CN219675496U - 一种多晶硅杂质检测用取样设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种多晶硅杂质检测用取样设备，包括支撑杆，所述支撑杆的一端固定连接有两组固定块，一组所述固定块的顶端固定连接有第一电机，所述第一电机的输出端固定连接有转动杆，所述转动杆的外侧环绕连接有安装座，所述安装座的一端固定连接有顶板，所述顶板的底端设置有固定板，所述固定板的底端固定连接有安装块，所述安装块的内部开设有凹槽，所述凹槽内设置有伸缩杆。本实用新型通过设置有安装块、转轴、取样杆和取样杆，通过移动块控制取样杆进行夹紧和放松，对不规则形状的多晶硅进行夹持，减少取样设备在面对不同大小的多晶硅时取样的难度，使后续多晶硅的检测更加便捷，提高了取样设备的取样效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及多晶硅设备技术领域，具体为一种多晶硅杂质检测用取样设备。
背景技术
多晶硅，是单质硅的一种形态。熔融的单质硅在过冷条件下凝固时，硅原子以金刚石晶格形态排列成许多晶核，如这些晶核长成晶面取向不同的晶粒，则这些晶粒结合起来，就结晶成多晶硅。
硅作为太阳能电池的最理想原料，其中的杂质主要有铁、铝、钙等金属杂质和硼、磷等非金属杂质，而这些杂质元素会降低硅晶粒界面处光生载流子的复合程度，而光生载流子的复合程度又决定了太阳能电池的光电转换效率，所以有效的去除这些杂质在太阳能电池的应用方面有着至关重要的作用。
现有的一种多晶硅杂质检测用取样设备，在对其进行检测时，多晶硅形状多为不规则形状，使夹持的难度增加，不利于多晶硅杂质的检测。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种多晶硅杂质检测用取样设备，以解决上述背景技术中现有的一种多晶硅杂质检测用取样设备，在对其进行检测时，多晶硅形状多为不规则形状，使夹持的难度增加，不利于多晶硅杂质的检测。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种多晶硅杂质检测用取样设备，包括支撑杆，所述支撑杆的一端固定连接有两组固定块，一组所述固定块的顶端固定连接有第一电机，所述第一电机的输出端固定连接有转动杆，所述转动杆的外侧环绕连接有安装座，所述安装座的一端固定连接有顶板，所述顶板的底端设置有固定板，所述固定板的底端固定连接有安装块，所述安装块的内部开设有凹槽，所述凹槽内设置有伸缩杆，所述伸缩杆的一端穿插进取样杆内开设的槽口；
所述支撑杆的一端固定连接有支撑座，所述支撑座的一端固定连接有第一夹持块，所述第一夹持块的一端设置有第二夹持块，所述第二夹持块的一端固定连接有背板，所述背板的一端固定连接有滑杆，所述滑杆的外侧固定连接有限位块。
优选的，所述支撑杆的一端固定连接有底板，所述底板顶端固定连接有支撑座，对多晶硅进行放置。
优选的，所述安装块的内部设置有两组取样杆，两组所述取样杆之间设置有转轴，防止取样杆脱落，控制取样杆的张合。
优选的，所述支撑座的内部滑动连接有滑杆，带动背板进行移动，对多晶硅进行夹持。
优选的，所述第一夹持块和第二夹持块的位置相反，所述第一夹持块和第二夹持块的材质为胶质，减少多晶硅在夹持时受到的伤害。
优选的，所述顶板的底端开设有安装槽，所述安装槽内设置有丝杆，便于丝杆进行安装。
优选的，所述顶板的一端固定连接有第二电机，所述第二电机的输出端固定连接有丝杆，所述丝杆的外侧环绕连接有移动块，所述移动块的底端固定连接有固定板，方便固定板位置的调整，使取样的难度减少。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1.该种多晶硅杂质检测用取样设备，通过设置有安装块、转轴、取样杆和取样杆，通过移动块控制取样杆进行夹紧和放松，对不规则形状的多晶硅进行夹持，减少取样设备在面对不同大小的多晶硅时取样的难度，使后续多晶硅的检测更加便捷，提高了取样设备的取样效率；
2.该种多晶硅杂质检测用取样设备，通过设置有安装座、转动杆、丝杆和顶板，带动取样设备能够进行位置的调整，减少取样装置在取样时位置调整的难度，提高了取样装置的取样效率；
3.该种多晶硅杂质检测用取样设备，通过设置有支撑座、第一夹持块、第二夹持块、背板和滑杆，对多晶硅进行夹持，使多晶硅的位置固定，防止多晶硅在取样的过程中滑脱，使取样效率下降，增加了取样设备的功能性。
附图说明
图1为本实用新型的正视结构示意图；
图2为本实用新型的转动杆放大结构示意图；
图3为本实用新型的支撑座放大结构示意图；
图4为本实用新型的安装块放大结构示意图；
图5为本实用新型的图4中A处放大结构示意图。
图中：1、支撑杆；2、第一电机；3、固定块；4、安装座；5、安装块；6、转动杆；7、支撑座；8、第一夹持块；9、底板；10、第二夹持块；11、背板；12、丝杆；13、滑杆；14、限位块；15、第二电机；16、顶板；17、固定板；18、移动块；19、转轴；20、取样杆；21、凹槽；22、伸缩杆；23、槽口。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5，本实用新型提供的一种实施例：请参考图1和图2，一种多晶硅杂质检测用取样设备，包括支撑杆1，支撑杆1的一端固定连接有两组固定块3，一组固定块3的顶端固定连接有第一电机2，提供动力，第一电机2的输出端固定连接有转动杆6，转动杆6的外侧环绕连接有安装座4，安装座4的一端固定连接有顶板16，顶板16的底端开设有安装槽，安装槽内设置有丝杆12，便于丝杆12进行安装，顶板16的底端设置有固定板17，固定板17的底端固定连接有安装块5，顶板16的一端固定连接有第二电机15，第二电机15的输出端固定连接有丝杆12，丝杆12的外侧环绕连接有移动块18，移动块18的底端固定连接有固定板17，方便固定板17位置的调整，使取样的难度减少。
请参考图4和图5，安装块5的内部设置有两组取样杆20，两组取样杆20之间设置有转轴19，防止取样杆20脱落，控制取样杆20的张合，安装块5的内部开设有凹槽21，凹槽21内设置有伸缩杆22，带动取样杆20进行开合，对多晶硅进行取样，伸缩杆22的一端穿插进取样杆20内开设的槽口23；
请参考图3，支撑杆1的一端固定连接有底板9，底板9顶端固定连接有支撑座7，对多晶硅进行放置，支撑杆1的一端固定连接有支撑座7，支撑座7的一端固定连接有第一夹持块8，第一夹持块8的一端设置有第二夹持块10，第一夹持块8和第二夹持块10的位置相反，第一夹持块8和第二夹持块10的材质为胶质，减少多晶硅在夹持时受到的伤害，第二夹持块10的一端固定连接有背板11，背板11的一端固定连接有滑杆13，对背板11的位置进行调整，滑杆13的外侧固定连接有限位块14，对滑杆13的位置进行限位，支撑座7的内部滑动连接有滑杆13，带动背板11进行移动，对多晶硅进行夹持。
工作原理：首先，在使用一种多晶硅杂质检测用取样设备时，推动滑杆13带动背板11向一侧运动，使第一夹持块8和第二夹持块10靠近，对多晶硅进行夹持，设置有第一夹持块8和第二夹持块10减少夹持时多晶硅受到的伤害，然后通过启动第一电机2带动转动杆6进行转动，转动杆6带动外侧环绕连接的安装座4进行移动，安装座4带动顶板16进行移动调整安装块5的上下位置，然后启动第二电机15带动固定板17进行移动，带动第一夹持块8左右移动，方便对取样设备的位置进行调整，便于取样的进行；
之后，通过启动安装块5内设置的伸缩杆22进行张开，对不同大小的多晶硅进行夹住，然后启动伸缩杆22进行伸缩带动取样杆20进行夹紧，对多晶硅的位置进行固定，防止在检测的过程中脱落。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (7)
1.一种多晶硅杂质检测用取样设备，包括支撑杆(1)，其特征在于：所述支撑杆(1)的一端固定连接有两组固定块(3)，一组所述固定块(3)的顶端固定连接有第一电机(2)，所述第一电机(2)的输出端固定连接有转动杆(6)，所述转动杆(6)的外侧环绕连接有安装座(4)，所述安装座(4)的一端固定连接有顶板(16)，所述顶板(16)的底端设置有固定板(17)，所述固定板(17)的底端固定连接有安装块(5)，所述安装块(5)的内部开设有凹槽(21)，所述凹槽(21)内设置有伸缩杆(22)，所述伸缩杆(22)的一端穿插进取样杆(20)内开设的槽口(23)；
所述支撑杆(1)的一端固定连接有支撑座(7)，所述支撑座(7)的一端固定连接有第一夹持块(8)，所述第一夹持块(8)的一端设置有第二夹持块(10)，所述第二夹持块(10)的一端固定连接有背板(11)，所述背板(11)的一端固定连接有滑杆(13)，所述滑杆(13)的外侧固定连接有限位块(14)。
2.根据权利要求1所述的一种多晶硅杂质检测用取样设备，其特征在于：所述支撑杆(1)的一端固定连接有底板(9)，所述底板(9)顶端固定连接有支撑座(7)。
3.根据权利要求1所述的一种多晶硅杂质检测用取样设备，其特征在于：所述安装块(5)的内部设置有两组取样杆(20)，两组所述取样杆(20)之间设置有转轴(19)。
4.根据权利要求2所述的一种多晶硅杂质检测用取样设备，其特征在于：所述支撑座(7)的内部滑动连接有滑杆(13)。
5.根据权利要求1所述的一种多晶硅杂质检测用取样设备，其特征在于：所述第一夹持块(8)和第二夹持块(10)的位置相反，所述第一夹持块(8)和第二夹持块(10)的材质为胶质。
6.根据权利要求1所述的一种多晶硅杂质检测用取样设备，其特征在于：所述顶板(16)的底端开设有安装槽，所述安装槽内设置有丝杆(12)。
7.根据权利要求1所述的一种多晶硅杂质检测用取样设备，其特征在于：所述顶板(16)的一端固定连接有第二电机(15)，所述第二电机(15)的输出端固定连接有丝杆(12)，所述丝杆(12)的外侧环绕连接有移动块(18)，所述移动块(18)的底端固定连接有固定板(17)。
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