CN219758299U - 一种用于lga测试的精密测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于LGA测试的精密测试座，涉及测试座技术领域，为解决现有技术中的在芯片的LGA封装进行测试时，LGA封装底部的金属触点不能与测试座稳定贴合接触，影响芯片的LGA封装测试的准确性的问题。所述安放底座内部的中间设置有测试座，所述安放底座的内部沿测试座的两侧分别对称设置有压块槽，所述压块槽的内部设置有稳定压块，且稳定压块延伸至测试座的前端，所述稳定压块一侧的下端倒角设置，所述稳定压块的下方设置有稳定板，且稳定板穿进稳定压块的内部，所述稳定压块的内部设置有弹动槽，所述弹动槽的内部沿稳定板的上方设置有第一弹簧，且第一弹簧与稳定板固定连接。

Description

一种用于LGA测试的精密测试座

技术领域

本实用新型涉及测试座技术领域，具体为一种用于LGA测试的精密测试座。

背景技术

LGA封装技术用金属触点式封装取代了以往的针状插脚的技术，在LGA封装芯片进行生产时需要采用测试座对芯片进行测试，芯片测试座具体为以PCB测试底板为基础而设计的芯片电性能通断测试专用工具；

例如公告号为CN211478392U的授权专利(一种芯片测试座)：包括底座，所述底座的顶部中心设置有连接槽，所述连接槽的内部设置有连接块，所述连接块的内部等距设置有测试探针，所述底座的顶部设置有座盖，所述座盖的表面且与测试探针相对应的位置开设有限位孔，所述限位孔的内部设置有测试芯片，所述测试探针为两侧等距分布，且与测试芯片的接触位相对应，所述限位孔的外侧为倒锥状设计，所述限位孔的内侧与芯片过渡配合，本实用新型涉及电子技术领域；

上述现有技术虽然结构简单、安装便捷，但是不能对测试芯片进行限制，使得测试芯片与测试探针接触不稳，进而在芯片的LGA封装进行测试时，LGA封装底部的金属触点不能与测试座稳定贴合接触，影响芯片的LGA封装测试的准确性；因此市场急需研制一种用于LGA测试的精密测试座来帮助人们解决现有的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于LGA测试的精密测试座，以解决上述背景技术中提出的在芯片的LGA封装进行测试时，LGA封装底部的金属触点不能与测试座稳定贴合接触，影响芯片的LGA封装测试的准确性的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于LGA测试的精密测试座，包括安放底座，所述安放底座内部的中间设置有测试座，所述安放底座的内部沿测试座的两侧分别对称设置有压块槽，所述压块槽的内部设置有稳定压块，且稳定压块延伸至测试座的前端，所述稳定压块一侧的下端倒角设置，所述稳定压块的下方设置有稳定板，且稳定板穿进稳定压块的内部。

优选的，所述稳定压块的内部设置有弹动槽，所述弹动槽的内部沿稳定板的上方设置有第一弹簧，且第一弹簧与稳定板固定连接，所述第一弹簧与稳定压块焊接连接，所述稳定板一侧的下端倒角设置。

优选的，所述安放底座的内部沿压块槽的下方设置有压板槽，且压板槽与压块槽连通，所述压板槽的内部设置有压板，所述压板的内部固定安装有固定杆，且固定杆与安放底座转动连接。

优选的，所述压板一端靠向稳定压块的一侧固定安装有第二接头，所述第二接头的一侧安装有第一接头，且第二接头与第一接头通过销轴转动连接，所述第一接头与稳定压块通过螺栓固定连接。

优选的，所述压板远离第二接头的一侧固定安装有安装块，所述安装块的一侧固定安装有第二弹簧，且第二弹簧与安放底座固定连接。

优选的，所述安放底座的上方设置有翻盖，且安放底座与翻盖转动连接，所述翻盖的前端固定安装有掀板。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.该实用新型通过稳定压块的设置，其中稳定压块设置有两个分别设置在测试座上方的两侧，从而在对LGA封装的芯片进行测试时，通过两侧的稳定压块对LGA封装的按压，使得LGA封装可以与测试座稳定接触，同时在稳定压块的内部设置有与弹簧连接的稳定板，可以弹性对LGA封装进行下压，进一步提高了LGA封装可以与测试座稳定接触，实现了LGA封装底部的金属触点与测试座的稳定贴合接触，提高了测试座的精密性和实用性，增加了测试的准确性。

2.该实用新型通过压板和第二弹簧的设置，其中压板通过固定杆转动安装在安放底座上，且第二弹簧设置在压板与稳定压块连接的一端，从而通过压动压板的一端，使得压板的另一端可以带动稳定压块移动，方便LGA封装在测试过程中的安放和拿出，提高了灵活性，且通过第二弹簧的设置，使得在松开压板时，压板在第二弹簧的弹性作用下可以自动复位，提高了测试座使用的实用性。

3.该实用新型通过翻盖的设置，可以对安放底座进行遮盖，防止杂物落在测试座上，有利于LGA测试的稳定性，且在翻盖的前端设置有掀板，提高了打开翻盖的便利性，增加了实用性。

附图说明

图1为本实用新型的一种用于LGA测试的精密测试座的示意图；

图2为本实用新型的安放底座的俯视图；

图3为本实用新型的测试座的剖视图；

图4为本实用新型的A部位的放大示意图。

图中：1、安放底座；2、翻盖；3、掀板；4、测试座；5、稳定压块；6、压块槽；7、压板槽；8、压板；9、固定杆；10、弹动槽；11、第一弹簧；12、稳定板；13、第一接头；14、第二接头；15、安装块；16、第二弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

请参阅图1-4，本实用新型提供的一种实施例：一种用于LGA测试的精密测试座，包括安放底座1，安放底座1内部的中间设置有测试座4，测试座4设置为LGA封装检测用测试座，在测试座4的测试槽内设置有若干个与LGA封装底部金属触点相匹配的导电弧槽，从而便于对LGA封装进行稳定测试，安放底座1的内部沿测试座4的两侧分别对称设置有压块槽6，测试座4水平放置时，压块槽6的底部高于测试座4的上端面齐，使得稳定压块5可以稳定压在LGA封装的两侧，压块槽6的内部设置有稳定压块5，且稳定压块5延伸至测试座4的前端，稳定压块5一侧的下端倒角设置，稳定压块5的下方设置有稳定板12，且稳定板12穿进稳定压块5的内部。

从而，通过两侧的稳定压块5对LGA封装的按压，使得LGA封装可以与测试座4稳定接触，实现了LGA封装底部的金属触点与测试座4的稳定贴合接触，提高了测试座4的精密性和实用性，解决了在芯片的LGA封装进行测试时，LGA封装底部的金属触点不能与测试座稳定贴合接触的问题，增加了测试的准确性。

进一步，稳定压块5的内部设置有弹动槽10，弹动槽10的内部沿稳定板12的上方设置有第一弹簧11，且第一弹簧11与稳定板12固定连接，第一弹簧11与稳定压块5焊接连接，第一弹簧11的设置，使得稳定板12可以弹性下压，提高了对LGA封装下压的稳定性，稳定板12一侧的下端倒角设置，稳定板12上的倒角位置与稳定压块5上的倒角位置相对应，便于稳定板12移动至LGA封装上进行下压。

进一步，安放底座1的内部沿压块槽6的下方设置有压板槽7，且压板槽7与压块槽6连通，压板槽7的内部设置有压板8，压板8的内部固定安装有固定杆9，且固定杆9与安放底座1转动连接，使得压板8可以固定杆9所在位置转动一定角度，压板8一端靠向稳定压块5的一侧固定安装有第二接头14，第二接头14的一侧安装有第一接头13，且第二接头14与第一接头13通过销轴转动连接，第一接头13与稳定压块5通过螺栓固定连接，第一接头13和第二接头14的设置，使得稳定压块5相对压板8可以进行转动，便于对LGA封装的下压工作，从而通过压动压板8的一端，使得压板8的另一端可以带动稳定压块5移动，方便LGA封装在测试过程中的安放和拿出，提高了灵活性。

进一步，压板8远离第二接头14的一侧固定安装有安装块15，安装块15的一侧固定安装有第二弹簧16，且第二弹簧16与安放底座1固定连接，第二弹簧16的设置，使得在松开压板8时，压板8在第二弹簧16的弹性作用下可以自动复位，方便LGA封装在测试过程中的安放，提高了测试座使用的实用性。

进一步，安放底座1的上方设置有翻盖2，便于遮盖安放底座1，防止杂物落在测试座4上，且安放底座1与翻盖2转动连接，翻盖2的前端固定安装有掀板3，提高了打开翻盖2的便利性。

工作原理：使用时，将翻盖2翻开，用手压动两个压板8的下端相互靠近，使两个压板8的上端带动稳定压块5向两侧移动，然后将待测试的LGA封装安放进测试座4的侧视槽内，第二弹簧16受到压力进行压缩并产生张力，再松开压板8，压板8在第二弹簧16的弹性作用下自动复位，对LGA封装的进行按压，使得LGA封装可以与测试座4稳定接触，同时在第一弹簧11的作用下，稳定板12可以弹性对LGA封装进行下压，进一步提高了LGA封装与测试座4的稳定接触，实现了LGA封装底部的金属触点与测试座4的稳定贴合接触，从而进行LGA封装的芯片稳定测试工作，并在测试完成后，通过压动两个压板8，使得压板8的一端可以带动稳定压块5移动，方便LGA封装在测试完成后的拿出。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (6)

1.一种用于LGA测试的精密测试座，包括安放底座(1)，其特征在于：所述安放底座(1)内部的中间设置有测试座(4)，所述安放底座(1)的内部沿测试座(4)的两侧分别对称设置有压块槽(6)，所述压块槽(6)的内部设置有稳定压块(5)，且稳定压块(5)延伸至测试座(4)的前端，所述稳定压块(5)一侧的下端倒角设置，所述稳定压块(5)的下方设置有稳定板(12)，且稳定板(12)穿进稳定压块(5)的内部。

2.根据权利要求1所述的一种用于LGA测试的精密测试座，其特征在于：所述稳定压块(5)的内部设置有弹动槽(10)，所述弹动槽(10)的内部沿稳定板(12)的上方设置有第一弹簧(11)，且第一弹簧(11)与稳定板(12)固定连接，所述第一弹簧(11)与稳定压块(5)焊接连接，所述稳定板(12)一侧的下端倒角设置。

3.根据权利要求1所述的一种用于LGA测试的精密测试座，其特征在于：所述安放底座(1)的内部沿压块槽(6)的下方设置有压板槽(7)，且压板槽(7)与压块槽(6)连通，所述压板槽(7)的内部设置有压板(8)，所述压板(8)的内部固定安装有固定杆(9)，且固定杆(9)与安放底座(1)转动连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于LGA测试的精密测试座，其特征在于：所述压板(8)一端靠向稳定压块(5)的一侧固定安装有第二接头(14)，所述第二接头(14)的一侧安装有第一接头(13)，且第二接头(14)与第一接头(13)通过销轴转动连接，所述第一接头(13)与稳定压块(5)通过螺栓固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种用于LGA测试的精密测试座，其特征在于：所述压板(8)远离第二接头(14)的一侧固定安装有安装块(15)，所述安装块(15)的一侧固定安装有第二弹簧(16)，且第二弹簧(16)与安放底座(1)固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种用于LGA测试的精密测试座，其特征在于：所述安放底座(1)的上方设置有翻盖(2)，且安放底座(1)与翻盖(2)转动连接，所述翻盖(2)的前端固定安装有掀板(3)。