CN219870853U - 一种硅粉表面密度测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及计量技术领域，公开了一种硅粉表面密度测试装置，包括安装架、振动台、量杯、漏斗和刮板；安装架包括底座和支架，支架和振动台分别设于底座上；漏斗设于支架上，漏斗的进料口设有筛体，漏斗的出料口设有控制阀；量杯设于振动台上，并位于漏斗的下方；刮板与支架转动连接，刮板可相对量杯的杯口移动。本实用新型可以确保硅粉在量杯内均匀填充，并可在振动台和刮板的配合下，通过量杯准确获得硅粉的体积，进而实现准确测量硅粉的表面密度。

Description

一种硅粉表面密度测试装置

技术领域

本实用新型涉及计量技术领域，尤其涉及一种硅粉表面密度测试装置。

背景技术

硅粉是在冶炼硅铁合金或工业硅时，随废气逸出的烟尘经过收集、特殊处理而成的一种粉体材料。硅粉主要成分是二氧化硅，硅粉颗粒细小，平均粒度处于纳米级别，为了方便储存和运输，利用加密设备可以获得不同密度的硅粉。因此，研究硅粉的表面密度，对硅粉的储存和运输具有重要意义。

目前，国内涉及测量硅粉的表面密度的技术规范中，测量过程中硅粉难以在量杯中填满且填充均匀，进而导致测量结果不能真实地反映硅粉的表面密度。

实用新型内容

本实用新型提供一种硅粉表面密度测试装置，用以解决难以在量杯中均匀填充硅粉，准确获取硅粉表面密度的问题。

本实用新型提供一种硅粉表面密度测试装置，包括：安装架、振动台、量杯、漏斗和刮板；

所述安装架包括底座和支架，所述支架和所述振动台分别设于所述底座上；

所述漏斗设于所述支架上，所述漏斗具有进料口和出料口，所述进料口设有筛体，所述出料口设有控制阀；

所述量杯设于所述振动台上，并位于所述漏斗的下方；所述刮板与所述支架转动连接，所述刮板可相对于所述量杯的杯口移动；

其中，所述筛体用于对硅粉进行过筛处理，使得下落至所述漏斗中的硅粉呈自然松散状态；所述控制阀用于控制所述漏斗中的硅粉下落至所述量杯中；所述刮板用于对堆放于所述量杯的杯口处的硅粉进行找平。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，还包括：水平仪；

所述水平仪设于所述底座和所述振动台之间，所述水平仪用于监测所述振动台所对应的台面的水平度。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，所述底座包括座体和可调节支脚；

所述支架和所述振动台分别设于所述座体上；所述可调节支脚设有多个，多个所述可调节支脚分别设于所述座体的底端。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，所述支架包括竖直杆和水平杆；

所述竖直杆和所述底座连接，所述水平杆和所述竖直杆垂直连接，所述漏斗沿所述水平杆的延伸方向可调节地设于所述水平杆上。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，所述竖直杆上设有第一固定座；

所述第一固定座沿所述竖直杆的延伸方向可调节地设于所述竖直杆上，所述水平杆和所述第一固定座连接。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，所述竖直杆上设有第二固定座；

所述第二固定座沿所述竖直杆的延伸方向可调节地设于所述竖直杆上，所述刮板的一端与所述第二固定座转动连接。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，所述刮板的板面与所述振动台的台面垂直。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，还包括：定位件；

所述定位件设于所述振动台上，所述定位件用于限定所述量杯在所述振动台上放置的位置。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，还包括：溢料盘；

所述溢料盘设于所述振动台上，所述量杯设于所述溢料盘上。

根据本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，还包括：存放箱；

所述存放箱包括透明箱体、第一箱门和第二箱门；所述透明箱体具有容纳腔及与所述容纳腔连通的第一开口和第二开口；

所述安装架、所述振动台、所述量杯、所述漏斗和所述刮板分别设于所述容纳腔内；

所述第一开口设于所述透明箱体的顶端，所述第一箱门可拆卸地设于所述第一开口；所述第二开口设于所述透明箱体的侧壁，所述第二箱门可拆卸地设于所述第二开口。

本实用新型提供的一种硅粉表面密度测试装置，通过设置安装架、振动台、量杯、漏斗和刮板，通过筛体对硅粉进行过筛处理，使得下落至漏斗中硅粉呈自然松散状态，利用控制阀的开闭控制漏斗中的硅粉的下落，在量杯中堆积一定高度的硅粉的情形下，启动振动台，硅粉在振动力作用下在量杯内均匀填充，再利用刮板对堆放在量杯的杯口处的硅粉进行找平，从而确保硅粉与量杯的杯口位于同一平面，基于硅粉在量杯内均匀填充，实现准确测量量杯内的硅粉的体积，便于准确测量硅粉表面密度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型提供的硅粉表面密度测试装置结构示意图之一；

图2是本实用新型提供的硅粉表面密度测试装置结构示意图之二；

图3是本实用新型提供的硅粉表面密度测试装置结构示意图之三；

图4是本实用新型提供的第一固定座的结构示意图；

图5是本实用新型提供的第二固定座的结构示意图。

附图标记：

11、安装架；

111、底座；1111、座体；1112、可调节支脚；

112、支架；1121、竖直杆；1122、水平杆；1123、第一固定座；1124、第二固定座；

12、振动台；13、量杯；14、漏斗；15、筛体；16、控制阀；17、刮板；18、水平仪；19、定位件；20、溢料盘；

21、存放箱；211、透明箱体；212、第一箱门；213、第二箱门。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面结合图1至图5，通过具体的实施例及其应用场景对本实用新型实施例提供的硅粉表面密度测试装置进行详细地说明。

在一些实施例中，如图1所示，本实施例提供一种硅粉表面密度测试装置，包括安装架11、振动台12、量杯13、漏斗14和刮板17。

安装架11包括底座111和支架112，支架112和振动台12分别设于底座111上。

漏斗14设于支架112上，漏斗14具有进料口和出料口，进料口设有筛体15，出料口设有控制阀16。

量杯13设于振动台12上，并位于漏斗14的下方；刮板17与支架112转动连接，刮板17可相对于量杯13的杯口移动。

其中，筛体15用于对硅粉进行过筛处理，使得下落至漏斗14中的硅粉呈自然松散状态；控制阀16用于控制漏斗14中的硅粉下落至量杯13中；刮板17用于对堆放于量杯13的杯口处的硅粉进行找平。

可理解的是，安装架11包括底座111和支架112，支架112和底座111可拆卸式连接，支架112分别与漏斗14和刮板17可拆式连接，基于支架112的依托，实现漏斗14和刮板17安装在安装架11上。

振动台12设于底座111上，振动台12用于提供一定频率的振动力，实现硅粉在量杯13内均匀填充。

量杯13设于振动台12上，量杯13设于漏斗14的下方，量杯13用于收集从漏斗14落下的硅粉，在量杯13内均匀填充的硅粉位于量杯13的最大刻度的情形下，准确测量硅粉的体积。

漏斗14具有进料口和出料口，进料口位于出料口的上方，且进料口的直径大于出料口的直径，漏斗14用于收集硅粉。

进料口设有筛体15，筛体15可以是过滤网，实现过滤硅粉中由于受潮形成的结块。

出料口设有控制阀16，控制阀16可以是抽拉挡板，在控制阀16关闭的情形下，出料口封闭，漏斗14可以收集硅粉，在控制阀16开启的情形下，出料口开放，漏斗14中的硅粉在重力作用下落入量杯13。

在实际应用中，刮板17的一端通过可转动的螺栓与支架112铰接，实现刮板17与支架112转动连接，在硅粉下落至量杯13的情形中，不可避免地会在量杯13的杯口处产生堆积的硅粉，基于刮板17的转动，刮板17将堆积的硅粉刮平，相较于人工直接利用直尺刮平硅粉，通过刮板17转动地刮平硅粉，可以减小刮板17在刮平过程中的抖动，提高硅粉表面的平整度。

在一些示例中，本实施例可配置称重模块，称重模块设于振动台上，量杯13设于称重模块上，在量杯13内没有硅粉的情形下，获得量杯13的质量，在量杯13内均匀填充的硅粉位于量杯13的最大刻度的情形下，获得量杯13和硅粉的总质量，通过量杯13和硅粉的总质量减去量杯13的质量，可以获得硅粉的质量，基于量杯13的最大量程，获得硅粉的体积，从而实现测量硅粉表面密度。

本实施例提供的硅粉表面密度测试装置，通过设置安装架11、振动台12、量杯13、漏斗14和刮板17，基于安装架11的依托，安装架11包括底座111和支架112，支架112和振动台12分别设于底座111上，漏斗14设于支架112上，漏斗14的进料口设有筛体15，漏斗14的出料口设有控制阀16，量杯13设于振动台12上，刮板17与支架112转动连接，通过筛体15对硅粉进行过筛处理，使得下落至漏斗14中硅粉呈自然松散状态，利用控制阀16的开闭控制漏斗14中的硅粉的下落，在量杯13中堆积一定高度的硅粉的情形下，启动振动台12，硅粉在振动力作用下在量杯13内均匀填充，再利用刮板17对堆放在量杯13的杯口处的硅粉进行找平，基于硅粉在量杯内均匀填充，实现准确测量量杯内的硅粉的体积，便于准确测量硅粉表面密度。

由上可知，本实用新型通过在漏斗14上设置筛体15和控制阀16，实现过滤硅粉并使硅粉呈自然松散状态，通过设置振动台12，实现量杯13内均匀充满硅粉，基于刮板17刮平量杯13的杯口处的硅粉，减小人为因素对测量结果的影响，便于实现准确测量硅粉的表面密度。

在一些实施例中，本实施例提供的硅粉表面密度测试装置还包括：水平仪18。

水平仪18设于底座111和振动台12之间，水平仪18用于监测振动台12所对应的台面的水平度。

可理解的是，水平仪18可以监测振动台12的水平度，辅助检测人员对振动台12进行水平度调节。

水平仪18可以是气泡水平仪，气泡水平仪通过气泡在玻璃管内，气泡可保持在最高位置的特性，测量水平度。

振动台12的底部可设置垫片，通过改变垫片的厚度，实现调整振动台12的水平度。

在一些实施例中，本实施例的底座111包括座体1111和可调节支脚1112。

支架112和振动台12分别设于座体1111上；可调节支脚1112设有多个，多个可调节支脚1112分别设于座体1111的底端。

可理解的是，座体1111用于承托支架112和振动台12，可调节支脚1112用于调整座体1111的水平度。

座体1111可以是平板，平板的四个边角设置有螺纹孔。

可调节支脚1112设有多个，多个可调节支脚1112分别设于平板的四个边角，多个可调节支脚1112通过螺栓与平板连接，通过调节螺栓的旋转圈数，改变可调节支脚1112与平板之间的距离，实现调节平板的水平度。

在实际应用中，量杯13设于底座111上，在座体1111不水平的情形下，通过改变各个可调节支脚1112的长度，实现调节座体1111的水平度，从而实现调整量杯13的水平度。

在一些实施例中，本实施例可通过水平仪18监测座体1111的水平度的同时，对各个可调节支脚1112的长度进行调节，从而实现调节座体1111的水平度。

本实施例通过设置座体1111和可调节支脚1112，通过可调节支脚1112调节座体1111的水平度，实现调整量杯13的水平度。

在一些实施例中，本实施例的支架112包括竖直杆1121和水平杆1122。

竖直杆1121和底座111连接，水平杆1122和竖直杆1121垂直连接，漏斗14沿水平杆1122的延伸方向可调节地设于水平杆1122上。

可理解的是，通过调节漏斗14沿水平杆1122的延伸方向的位置，使得漏斗14的出料口对准量杯13的杯口，便于量杯13收集硅粉。

竖直杆1121可拆卸式地与底座111连接，竖直杆1121垂直于底座111，竖直杆1121用于安装水平杆1122。

水平杆1122可拆卸式地与竖直杆1121连接，水平杆1122垂直于竖直杆1121，漏斗14设置水平杆1122上。

在一些示例中，量杯13设于漏斗14的下方，水平杆1122可以是伸缩杆，漏斗14设于伸缩杆上，通过调节伸缩杆的长度，实现调节漏斗14沿水平杆1122的延伸方向的位置。

可选地，水平杆1122的延伸方向上可设置多个安装位，通过改变漏斗14的安装位置，实现调节漏斗14沿水平杆1122的延伸方向的位置。

在一些实施例中，本实施例的竖直杆1121上设有第一固定座1123，第一固定座1123沿竖直杆1121的延伸方向可调节地设于竖直杆1121上，水平杆1122和第一固定座1123连接。

可理解的是，第一固定座1123用于安装水平杆1122并调节水平杆1122在竖直杆1121的延伸方向上的位置。

如图4所示，第一固定座1123可以是开口环结构，开口环结构的一端设有豁口，开口环结构的另一端设有通孔，开口环结构穿设于竖直杆1121上。

豁口具有贯穿孔，豁口的一端设有螺栓，豁口的另一端设有螺母，螺栓穿设于贯穿孔与螺母机械连接，通过旋转螺栓改变螺母在螺栓上的位置，从而改变豁口两端的距离，进而改变开口环结构与竖直杆1121配合的松紧程度，实现调节第一固定座1123沿竖直杆1121的延伸方向的位置。

水平杆1122的一端穿设于开口环结构的通孔，实现连接水平杆1122和第一固定座1123。

本实施例通过调节漏斗14在竖直方向上的位置，使得漏斗14中的硅粉可以填满不同大小的量杯13。漏斗14设于水平杆1122上，通过改变第一固定座1123沿竖直杆1121的延伸方向上的位置，进而调整水平杆1122沿竖直杆1121的延伸方向上的位置，实现调节漏斗14在竖直方向上的位置。

在一些实施例中，本实施例的竖直杆1121上设有第二固定座1124。

第二固定座1124沿竖直杆1121的延伸方向可调节地设于竖直杆1121上，刮板17的一端与第二固定座1124转动连接。

可理解的是，第二固定座1124用于安装刮板17并调节刮板17在竖直杆1121的延伸方向上的位置。

如图5所示，第二固定座1124可以是开口环结构，开口环结构的一端具有豁口，开口环结构的另一端具有铰接板，第二固定座1124实现沿竖直杆1121的延伸方向调节的原理与第一固定座1123相同，在此不再赘述。

铰接板的一端位于第二固定座1124的上表面，铰接板的另一端位于第二固定座1124的下表面，且铰接板上具有竖直贯穿孔。

刮板17的一端通过可转动的螺栓与开口环结构的铰接板铰接，实现刮板17的一端与第二固定座1124转动连接。

本实施例通过调整刮板17在竖直方向上的位置，使得刮板17的底面与量杯13的杯口位于同一平面；通过刮板17的转动，对硅粉进行找平。基于设置第二固定座1124，改变第二固定座1124沿竖直杆1121的延伸方向上的位置，实现调整刮板17在竖直方向上的位置；基于第二固定座1124与刮板17铰接，实现刮板17的转动。

在一些实施例中，本实施例的刮板17的板面与振动台12的台面垂直。

可理解的是，基于刮板17的板面垂直于振动台12的台面，在刮板17转动地刮平量杯13的杯口堆积的硅粉的情形下，刮板17对堆积的硅粉只有水平方向的作用力，从而避免将堆积的硅粉下压，影响量杯13中硅粉的密度。

在一些实施例中，如图2所示，本实施例提供的硅粉表面密度测试装置还包括：定位件19。

定位件19设于振动台12上，定位件19用于限定量杯13在振动台12上放置的位置。

可理解的是，定位件19可以是圆环结构，圆环结构固定设置在振动台12上，圆环结构的内径与量杯13的外径相同，使得量杯13可以嵌入圆环结构中，从而在振动台12启动的情形下，量杯13相对于振动台12的位置不发生改变。

在一些实施例中，如图3所示，本实施例提供的硅粉表面密度测试装置还包括：溢料盘20。

溢料盘20设于振动台12上，量杯13设于溢料盘20上。

可理解的是，溢料盘20夹设于振动台12和量杯13之间，溢料盘20用于收集从量杯13的杯口处散落的硅粉。

在一些实施例中，如图1所示，本实施例提供的硅粉表面密度测试装置还包括：定位件19和溢料盘20。

可理解的是，定位件19实现固定量杯13的原理不再赘述。

定位件19固定设置在振动台12上，量杯13嵌入设置在定位件19中。

溢料盘20的中心位置具有圆孔，圆孔的直径与定位件19的外径相同，溢料盘20通过圆孔穿设在定位件19上，实现收集从量杯13的杯口处散落的硅粉。

在一些实施例中，如图1所示，本实施例提供的硅粉表面密度测试装置还包括：存放箱21。

存放箱21包括透明箱体211、第一箱门212和第二箱门213；透明箱体211具有容纳腔及与容纳腔连通的第一开口和第二开口。

安装架11、振动台12、量杯13、漏斗14和刮板17分别设于容纳腔内。

第一开口设于透明箱体211的顶端，第一箱门212可拆卸地设于第一开口；第二开口设于透明箱体211的侧壁，第二箱门213可拆卸地设于第二开口。

可理解的是，透明箱体211既可以是长方体结构，也可以是圆柱体结构，在此不做具体限定。

由此，容纳腔既可以是透明箱体211内壁形成的矩形空间，也可以是透明箱体211内壁形成的圆柱空间。

第一箱门212设于透明箱体211的顶端，在第一箱门212打开的情形下，透明箱体211外部的硅粉可以进入透明箱体211的内部，使得漏斗14可以收集硅粉。

第二箱门213设于透明箱体211的侧壁，在第二箱门213打开的情形下，便于将量杯13从容纳腔取出进行称重。

在实际应用中，操作人员按照如下步骤操作装置并获得硅粉的表面密度：

第一步，将量杯13放置在称重设备上，得到量杯13的质量。

第二步，打开第二箱门213，将安装架11、振动台12、量杯13、漏斗14和刮板17放置进容纳腔，关闭第二箱门213。

第三步，关闭控制阀16，打开第一箱门212，使得硅粉从存放箱21的外部进入漏斗14，漏斗14持续地收集硅粉。

第四步，关闭第一箱门212，打开控制阀16，漏斗14中硅粉下落至量杯13。

第五步，在量杯13中的堆积的硅粉高于量杯13的杯口的情形下，打开振动台12，在硅粉在量杯13内均匀填充。

第六步，关闭振动台12，调整刮板17在竖直方向上的位置，使得刮板17的底面与量杯13的杯口处于同一平面，利用刮板17绕着竖直杆1121转动，多次找平硅粉的表面，使得硅粉的表面与量杯13的杯口位于同一表面。

第七步，打开第二箱门213，取出量杯13，将量杯13放置在称重设备上面，得到量杯13和硅粉的总质量，量杯13和硅粉的总质量减去量杯13的质量得到硅粉的质量，硅粉的质量除以硅粉的体积进而得到硅粉的表面密度。

本实施例还通过对比使用上述装置与未使用上述装置测量硅粉的表面密度，以多个操作人员其中的一个作为参考基准，其中，多个操作人员分为1号、2号、3号和4号，以1号的测量结果作为参考基准，得到下述表1。

表1硅粉表观密度测量数据对照表

本实施例通过设置存放箱21，便于在封闭环境下实现量杯13的内部均匀填充硅粉，避免硅粉污染存放箱21外部的环境，通过对比使用上述装置与未使用上述装置测量硅粉的表面密度，可知操作人员使用上述装置测量得到的硅粉表观密度的偏差值均小于未使用上述装置测量得到的硅粉表观密度的偏差值，有效证明了上述装置可以降低人为因素带来的测量误差。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解、其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种硅粉表面密度测试装置，其特征在于，包括：安装架、振动台、量杯、漏斗和刮板；

所述安装架包括底座和支架，所述支架和所述振动台分别设于所述底座上；

所述漏斗设于所述支架上，所述漏斗具有进料口和出料口，所述进料口设有筛体，所述出料口设有控制阀；

所述量杯设于所述振动台上，并位于所述漏斗的下方；所述刮板与所述支架转动连接，所述刮板可相对于所述量杯的杯口移动；

其中，所述筛体用于对硅粉进行过筛处理，使得下落至所述漏斗中的硅粉呈自然松散状态；所述控制阀用于控制所述漏斗中的硅粉下落至所述量杯中；所述刮板用于对堆放于所述量杯的杯口处的硅粉进行找平。

2.根据权利要求1所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，还包括：水平仪；

所述水平仪设于所述底座和所述振动台之间，所述水平仪用于监测所述振动台所对应的台面的水平度。

3.根据权利要求1所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，所述底座包括座体和可调节支脚；

所述支架和所述振动台分别设于所述座体上；所述可调节支脚设有多个，多个所述可调节支脚分别设于所述座体的底端。

4.根据权利要求1所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，所述支架包括竖直杆和水平杆；

所述竖直杆和所述底座连接，所述水平杆和所述竖直杆垂直连接，所述漏斗沿所述水平杆的延伸方向可调节地设于所述水平杆上。

5.根据权利要求4所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，所述竖直杆上设有第一固定座；

所述第一固定座沿所述竖直杆的延伸方向可调节地设于所述竖直杆上，所述水平杆和所述第一固定座连接。

6.根据权利要求4所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，所述竖直杆上设有第二固定座；

所述第二固定座沿所述竖直杆的延伸方向可调节地设于所述竖直杆上，所述刮板的一端与所述第二固定座转动连接。

7.根据权利要求6所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，所述刮板的板面与所述振动台的台面垂直。

8.根据权利要求1至7任一项所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，还包括：定位件；

所述定位件设于所述振动台上，所述定位件用于限定所述量杯在所述振动台上放置的位置。

9.根据权利要求1至7任一项所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，还包括：溢料盘；

所述溢料盘设于所述振动台上，所述量杯设于所述溢料盘上。

10.根据权利要求1至7任一项所述的硅粉表面密度测试装置，其特征在于，还包括：存放箱；

所述存放箱包括透明箱体、第一箱门和第二箱门；所述透明箱体具有容纳腔及与所述容纳腔连通的第一开口和第二开口；

所述安装架、所述振动台、所述量杯、所述漏斗和所述刮板分别设于所述容纳腔内；

所述第一开口设于所述透明箱体的顶端，所述第一箱门可拆卸地设于所述第一开口；所述第二开口设于所述透明箱体的侧壁，所述第二箱门可拆卸地设于所述第二开口。