CN219915721U - 一种测试系统及耦合箱 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试系统及耦合箱，该耦合箱包括箱体，所述箱体的内腔设有耦合板；所述内腔还设有安装部，所述安装部用于固定测试样机；所述安装部与所述箱体可转动连接，以调节所述测试样机的天线部分与所述耦合板的相对位置关系。该耦合箱通过结构优化可以方便地改变测试样机的测试位置，以节约测试时间，可较为快速地确定测试样机的较佳耦合位置。

Description

一种测试系统及耦合箱

技术领域

本申请涉及射频灵敏度测试技术领域，特别是涉及一种用于电子设备接收性能测试的测试系统及耦合箱。

背景技术

对于学习机等电子设备来说，需要对其接收性能进行测试。以学习机为例，相关测试系统中，需要将学习机放置在耦合箱中的耦合板上，使学习机的天线尽量靠近耦合板的中心位置，通过同轴线连接耦合箱和综测仪后，对学习机的接收性能进行测试。但实际测试过程中，学习机需要在多个测试位置进行测试以寻找相对较佳的耦合位置，每次测试后，都需要打开耦合箱手动调整学习机在耦合板的放置位置，测试所需时间较长，另外，同一型号的多台样机测试后不容易验证测试指标的一致性。

有鉴于此，如何设计一种测试系统及耦合箱，能够较为快速且方便地确定电子设备的较佳耦合位置，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

实用新型内容

本申请的目的是提供一种测试系统及耦合箱；该耦合箱通过结构优化可以方便地改变测试样机的测试位置，以节约测试时间，可较为快速地确定测试样机的较佳耦合位置。

为解决上述技术问题，本申请提供一种耦合箱，包括箱体，所述箱体的内腔设有耦合板；所述内腔还设有安装部，所述安装部用于固定测试样机；所述安装部与所述箱体可转动连接，以调节所述测试样机的天线部分与所述耦合板的相对位置关系。

采用上述耦合箱的结构，测试样机可通过安装部与箱体相对固定，并通过安装部相对箱体的转动来改变测试样机的天线部分与耦合板的相对位置关系，在测试过程中控制安装部带动测试样机转动一圈，可改变测试样机的测试位置，无需手动改变测试样机的测试位置，可节约测试时间，较快地确定测试样机的较佳耦合位置；同时，测试样机固定在安装部上，同一型号的测试样机与耦合箱的测试位置一致性容易保证。

如上所述的耦合箱，所述安装部包括用于夹持所述测试样机的夹持部，所述夹持部包括至少两个夹持端。

如上所述的耦合箱，所述安装部还包括至少一个第一调节部，所述第一调节部用于调节所述夹持端的位置，以调节所述夹持部的夹持范围。

如上所述的耦合箱，所述内腔还设有第二调节部，所述第二调节部用于调节所述安装部与所述耦合板的相对位置，以使所述测试样机的天线部分与所述耦合板贴合。

如上所述的耦合箱，所述耦合箱还包括驱动部，所述驱动部用于驱动所述安装部相对所述箱体转动。

本申请还提供一种测试系统，用于电子设备的接收性能测试，其特征在于，所述测试系统包括综测仪和耦合箱，两者通信连接；所述耦合箱内设有耦合板，所述耦合板用于与测试样机的天线部分贴合；所述综测仪用于发射测试信号以测试所述测试样机的接收性能参数；其中，所述耦合箱为上述任一项所述的耦合箱。

由于上述耦合箱具有上述技术效果，所以包括该耦合箱的测试系统也具有相应的技术效果，此处不再重复论述。

如上所述的测试系统，所述测试系统还包括处理设备，所述处理设备与所述综测仪通信连接，以接收和存储所述综测仪传送的测试结果；所述处理设备还用于获取并记录与所述测试结果对应的所述测试样机的测试位置。

如上所述的测试系统，所述测试结果包括功率，所述处理设备还用于确定同一测试样机的选定耦合位置，所述选定耦合位置为最大功率所对应的测试位置。

如上所述的测试系统，所述处理设备还用于确定同一型号的不同测试样机的测试结果的有效性。

如上所述的测试系统，所述处理设备包括所述测试样机的SOC和比较器。

附图说明

图1为一种学习机的结构示意图；

图2为本申请一实施例中测试系统的结构示意图；

图3为具体应用中学习机和耦合箱的耦合板的相对位置关系示意图；

图4为图2中耦合箱的结构示意图；

图5为图4中耦合箱的局部结构示意图；

图6为图5中安装部的结构示意图；

图7为图5中转盘的结构示意图；

图8为具体实施例中两个测试样机的射频指标一致性

附图标记说明：

学习机10，主体11，射频模块12，射频芯片121，主集通路122a、122b，分集通路123a、123b，微带线13，射频座子14，同轴线15，主集天线161，分集天线162；

耦合箱20，箱体21，底座211，上盖212，耦合板22，安装部23，夹持端231，第一连接部232，第一调节部233，转盘24，第二连接部241，第二调节部242；

综测仪30，第一通信线缆41，第二通信线缆42。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。

不失一般性，本文以学习机作为测试对象说明测试系统及耦合箱的结构组成，除了学习机外，其他有灵敏度测试需求的电子设备比如手机、平板等均可适用该测试系统及耦合箱。

对于学习机，通常需要对其WIFI接收灵敏度进行测试。学习机的射频通路的内部结构可参考图1理解，学习机10包括主体11，主体11的主板上设有射频模块12，射频模块12用于实现WIFI的功能，射频模块12包括射频芯片121，射频芯片121可以支持双路WIFI，以增强无线信号的搜索能力和覆盖能力；射频模块12还包括主集通路122a、122b和分集通路123a、123b，其中，主集通路122a为主集的2.4G通路，主集通路122b为主集的5G通路，分集通路123a为分集的2.4G通路，分集通路123b为分集的5G通路；射频模块12可通过微带线13、射频座子14和同轴线15与天线通信连接，天线包括主集天线161和分集天线162，其中，微带线13和同轴线15都用于传输射频信号。

本申请实施例提供的测试系统可用于对前述学习机10进行接收性能测试，如图2所示，测试系统包括耦合箱20和综测仪30，耦合箱20和综测仪30之间通信连接，耦合箱20内设有耦合板22，测试时，耦合箱20用于放置测试样机，具体的，测试样机的天线部分与耦合板22贴合，综测仪30用于发射测试信号以测试测试样机的接收性能参数。

测试时，学习机10与耦合板22的相对位置影响测试结果的准确性。如图3所示，在测试学习机10的接收性能灵敏度时，需要将学习机10放置在耦合箱20内的耦合板22上，图3中示出了学习机10在耦合板22上放置的三种位置，图3(a)中，学习机10的主集天线161相对远离耦合板22的中心，分集天线162相对靠近耦合板22的中心，图3(b)中，学习机10的主集天线161和分集天线162均靠近耦合板22的中心，图3(c)中，学习机10的主集天线161相对靠近耦合板22的中心，分集天线162相对远离耦合板22的中心，根据实际测试经验可知，图3(b)所示学习机10和耦合板22的相对位置是比较标准的测试位置，学习机10的两个天线均靠近耦合板22的中心，此状态下测得的功率较大，测得的指标相对来说也更加准确，换句话说，学习机10等电子设备在进行接收性能测试时，学习机10在耦合箱20内耦合板22上放置的相对位置影响测试结果的准确性。

相关测试技术中，需要人为改变学习机10在耦合板22上的位置，耗时较长，且无法确定学习机10在耦合板22上的较佳耦合位置，为此，本申请实施例对测试系统的耦合箱20进行了改进。

请一并参考图4至图7，图4为图2中耦合箱的结构示意图；图5为图4中耦合箱的局部结构示意图；图6为图5中安装部的结构示意图；图7为图5中转盘的结构示意图。

本申请实施例中，耦合箱20包括箱体21，箱体21的内腔设有耦合板22，箱体21的内腔设有安装部23，安装部23用于固定测试样机，安装部23与箱体21可转动连接，以调节测试样机的天线部分与耦合板22的相对位置关系。

采用该方案，测试样机通过安装部23固定，测试时，通过安装部23的转动来改变测试样机的天线部分与耦合板22的相对位置，即通过安装部23的转动来改变测试位置，在不同的测试位置进行测试，根据测试结果来确定测试样机相对耦合板22的较佳耦合位置，为与测试样机同类型的学习机10的准确测试提供基础。测试系统采用该耦合箱20后，无需手动改变测试样机的测试位置，可节约测试时间，较快地确定测试样机的较佳耦合位置。

耦合箱20的箱体21可以包括底座211和上盖212，两者围合形成箱体21的内腔，上盖212可相对底座211开启和关闭，方便将测试样机放置在箱体21内腔；耦合板22可设置在底座211内，安装部23可设置在上盖212上，安装部23与上盖212可转动连接，从而改变与安装部23相对固定的测试样机与耦合板22的相对位置关系。

本方案中，安装部23包括用于夹持测试样机的夹持部，夹持部至少包括两个夹持端231，应用时，夹持端231可夹持测试样机的边缘部分，以实现对测试样机的固定。

实际应用中，夹持端231的个数可根据待固定的测试样机的大小来设置，以确保测试样机相对耦合箱20固定的可靠性和稳定性。

本方案中，安装部23还可以包括第一调节部233，第一调节部233用于调节至少一个夹持端231的位置，以调节夹持部的夹持范围，即通过第一调节部233对至少一个夹持端231位置的调节，可以调节夹持部可夹持设备的大小，以适应不同大小的电子设备的性能测试。

以图示示例中夹持部设有两个夹持端231为例说明，安装部23可以包括第一连接部232，第一连接部232的相对两端分别通过两个第一调节部233连接有两个夹持端231，第一调节部233可以调节夹持端231和第一连接部232之间的相对位置，从而可以改变两个夹持端231之间的距离，进而两个夹持端231可以夹持不同大小的电子设备。

具体的，第一调节部233可相对第一连接部232伸缩，从而改变夹持端231与第一连接部232之间的距离。第一调节部233可以为波纹伸缩结构或者套筒式伸缩结构等，结构简单，操作方便。

实际设置时，夹持部的各个夹持端231处在与上盖212的盖平面大致平行的平面内，第一调节部233的伸缩方向也与上盖212的盖平面平行，方便夹持固定待测样机后，待测样机可以与耦合板22相贴合。

在夹持部只设有两个夹持端231的情况下，实际应用中，也可仅一个夹持端231通过第一调节部233与第一连接部232连接，另一个夹持端231可以与第一连接部232固定连接，这样，只通过调节一个夹持端231的位置也可以改变两个夹持端231的可夹持范围。

在夹持部设有三个以上的夹持端231的情况下，可以每个夹持端231都匹配设有一个第一调节部233，也可以仅部分夹持端231设置第一调节部233。

本方案中，在耦合箱20的箱体21的内腔中还设有第二调节部242，第二调节部242用于调节安装部23与耦合板22的相对位置，以使测试样机的天线部分与耦合板22贴合。

第二调节部242可以采用与第一调节部233相类似的伸缩结构，比如波纹式伸缩管或者套筒式伸缩结构，通过第二调节部242可以调节安装部23和耦合板22之间的距离，确保夹持不同形状、大小的测试样机时，测试样机的天线部分都能与耦合板22贴合。

具体设置时，第二调节部242设于安装部23和上盖212之间，第二调节部242的伸缩方向可与上盖212的盖平面垂直，这样，在测试样机固定于安装部23后，可调节测试样机与耦合板22之间的距离。

本方案中，安装部23通过转盘24与上盖212可转动连接，通过转盘24带动安装部23转动，从而带动测试样机转动。在此基础上，第二调节部242可以设于安装部23和转盘24之间，具体的，第二调节部242的一端可通过第二连接部241与转盘24连接，另一端可与安装部23的第一连接部232连接。

具体设置时，转盘24的转动可通过驱动部来控制，驱动部可选用电机等动力部件，测试时，可通过对驱动部的控制来对转盘24的转动进行控制，从而控制测试样机处在不同的测试位置；一般来说，转盘24转动一圈就可满足测试样机在不同测试位置的测试，应用中，在转动一圈测试后，也可根据需要调整通过调节夹持端231的位置来调节测试样机的位置后，再转动进行测试。

本申请实施例提供的测试系统采用上述耦合箱20，具体应用中，耦合箱20和综测仪30通过第一通信线缆41通信连接，第一通信线缆41可以选择同轴线，同轴线自带屏蔽层，具有较好的抗干扰能力，有利于确保测试结果的准确性。

本方案中，测试系统还包括处理设备，处理设备与综测仪30通信连接，以接收和存储综测仪30传送的测试结果，处理设备还用于获取并记录与测试结果对应的测试样机的测试位置。为避免对测试的干扰，处理设备与综测仪30可通过通信线缆连接。

通常，学习机10等电子设备自带有定位功能，测试样机转动到不同的测试位置后，测试样机自带的定位功能可以记录其在不同测试位置的位置信息。

处理设备可以与测试样机通信连接，以获取测试样机的测试位置信息并记录。

测试时，将相关设备通信连接后，控制转盘24带动测试样机转动一圈，处理设备将各测试位置的信息以及对应各测试位置的测试结果记录下来，待该测试样机的测试结束后，处理设备可以对全部测试位置的测试结果进行比较，以测试结果通过功率表征为例来说，选出最大功率对应的测试位置信息，可认为为被测的测试样机的较佳耦合位置。

具体来说，处理设备可以包括SOC(system on a chip，系统级芯片)和比较器，SOC用于记录各测试结果和各测试位置信息，比较器可以用于对各测试结果进行比较判断，选出最大功率对应的测试位置信息，并发送回SOC；处理设备还可以包括显示模块，显示模块可以将确定的较佳耦合位置的信息显示出来。

一般来说，学习机10会自带有SOC和比较器，此时，处理设备可以包括学习机10的SOC和比较器，即测试样机自身为处理设备的一部分，这样，测试系统在设置时，如图2所示，测试样机通过第二通信线缆42与综测仪30通信连接，以方便测试样机接收并存储综测仪30发送的测试结果，测试样机自身可记录存储对应的测试位置信息，如此，可简化测试系统的结构。当然，实际应用中，也可以将处理设备独立于测试样机设置，处理设备专用于处理测试相关信息，此时，处理设备与综测仪和学习机10(测试样机)通过通信线缆连接。

实际测试时，为验证射频指标的一致性，需要对多台测试样机进行测试。理论上，同一型号的多个测试样机的较佳耦合位置应该是一致的，如果偏差较大，说明测试样机的耦合指标存在问题，本申请实施例提供的测试系统也可用于验证射频指标的一致性，此时，测试系统的处理设备可以包括多个测试样机的SOC和比较器，处理设备还可以用于确定同一型号的不同测试样机的测试结果的有效性。

为方便说明，这里以两个测试样机为例说明，参考图8，第一测试样机10A和第二测试样机10B都通过图2所示的测试系统测试完成后，两者的测试结果进行比较分析以验证射频指标的一致性，确定测试结果的有效性。

第一测试样机10A和第二测试样机10B连上同一WIFI，第一测试样机10A的SOC将确定的第一测试样机10A的较佳耦合位置的坐标信息传送至第一测试样机10A的WIFI模块，此时，坐标信息的信号为基带信号，第一测试样机10A的WIFI模块对传来的基带信号进行调制等射频处理，变为射频信号，并辐射到空间，第二测试样机10B的WIFI模块接收到空间中的射频信号，并将接收的射频信号进行解调等处理，将射频信号变为基带信号，并传送至第二测试样机10B的SOC中，第二测试样机10B的SOC可以对接收的第一测试样机10A的位置信号和第二测试样机10B自身确定的较佳耦合位置的位置信号进行处理和比较，如果两者的位置信号的误差超过设定范围，则输出高电平，第二测试样机10B的LED指示灯可以显示红色，第二测试样机10B的屏幕可以显示FAIL字样，以告知测试人员，如果两者的位置信号的误差未超过设定范围，则输出低电平，第二测试样机10B的LED指示灯可以显示绿色，第二测试样机10B的屏幕可以显示PASS字样，以告知测试人员。

实际应用中，第二测试样机10B也可仅通过LED指示灯显示比较结果或者仅通过屏幕显示不同的字样来表征比较结果，LED指示灯的颜色也可为其他颜色，不局限在红色和绿色，同样地，屏幕显示的用于表征比较结果的字样可以不是FAIL和PASS。

以上对本申请所提供的一种测试系统及耦合箱进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种耦合箱，包括箱体，所述箱体的内腔设有耦合板；其特征在于，所述内腔还设有安装部，所述安装部用于固定测试样机；所述安装部与所述箱体可转动连接，以调节所述测试样机的天线部分与所述耦合板的相对位置关系。

2.根据权利要求1所述的耦合箱，其特征在于，所述安装部包括用于夹持所述测试样机的夹持部，所述夹持部包括至少两个夹持端。

3.根据权利要求2所述的耦合箱，其特征在于，所述安装部还包括至少一个第一调节部，所述第一调节部用于调节所述夹持端的位置，以调节所述夹持部的夹持范围。

4.根据权利要求1所述的耦合箱，其特征在于，所述内腔还设有第二调节部，所述第二调节部用于调节所述安装部与所述耦合板的相对位置，以使所述测试样机的天线部分与所述耦合板贴合。

5.根据权利要求1-4任一项所述的耦合箱，其特征在于，所述耦合箱还包括驱动部，所述驱动部用于驱动所述安装部相对所述箱体转动。

6.一种测试系统，用于电子设备的接收性能测试，其特征在于，所述测试系统包括综测仪和耦合箱，两者通信连接；所述耦合箱内设有耦合板，所述耦合板用于与测试样机的天线部分贴合；所述综测仪用于发射测试信号以测试所述测试样机的接收性能参数；其中，所述耦合箱为权利要求1-5任一项所述的耦合箱。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括处理设备，所述处理设备与所述综测仪通信连接，以接收和存储所述综测仪传送的测试结果；所述处理设备还用于获取并记录与所述测试结果对应的所述测试样机的测试位置。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述测试结果包括功率，所述处理设备还用于确定同一测试样机的选定耦合位置，所述选定耦合位置为最大功率所对应的测试位置。

9.根据权利要求8所述的测试系统，其特征在于，所述处理设备还用于确定同一型号的不同测试样机的测试结果的有效性。

10.根据权利要求7-9任一项所述的测试系统，其特征在于，所述处理设备包括所述测试样机的SOC和比较器。