CN219757645U - 一种晶振检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种晶振检测装置，其应用于晶体振荡器，其包括控制座，所述控制座上固定卡合设有真空筒；所述真空筒的一侧贯通连接设有氦气罐，所述氦气罐的下端活动卡合在控制座上；所述真空筒的内侧设有晶体振荡器，所述晶体振荡器活动卡合在控制座上。本实用新型将晶振卡合到真空筒的内侧，使得晶振的针脚与检测设备处理器的对接端连接，检测晶振的频率和阻抗值，检测后通过氦气罐往真空筒内注入高压氦气，随后通过加热板进行加热，使得惰性的高温高压氦气对晶振进行挤压，若晶振上有裂缝存在，高温高压氦气挤入晶振内侧后，晶振的频率与阻抗值会出现较大的变化，通过前后检测值对比从而能够判断晶振是否出现裂缝，操作方便、检测准确。

Description

一种晶振检测装置

技术领域

本实用新型涉及晶体振荡器技术领域，特别是涉及了一种晶振检测装置。

背景技术

晶振即为晶体振荡器，是很多电子产品经常用到的元器件之一，对电子产品性能有很大影响，由于晶振基座一般采用陶瓷材料制成，而陶瓷具有比较脆的特点，因此在受力情况下非常容易出现微小裂纹，这种微裂通常需要高倍显微镜仔细观察才能看到，不易被发现，检测难度较大，往往在做成模组成品后才能体现出来，造成很大的浪费，且现有的检测设备体积较大，不方便移动检测。

如公开号为(CN212844200U)公开了一种晶体振荡器密封性测试装置，该方案通过向晶体振荡器注入高压气体，使得气体经由晶体振荡器的裂缝排向风力传感器，从而检测晶体震荡器是否出现缝隙。

然而，本发明人具体实施此装置时，发现存在以下缺陷：该方案通过风力传感器进行风力检测，由于晶体振荡器体积较小，且不容易被发现的裂缝更叫细小，从裂缝中喷出的气体的流速同样较小，因此通过风力传感器检测不够准确，且晶体振荡器出现的裂缝不一定贯穿晶体振荡器，因此通过风速检测实用性不强，因此需要一种便于操作、检测准确的晶振检测装置。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种晶振检测装置，在对晶振进行检测时，将晶振卡合到真空筒的内侧，使得晶振的针脚与检测设备处理器的对接端连接，处理器用于检测晶振的频率和阻抗值，检测后通过氦气罐往真空筒内注入高压氦气，随后通过加热板进行加热，使得惰性的高温高压氦气对晶振进行挤压，若晶振上有裂缝存在，高温高压氦气挤入晶振内侧后，晶振的频率与阻抗值会出现较大的变化，通过前后检测值对比从而能够判断晶振是否出现裂缝，操作方便、检测准确。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用了如下的技术方案：

一种晶振检测装置，其应用于晶体振荡器，其包括控制座，所述控制座上固定卡合设有真空筒；所述真空筒的一侧贯通连接设有氦气罐，所述氦气罐的下端活动卡合在控制座上；所述真空筒的内侧设有晶体振荡器，所述晶体振荡器活动卡合在控制座上；所述控制座包括底座，所述底座的内侧固定设有真空设备，所述真空设备的一端贯通连接在真空筒上，所述底座的内侧固定设有检测设备，所述晶体振荡器的下端活动卡合在检测设备的内侧，所述检测设备的上端外侧固定设有加热板。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述底座上固定设有控制面板，所述控制面板的一侧设有控制按钮，所述底座上开设有排气孔，所述排气孔贯通连接真空设备，所述底座的顶面开设有卡槽，所述氦气罐的下端活动卡合在卡槽的内侧，所述底座的顶面开设有安装槽，所述真空筒的下端固定卡合在安装槽的内侧。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述安装槽包括限位槽，所述限位槽的底面开设有螺纹槽，所述限位槽的底面开设有密封槽。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述真空设备包括抽气设备，所述抽气设备贯通连接排气孔，所述抽气设备上贯通连接设有抽气管，所述抽气管的上端贯通连接设有单向气阀，所述单向气阀固定在真空筒上。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述检测设备包括处理器，所述处理器的顶面固定设有连接筒，所述连接筒的内侧固定设有对接端，所述晶体振荡器的下端活动卡合在对接端的内侧，所述连接筒的上端外侧固定设有连接垫，所述晶体振荡器活动卡合在连接垫的内侧。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述真空筒包括筒体，所述单向气阀固定在筒体的顶面，所述筒体的底面固定设有限位垫，所述限位垫卡合在限位槽的内侧，所述限位垫上螺纹连接设有固定螺栓，所述固定螺栓螺纹连接在螺纹槽的内侧，所述限位垫的底面固定设有密封垫，所述密封垫卡合在密封槽的内侧。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述筒体为透明材质。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述氦气罐包括罐体，所述罐体的下端活动卡合在卡槽的内侧，所述罐体上贯通连接设有充气管，所述充气管贯通连接在筒体上。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述晶体振荡器的底面固定设有针脚，所述针脚的下端活动卡合在对接端的内侧。

作为本实用新型提供的晶振检测装置的一种优选实施方式，所述抽气设备电性连接控制面板，所述处理器电性连接控制面板，所述加热板电性连接控制面板。

与现有技术相比，本实用新型有以下有益效果：

本实用新型在使用时通过设置的真空筒、检测设备和氦气罐，通过将晶振卡合到真空筒的内侧，使得晶振的针脚与检测设备处理器的对接端连接，检测晶振的频率和阻抗值，检测后通过氦气罐往真空筒内注入高压氦气，随后通过加热板进行加热，使得惰性的高温高压氦气对晶振进行挤压，若晶振上有裂缝存在，高温高压氦气挤入晶振内侧后，晶振的频率与阻抗值会出现较大的变化，通过前后检测值对比从而能够判断晶振是否出现裂缝，操作方便、检测准确；且本方案通过将检测用多种设备集成在控制座上，减少设备的体积，使得便于携带设备进行移动检测。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型中的方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一个简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的整体结构示意图；

图2为本实用新型的局部剖视图；

图3为本实用新型的图2中A处的放大示意图；

图4为本实用新型的图2中B处的放大示意图。

图中标记说明如下：

1、控制座；11、底座；111、控制面板；112、控制按钮；113、排气孔；114、卡槽；115、安装槽；1151、限位槽；1152、螺纹槽；1153、密封槽；12、真空设备；121、抽气设备；122、抽气管；123、单向气阀；13、检测设备；131、处理器；132、连接筒；133、对接端；134、连接垫；14、加热板；

2、真空筒；21、筒体；22、限位垫；23、固定螺栓；24、密封垫；

3、氦气罐；31、罐体；32、充气管；4、晶体振荡器；41、针脚。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

如背景技术的，在对晶振进行裂缝检测时，常规检测方式不易检测到缝隙和检测设备体积较大，不方便移动检测的情况。

为了解决此技术问题，本实用新型提供了一种晶振检测装置，其应用于晶体振荡器。

具体地，请参考图1-2，一种晶振检测装置，其包括控制座1，控制座1上固定卡合设有真空筒2；真空筒2的一侧贯通连接设有氦气罐3，氦气罐3的下端活动卡合在控制座1上；真空筒2的内侧设有晶体振荡器4，晶体振荡器4活动卡合在控制座1上；控制座1包括底座11，底座11的内侧固定设有真空设备12，通过真空设备12能够对真空筒2抽气，使其呈真空状态，真空设备12的一端贯通连接在真空筒2上，底座11的内侧固定设有检测设备13，晶体振荡器4的下端活动卡合在检测设备13的内侧，通过检测设备13与晶体振荡器4的连接，使得对晶体振荡器4的频率与阻抗值进行检测，便于对比检测结果进行测试，检测设备13的上端外侧固定设有加热板14，通过加热板14加热氦气罐3注入的高压氦气，当晶体振荡器4存在裂缝时，将高温高压氦气挤入晶体振荡器4，从而能够对晶体振荡器4进行检测。

本实用新型提供的晶振检测装置，通过将晶体振荡器4与检测设备13连接，将真空筒2卡合在晶体振荡器4的外侧，随后将高压氦气注入真空筒2的内侧，通过加热板14进行加热，使得高温高压氦气对晶体振荡器4进行挤压，若晶体振荡器4存在裂缝，使得氦气进入后改变晶体振荡器4的频率与阻抗值，从而便于检测晶体振荡器4是否出现裂缝；RR指晶振的动态等效串联电阻。取决于晶体内部摩擦、电极、支架等机械振动时的损失，以及周围环境条件等的影响损失，参数越小越好；晶体本身有温漂特性，即在温度冲击情况下，晶振频率会发生频率漂移现象；因此，当晶体振荡器4有裂缝，高温高压氦气从此裂缝中注入原本理想真空、常温晶振内部，高压空气会加大晶振机械振动时阻尼，即RR增大；高温气体进入会使得内部晶振的温漂特性快速体现出来；从而加大晶振频率偏差。

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征和技术方案可以相互组合。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

实施例1

请参考图1与图2所示，具体的，一种晶振检测装置，其应用于晶体振荡器，其包括控制座1，控制座1上固定卡合设有真空筒2；真空筒2的一侧贯通连接设有氦气罐3，氦气罐3的下端活动卡合在控制座1上；真空筒2的内侧设有晶体振荡器4，晶体振荡器4活动卡合在控制座1上；控制座1包括底座11，底座11的内侧固定设有真空设备12，真空设备12的一端贯通连接在真空筒2上，底座11的内侧固定设有检测设备13，晶体振荡器4的下端活动卡合在检测设备13的内侧，检测设备13的上端外侧固定设有加热板14；底座11上固定设有控制面板111，控制面板111的一侧设有控制按钮112；本方案通过检测设备13对晶体振荡器4的频率与阻抗值进行检测，并通过控制面板111进行显示，使得检测结果更加准确，且便于直观的观察

实施例2

参照图2与图3所示，具体的，底座11上开设有排气孔113，排气孔113贯通连接真空设备12，底座11的顶面开设有卡槽114，氦气罐3的下端活动卡合在卡槽114的内侧，底座11的顶面开设有安装槽115，真空筒2的下端固定卡合在安装槽115的内侧；安装槽115包括限位槽1151，限位槽1151的底面开设有螺纹槽1152，限位槽1151的底面开设有密封槽1153；本方案通过设置卡槽114与安装槽115，使得对真空筒2与氦气罐3方便进行安装，便于将检测用设备集成在控制座1上，操作方便，便于携带检测。

实施例3

参照图2与图4所示，具体的，真空设备12包括抽气设备121，抽气设备121贯通连接排气孔113，抽气设备121上贯通连接设有抽气管122，抽气管122的上端贯通连接设有单向气阀123，单向气阀123固定在真空筒2上；检测设备13包括处理器131，处理器131的顶面固定设有连接筒132，连接筒132的内侧固定设有对接端133，晶体振荡器4的下端活动卡合在对接端133的内侧，连接筒132的上端外侧固定设有连接垫134，晶体振荡器4活动卡合在连接垫134的内侧；真空筒2包括筒体21，单向气阀123固定在筒体21的顶面，筒体21的底面固定设有限位垫22，限位垫22卡合在限位槽1151的内侧，限位垫22上螺纹连接设有固定螺栓23，固定螺栓23螺纹连接在螺纹槽1152的内侧，限位垫22的底面固定设有密封垫24，密封垫24卡合在密封槽1153的内侧；筒体21为透明材质；氦气罐3包括罐体31，罐体31的下端活动卡合在卡槽114的内侧，罐体31上贯通连接设有充气管32，充气管32贯通连接在筒体21上；晶体振荡器4的底面固定设有针脚41，针脚41的下端活动卡合在对接端133的内侧；抽气设备121电性连接控制面板111，处理器131电性连接控制面板111，加热板14电性连接控制面板111；本方案在使用时通过将晶体振荡器4连接到检测设备13上，在外侧卡合真空筒2，使得检测晶体振荡器4的正常频率与阻抗值后，往真空筒2内注入高压氦气，随后进行加热，使得高温高压氦气挤压晶体振荡器4，若晶体振荡器4上无裂缝，则频率与阻抗值无变化，若频率与阻抗值变化差异较大，则说明晶体振荡器4出现裂缝，检测准确，便于观察。

本实用新型提供的晶振检测装置的使用过程如下：在使用时操作人员将晶体振荡器4的针脚41插入检测设备13的对接端133上，随后将贯通连接真空设备12与氦气罐3的真空筒2卡合到晶体振荡器4的外侧，通过拧紧固定螺栓23对真空筒2进行密封固定，随后通过控制面板111启动真空设备12使得真空筒2内处于真空状态，随后通过检测设备13对晶体振荡器4的频率与阻抗值进行检测，记录检测结果后往真空筒2内注入高压氦气，随后通过加热板14加热，使得高温高压的氦气挤压晶体振荡器4，若检测的频率与阻抗值与记录的数值变化差异较大，则说明晶体振荡器4出现裂缝，若数值无变化，则说明晶体振荡器4合格，检测方便，检测结果准确。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

显然，以上所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，附图中给出了本实用新型的较佳实施例，但并不限制本实用新型的专利范围。本实用新型可以以许多不同的形式来实现，相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来而言，其依然可以对前述各具体实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等效替换。凡是利用本实用新型说明书及附图内容所做的等效结构，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理在本实用新型专利保护范围之内。

Claims (10)

1.一种晶振检测装置，其应用于晶体振荡器，其特征在于，其包括控制座(1)，所述控制座(1)上固定卡合设有真空筒(2)；

所述真空筒(2)的一侧贯通连接设有氦气罐(3)，所述氦气罐(3)的下端活动卡合在控制座(1)上；

所述真空筒(2)的内侧设有晶体振荡器(4)，所述晶体振荡器(4)活动卡合在控制座(1)上；

所述控制座(1)包括底座(11)，所述底座(11)的内侧固定设有真空设备(12)，所述真空设备(12)的一端贯通连接在真空筒(2)上，所述底座(11)的内侧固定设有检测设备(13)，所述晶体振荡器(4)的下端活动卡合在检测设备(13)的内侧，所述检测设备(13)的上端外侧固定设有加热板(14)。

2.根据权利要求1所述的晶振检测装置，其特征在于，所述底座(11)上固定设有控制面板(111)，所述控制面板(111)的一侧设有控制按钮(112)，所述底座(11)上开设有排气孔(113)，所述排气孔(113)贯通连接真空设备(12)，所述底座(11)的顶面开设有卡槽(114)，所述氦气罐(3)的下端活动卡合在卡槽(114)的内侧，所述底座(11)的顶面开设有安装槽(115)，所述真空筒(2)的下端固定卡合在安装槽(115)的内侧。

3.根据权利要求2所述的晶振检测装置，其特征在于，所述安装槽(115)包括限位槽(1151)，所述限位槽(1151)的底面开设有螺纹槽(1152)，所述限位槽(1151)的底面开设有密封槽(1153)。

4.根据权利要求3所述的晶振检测装置，其特征在于，所述真空设备(12)包括抽气设备(121)，所述抽气设备(121)贯通连接排气孔(113)，所述抽气设备(121)上贯通连接设有抽气管(122)，所述抽气管(122)的上端贯通连接设有单向气阀(123)，所述单向气阀(123)固定在真空筒(2)上。

5.根据权利要求4所述的晶振检测装置，其特征在于，所述检测设备(13)包括处理器(131)，所述处理器(131)的顶面固定设有连接筒(132)，所述连接筒(132)的内侧固定设有对接端(133)，所述晶体振荡器(4)的下端活动卡合在对接端(133)的内侧，所述连接筒(132)的上端外侧固定设有连接垫(134)，所述晶体振荡器(4)活动卡合在连接垫(134)的内侧。

6.根据权利要求4所述的晶振检测装置，其特征在于，所述真空筒(2)包括筒体(21)，所述单向气阀(123)固定在筒体(21)的顶面，所述筒体(21)的底面固定设有限位垫(22)，所述限位垫(22)卡合在限位槽(1151)的内侧，所述限位垫(22)上螺纹连接设有固定螺栓(23)，所述固定螺栓(23)螺纹连接在螺纹槽(1152)的内侧，所述限位垫(22)的底面固定设有密封垫(24)，所述密封垫(24)卡合在密封槽(1153)的内侧。

7.根据权利要求6所述的晶振检测装置，其特征在于，所述筒体(21)为透明材质。

8.根据权利要求6所述的晶振检测装置，其特征在于，所述氦气罐(3)包括罐体(31)，所述罐体(31)的下端活动卡合在卡槽(114)的内侧，所述罐体(31)上贯通连接设有充气管(32)，所述充气管(32)贯通连接在筒体(21)上。

9.根据权利要求5所述的晶振检测装置，其特征在于，所述晶体振荡器(4)的底面固定设有针脚(41)，所述针脚(41)的下端活动卡合在对接端(133)的内侧。

10.根据权利要求5所述的晶振检测装置，其特征在于，所述抽气设备(121)电性连接控制面板(111)，所述处理器(131)电性连接控制面板(111)，所述加热板(14)电性连接控制面板(111)。