CN115913421A - 射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质 - Google Patents

射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质 Download PDF

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CN115913421A CN202110932798.3A CN202110932798A CN115913421A CN 115913421 A CN115913421 A CN 115913421A CN 202110932798 A CN202110932798 A CN 202110932798A CN 115913421 A CN115913421 A CN 115913421A
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Abstract

本发明实施例涉及通信技术领域，公开了一种射频指标测量方法，包括：确定目标阵列天线的瑞利分辨率；根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述目标阵列天线在球坐标系的采样点；测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP；根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标。本发明实施例还公开了一种射频指标测量装置、系统、电子设备及存储介质。本发明实施例提供的射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质，可以提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。

Description

射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质
技术领域
本申请实施例涉及通信技术领域，特别涉及一种射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质。
背景技术
随着5G通信技术的发展，振子尺寸达到毫米级的大规模阵列天线技术得以应用于5G通信产品中。毫米波电路设计及大规模相控阵列天线的应用，要求天线与远端射频单元(Radio Remote Unit，RRU)实现一体化，从而形成有源天线系统(Active Antenna System，AAS)。3GPP(3rd Generation Partnership Project)标准规定，AAS基站属于2-O类型5G设备，其射频指标必须在暗室中通过空口(Over the Air，OTA)方式测量。
然而，目前在测量阵列天线的ACLR(Adjacent Channel Leakage Ratio，邻信道泄漏功率比)和杂散这两个射频指标时，为了获取较为准确的测量结果，采样时设置的步进较小，使得采样点过多，导致在测量ACLR和杂散的效率较低。
发明内容
本申请实施例的主要目的在于提出一种射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质，可以提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。
为实现上述目的，本申请实施例提供了一种射频指标测量方法，包括：确定目标阵列天线的瑞利分辨率；根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定目标阵列天线在球坐标系的采样点；测量目标阵列天线在采样点的EIRP(Equivalent Isotropic RadiatedPower，等效全向辐射功率)；根据EIRP和归一化波矢空间算法计算得到目标阵列天线的射频指标。
为实现上述目的，本申请实施例还提供了一种射频指标测量装置，包括：第一确定模块，用于确定目标阵列天线的瑞利分辨率；第二确定模块，用于根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定目标阵列天线在球坐标系的采样点；测量模块，用于测量目标阵列天线在采样点的EIRP；计算模块，用于根据EIRP和归一化波矢空间算法计算得到目标阵列天线的射频指标。
为实现上述目的，本申请实施例还提供了一种射频指标测量系统，包括被测设备、测试天线系统、功率检测仪和测试机，被测设备包括集成在一起的阵列天线和远端射频单元，测试机分别连接被测设备、测试天线系统和功率检测仪，功率检测仪与测试天线系统连接；测试机用于确定阵列天线的瑞利分辨率；根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定阵列天线在球坐标系的采样点；控制被测设备、测试天线系统和功率检测仪测量阵列天线在采样点的EIRP；根据EIRP和归一化波矢空间算法计算得到阵列天线的射频指标。
为实现上述目的，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及，与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行上述的射频指标测量方法。
为实现上述目的，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的射频指标测量方法。
本申请提出的射频指标测量方法，通过确定目标阵列天线的瑞利分辨率，根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定目标阵列天线在球坐标系的采样点，测量目标阵列天线在采样点的EIRP，根据EIRP归一化波矢空间算法计算得到目标阵列天线的射频指标。通过瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定阵列天线在球坐标系的采样点，可以在保证测量结果的准确性的同时有效地减少采样点，从而提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定。
图1是本发明实施例提供的射频指标测量方法的流程示意图；
图2是本发明实施例提供的射频指标测量方法中以目标阵列天线为参考点的球坐标系的示意图；
图3是在角度空间以瑞利分辨率为间隔的采样示意图；
图4是在波矢空间以瑞利分辨率为间隔的采样示意图；
图5是图4中在波矢空间的采样点对应在球坐标系下的位置示意图；
图6是本发明实施例提供的射频指标测量方法在测量某5G基站工作信道附近杂散信号的频谱曲线；
图7是本发明实施例提供的射频指标测量方法在测量某5G基站在3GPP规定的一段频段内的杂散曲线；
图8是本发明实施例提供的射频指标测量装置的模块结构示意图；
图9是本发明实施例提供的射频指标测量系统的结构示意图；
图10是本发明实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本申请各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本申请的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
在一个实施例中，涉及一种射频指标测量方法，通过确定目标阵列天线的瑞利分辨率，根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定目标阵列天线在球坐标系的采样点，测量目标阵列天线在采样点的EIRP，根据EIRP归一化波矢空间算法计算得到目标阵列天线的射频指标。通过瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定阵列天线在球坐标系的采样点，可以在保证测量结果的准确性的同时有效地减少采样点，从而提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。
本发明实施例提供的射频指标测量方法的具体流程如图1所示，包括以下步骤：
S101：确定目标阵列天线的瑞利分辨率。
目标阵列天线AAS的阵列天线，具体的尺寸此处不做具体限制。
在确定目标阵列天线的瑞利分辨率时，可以是确定目标阵列天线在波矢空间的瑞利分辨率。波矢空间的瑞利分辨率(u，v)可通过以下公式(1)得到：
Figure BDA0003211667880000031
其中，ur，min为目标阵列天线在波矢空间中y方向对应的最小瑞利分辨率，vr，min为目标阵列天线在波矢空间中z方向对应的最小瑞利分辨率，λ为信号波长，Dy，max和Dz，max分别为目标阵列天线在球坐标系y轴方向和z轴方向对应的最大天线口径。
S102：根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定目标阵列天线在球坐标系的采样点。
请参考图2，其为以目标阵列天线为参考点的球坐标系的示意图。其中x轴与目标阵列天线的天线阵面法线方向基本相一致，y轴和z轴分别对应水平和垂直方向。这里采用了两种空间坐标来描述方向：一种是角度空间，利用球坐标系中的
Figure BDA0003211667880000032
来表示，例如，当波矢方向标定为(90°，0°)时，意味着指向x轴方向；另一种是归一化波矢空间，用笛卡尔坐标系中的(u，v)来表示，其中u和v分别表示归一化波矢投影在y轴和z轴上的大小。例如，当波矢方向标定为(0，0)时，意味着指向x轴方向。角度空间
Figure BDA0003211667880000033
和归一化波矢空间(u，v)存在以下转换关系：
Figure BDA0003211667880000034
v＝cosθ。
根据波矢空间的瑞利分辨率确定波矢空间的采样间隔(Δu，Δv)，使采样间隔(Δu，Δv)小于或等于最小瑞利分辨率，即：Δu≤ur，min，Δv≤vr，min。
在波矢空间以(Δu，Δv)为采样间隔可以确定M个均匀采样点，根据归一化波矢空间与角度空间的转换关系将波矢空间的M个均匀采样点转换为球坐标系角度空间的采样点，通过转换可以将M个均匀采样点(ui，vi)映射为球坐标系角度空间的M个非均匀采样点
Figure BDA0003211667880000035
i∈M，M为正整数。
S103：测量目标阵列天线在采样点的EIRP。
在测量目标阵列天线在采样点的EIRP时，可以使测试天线与M个非均匀采样点
Figure BDA0003211667880000036
重合，从而测量得到目标阵列天线在这些采样点的EIRP。
S104：根据EIRP和归一化波矢空间算法计算得到目标阵列天线的射频指标。
在本发明实施例中，目标阵列天线的射频指标可以包括ACLR和杂散。下面分别对ACLR和杂散两种射频指标在S103及S104的具体步骤进行说明。
当射频指标为ACLR时，S103可以包括：测量目标阵列天线在每一采样点上的EIRPT、EIRPL和EIRPR，其中，EIRPT为带宽内输出的EIRP，EIRPL为左侧邻道泄漏EIRP，EIRPR为右侧邻道泄漏EIRP；而S104则包括：根据归一化波矢空间算法将EIRPT、EIRPL和EIRPR分别积分累计为TRPT、TRPL和TRPR；根据ACLRL＝TRPL-TRPT计算得到目标阵列天线的左侧ACLR，根据ACLRR＝TRPR-TRPT计算得到目标阵列天线的右侧ACLR，从而在减少采样点的情况下通过测量计算得到ACLR，提高ACLR的测量效率，其中，TRPT为带宽内输出的TRP(Total RadiatedPower，总辐射功率)，TRPL为左侧邻道泄漏TRP，TRPR为右侧邻道泄漏TRP。
在测量每一采样点的EIRPT、EIRPL和EIRPR时，可以将与测试天线相连的功率检测仪进行配置，使其可以同时获取到EIRPT、EIRPL和EIRPR。
进一步地，根据归一化波矢空间算法将EIRPT、EIRPL和EIRPR分别积分累计为TRPT、TRPL和TRPR，包括：
根据
Figure BDA0003211667880000041
计算TRPT；
根据
Figure BDA0003211667880000042
计算TRPL；
根据
Figure BDA0003211667880000043
计算TRPR；
其中，Δu和Δv为波矢空间的采样间隔，EIRPT，i为第i个采样点的EIRPT，i∈M，M为正整数，EIRPL，i为第i个采样点的EIRPL，EIRPR，i为第i个采样点的EIRPR，θi和
Figure BDA0003211667880000044
为第i个采样点在球坐标系的角度值。
当射频指标为杂散时，S103可以包括：根据待测杂散信号的频谱带宽确定频谱测试点；根据每一频谱测试点测量目标阵列天线在每一采样点的EIRP；S104则可以包括：根据所有采样点的EIRP和归一化波矢采样算法统计每一频谱测试点的杂散TRP。
进一步地，在根据所有采样点的EIRP和归一化波矢采样算法统计每一频谱测试点的杂散TRP之后，还可以包括：根据每一频谱测试点的杂散TRP绘制目标阵列天线在频谱带宽的杂散TRP频谱曲线。
通过根据所有采样点的EIRP和归一化波矢采样算法统计每一频谱测试点的杂散TRP，根据每一频谱测试点的杂散TRP绘制目标阵列天线在频谱带宽的杂散TRP频谱曲线，可以在减少采样点的情况下通过测量计算得到杂散TRP和TRP频谱曲线，提高杂散测量的效率。
在一个具体的例子中，根据每一频谱测试点测量目标阵列天线在每一采样点的EIRP，包括：在测量目标阵列天线在一个采样点的EIRP时，测量所有频谱测试点在该采样点的EIRP后转至下一个采样点进行测量，直至所有采样点均测量完成。
常规在测量阵列天线的杂散时，通常采用串行测量的方式，即先测量一个频点在每一个采样点的EIRP，测量完一个频点之后测量下一个频点在每一个采样点的EIRP。由于需测量的频点通常有成百上千个，若一个频点的测量为一轮，则常规做法的测量方式需要经历成百上千轮才能完成。由于在测量阵列天线在不同采样点的EIRP时，需要控制并改变支撑阵列天线的转台和支撑测试天线的支架的方位，而改变方位耗时较长，因此采用串行测量的方式会使得整体耗时非常长。而本发明实施例提供的射频指标测量方法，在测量目标阵列天线在一个采样点的EIRP时，测量完所有频谱测试点在该采样点的EIRP后转至下一个采样点进行测量的方式，可以称为并行测量的方式，能够在一轮的测量中测量完成百上千个频谱测试点对应的EIRP，大大提高了杂散的测量效率。
进一步地，根据所有所述采样点的EIRP和所述归一化波矢采样算法统计每一所述频谱测试点的TRP，包括：
根据
Figure BDA0003211667880000045
并行计算每一频谱测试点的TRP，从而实现每一频谱测试点的TRP统计，方便TRP频谱曲线的绘制。其中，TRPj为第j个频谱测试点的TRP，Δu和Δv为波矢空间的采样间隔，i表示第i个采样点，i∈M，M为正整数，θi和
Figure BDA0003211667880000046
为第i个采样点在球坐标系的角度值。
由于在一轮的测量中，所有频谱测试点在每一采样点的EIRP均已测量完成，因此可以通过
Figure BDA0003211667880000051
同时计算(并行计算)每一频谱测试点的TRP。
在常规做法中，由于是采用串行测量的方式，因此其只能逐个计算频点的TRP再合成杂散指标，效率较低；而本发明实施例提供的射频指标测量方法，由于采用并行测量的方式，因此可以通过并行计算的方式来计算TRP，从而提高了杂散指标的测量效率。
进一步地，根据待测杂散信号的频谱带宽确定频谱测试点，包括：
根据
Figure BDA0003211667880000052
确定频谱测试点数，其中，Bspurious为待测杂散信号的频谱带宽，RBWspurious为3GPP规定的测量分辨率带宽；根据频谱测试点数和频谱带宽确定频谱测试点。
请参考图3，其为在角度空间以瑞利分辨率为间隔的采样示意图。其中背景图为周期为半波长的16×8(y×z)阵列天线在角度空间辐射方向图，标志“+”表示采样点，角度空间的瑞利分辨率
Figure BDA0003211667880000053
可以根据以下式子确定：
Figure BDA0003211667880000054
其中，Dy和Dz指的是目标阵列天线在y方向和z方向上的最大尺寸。对于常见的等幅同相阵列天线，还可以通过方向图第一零陷半宽(First Null Beamwidth，简称FNBW)来确定瑞利分辨率，即：
θr＝FNBWθ/2,
Figure BDA0003211667880000055
请参考图4，其为在波矢空间以瑞利分辨率为间隔的采样示意图，图中的采样点对应的天线也是周期为半波长的16×8(y×z)阵列天线，标志“+”表示采样点，采样点在该空间中呈均匀分布。应当理解的是，采样点必须要保证在半径为1的圆内(即归一化波矢空间)，这是因为在远场能被测到的场都是辐射分量，而圆外的场消逝波分量由于随距离呈指数衰减，在远场被截断。
请参考图5，其为图4中在波矢空间的采样点对应在球坐标系下的位置示意图，其中标志“+”表示采样点。从图5中可以看出，采样点在球坐标系下呈非均匀分布，且与图3的采样点相比，点数有了明显的减少(约为图3中的1/3)。而图4和图5与图3对应的是同样的天线阵列，图4和图5的结果在波矢空间进行采样点数更少，效率更高。进一步地，由于波矢空间与阵列天线对应空间存在傅里叶变换的关系，因此在波矢空间采样是点数最少的方式，也可称为最佳采样方案。
请参考图6，其为本发明实施例提供的射频指标测量方法在测量某5G基站工作信道附近杂散信号的频谱曲线。其中，杂散频段带宽Bspurious为800MHz，功率检测仪分辨率带宽RBWspurious设置为1MHz。作为数据对比，图中叠加了天线阵列正前方采样点的EIRP曲线。
请参考图7，其为本发明实施例提供的射频指标测量方法在测量某5G基站在3GPP规定的一段频段内的杂散曲线。其中，杂散频段带宽Bspurious为6.25GHz(18000～24250MHz)，功率检测仪分辨率带宽RBWspurious设置为10MHz。作为数据对比，图中叠加了天线阵列正前方采样点的EIRP曲线。图中标识(▼)处为检测到的异常杂散信号。
杂散测量一直是AAS型基站设备的射频指标测试难题，若采用3GPP TR37.843给出的传统精确测量方法，完成一次完整频段的杂散测量需要68天。在3GPP TS38.141-2(章节I.13)中给出了通过预扫描(Pre-scan)方式来提升杂散测量效率的方案，但是该方案中预扫描无法准确给出每个目标频点的杂散值，在实际操作中容易导致误判和漏测，影响测量结果的可信度。此外，业界还提出了基于混响室的杂散测量方法：采用搅拌叶片将具有方向性的波束能量在封闭空间内均匀反射，在封闭空间内特定位置收集发射信号，经校准可以推算出被测设备的TRP，然后在待测频段内扫频即可获得杂散频谱。但是，混响室方法过于依赖系统校准，被测设备(DUT)不同或者被测设备安装位置不同，都需要重新校准，影响测试效率。另外，根据测试经验，混响室对宽频信号的测量容易产生频谱起伏，影响杂散测量结果的精确度。
本发明实施例基于瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定球面角度坐标系中的采样点；然后针对测量频段一次性读取全部目标测试频点，在球面采样结束后，通过并行计算得出整个测量频段的杂散TRP频谱。采用本发明实施例提供的射频指标测量方法，对128振子天线阵列设备的宽频杂散测量时间在10分钟左右。相较于传统精确测量方法，本发明实施例提供的射频指标测量方法将杂散的测量效率提升3个数量级以上；对比常规的串行测量计算方法，在通过采用波矢采样情况下，本发明实施例采用的并行测量计算方法可明显提高多频点射频指标(比如杂散指标)的测量效率(如下表1)：
Figure BDA0003211667880000061
与预扫描方法和混响室方法相比，本发明实施例提供的射频指标测量方法的测量效率与前两者相近，但本发明实施例提供的射频指标测量方法采用了无损采样算法，因此其测量结果的可信度和精确度远高于前两者。
本发明实施例提供的射频指标测量方法，通过确定目标阵列天线的瑞利分辨率，根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定目标阵列天线在球坐标系的采样点，测量目标阵列天线在采样点的EIRP，根据EIRP归一化波矢空间算法计算得到目标阵列天线的射频指标。通过瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定阵列天线在球坐标系的采样点，可以在保证测量结果的准确性的同时有效地减少采样点，从而提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。
此外，本领域技术人员可以理解，上面各种方法的步骤划分，只是为了描述清楚，实现时可以合并为一个步骤或者对某些步骤进行拆分，分解为多个步骤，只要包括相同的逻辑关系，都在本专利的保护范围内；对算法中或者流程中添加无关紧要的修改或者引入无关紧要的设计，但不改变其算法和流程的核心设计都在该专利的保护范围内。
在一个实施例中，涉及一种射频指标测量装置200，如图8所示，包括：第一确定模块201、第二确定模块202、测量模块203和计算模块204。各模块功能详细说明如下：
第一确定模块201，用于确定目标阵列天线的瑞利分辨率；
第二确定模块202，用于根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定目标阵列天线在球坐标系的采样点；
测量模块203，用于测量目标阵列天线在采样点的EIRP；
计算模块204，用于根据EIRP和归一化波矢空间算法计算得到目标阵列天线的射频指标。
进一步地，测量模块203还用于：测量目标阵列天线在每一采样点上的EIRPT、EIRPL和EIRPR，其中，EIRPT为带宽内输出的EIRP，EIRPL为左侧邻道泄漏EIRP，EIRPR为右侧邻道泄漏EIRP；
计算模块204还用于：根据归一化波矢空间算法将EIRPT、EIRPL和EIRPR分别积分累计为TRPT、TRPL和TRPR；根据ACLRL＝TRPL-TRPT计算得到目标阵列天线的左侧ACLR，根据ACLRR＝TRPR-TRPT计算得到目标阵列天线的右侧ACLR，其中，TRPT为带宽内输出的TRP，TRPL为左侧邻道泄漏TRP，TRPR为右侧邻道泄漏TRP。
进一步地，计算模块204还用于：
根据
Figure BDA0003211667880000071
计算TRPT；
根据
Figure BDA0003211667880000072
计算TRPL；
根据
Figure BDA0003211667880000073
计算TRPR；
其中，Δu和Δv为波矢空间的采样间隔，EIRPT，i为第i个采样点的EIRPT，i∈M，M为正整数，EIRPL，i为第i个采样点的EIRPL，EIRPR，i为第i个采样点的EIRPR，θi和
Figure BDA0003211667880000074
为第i个采样点在球坐标系的角度值。
进一步地，测量模块203还用于：根据待测杂散信号的频谱带宽确定频谱测试点；根据每一频谱测试点测量目标阵列天线在每一采样点的EIRP；
计算模块204还用于：根据所有采样点的EIRP和归一化波矢采样算法统计每一频谱测试点的杂散TRP。
进一步地，计算模块204还用于：根据每一频谱测试点的杂散TRP绘制目标阵列天线在频谱带宽的杂散TRP频谱曲线。
进一步地，测量模块203还用于在测量目标阵列天线在一个采样点的EIRP时，测量所有频谱测试点在该采样点的EIRP后转至下一个采样点进行测量。
进一步地，计算模块204还用于：根据
Figure BDA0003211667880000075
并行计算每一频谱测试点的TRP，其中，TRPj为第j个频谱测试点的TRP，Δu和Δv为波矢空间的采样间隔，i表示第i个采样点，i∈M，M为正整数，θi和
Figure BDA0003211667880000076
为第i个采样点在球坐标系的角度值。
进一步地，测量模块203还用于：根据
Figure BDA0003211667880000077
确定频谱测试点数，其中，Bspurious为待测杂散信号的频谱带宽，RBWspurious为3GPP规定的测量分辨率带宽；根据频谱测试点数和频谱带宽确定频谱测试点。
不难发现，本实施例为与前述方法的实施例相对应的装置实施例，本实施例可与前述方法的实施例互相配合实施。前述方法的实施例中提到的相关技术细节在本实施例中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施例中提到的相关技术细节也可应用在前述方法的实施例中。
值得一提的是，本实施例中所涉及到的各模块均为逻辑模块，在实际应用中，一个逻辑单元可以是一个物理单元，也可以是一个物理单元的一部分，还可以以多个物理单元的组合实现。此外，为了突出本发明的创新部分，本实施例中并没有将与解决本发明所提出的技术问题关系不太密切的单元引入，但这并不表明本实施例中不存在其它的单元。
在一个实施例中，涉及一种射频指标测量系统300，如图9所示，包括被测设备310、测试天线系统320、功率检测仪340和测试机330。被测设备310包括集成在一起的阵列天线312和远端射频单元(RRU)311，测试机330分别连接被测设备310、测试天线系统320和功率检测仪340，功率检测仪340与测试天线系统320连接。
测试机330用于确定阵列天线312的瑞利分辨率；根据瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定阵列天线312在球坐标系的采样点；控制被测设备310、测试天线系统320和功率检测仪340测量阵列天线312在采样点的EIRP；根据EIRP和归一化波矢空间算法计算得到阵列天线312的射频指标。
阵列天线312与远端射频单元311紧密集成在一起形成一体化设备，如虚线所示。与单独和独立可测的RRU和天线系统相反，被测设备310的发射和接收通道直接连接到阵列天线312。阵列天线312可为矩阵型布置的天线，也可为其他非规则排列的天线，辐射的电磁波能量可处于毫米波波段。
由于阵列天线312与远端射频单元311集成在一起，没有射频连接，因此阵列天线不能被隔离测试。也即是说，不能简单地测试阵列天线312的辐射性能和远端射频单元311的发射和接收链路性能来计算射频指标(包括EIRP、TRP、等效全向灵敏度(EIRS)和总全向灵敏度(TIS)等射频整机指标)，对被测设备310的测量需要同时进行。
被测设备310被安置固定在转台313上，转台313可以在水平面上和俯仰面上进行转动。测试天线系统320包括测试天线321、天线固定支架323和测试线缆322。测试天线321可以为单个天线，也可以是多个天线。天线固定支架323用于固定测试天线321，并可以进行三维空间的移动。测试天线321通过测试线缆322被连接到功率检测仪340上，功率检测仪340可以是矢量网络分析仪、频谱仪或功率计等等。
被测设备310、转台313、天线固定支架323和功率检测仪340被连接到测试机330上，该测试机330可设置为控制被测设备310的收发、转台313的转动、天线固定支架323的移动和功率检测仪340的收发，对包括EIRP值的相关测试数据进行记录和处理，并记录日志。
在整个测试过程中，全电波暗室环境通过吸波材料350和暗室外墙360与外界环境隔绝以模拟无穷大空间的情况。
进一步地，测试机330还用于：测量阵列天线312在每一采样点上的EIRPT、EIRPL和EIRPR，其中，EIRPT为带宽内输出的EIRP，EIRPL为左侧邻道泄漏EIRP，EIRPR为右侧邻道泄漏EIRP；根据归一化波矢空间算法将EIRPT、EIRPL和EIRPR分别积分累计为TRPT、TRPL和TRPR；根据ACLRL＝TRPL-TRPT计算得到阵列天线312的左侧ACLR，根据ACLRR＝TRPR-TRPT计算得到阵列天线312的右侧ACLR，其中，TRPT为带宽内输出的TRP，TRPL为左侧邻道泄漏TRP，TRPR为右侧邻道泄漏TRP。
进一步地，测试机330还用于：
根据
Figure BDA0003211667880000091
计算TRPT；
根据
Figure BDA0003211667880000092
计算TRPL；
根据
Figure BDA0003211667880000093
计算TRPR；
其中，Δu和Δv为波矢空间的采样间隔，EIRPT，i为第i个采样点的EIRPT，i∈M，M为正整数，EIRPL，i为第i个采样点的EIRPL，EIRPR，i为第i个采样点的EIRPR，θi和
Figure BDA0003211667880000094
为第i个采样点在球坐标系的角度值。
进一步地，测试机330还用于：根据待测杂散信号的频谱带宽确定频谱测试点；根据每一频谱测试点测量阵列天线312在每一采样点的EIRP；根据所有采样点的EIRP和归一化波矢采样算法统计每一频谱测试点的杂散TRP。
进一步地，测试机330还用于：根据每一频谱测试点的杂散TRP绘制阵列天线312在频谱带宽的杂散TRP频谱曲线。
进一步地，测试机330还用于在测量目标阵列天线在一个采样点的EIRP时，测量所有频谱测试点在该采样点的EIRP后转至下一个采样点进行测量。
进一步地，测试机330还用于：根据
Figure BDA0003211667880000095
并行计算每一频谱测试点的TRP，其中，TRPj为第j个频谱测试点的TRP，Δu和Δv为波矢空间的采样间隔，i表示第i个采样点，i∈M，M为正整数，θi和
Figure BDA0003211667880000096
为第i个采样点在球坐标系的角度值。
进一步地，测试机330还用于：根据
Figure BDA0003211667880000097
确定频谱测试点数，其中，Bspurious为待测杂散信号的频谱带宽，RBWspurious为3GPP规定的测量分辨率带宽；根据频谱测试点数和频谱带宽确定频谱测试点。
不难发现，本实施例为与前述方法的实施例相对应的系统实施例，本实施例可与前述方法的实施例互相配合实施。前述方法的实施例中提到的相关技术细节在本实施例中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施例中提到的相关技术细节也可应用在前述方法的实施例中。
在一个实施例中，涉及一种电子设备，如图10所示，包括：至少一个处理器401；以及，与至少一个处理器401通信连接的存储器402；其中，存储器402存储有可被至少一个处理器401执行的指令，指令被至少一个处理器401执行，以使至少一个处理器401能够执行上述的射频指标测量方法。
其中，存储器和处理器采用总线方式连接，总线可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线将一个或多个处理器和存储器的各种电路连接在一起。总线还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路连接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口在总线和收发机之间提供接口。收发机可以是一个元件，也可以是多个元件，比如多个接收器和发送器，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。经处理器处理的数据通过天线在无线介质上进行传输，进一步，天线还接收数据并将数据传送给处理器。
处理器负责管理总线和通常的处理，还可以提供各种功能，包括定时，外围接口，电压调节、电源管理以及其他控制功能。而存储器可以被用于存储处理器在执行操作时所使用的数据。
在一个实施例中，涉及一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序。计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例。
即，本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一个设备(可以是单片机，芯片等)或处理器(processor)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施例是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。

Claims (12)

1.一种射频指标测量方法，其特征在于，包括：
确定目标阵列天线的瑞利分辨率；
根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述目标阵列天线在球坐标系的采样点；
测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP；
根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标。
2.根据权利要求1所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP，包括：
测量所述目标阵列天线在每一所述采样点上的EIRPT、EIRPL和EIRPR，所述EIRPT为带宽内输出的EIRP，所述EIRPL为左侧邻道泄漏EIRP，所述EIRPR为右侧邻道泄漏EIRP；
所述根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标，包括：
根据所述归一化波矢空间算法将所述EIRPT、EIRPL和EIRPR分别积分累计为TRPT、TRPL和TRPR，所述TRPT为带宽内TRP，所述TRPL为左侧邻道泄漏TRP，所述TRPR为右侧邻道泄漏TRP；
根据ACLRL＝TRPL-TRPT计算得到所述目标阵列天线的左侧ACLR，根据ACLRR＝TRPR-TRPT计算得到所述目标阵列天线的右侧ACLR。
3.根据权利要求2所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述根据所述归一化波矢空间算法将所述EIRPT、EIRPL和EIRPR分别积分累计为TRPT、TRPL和TRPR，包括：
根据
Figure FDA0003211667870000011
计算所述TRPT；
根据
Figure FDA0003211667870000012
计算所述TRPL；
根据
Figure FDA0003211667870000013
计算所述TRPR；
其中，所述Δu和所述Δv为波矢空间的采样间隔，所述EIRPT，i为第i个采样点的EIRPT，i∈M，所述M为正整数，所述EIRPL，i为第i个采样点的EIRPL，所述EIRPR，i为第i个采样点的EIRPR，所述θi和所述
Figure FDA0003211667870000014
为第i个采样点在所述球坐标系的角度值。
4.根据权利要求1所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP，包括：
根据待测杂散信号的频谱带宽确定频谱测试点；
根据每一所述频谱测试点测量所述目标阵列天线在每一所述采样点的EIRP；
所述根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标，包括：
根据所有所述采样点的EIRP和所述归一化波矢采样算法统计每一所述频谱测试点的杂散TRP。
5.根据权利要求4所述的射频指标测量方法，其特征在于，在所述根据所有所述采样点的EIRP和所述归一化波矢采样算法统计每一所述频谱测试点的杂散TRP之后，还包括：
根据每一所述频谱测试点的杂散TRP绘制所述目标阵列天线在所述频谱带宽的杂散TRP频谱曲线。
6.根据权利要求4所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述根据每一所述频谱测试点测量所述目标阵列天线在每一所述采样点的EIRP，包括：
在测量所述目标阵列天线在一个采样点的EIRP时，测量所有频谱测试点在所述采样点的EIRP后转至下一个采样点进行测量。
7.根据权利要求6所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述根据所有所述采样点的EIRP和所述归一化波矢采样算法统计每一所述频谱测试点的TRP，包括：
根据
Figure FDA0003211667870000021
并行计算每一所述频谱测试点的TRP，其中，所述TRPj为第j个频谱测试点的TRP，所述Δu和所述Δv为波矢空间的采样间隔，所述i表示第i个采样点，i∈M，所述M为正整数，所述θi和所述
Figure FDA0003211667870000022
为第i个采样点在所述球坐标系的角度值。
8.根据权利要求7所述的射频指标测量方法，其特征在于，所述根据待测杂散信号的频谱带宽确定频谱测试点，包括：
根据
Figure FDA0003211667870000023
确定频谱测试点数，其中，Bspurious为所述待测杂散信号的频谱带宽，所述RBWspurious为3GPP规定的测量分辨率带宽；
根据所述频谱测试点数和所述频谱带宽确定频谱测试点。
9.一种射频指标测量装置，其特征在于，包括：
第一确定模块，用于确定目标阵列天线的瑞利分辨率；
第二确定模块，用于根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述目标阵列天线在球坐标系的采样点；
测量模块，用于测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP；
计算模块，用于根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标。
10.一种射频指标测量系统，其特征在于，包括被测设备、测试天线系统、功率检测仪和测试机，所述被测设备包括集成在一起的阵列天线和远端射频单元，所述测试机分别连接所述被测设备、所述测试天线系统和所述功率检测仪，所述功率检测仪与所述测试天线系统连接；
所述测试机用于确定所述阵列天线的瑞利分辨率；根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述阵列天线在球坐标系的采样点；控制所述被测设备、测试天线系统和所述功率检测仪测量所述阵列天线在所述采样点的EIRP；根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述阵列天线的射频指标。
11.一种电子设备，其特征在于，包括：
至少一个处理器；以及，
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至8任一项所述的射频指标测量方法。
12.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述的射频指标测量方法。
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