CN219757607U - 测力传感器校准装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测力传感器校准装置，测力传感器校准装置包括工作台、安装在所述工作台上的升降器、安装在所述升降器上的夹持器、挂架、安装在所述挂架上的压头，以及摆架；所述摆架具有转动部、悬挂部、调节部；所述转动部位于所述悬挂部和所述调节部之间，所述转动部与所述工作台转动配合，所述挂架安装在所述悬挂部上，所述调节部处滑设有第一调节砝码，所述夹持器位于所述压头的下方并位于所述压头的移动路径上。本实用新型的测力传感器校准装置可以抵消挂架的重量，实现微型测力传感器的校准。

Description

测力传感器校准装置

技术领域

本实用新型属于校准装置的技术领域，具体涉及测力传感器校准装置。

背景技术

目前，对量程较小的微型测力传感器的校准一般采用挂架压在微型测力传感器的感应头上，通过挂架吊挂砝码的方式作为量值溯源；对量程较大的微型测力传感器采用原理相同的静重式力标准机作为量值溯源。在挂架上吊挂砝码校准方法中，由于挂架的结构原因，挂架的自身重量相对微型测力传感器量程来说较大，无法进行校准。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测力传感器校准装置，本实用新型可以抵消挂架的重量，实现微型测力传感器的校准。

本实用新型提供了一种测力传感器校准装置，包括工作台、安装在所述工作台上的升降器、安装在所述升降器上的夹持器、挂架、安装在所述挂架上的压头，以及摆架；所述摆架具有转动部、悬挂部、调节部；所述转动部位于所述悬挂部和所述调节部之间，所述转动部与所述工作台转动配合，所述挂架安装在所述悬挂部上，所述调节部处滑设有第一调节砝码，所述夹持器位于所述压头的下方并位于所述压头的移动路径上。

在一些实施例中，所述工作台包括底座、安装在所述底座上的支撑座、安装在所述支撑座上的第一承接座；所述第一承接座的上表面开设有第一限位槽，所述第一限位槽呈V形，所述第一限位槽的宽度从上往下逐渐减小，所述摆架上设有第一摆动座，所述第一摆动座的下端抵接在所述第一限位槽的底壁上，所述第一摆动座的截面从上往下逐渐减小。

在一些实施例中，所述支撑座上设有第一刻度板，所述摆架上设有第二刻度板，所述第一刻度板上设有若干第一刻度线，所述第二刻度板上设有若干第二刻度线，若干所述第一刻度线和所述若干第二刻度线均沿着所述摆架的转动轴线的周向间隔布设。

在一些实施例中，所述底座上开设有避让槽，所述避让槽从上往下贯穿底座，所述挂架穿过所述避让槽。

在一些实施例中，所述工作台还包括安装在支撑座上的托板、安装所述托板上的第一托柱、安装所述托板上的第二托柱，所述第一托柱和所述第二托柱间隔分布在所述摆架的下方，所述悬挂部处设有第一抵接柱，所述调节部处设有第二抵接柱，所述第一托柱位于所述第一抵接柱的移动路径上，所述第二托柱位于所述第二抵接柱的移动路径上。

在一些实施例中，所述测力传感器校准装置还包括第二调节砝码；所述摆架上设有第一导杆和第二导杆，所述第一调节砝码水平滑设在所述第一导杆上，所述第二调节砝码竖直滑设在所述第二导杆上。

在一些实施例中，所述挂架包括横梁、安装在所述横梁上的第二摆动座；

所述第二摆动座的下表面上开设有第二限位槽，所述第二限位槽呈倒V形，所述第二限位槽的宽度从上往下逐渐减大，所述摆架上设有第二承接座，所述第二承接座的上端抵接在所述第二限位槽的底壁上，所述第二承接座的截面从上往下逐渐减大。

在一些实施例中，所述升降器包括机座、转动式安装在所述机座上的丝杆、安装在所述机座上并与所述丝杆传动连接的手轮；所述夹持器包括定位环和多个夹爪；所述定位环安装在所述丝杆上，各所述夹爪的一端均铰接在所述定位环上，各所述夹爪的另一端均位于所述定位环内并围合形成夹持空间。

在一些实施例中，所述丝杆上安装有标准测力仪，所述定位环安装在所述标准测力仪上。

在一些实施例中，所述工作台上安装有调节脚座，所述调节脚座有多个，多个所述调节脚座间隔布设在所述工作台的下端面。

本实用新型所提供的技术方案具有以下的优点及效果：

本实用新型的测力传感器校准装置通过第一调节砝码实现摆架的平衡，从而可以抵消安装在摆架上的挂架的重量，可进行更多样化量程的量值溯源，保证量值溯源的准确性，实现微型测力传感器的校准。

附图说明

图1是测力传感器校准装置的结构示意图，图中不包括标准测力仪；

图2是图1的主视图；

图3是图1的爆炸视图；

图4是测力传感器校准装置的结构示意图，图中包括标准测力仪；

图5是图3的主视图；

图6是夹持器的结构示意图。

附图标记说明：

10、工作台；101、底座；102、支撑座；103、第一承接座；104、第一限位槽；105、第一刻度板；106、第二刻度板；107、避让槽；108、托板；109、第一托柱；110、第二托柱；111、第一抵接柱；112、第二抵接柱；

20、升降器；201、机座；202、丝杆；203、手轮；

30、夹持器；301、定位环；302、夹爪；

40、挂架；401、横梁；402、第二摆动座；403、第二限位槽；

50、压头；

60、摆架；601、转动部；602、悬挂部；603、调节部；604、第一摆动座；605、第二承接座；

71、第一调节砝码；72、第二调节砝码；73、第一导杆；74、第二导杆；75、标准测力仪；76、调节脚座；

80、传感器；801、感应头。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“连通”、“抵接”、“夹持”等应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

除非特别说明或另有定义，在实用新型的描述中，需要理解的是，实用新型中采用术语“第一”、“第二”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语，这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离实用新型范围的情况下，“第一”信息也可以被称为“第二”信息，类似的，“第二”信息也可以被称为“第一”信息。

除非特别说明或另有定义，本实用新型所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

为叙述方便，除另有说明外，下文所说的上下方向与图2本身的上下方向一致，下文所说的左右方向与图2本身的左右方向一致，下文所说的前后方向与图2本身的投影方向一致。

如图1至图5所示，一种测力传感器校准装置，主要用于微型测力传感器80的校准。

测力传感器校准装置包括工作台10、安装在所述工作台10上的升降器20、安装在所述升降器20上的夹持器30、挂架40、安装在所述挂架40上的压头50，以及摆架60；升降器20带动夹持器30在竖直方向上下移动，夹持器30用于夹持测力传感器80，测力传感器80的感应头801朝上。所述摆架60相当于杠杆，所述摆架60具有转动部601、悬挂部602、调节部603；所述转动部601位于所述悬挂部602和所述调节部603之间，悬挂部602、调节部603分居悬挂部602的左右两侧。所述转动部601与所述工作台10转动配合，所述转动部601转动式安装在工作台10上，所述工作台10绕着转动部601转动。所述挂架40用于悬挂测试砝码，所述挂架40安装在所述悬挂部602上，所述调节部603处滑设有第一调节砝码71，第一调节砝码71沿着靠近或背离转动部601的左右方向移动，所述夹持器30位于所述压头50的下方并位于所述压头50的移动路径上。测力传感器80校准时，先将测力传感器80通过夹持器30夹紧，然后滑动第一调节砝码71，使得所述摆架60处于平衡状态，悬挂部602、调节部603处于同一水平面上，从而实现挂架40自身重量的抵消，可进行更多样化量程的量值溯源。然后驱动升降器20，使得测力传感器80向上移动，感应头801刚好接触到压头50时停止，紧接着将测力传感器80的示值清零，逐级挂载测试砝码进行量值溯源，保证量值溯源的准确性，提高校准的准确性。

在一个实施例中，所述工作台10包括底座101、安装在所述底座101上的支撑座102、可拆式安装在所述支撑座102上的第一承接座103。所述第一承接座103的上表面开设有第一限位槽104，所述第一限位槽104呈V形，所述第一限位槽104的宽度从上往下逐渐减小。所述摆架60设有安装槽，安装槽的内壁设有第一卡槽，所述摆架60上设有第一摆动座604。第一摆动座604的上端卡设在第一卡槽内，第一承接座103和第一摆动座604均位于安装槽内，防止摆架60在竖直方向上的移动。在重力的作用下，所述第一摆动座604的下端抵接在所述第一限位槽104的底壁上，所述第一摆动座604的截面从上往下逐渐减小。所述第一摆动座604的截面与所述第一限位槽104的截面相匹配，所述第一摆动座604与第一限位槽104的内壁的接触面积较小，相比轴承的安装方式，减小了摩擦，相比采用气浮轴承机构，成本更低。摆架60通过第一摆动座604绕着第一承接座103转动实现摆动，方便利用第一砝码调节摆架60的平衡。

在一个实施例中，所述支撑座102上设有第一刻度板105，第一刻度板105通过螺栓安装在支撑座102的下方。所述摆架60上设有第二刻度板106，第二刻度板106通过螺栓安装在摆架60上。第一刻度板105位于第二刻度板106的正下方。所述第一刻度板105上设有若干第一刻度线，所述第二刻度板106上设有若干第二刻度线，若干所述第一刻度线和所述若干第二刻度线均沿着所述摆架60的转动轴线的周向间隔布设，通过第一刻度线和第二刻度线的对准比对，从而可以更直观地确认所述摆架60的悬挂部602和调节部603是否保持平衡。另外，也可以在所述摆架60上安装水平仪来确认所述摆架60的悬挂部602和调节部603是否保持平衡。

在一个实施例中，第一刻度板105和第二刻度板106均设有指针，方便第一刻度板105和第二刻度板106的对准校准。

在一个实施例中，所述底座101上开设有避让槽107，所述避让槽107从上往下贯穿底座101，所述挂架40穿过所述避让槽107。避让槽107方便挂架40的滑杆穿过，避免挂架40与底座101产生干涉。

在一个实施例中，所述工作台10还包括安装在支撑座102上的托板108、安装所述托板108上的第一托柱109、安装所述托板108上的第二托柱110，所述第一托柱109和所述第二托柱110间隔分布在所述摆架60的下方，所述悬挂部602处设有第一抵接柱111，所述调节部603处设有第二抵接柱112，第一抵接柱111和第二抵接柱112分别插设在摆架60的柱孔内。所述第一托柱109位于所述第一抵接柱111的移动路径上，所述第二托柱110位于所述第二抵接柱112的移动路径上。第一托柱109和第二托柱110分别有两个，两个第一托柱109前后间隔布设，两个第二托柱110前后间隔布设。当所述悬挂部602向下移动一定距离的时候，第一抵接柱111的两端分别抵接在两个第一托柱109上；当所述调节部603向下移动一定距离的时候，第二抵接柱112的两端分别抵接在两个第二托柱110上。当摆架60失衡严重的时候，通过第一托柱109和第二托柱110限位，防止对摆架60和测力传感器80造成损坏。

在一个实施例中，所述测力传感器校准装置还包括第二调节砝码72；所述摆架60上设有第一导杆73和第二导杆74，第一导杆73、第二导杆74均插设在摆架60的杆孔上。所述第一调节砝码71水平滑设在所述第一导杆73上，所述第二调节砝码72竖直滑设在所述第二导杆74上，第二调节砝码72可以重心和平衡，通过第一调节砝码71和第二调节砝码72的共同调节，使得摆架60保持平衡，同时使得整体机构的重心位于第一承接座103和第一摆动座604的垂直中心线上且略低于第一承接座103和第一摆动座604的抵接处，提高校准的准确性。

在一个实施例中，所述挂架40包括横梁401、安装在所述横梁401上的第二摆动座402；第二摆动座402安装在横梁401的下端面。所述第二摆动座402的下表面上开设有第二限位槽403，所述第二限位槽403呈倒V形，所述第二限位槽403的宽度从上往下逐渐减大，所述摆架60上设有第二承接座605，第二承接座605的下端卡设在摆架60的第二卡槽内，第二摆动座402位于第二承接座605的正上方，所述第二承接座605的上端抵接在所述第二限位槽403的底壁上，所述第二承接座605的上端的截面从上往下逐渐减大，第二承接座605和第二摆动座402的配合与第一承接座103和第一摆动座604的配合相似，可以减小摩擦。由于微型测力传感器80自身感应头801的直径和高度较小，且感应头801受力点多为非平面结构，在挂架40和压头50压在感应头801的时候，无法保证挂架40和压头50的中心在感应头801的受力轴线上，容易造成挂架40倾斜失衡，在加载测试砝码过程中损坏测力传感器80，因此，通过第二承接座605和第二摆动座402的配合，保证挂架40和压头50受力点轴线与加载受力轴线重合，即保证挂架40和压头50竖直向下向感应头801加载压力，保证量值溯源的准确性。

所述挂架40还包括滑杆和限位梁，滑杆穿过避让槽107，限位梁位于底座101的下方，防止挂架40脱离，滑杆有两个并间隔布设，两个滑杆的上端均与横梁401连接，两个滑杆的下端均与限位梁连接。

压头50具有卡柱，挂架40上设有第三卡槽，压头50通过卡柱与第三卡槽的配合可拆卸式安装在挂架40上，可通过更换不同规格的压头50，从而适应不同规格尺寸的测力传感器80的感应头801规格，同时避免了挂架40直接套压在测力传感器80的感应头801时的倾斜失衡。

如图4至图6所示，在一个实施例中，所述升降器20包括机座201、转动式安装在所述机座201上的丝杆202、安装在所述机座201上并与所述丝杆202传动连接的手轮203；机座201设于工作台10的底座101上，通过转动手轮203，使得丝杆202转动并上下移动，从而带动测力传感器80上下移动。所述夹持器30包括定位环301和多个夹爪302；所述定位环301安装在所述丝杆202的上端，各所述夹爪302的一端均铰接在所述定位环301上，各所述夹爪302的另一端均位于所述定位环301内并围合形成夹持空间。通过转动夹爪302实现对测力传感器80的夹持，多个夹爪302实现夹持器30的自定心功能，多个夹爪302分别转动不同角度的时候，测力传感器80夹持的位置不相同，方便进行测力传感器80位置的调节，使得感应头801的受力点的轴线与压头50和挂架40的受力轴线重合，保证量值溯源的准确性，提高测力传感器80校准的准确性。

在一个实施例中，所述丝杆202上安装有标准测力仪75，所述定位环301安装在所述标准测力仪75上。标准测力仪75为现有的仪器，通过在测力传感器80和升降器20间设置标准测力仪75，提高本装置的校准准确度。

在一个实施例中，所述工作台10上安装有调节脚座76，所述调节脚座76有多个，多个所述调节脚座76间隔布设在所述工作台10的下端面。通过多个调节脚座76，可以调节工作台10的高度，方便测试人员进行校准工作。

以上实施例也并非是基于本实用新型的穷尽性列举，在此之外，还可以存在多个未列出的其他实施方式。在不违反本实用新型构思的基础上所作的任何替换与改进，均属本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.测力传感器校准装置，其特征在于，包括工作台、安装在所述工作台上的升降器、安装在所述升降器上的夹持器、挂架、安装在所述挂架上的压头，以及摆架；所述摆架具有转动部、悬挂部、调节部；所述转动部位于所述悬挂部和所述调节部之间，所述转动部与所述工作台转动配合，所述挂架安装在所述悬挂部上，所述调节部处滑设有第一调节砝码，所述夹持器位于所述压头的下方并位于所述压头的移动路径上。

2.根据权利要求1所述的测力传感器校准装置，其特征在于，所述工作台包括底座、安装在所述底座上的支撑座、安装在所述支撑座上的第一承接座；所述第一承接座的上表面开设有第一限位槽，所述第一限位槽呈V形，所述第一限位槽的宽度从上往下逐渐减小，所述摆架上设有第一摆动座，所述第一摆动座的下端抵接在所述第一限位槽的底壁上，所述第一摆动座的截面从上往下逐渐减小。

3.根据权利要求2所述的测力传感器校准装置，其特征在于，所述支撑座上设有第一刻度板，所述摆架上设有第二刻度板，所述第一刻度板上设有若干第一刻度线，所述第二刻度板上设有若干第二刻度线，若干所述第一刻度线和所述若干第二刻度线均沿着所述摆架的转动轴线的周向间隔布设。

4.根据权利要求2所述的测力传感器校准装置，其特征在于，所述底座上开设有避让槽，所述避让槽从上往下贯穿底座，所述挂架穿过所述避让槽。

5.根据权利要求2所述的测力传感器校准装置，其特征在于，所述工作台还包括安装在支撑座上的托板、安装所述托板上的第一托柱、安装所述托板上的第二托柱，所述第一托柱和所述第二托柱间隔分布在所述摆架的下方，所述悬挂部处设有第一抵接柱，所述调节部处设有第二抵接柱，所述第一托柱位于所述第一抵接柱的移动路径上，所述第二托柱位于所述第二抵接柱的移动路径上。

6.根据权利要求1至4任一项所述的测力传感器校准装置，其特征在于，还包括第二调节砝码；所述摆架上设有第一导杆和第二导杆，所述第一调节砝码水平滑设在所述第一导杆上，所述第二调节砝码竖直滑设在所述第二导杆上。

7.根据权利要求1至4任一项所述的测力传感器校准装置，其特征在于，所述挂架包括横梁、安装在所述横梁上的第二摆动座；

所述第二摆动座的下表面上开设有第二限位槽，所述第二限位槽呈倒V形，所述第二限位槽的宽度从上往下逐渐减大，所述摆架上设有第二承接座，所述第二承接座的上端抵接在所述第二限位槽的底壁上，所述第二承接座的截面从上往下逐渐减大。

8.根据权利要求1至4任一项所述的测力传感器校准装置，其特征在于，所述升降器包括机座、转动式安装在所述机座上的丝杆、安装在所述机座上并与所述丝杆传动连接的手轮；所述夹持器包括定位环和多个夹爪；所述定位环安装在所述丝杆上，各所述夹爪的一端均铰接在所述定位环上，各所述夹爪的另一端均位于所述定位环内并围合形成夹持空间。

9.根据权利要求8所述的测力传感器校准装置，其特征在于，所述丝杆上安装有标准测力仪，所述定位环安装在所述标准测力仪上。

10.根据权利要求1至4任一项所述的测力传感器校准装置，其特征在于，所述工作台上安装有调节脚座，所述调节脚座有多个，多个所述调节脚座间隔布设在所述工作台的下端面。