CN219891309U - 一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其包括:主体,所述主体上设置有孔,所述孔的内表面活动连接有限位块,所述主体上设置有限位孔,所述限位块与主体上的限位孔间隙配合,所述主体上活动连接有夹持装置,所述夹持装置包括:夹持爪,所述夹持爪活动连接在主体上,所述夹持爪的后表面固定连接有牵引绳,所述牵引绳的外表面固定连接有限位盘,所述限位盘活动连接在孔的内部,通过以上装置,避免损坏芯片,同时可调节限位块高度,可调节夹紧力度,适用不同尺寸的芯片。
Description
技术领域
本实用新型涉及夹持设备技术领域,特别涉及一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备。
背景技术
现有的光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,通过夹持爪或夹头进行夹持芯片,但是这种方式只能适应特定尺寸的芯片,且容易损坏芯片,如中国专利公开了一种“光通信芯片测试用防损伤的夹持设备”,其申请号为“201822177081.9”,其通过上夹头与下夹头之间的上橡胶皮层和下橡胶皮层的相连接,上夹头与下夹头通过弹簧层进行调整,弹簧层的内侧有滑槽,通过滑槽上下滑动运行工作,防止速度过快对芯片造成损伤使用主体的时候将上夹头与下夹头之间为将芯片夹起作为测试实验的时候,上橡胶皮层起到了对芯片保护的作用,有效的防止芯片受损,大大提高了工作效率,通过弹簧,提供一定缓冲力,通过内部伸缩架与外部伸缩架通过固定螺丝可以有效的进行拆卸,同时也可以有效的在控制伸缩的位置后通过固定螺丝进行固定定位,从而可以调整伸缩适当的位置,但是其只能适应特定尺寸的芯片,用于其他尺寸的芯片时需要更换夹持装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,通过限位盘与限位块,防止夹持力度过大,通过可调节高度的限位块,方便调节夹持力度,通过滑槽与夹持爪,可适应不同尺寸的芯片。
本实用新型还提供具有上述一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,包括:主体,所述主体上设置有孔,所述孔的内表面活动连接有限位块,所述主体上设置有限位孔,所述限位块与主体上的限位孔间隙配合,所述主体上活动连接有夹持装置,所述夹持装置包括:夹持爪,所述夹持爪活动连接在主体上,所述夹持爪的后表面固定连接有牵引绳,所述牵引绳的外表面固定连接有限位盘,所述限位盘活动连接在孔的内部,通过以上装置,避免损坏芯片,同时可调节限位块高度,可调节夹紧力度,适用不同尺寸的芯片。
根据本实用新型所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,所述主体上设置有滑槽,所述夹持爪活动连接在滑槽的内部,通过以上结构,适应不同尺寸的芯片。
根据本实用新型所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,所述夹持爪的后表面固定连接有弹簧,所述弹簧远离夹持爪的一端固定连接在主体上,通过以上结构,为夹紧爪提供一个缓冲力,同时可自动复位。
根据本实用新型所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,所述夹持爪的外表面固定连接有护垫,所述护垫的材质为软胶制品,通过以上装置,防止损坏芯片。
根据本实用新型所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,所述主体的上表面固定连接有微型电机,所述微型电机的输出端与牵引绳固定连接,通过以上结构,为夹持爪提供动力。
根据本实用新型所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,所述主体的上表面固定连接有伸缩杆,所述伸缩杆的上表面固定连接有滑块,通过以上结构,方便主体移动。
根据本实用新型所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,所述滑块上滑动连接有导轨,所述导轨的下表面固定连接有支撑杆,通过以上结构,方便主体移动。
根据本实用新型所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,所述支撑杆的下表面活动连接有安装板,所述安装板上设置有移动槽,所述支撑杆活动连接在移动槽的内部,通过以上结构,方便主体移动。
本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步地说明;
图1为本实用新型光通信芯片测试用防损伤的夹持设备的整体结构图;
图2为本实用新型光通信芯片测试用防损伤的夹持设备的剖面结构图。
图例说明:
1、主体;2、孔;3、滑槽;4、夹持爪;5、牵引绳;6、限位盘;7、限位块;8、弹簧;9、护垫;10、微型电机;11、夹持装置;12、安装板;13、移动槽;14、支撑杆;15、导轨;16、伸缩杆;17、滑块。
具体实施方式
实施例1
本部分将详细描述本实用新型的具体实施例,本实用新型之较佳实施例在附图中示出,附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述,使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案,但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
参照图1-2,本实用新型实施例一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其包括:主体1,主体1上设置有孔2,孔2的内表面活动连接有限位块7,通过以上结构,方便调节夹紧力度,主体1上设置有限位孔,所述限位块7与主体1上的限位孔间隙配合,通过以上结构,方便调节限位块7的高度,主体1上活动连接有夹持装置11,夹持装置11包括:夹持爪4,夹持爪4活动连接在主体1上,通过以上结构,方便夹持,夹持爪4的后表面固定连接有牵引绳5,牵引绳5的外表面固定连接有限位盘6,限位盘6活动连接在孔2的内部,通过以上结构,方便调节夹紧力度,主体1上设置有滑槽3,夹持爪4活动连接在滑槽3的内部,通过以上结构,适应不同尺寸的芯片,夹持爪4的后表面固定连接有弹簧8,弹簧8远离夹持爪4的一端固定连接在主体1上,通过以上结构,为夹持爪4夹紧提供一个缓冲力,避免损坏芯片,夹持爪4的外表面固定连接有护垫9,护垫9的材质为软胶制品,如硅胶,主体1的上表面固定连接有微型电机10,微型电机10的输出端与牵引绳5固定连接,通过以上结构,为夹持爪4提供动力,主体1的上表面固定连接有伸缩杆16,通过以上结构,方便调节主体1的高度,伸缩杆16的上表面固定连接有滑块17,滑块17上滑动连接有导轨15,导轨15的下表面固定连接有支撑杆14,支撑杆14的下表面活动连接有安装板12,安装板12上设置有移动槽13,支撑杆14活动连接在移动槽13的内部,通过以上结构,方便主体1移动。
实施例2
本实施例与实施例1的不同之处在于,软胶制品还可以为橡胶、硅橡胶、软质PVC。
工作原理:在使用时,先调节限位块7的高度,确定夹持力度,将安装板12,安装在需要的地方,移动主体1的位置,放置在芯片的上方,通过伸缩杆16,使主体1下降,启动微型电机10,将夹持爪4收紧,夹持爪4夹持芯片,由于有限位盘6与限位块7,夹持爪4不会损坏芯片,夹持到放置的位置,关闭微型电机10,弹簧使夹持爪4自动复位,重复即可。
上面结合附图对本实用新型实施例作了详细说明,但是本实用新型不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。
Claims (8)
1.一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其特征在于,包括:主体(1),所述主体(1)上设置有孔(2),所述孔(2)的内表面活动连接有限位块(7),所述主体(1)上设置有限位孔,所述限位块(7)与主体(1)上的限位孔间隙配合,所述主体(1)上活动连接有夹持装置(11),所述夹持装置(11)包括:夹持爪(4),所述夹持爪(4)活动连接在主体(1)上,所述夹持爪(4)的后表面固定连接有牵引绳(5),所述牵引绳(5)的外表面固定连接有限位盘(6),所述限位盘(6)活动连接在孔(2)的内部。
2.根据权利要求1所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其特征在于,所述主体(1)上设置有滑槽(3),所述夹持爪(4)活动连接在滑槽(3)的内部。
3.根据权利要求1所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其特征在于,所述夹持爪(4)的后表面固定连接有弹簧(8),所述弹簧(8)远离夹持爪(4)的一端固定连接在主体(1)上。
4.根据权利要求1所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其特征在于,所述夹持爪(4)的外表面固定连接有护垫(9),所述护垫(9)的材质为软胶制品。
5.根据权利要求1所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其特征在于,所述主体(1)的上表面固定连接有微型电机(10),所述微型电机(10)的输出端与牵引绳(5)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其特征在于,所述主体(1)的上表面固定连接有伸缩杆(16),所述伸缩杆(16)的上表面固定连接有滑块(17)。
7.根据权利要求6所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其特征在于,所述滑块(17)上滑动连接有导轨(15),所述导轨(15)的下表面固定连接有支撑杆(14)。
8.根据权利要求7所述的一种光通信芯片测试用防损伤的夹持设备,其特征在于,所述支撑杆(14)的下表面活动连接有安装板(12),所述安装板(12)上设置有移动槽(13),所述支撑杆(14)活动连接在移动槽(13)的内部。
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