CN219872361U - 一种硬盘热插拔测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于计算机硬件测试技术领域，尤其涉及一种硬盘热插拔测试装置，包括托架，其侧壁具有第一滑槽；测试插槽，其位于第一滑槽内，并具有第二滑槽；滑移组件，其具有第三滑槽，以及，用于连接所述第一滑槽与第三滑槽的连杆；连杆设上设有的滑块，滑块内连接以移动杆；驱动组件，驱动组件可驱动测试插槽沿第一滑槽滑动，还可驱动测试插槽沿第二滑槽滑动。本实用新型解决了人工对准金手指和测试插槽时产生的相互错动或弯折增加损坏风险的问题；本实用新型中的测试插槽在与金手指对齐过程无相互错动，且二者配合过程对金手指无弯折，还可调整测试插槽与金手指配合时的受力点。

Description

一种硬盘热插拔测试装置

技术领域

本实用新型属于计算机硬件测试技术领域，尤其涉及一种硬盘热插拔测试装置。

背景技术

硬盘是服务器中最主要的数据存储部件。为提高系统应对灾难时的及时恢复能力，提高其扩展性和易用性，现代硬盘一般都具有热插拔功能。热插拔即带电插拔，其可允许用户在系统运行状态下更换失效的硬盘。硬盘出厂或安装前，需要对其进行充分的热插拔测试，以检测热插拔功能是否有效。

现有技术中，热插拔测试多采用人工手动的方式将硬盘的金手指与测试插槽对准。人工手动方式须主观判断测试插槽与金手指的配合位置，并在二者接触面进行相互错动后使其配合。相互错动可能导致金手指或测试插槽表面的导电片产生损坏，同时，手动对准的方式对于厚度较薄的金手指难免产生弯折，增加了金手指损坏的风险。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型提供了一种硬盘热插拔测试装置，解决了人工对准金手指和测试插槽时产生的相互错动或弯折增加损坏风险的问题。

本实用新型采用的技术方案是：

一种硬盘热插拔测试装置，包括：托架，所述托架具有底壁、侧壁及由所述底壁和侧壁围成的测试腔，且所述侧壁具有竖向的第一滑槽；测试插槽，所述测试插槽两端位于所述第一滑槽内，且所述测试插槽将所述测试腔分隔为上方的硬盘腔和下方的功能腔；所述测试插槽内设有沿横向的第二滑槽；滑移组件，所述滑移组件位于所述功能腔内；所述滑移组件包括与所述第一滑槽间隔的第三滑槽，以及，用于连接所述第一滑槽与第三滑槽的连杆；所述连杆设有可沿所述连杆滑动的滑块，所述滑块与一移动杆相连；以及，驱动组件，所述驱动组件位于所述功能腔内；所述驱动组件包括第一电机和第二电机，所述第一电机与所述第三滑槽相连，以驱动所述测试插槽沿所述第一滑槽滑动；所述第二电机与所述移动杆相连，以驱动所述测试插槽沿所述第二滑槽滑动。

进一步地，所述测试腔为上方具有开口的半包围结构；所述侧壁包括沿长度方向的边衬及由所述边衬和侧壁围成的限位槽；所述限位槽之间的宽度略大于硬盘宽度。

进一步地，所述第一滑槽方向沿所述侧壁长度方向；所述第二滑槽方向沿所述底壁长度方向；所述第三滑槽方向与所述第二滑槽方向平行且与所述第一滑槽方向垂直。

进一步地，所述第一滑槽由所述硬盘腔延伸至所述功能腔，且所述第一滑槽内设有滑轨。

进一步地，所述连杆与所述第三滑槽为一体结构；所述连杆与所述第二滑槽的连接面设有螺栓，且所述螺栓贯穿所述第二滑槽并固定于所述连接面的相对面。

进一步地，所述限位槽设有用于固定硬盘的固定孔；

所述硬盘经所述开口嵌入所述限位槽后固定于所述硬盘腔。

进一步地，所述第一电机和所述第二电机均为步进电机；所述第一电机具有可沿直线位移的移动轴；所述第二电机具有可绕中心转动的转动轴。

进一步地，所述移动杆为螺杆；所述螺杆一端贯穿所述滑块并与所述滑块螺旋连接，所述螺杆另一端与所述转动轴固连。

进一步地，所述测试腔内具有用于控制所述第一电机和第二电机的控制模块。

由于采用了上述技术方案，本实用新型具有以下有益效果：

1.本实用新型中的测试插槽在与金手指对齐过程无相互错动，且二者配合过程对金手指无弯折。具体地，硬盘在硬盘腔内固定后金手指位置即随之固定，而测试插槽仅沿第一滑槽竖向移动，不产生相互错动。配合过程中第一滑槽由功能腔向硬盘腔沿直线移动，没有垂直于金手指平面的力，对金手指表面无弯折。

2.本实用新型的滑移组件可调整测试插槽与金手指配合时的受力点，以模拟人手在应对测试插槽与不同形状或尺寸的金手指配合时调整按压位置的情景，避免配合过程中测试插槽卡壳对金手指造成损坏。具体地，滑移组件中的连杆两端可在驱动组件的配合下沿第二滑槽和第三滑槽滑动，调整测试插槽与金手指配合时的着力点，以使测试插槽以相对省力的方式与金手指配合。

3.本实用新型通过驱动组件驱动滑移组件实现测试插槽反复且多次的插拔，释放了人工。同时，电驱动的方式相较人工手动的方式可在单位时间内进行更多次数的插拔测试，使测试更加充分，提高了测试效率和结果的可信度。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本申请提供的一种硬盘热插拔测试盒结构示意图；

附图中：

1、托架；11、底壁；12、侧壁；13、第一滑槽；14、边衬；15、限位槽；151、固定孔；

2、测试腔；21、硬盘腔；22、功能腔；

3、测试插槽；31、第二插槽；

4、滑移组件；41、第三滑槽；42、连杆；43、滑块；44、移动杆；

5、驱动组件；51、第一电机；52、第二电机；

6、控制模块。

具体实施方式

实施例1：

如附图1所示，一种硬盘热插拔测试盒，包括托架1，托架1具有一个底壁11和两个侧壁12，底壁11与侧壁12围成一半包围结构的测试腔2。在本实施例中，侧壁12边缘设有边衬14，边衬14与侧壁12形成限位槽15，两个限位槽15之间的距离略大于硬盘宽度，以使硬盘可通过半包围结构的上口通过限位槽15进入硬盘腔21。同时，在限位槽15内还设有固定孔151，当硬盘嵌入至硬盘腔21后在固定孔151内安装螺栓将硬盘固定，以免去人工固定硬盘的方式。固定孔151可根据硬盘尺寸在特定位置设置。在两个侧壁12并沿侧壁12的长度方向设有第一滑槽13，第一滑槽13之间设有测试插槽3，测试插槽3两端位于第一滑槽13内并可沿第一滑槽13滑动。测试插槽3滑动至一定位置后与硬盘的金手指配合，并将测试腔2分为硬盘腔21和功能腔22。硬盘腔21用于固定硬盘，功能腔22用于控制测试插槽3的移动。功能腔22与硬盘腔21的分界以测试插槽3与金手指配合时为基准，在本实施例中，第一滑槽13由硬盘腔21中部沿伸至功能腔22，以保证测试插槽3在配合后再脱离。第一测试插槽3还具有第二滑槽，在功能腔22内还有与第二滑槽平行的间隔设置的第三滑槽41，第三滑槽41与第二滑槽之间通过一连杆42相连。连杆42的一端通过一螺栓贯穿第二滑槽，连杆42的另一端与第三滑槽41为一体结构，第三滑槽41与第一电机51相连，第一电机51具有移动轴，移动轴插入第三滑槽41内后使测试插槽3能沿第一滑槽13滑动。在连杆42上串接一滑块43，滑块43可沿连杆42长度方向滑动。滑块43内部穿过一移动杆44，在本实施例中，移动杆44为螺杆并与滑块43螺旋连接。螺杆的另一端与第二电机52相连，第二电机52具有转动轴，转动轴与螺杆固连后，带动螺杆转动，螺杆上的滑块43在螺杆的转动下沿螺杆移动，进而牵拉连杆42沿第二滑槽移动。连杆42在第二滑槽内的滑动用于调整测试插槽3与金手指配合时的着力点，以适应不同型号或尺寸的硬盘。在本实施例中，滑块43对连杆42还具有限位作用，在第一电机51驱动连杆42滑动时，移动轴与第三滑槽41可能会出现受力不均导致第三滑槽41转动，但设置滑块43后，连杆42不具有转动的空间，因而能限制第三滑槽41的转动。

本实施例的有益效果是，本实施例在热拔插测试过程中，将硬盘固定在硬盘腔21内后即与测试插槽3自然对准，通过测试插槽3的滑动使其与金手指配合或脱离，配合或脱离过程中测试插槽3滑动方向单一地沿第一滑槽13方向，测试插槽3与金手指之间因自然对准而不产生相互错动，同时，单一的滑动方向对金手指无弯折。本实施例中的滑动组件可在第二滑槽内滑动，以调整着力点。在针对不同形状和尺寸的金手指时，滑动组件控制着测试插槽3采用不同的着力点使其以相对省力的方式与金手指相配合，相对省力的方式即意味着更小的卡壳风险以及更合理的施力路径，能减小金手指与测试插槽3之间的摩擦，延长使用寿命。

实施例2：

本实施例的结构与实施例1基本相同，本实施例与实施例1的主要区别在于，本实施例中的第一电机51与第二电机52均为步进电机。

具体地，本实施例中的步进电机通过控制模块控制，步进电机可通过控制模块调节拔插力度和拔插距离。

本实施例相对实施例1的有益效果是，本实施例能通过控制模块控制滑动组件的移动距离和移动速度，进而改变测试插槽3在配合或脱离金手指时的力度，使热拔插测试标准化，延长测试插槽3的使用寿命，能对多个种类的硬盘进行热拔插测试。

以上，仅是本实用新型的较佳实，例，任何熟悉本领域的技术人员均可能利用上述阐述的技术方案对本实用新型加以修改或将其修改为等同的技术方案。因此，依据本实用新型的技术方案所进行的任何简单修改或等同置换，尽属于本实用新型要求保护的范围。

Claims (9)

1.一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，包括：

托架，所述托架具有底壁、侧壁及由所述底壁和侧壁围成的测试腔，且所述侧壁具有竖向的第一滑槽；

测试插槽，所述测试插槽两端位于所述第一滑槽内，且所述测试插槽将所述测试腔分隔为上方的硬盘腔和下方的功能腔；所述测试插槽内设有沿横向的第二滑槽；

滑移组件，所述滑移组件位于所述功能腔内；所述滑移组件包括与所述第一滑槽间隔的第三滑槽，以及，用于连接所述第一滑槽与第三滑槽的连杆；所述连杆设有可沿所述连杆滑动的滑块，所述滑块与一移动杆相连；以及，

驱动组件，所述驱动组件位于所述功能腔内；所述驱动组件包括第一电机和第二电机，所述第一电机与所述第三滑槽相连，以驱动所述测试插槽沿所述第一滑槽滑动；所述第二电机与所述移动杆相连，以驱动所述测试插槽沿所述第二滑槽滑动。

2.如权利要求1所述的一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，

所述测试腔为上方具有开口的半包围结构；所述侧壁包括沿长度方向的边衬及由所述边衬和侧壁围成的限位槽；所述限位槽之间的宽度略大于硬盘宽度。

3.如权利要求2所述的一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，

所述第一滑槽方向沿所述侧壁长度方向；所述第二滑槽方向沿所述底壁长度方向；所述第三滑槽方向与所述第二滑槽方向平行且与所述第一滑槽方向垂直。

4.如权利要求3所述的一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，

所述第一滑槽由所述硬盘腔延伸至所述功能腔，且所述第一滑槽内设有滑轨。

5.如权利要求4所述的一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，

所述连杆与所述第三滑槽为一体结构；所述连杆与所述第二滑槽的连接面设有螺栓，且所述螺栓贯穿所述第二滑槽并固定于所述连接面的相对面。

6.如权利要求2所述的一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，

所述限位槽设有用于固定硬盘的固定孔；

所述硬盘经所述开口嵌入所述限位槽后固定于所述硬盘腔。

7.如权利要求6所述的一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，

所述第一电机和所述第二电机均为步进电机；所述第一电机具有可沿直线位移的移动轴；所述第二电机具有可绕中心转动的转动轴。

8.如权利要求7所述的一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，

所述移动杆为螺杆；所述螺杆一端贯穿所述滑块并与所述滑块螺旋连接，所述螺杆另一端与所述转动轴固连。

9.如权利要求8所述的一种硬盘热插拔测试装置，其特征在于，

所述测试腔内具有用于控制所述第一电机和第二电机的控制模块。