排列。
可选地，所述连接组件包括第一连接件和第二连接件；所述第一连接件和第二连接件中的一个设置于所述母板上，所述第一连接件和第二连接件中的另一个设置于所述子板上；
所述第一连接件和所述第二连接件可拆卸连接且电气连接，以使得每一所述子板和对应的所述母板实现电连接。
可选地，所述子板设置多个；
所述母板呈圆盘状，多个所述第一连接件在所述母板的一侧表面呈环形排列；所述子板呈长条状，所述第二连接件设置于所述子板的长度方向的一端。
可选地，所述第一连接件为插针，所述第二连接件为插座，所述第一连接件与所述第二连接件插接配合。
可选地，所述母板上设置有多个凸块，所述凸块凸出于所述母板的外侧壁，所述凸块的远离所述母板的一端的端部截面和所述子板的横截面相同，使得所述凸块和所述子板的对接处的形状一致。
可选地，所述测试工位为电极焊接工位。
可选地，所述母板上设置有电源连接部，所述电源连接部用于与外界电源连接。
可选地，所述母板设置有连接凸出部，所述连接凸出部凸出于所述母板的外侧壁，所述电源连接部设置于所述连接凸出部的表面。
可选地，所述连接凸出部和多个所述子板环绕所述母板均匀分布。
可选地，所述连接组件包括第一连接件和第二连接件，所述第一连接件和所述第二连接件卡扣连接；
所述第一连接件上设置有第一触点，所述第二连接件上设置有第二触点，所述第一触点和所述第二触点连接。
根据本实用新型实施例的LED老化测试装置，分成母板和子板两部分，将测试工位集中设置于子板上，将电气器件设置于母板上，子板和母板各自独立，测试产生的热量集中在子板上，从而降低对母板上的电气器件的损伤。
附图说明
图1是本实用新型第一实施例提供的老化测试装置的整体结构示意图；
图2是现有技术的结构示意图。
说明书中的附图标记如下：
1、母板；2、子板；3、第一连接件；4、第二连接件；5、测试工位；6、凸块；7、电源连接部；8、连接凸出部。
具体实施方式
为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
第一实施例
如图1及图2所示，本实用新型第一实施例提供的LED老化测试装置，包括母板1、多个连接组件和多个子板2。每个子板2通过一个连接组件与母板1连接。子板2上设置有多个测试工位5，多个测试工位5呈线性排列。
本实施例中将现有的老化装置改变为分体设计，分成母板1和子板2两部分，将测试工位5设置于子板2上，将电气器件设置于母板1上，多个子板2之间各自独立，测试产生的热量集中在子板2上，这样可以有效降低该热量对母板1上的电气器件所造成的损伤。
每个子板2为单独的一个测试模块，本实施例中的子板2可以是同一批次的测试工位5，也可以是不同批次的测试，也即多个子板2分别处理多个不同类型的待老化工件。本实施例中，测试工位5统一地为焊接电极，焊接电极呈线性排列，并且角度一致，后续贴装待测试的LED时无需调整子板的角度，使得贴装LED方便快捷。在其他实施例中，其中一个子板2上的测试工位5是插接式的测试底座，将工件插入测试底座内，另一个子板2上的测试工位5为焊接电极。
在本实施例中，连接组件包括第一连接件3和第二连接件4；第一连接件3和第二连接件4中的一个安装于母板1上，第一连接件3和第二连接件4中的另一个安装于子板2上。第一连接件3和第二连接件4可拆卸连接和电气连接，使得每个子板2和对应的母板1实现电连接。最佳地，第一连接件3为插针，第二连接件4为插座，第一连接件3与第二连接件4插接配合。插针和插座的插接方式即可同时实现母板1和子板2的电连接和可拆卸连接，且结构简单。
在本实施例提供的LED老化测试装置主要在积分球中使用，积分球为球形，本实施例中，母板1呈圆盘状，多个第一连接件3在母板1的一侧表面呈环形排列，每一个子板2距离母板1的中心距离相等，使得每个子板2在积分球内的发光角度更加均匀，保障了每个子板2所发出的光在积分球内经过反射后所收集到的光相当，减小了因老化板的外观设计所造成的数据丢失误差，同时也方便在子板2上贴装LED时便于贴片设备的贴片操作。子板2呈长条状，第二连接件4设置于子板2的长度方向的一端。
在本实施例中，母板1上设置有多个凸块6，凸块6凸出于母板1的外侧壁，凸块6的远离母板1的一端的端部截面和子板2的横截面相同，使得凸块6和子板2的对接处的形状一致，方便母板和子板的连接。
在本实施例中，母板1设置有连接凸出部8，连接凸出部8凸出于母板1的外侧壁，电源连接部7设置于连接凸出部8的表面。母板1上设置有电源连接部7，电源连接部7用于与外界电源连接。连接凸出部8和多个子板2环绕母板1均匀分布。
第二实施例
本实用新型第二实施例的LED老化测试装置，其与第一实施例的不同之处在于，第一连接件3和第二连接件4卡扣连接；第一连接件3上设置有第一触点，第二连接件4上设置有第二触点，第一触点和第二触点连接。
本实施例中可以是通过卡扣方式连接第一连接件和第二连接件，第一触点和第二触点以点触的方式实现连接。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种LED老化测试装置，其特征在于，包括母板、多个连接组件和多个子板；
每一所述子板通过一个所述连接组件与所述母板连接；
所述子板上设置有多个测试工位，多个所述测试工位呈线性排列。
2.根据权利要求1所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述连接组件包括第一连接件和第二连接件；所述第一连接件和第二连接件中的一个设置于所述母板上，所述第一连接件和第二连接件中的另一个设置于所述子板上；
所述第一连接件和所述第二连接件可拆卸连接且电气连接，以使得每一所述子板和对应的所述母板实现电连接。
3.根据权利要求2所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述子板设置多个；
所述母板呈圆盘状，多个所述第一连接件在所述母板的一侧表面呈环形排列；所述子板呈长条状，所述第二连接件设置于所述子板的长度方向的一端。
4.根据权利要求3所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述第一连接件为插针，所述第二连接件为插座，所述第一连接件与所述第二连接件插接配合。
5.根据权利要求3所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述母板上设置有多个凸块，所述凸块凸出于所述母板的外侧壁，所述凸块的远离所述母板的一端的端部截面和所述子板的横截面相同，使得所述凸块和所述子板的对接处的形状一致。
6.根据权利要求3所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述测试工位为电极焊接工位。
7.根据权利要求3所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述母板上设置有电源连接部，所述电源连接部用于与外界电源连接。
8.根据权利要求7所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述母板设置有连接凸出部，所述连接凸出部凸出于所述母板的外侧壁，所述电源连接部设置于所述连接凸出部的表面。
9.根据权利要求8所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述连接凸出部和多个所述子板环绕所述母板均匀分布。
10.根据权利要求1所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述连接组件包括第一连接件和第二连接件，所述第一连接件和所述第二连接件卡扣连接；
所述第一连接件上设置有第一触点，所述第二连接件上设置有第二触点，所述第一触点和所述第二触点连接。
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