CN219533316U - 一种半导体测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及半导体技术领域，且公开了一种半导体测试设备，包括测试仪本体和底板，测试仪本体与底板连接，底板外侧设置有传动辊和电机，电机输出轴与传动辊连接，传动辊外侧套设有传送带，底板外侧设置有伸缩件，伸缩件的伸缩端安装有连接组件，连接组件侧部连接有第一导线和第二导线，第一导线与第二导线端部与测试仪本体连接，传送带外侧设置有二极管本体，二极管本体与连接组件接触；电机带动传动辊旋转，使得传送带带动二极管本体移动至连接组件下方，伸缩件带动连接组件下压在二极管本体的两极上，通过第一导线和第二导线的设置，从而便于将二极管本体与测试仪本体连接，尽可能解决现有的测试仪不便于将二极管与测试仪连接的问题。

Description

一种半导体测试设备

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域，具体为一种半导体测试设备。

背景技术

半导体材料是一类导电能力介于导体与绝缘体之间的材料，可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料，其中二极管是最早诞生的半导体器件之一，其应用非常广泛，特别是在各种电子电路中，利用二极管和电阻、电容、电感等元器件进行合理的连接，构成不同功能的电路，可以实现对交流电整流、对调制信号检波、限幅和钳位以及对电源电压的稳压等多种功能。

二极管是用半导体材料制成的一种电子器件，它有正负两个电极，给二极管两极间加上正向电压时，二极管导通，加上反向电压时，二极管截止，二极管的导通和截止，则相当于开关的接通与断开，所以经常需要对二极管的性能进行测试，通常会使用线束测试仪来测试二极管的通断、瞬断和电阻。

目前，现有的测试仪，通常连接有两根端部均设置有导电夹的导线，将两个导电夹分别夹在二极管的两极上，使得二极管与测试仪连接，但是，需要人手持二极管，再手动将导电夹分别夹在二极管的两极，不便于将二极管与测试仪连接；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种半导体测试设备。

实用新型内容

本实用新型提供了一种半导体测试设备，具备的有益效果，解决了上述背景技术中所提到现有的测试仪，通常连接有两根端部均设置有导电夹的导线，将两个导电夹分别夹在二极管的两极上，使得二极管与测试仪连接，但是，需要人手持二极管，再手动将导电夹分别夹在二极管的两极，不便于将二极管与测试仪连接的问题。

本实用新型提供如下技术方案：一种半导体测试设备，包括测试仪本体和底板，所述测试仪本体与所述底板外侧连接，所述底板外侧转动设置有传动辊，所述传动辊的数量设置为若干个，所述底板外侧设置有电机，所述电机的输出轴与其中一个所述传动辊连接，所述传动辊外侧共同套设有传送带，所述底板外侧设置有支撑架，所述支撑架侧部安装有伸缩件，所述伸缩件的伸缩端安装有连接组件，所述连接组件侧部连接有第一导线和第二导线，所述第一导线与所述第二导线端部均与所述测试仪本体连接，所述传送带外侧设置有二极管本体，所述二极管本体与所述连接组件接触。

作为本实用新型所述的一种半导体测试设备可选方案，其中：所述底板外侧连接有安装框，所述传动辊设置在所述安装框侧部。

作为本实用新型所述的一种半导体测试设备可选方案，其中：所述安装框内侧安装有轴承，所述轴承的数量设置为若干个，所述传动辊端部插设在所述轴承内。

作为本实用新型所述的一种半导体测试设备可选方案，其中：所述传动辊与所述轴承的内环贴合，所述安装框与所述轴承的外环贴合。

作为本实用新型所述的一种半导体测试设备可选方案，其中：所述电机与所述安装框连接，所述电机的输出轴穿过所述安装框，所述电机的输出轴插入其中一个所述传动辊。

作为本实用新型所述的一种半导体测试设备可选方案，其中：所述支撑架与所述安装框连接。

作为本实用新型所述的一种半导体测试设备可选方案，其中：所述连接组件包括连接板和接触块，所述接触块的数量设置为若干个，所述接触块均与所述连接板连接，所述连接板设置为绝缘板，所述接触块设置为导电块。

作为本实用新型所述的一种半导体测试设备可选方案，其中：所述第一导线与所述第二导线分别与所述接触块连接，所述二极管本体的两极分别与所述接触块相互接触，所述底板外侧设置有收纳筐。

本实用新型具备以下有益效果：

1、该半导体测试设备，通过电机的设置，使得电机带动传动辊旋转，从而使得传送带带动二极管本体移动至连接组件下方，通过伸缩件的设置，使得伸缩件带动连接组件下压在二极管本体的两极上，再通过第一导线和第二导线的设置，从而便于将二极管本体与测试仪本体连接，尽可能解决现有的测试仪，通常连接有两根端部均设置有导电夹的导线，将两个导电夹分别夹在二极管的两极上，使得二极管与测试仪连接，但是，需要人手持二极管，再手动将导电夹分别夹在二极管的两极，不便于将二极管与测试仪连接的问题。

2、该半导体测试设备，通过安装框的设置，使得传动辊设置在底板的上侧，通过轴承对传动辊进行转动承接，使得传动辊转动的更加平稳，从而便于将传动辊转动设置在底板的外侧。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图。

图2为本实用新型的剖切结构示意图。

图3为本实用新型的传动辊结构示意图。

图4为本实用新型的局部立体结构示意图。

图中：110、测试仪本体；120、底板；130、传动辊；131、安装框；132、轴承；140、电机；150、传送带；160、支撑架；170、伸缩件；180、连接组件；181、连接板；182、接触块；190、第一导线；210、第二导线；220、二极管本体；221、收纳筐。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

本实施例意在促进解决现有的测试仪，通常连接有两根端部均设置有导电夹的导线，将两个导电夹分别夹在二极管的两极上，使得二极管与测试仪连接，但是，需要人手持二极管，再手动将导电夹分别夹在二极管的两极，不便于将二极管与测试仪连接的问题，请参阅图1、图2、图3和图4，一种半导体测试设备，包括测试仪本体110和底板120，测试仪本体110与底板120上侧连接，底板120外侧转动设置有传动辊130，传动辊130的数量设置为两个。

底板120外侧设置有电机140，电机140的输出轴与其中一个传动辊130传动连接，两个传动辊130外侧共同套设有传送带150，底板120外侧设置有支撑架160，底板120上侧安装有安装框131，支撑架160与安装框131连接，支撑架160侧部安装有伸缩件170，伸缩件170设置为电动升降杆或者伸缩气缸。

伸缩件170的伸缩端安装有连接组件180，连接组件180包括连接板181和接触块182，接触块182的数量设置为两个，接触块182均与连接板181连接，连接板181设置为绝缘板，接触块182设置为导电块，连接组件180侧部连接有第一导线190和第二导线210。

第一导线190与第二导线210分别与接触块182连接，第一导线190与第二导线210端部均与测试仪本体110连接，传送带150外侧设置有二极管本体220，二极管本体220与连接组件180接触，二极管本体220的两极分别与接触块182相互接触，底板120上侧放置有收纳筐221，收纳筐221位于传送带150的输出端，便于收集测试后的二极管本体220。

本实施例中：通过电机140的设置，使得电机140带动传动辊130旋转，从而使得传送带150带动二极管本体220移动至连接组件180下方，通过伸缩件170的设置，使得伸缩件170带动连接组件180下压在二极管本体220的两极上，再通过第一导线190和第二导线210的设置，从而便于将二极管本体220与测试仪本体110连接，尽可能解决现有的测试仪，通常连接有两根端部均设置有导电夹的导线，将两个导电夹分别夹在二极管的两极上，使得二极管与测试仪连接，但是，需要人手持二极管，再手动将导电夹分别夹在二极管的两极，不便于将二极管与测试仪连接的问题。

实施例2

本实施例意在促进解决不便于将传动辊130转动设置在底板110外侧的问题，本实施例是在实施例1的基础上做出的改进，具体的，请参阅图1、图2和图3，底板120上侧连接有安装框131，传动辊130设置在安装框131侧部，安装框131内侧安装有轴承132，轴承132的数量设置为若干个，传动辊130两端分别插设在轴承132内，传动辊130与轴承132的内环贴合，安装框131与轴承132的外环贴合，电机140与安装框131连接，电机140的输出轴穿过安装框131，电机140的输出轴插入其中一个传动辊130的端部。

本实施例中：通过安装框131的设置，使得传动辊130设置在底板120的上侧，通过轴承132对传动辊130进行转动承接，使得传动辊130转动的更加平稳，从而便于将传动辊130转动设置在底板110的外侧。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种半导体测试设备，包括测试仪本体(110)和底板(120)，其特征在于：所述测试仪本体(110)与所述底板(120)外侧连接，所述底板(120)外侧转动设置有传动辊(130)，所述传动辊(130)的数量设置为若干个，所述底板(120)外侧设置有电机(140)，所述电机(140)的输出轴与其中一个所述传动辊(130)连接，所述传动辊(130)外侧共同套设有传送带(150)，所述底板(120)外侧设置有支撑架(160)，所述支撑架(160)侧部安装有伸缩件(170)，所述伸缩件(170)的伸缩端安装有连接组件(180)，所述连接组件(180)侧部连接有第一导线(190)和第二导线(210)，所述第一导线(190)与所述第二导线(210)端部均与所述测试仪本体(110)连接，所述传送带(150)外侧设置有二极管本体(220)，所述二极管本体(220)与所述连接组件(180)接触。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试设备，其特征在于：所述底板(120)外侧连接有安装框(131)，所述传动辊(130)设置在所述安装框(131)侧部。

3.根据权利要求2所述的一种半导体测试设备，其特征在于：所述安装框(131)内侧安装有轴承(132)，所述轴承(132)的数量设置为若干个，所述传动辊(130)端部插设在所述轴承(132)内。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试设备，其特征在于：所述传动辊(130)与所述轴承(132)的内环贴合，所述安装框(131)与所述轴承(132)的外环贴合。

5.根据权利要求3所述的一种半导体测试设备，其特征在于：所述电机(140)与所述安装框(131)连接，所述电机(140)的输出轴穿过所述安装框(131)，所述电机(140)的输出轴插入其中一个所述传动辊(130)。

6.根据权利要求2所述的一种半导体测试设备，其特征在于：所述支撑架(160)与所述安装框(131)连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体测试设备，其特征在于：所述连接组件(180)包括连接板(181)和接触块(182)，所述接触块(182)的数量设置为若干个，所述接触块(182)均与所述连接板(181)连接，所述连接板(181)设置为绝缘板，所述接触块(182)设置为导电块。

8.根据权利要求7所述的一种半导体测试设备，其特征在于：所述第一导线(190)与所述第二导线(210)分别与所述接触块(182)连接，所述二极管本体(220)的两极分别与所述接触块(182)相互接触，所述底板(120)外侧设置有收纳筐(221)。