CN219532009U - 一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置。包括底测量部、顶测量部和主控制部。底测量部包括多个在第一水平面上呈矩阵排布的底测量头，每个底测量头可上下移动地设置，以与底测量部上侧的待测物接触。顶测量部包括在第二水平面上可移动设置的顶测量头，顶测量头设置在底测量部的上方。主控制部根据底测量头和顶测量头至少获取待测物的下表面的平面度和待测物的至少一个位置处的厚度。本测量装置的测量过程较为快捷，测量结果较为准确，达到准确、及时地检测出有“门不平”、门体过厚、门体过薄等缺陷的冰箱门体，避免其进入后续工序的效果。

Description

一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置

技术领域

本实用新型涉及冰箱门体技术领域，特别是涉及一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置。

背景技术

冰箱门体内通常设置有发泡料用以增强冰箱门体的隔热性能。冰箱门体生产时，先将发泡料放入冰箱门体内，再进行发泡。发泡后，受应力影响，有些冰箱门体门面会产生变形，造成“门不平”、门体过厚、门体过薄等缺陷。如果不能准确、及时检测出这些缺陷，任由有缺陷的冰箱门体进入后续工序，冰箱装配完成后，有缺陷的冰箱门体一方面会影响冰箱的密封性，造成冰箱间室难以维持低温或冰箱能耗较高，另一方面外观不美观，用户体验不佳，给生产和售后带来诸多问题。现有技术并没能够准确、快速地测量冰箱门体厚度和平面度的测量工具。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型提出了至少部分解决上述问题的一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置，用于准确、迅速地测量冰箱门面平面度和厚度，达到准确、及时地检测出有“门不平”、门体过厚、门体过薄等缺陷的冰箱门体，避免其进入后续工序的效果。

具体地，本实用新型提供了如下技术方案：

一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置，包括底测量部、顶测量部和主控制部。所述底测量部包括多个在第一水平面上呈矩阵排布的底测量头，每个所述底测量头可上下移动地设置，以与所述底测量部上侧的待测物接触，进而测量待测物的下表面与待测物下侧的预设参考基准之间的间距。

所述顶测量部包括在第二水平面上可移动设置的顶测量头，所述顶测量头设置在所述底测量部的上方，以利用所述顶测量头测量待测物的上表面与待测物上侧的预设参考基准之间的间距。

所述主控制部根据所述底测量头和所述顶测量头至少获取待测物的下表面的平面度和所述待测物的至少一个位置处的厚度。

可选地，所述底测量部还包括测量台面，所述测量台面水平设置。所述测量台面在每个所述底测量头处开孔，以使所述底测量头穿过所述测量台面。

可选地，所述底测量部包括多个驱动装置，每个所述驱动装置配置成驱动一个所述底测量头上下移动。

可选地，所述底测量部包括多个弹性复位件，每个所述弹性复位件配置成促使一个所述底测量头向上伸出。

可选地，所述顶测量部包括竖直设置的移动柱和横臂；所述顶测量头可滑动安装在所述横臂上；所述移动柱的下端沿垂直于横臂的水平方向可移动地连接于所述底测量部。所述测量装置还包括：

第一位移传感器，所述第一位移传感器设置在所述底测量部上，以测量所述移动柱的移动量；

第二位移传感器，所述第二位移传感器设置在所述底测量部上，以测量所述顶测量头沿所述横臂的移动量。

可选地，所述顶测量部包括竖直设置的支柱和绕竖直轴可转动地连接在所述支柱上的转臂；所述支柱连接于所述底测量部；所述顶测量头可滑动安装在所述转臂上。所述测量装置还包括：

角度传感器，所述角度传感器设置在所述顶测量部上，以测量所述转臂相对所述支柱转动的角度；

第三位移传感器，所述第三位移传感器设置在所述顶测量部上，以测量所述顶测量头沿所述转臂的移动量。

可选地，所述测量装置还包括多个第四位移传感器，多个所述第四位移传感器设置在所述底测量部上，以测量多个所述底测量头沿上下的移动量。

可选地，所述测量装置还包括多个接触传感器，多个所述接触传感器设置在所述底测量部上，以使所述底测量头向上移动接触到待测物时停止移动。

可选地，所述顶测量头为接触式测量头，所述接触式测量头可上下移动地设置；所述接触式测量头为探针。或者，

所述顶测量头为非接触式测量头，所述非接触式测量头通过光信号或电磁信号获取所述非接触式测量头与待测物上表面的间距。

可选地，主控制部包括相互电连接的处理器和显示器；

所述处理器配置成获取所述顶测量头和所述底测量头的测量数据，并处理成待测物的厚度和平面度的测量结果；

所述显示器用以显示所述测量结果。

本申请提供的一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置，设置有底测量部、顶测量部和主控制部，待测物放置在底测量部上。底测量部呈矩阵排布的底测量头通过上下移动与待测物的下表面，可获得待测物下表面的矩阵排布的多个点与预设参考基准之间高度差，从而得到待测物下表面的平面度。顶测量头间隔设置在待测物上表面的上侧，可获得待测物上表面在顶测量头处与预设参考基准之间高度差，与底测量部的测量数据结合，从而得到该处的待测物的厚度。另一方面，上述平面度和厚度的测量结果不需要手动计算，通过主控制部就可直接得出。与手工使用卡尺测量相比，该测量装置的测量过程较为快捷，测量结果较为准确，达到准确、及时地检测出有“门不平”、门体过厚、门体过薄等缺陷的冰箱门体，避免其进入后续工序的效果。

进一步地，本申请提供的测量装置，顶测量部设置有竖直设置的移动柱和横臂，顶测量头可滑动安装在横臂上移动柱的下端沿垂直于横臂的水平方向可移动地连接于底测量部，使得顶测量头可在第二水平面上自由移动，可获得待测物上表面多个位置处与预设参考基准之间的高度差，从而得到待测物上表面的平面度。与底测量部的测量数据结合，从而得到整个待测物的厚度。进一步使得测量过程更为快捷，测量结果更为准确，进一步提高准确、及时地检测出有“门不平”、门体过厚、门体过薄等缺陷的冰箱门体，避免其进入后续工序的效果。

进一步地，本申请提供的测量装置，顶测量部设置有竖直设置的支柱和绕竖直轴可转动地连接在支柱上的转臂，所述顶测量头可滑动安装在所述转臂上，使得顶测量头可在第二水平面上自由移动，可获得待测物上表面多个位置处与预设参考基准之间高度差，从而得到待测物上表面的平面度。与底测量部的测量数据结合，从而得到整个待测物的厚度。进一步使得测量过程更为快捷，测量结果更为准确，进一步提高准确、及时地检测出有“门不平”、门体过厚、门体过薄等缺陷的冰箱门体，避免其进入后续工序的效果。

根据下文结合附图对本实用新型具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本实用新型的上述以及其他目的、优点和特征。

附图说明

后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本实用新型的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：

图1是根据本实用新型一个实施例的用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置的示意性结构图；

图2是根据本实用新型一个实施例的测量装置的示意性正视图；

图3是根据本实用新型一个实施例的测量装置的示意性俯视图；

图4是图3中沿A-A面的示意性剖视图；

图5是图4中B处的示意性放大图。

具体实施方式

下面参照图1至图5来描述本实用新型实施例的用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置。在本实施例的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征，也即包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个、三个等，除非另有明确具体的限定。当某个特征“包括或者包含”某个或某些其涵盖的特征时，除非另外特别地描述，这指示不排除其它特征和可以进一步包括其它特征。

除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”、“固定”“耦合”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。本领域的普通技术人员，应该可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

此外，在本实施例的描述中，第一特征在第二特征“之上”或“之下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。也即在本实施例的描述中，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”、或“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本实施例的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

图1本实用新型一个实施例的用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置的示意性结构图，并结合图2至图5，本实用新型提供了一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置，包括底测量部1、顶测量部2和主控制部3。底测量部1包括多个在第一水平面11上呈矩阵排布的底测量头12，每个底测量头12可上下移动地设置，以与底测量部1上侧的待测物4接触，进而测量待测物4的下表面与待测物4下侧的预设参考基准之间的间距。测量时，如图4和图5所示，将待测物4水平放置在底测量部1上，待测物4下表面与底测量头12接触，对底测量头12产生压力，并挤压底测量头12向下移动，直到所有底测量头12都处于平衡位置。此时，底测量头12的高度就是待测物4下表面高度。通过汇总多个底测量头12的向下移动量，可得到待测物4下表面的平面度。

本实施例中，多个底测量头12在第一水平面11上呈矩阵排布，并不是说限定于沿横竖均匀排布，也可以包括轴向均匀排布，或者无规则的平面排布，只要底测量头12的初始位置处于第一水平面11上即可。另一方面，底测量头12的密度越多，对待测物4下表面平面度的测量精度越高。底测量头12的排布方式越规则，计算平面度时也越便捷。因此，实际使用时，可根据需要的精度，来选择相应的底测量头12的密度和排布方式，快捷地获得待测物4下表面的准确的平面度。本实施例中，底测量头12所排布的平面的形状和面积可容纳待测物4下表面，如此，可一次测量就可获得待测物4下表面的平面度。底测量头12所排布的平面的形状和面积也可小于待测物4下表面，测量时，只需要多次放置待测物4，多次测量，就可获得待测物4下表面的平面度。

顶测量部2包括在第二水平面21上可移动设置的顶测量头22，顶测量头22设置在底测量部1的上方，以利用顶测量头22测量待测物4的上表面与待测物4上侧的预设参考基准之间的间距。测量时，将待测物4水平放置在底测量部1上，顶测量头22位于待测物4上侧，可测量待测物4上表面在顶测量头22处与预设参考基准之间高度差，与底测量部1的测量数据结合，从而得到该处的待测物4的厚度。

主控制部3根据底测量头12和顶测量头22至少获取待测物4的下表面的平面度和待测物4的至少一个位置处的厚度。主控制部3用于获得底测量头12和顶测量头22的测量数据，并进行汇总计算，可迅速得到待测物4下表面的平面度和在顶测量头22处厚度。

与手工使用卡尺测量相比，本实施例提供的测量装置的测量过程较为快捷，测量结果较为准确，达到准确、及时地检测出有“门不平”、门体过厚、门体过薄等缺陷的冰箱门体，避免其进入后续工序的效果。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，如图3所示，底测量部1还包括测量台面13，测量台面13水平设置。测量台面13在每个底测量头12处开孔，以使底测量头12穿过测量台面13。本实施例中，将待测物4直接放置在底测量头12上时，底测量头12需要承载较大压力。测量台面13用于承载待测物4大部分重力，降低由底测量头12受到的压力。底测量头12只承受能够保持其与冰箱门体下表面轻微抵触的压力，有助于提高底测量头12的测量精度。另一方面，测量台面13还用于提供一个测量基准，测量台面13与第一水平面11重合，此时，测量台面13形成待测物4下表面的最低点，计算待测物4下表面的平面度时，直接以该平面为基准面，可简化计算步骤，提高计算效率。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，如图4和图5所示，底测量部1包括多个驱动装置，每个驱动装置配置成驱动一个底测量头12上下移动。本实施例中，驱动装置可为线性电机、电动推杆等。在测量前，驱动装置驱动底测量头12向下移动一个距离，所有底测量头12的顶端处于同一个水平面，即第一水平面11。测量时，将待测物4放置在底测量头12上，驱动装置驱动与待测物4下表面不接触的底测量头12向上移动，直到底测量头12与待测物4下表面抵触接触时停止移动。此时，底测量头12的向上移动量就是待测物4下表面在该处与第一水平面11的高度差。通过汇总所有底测量头12高度差，就可获得待测物4下表面的平面度。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，底测量部1包括多个弹性复位件，每个弹性复位件配置成促使一个底测量头12向上伸出。本实施例中，弹性复位件可为弹簧、扭簧、弹性片等。在不受外力时，底测量头12在弹性复位件的作用下向上伸出一段距离，此时，所有底测量头12顶端处于同一个水平面，即第一水平面11。测量时，将待测物4放置在底测量头12上，部分底测量头12在压力下向下移动，直到所有底测量头12达到平衡后，弹性复位件促使底测量头12与冰箱门体下表面保持抵触接触。此时，底测量头12的向下移动量就是待测物4下表面在该处与第一水平面11的高度差。通过汇总所有底测量头12高度差，就可获得待测物4下表面的平面度。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，如图1-图3所示，顶测量部2包括竖直设置的移动柱23和横臂24；顶测量头22可滑动安装在横臂24上；移动柱23的下端沿垂直于横臂24的水平方向可移动地连接于底测量部1。测量装置还包括：第一位移传感器，第一位移传感器设置在底测量部1上，以测量移动柱23的移动量；第二位移传感器，第二位移传感器设置在底测量部1上，以测量顶测量头22沿横臂24的移动量。本实施例中，移动柱23的移动方向与顶测量头22相对横臂24的移动方向垂直，横臂24的高度保持不变，将与横臂24平行的一个水平面设置为第二水平面21。如此设置，可使得顶测量头22可在第二水平面21内任意位置移动，并且顶测量头22的位置由第一位移传感器和第二位移传感器的测量数据给出，也就是说，可获得待测物4上表面多个位置处与第二水平面21之间的间距。汇总计算这些间距，就可得到待测物4上表面的平面度。另一方面，通过将顶测量头22与底测量部1的测量数据结合，可得到整个待测物4的厚度。本实施例中，顶测量头22的测量位置可与底测量头12的测量位置相对，这样，就可直接得出在该位置处待测物4的厚度。其它实施例中，顶测量头22的测量位置也可根据需要设置，当待测物4上表面需要的平面度精度较高时，可增加顶测量头22的测量位置，通过多次测量，获得较高精度的平面度数据。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，顶测量部2包括竖直设置的支柱和绕竖直轴可转动地连接在支柱上的转臂；支柱连接于底测量部1；顶测量头22可滑动安装在转臂上。测量装置还包括：角度传感器，角度传感器设置在顶测量部2上，以测量转臂相对支柱转动的角度；第三位移传感器，第三位移传感器设置在顶测量部2上，以测量顶测量头22沿转臂的移动量。本实施例中，转臂的高度不变，将与转臂平行的一个水平面设置为第二水平面21。顶测量头22沿转臂移动，也就是说，可在第二水平面21上沿径向测量待测物4上表面的与第二水平面21的间距。转臂带动顶测量头22转动时，顶测量头22可在第二水平面21沿周向测量待测物4上表面的与第二水平面21的间距。汇总计算这些间距，就可得到待测物4上表面的平面度。另一方面，通过将顶测量头22与底测量部1的测量数据结合，可得到整个待测物4的厚度。本实施例中，顶测量头22的测量位置可与底测量头12的测量位置相对，这样，就可直接得出在该位置处待测物4的厚度。其它实施例中，顶测量头22的测量位置也可根据需要设置，当待测物4上表面需要的平面度精度较高时，可增加顶测量头22的测量位置，通过多次测量，获得较高精度的平面度数据。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，测量装置还包括多个第四位移传感器，多个第四位移传感器设置在底测量部1上，以测量多个底测量头12沿上下的移动量。移传感器测量精度高，体积较小，可方便地设置在底测量部1上或直接设置在底测量头12上，准确地测量底测量头12沿上下的移动量。在本实用新型测量装置的另一些实施例中，底测量头12即为第四位移传感器的测量杆的端部，测量杆设置为在弹力下向上伸出。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，测量装置还包括多个接触传感器，多个接触传感器设置在底测量部1上，以使底测量头12向上移动接触到待测物4时停止移动。本实施例中，接触传感器与驱动装置电连接，以控制驱动装置的运动状态。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，如图5所示，顶测量头22为接触式测量头，接触式测量头可上下移动地设置；接触式测量头为探针。或者，顶测量头22为非接触式测量头，非接触式测量头通过光信号或电磁信号获取非接触式测量头与待测物4上表面的间距。针对不同材质的待测物4，可选择不同的顶测量头22。例如对于玻璃材质的待测物4，可采用接触式的测量头，准确度较高。对于板金材质的待测物4，可采用光信号或电磁信号的非接触式测量头，测量速度快，准确度较高。

在本实用新型测量装置的一些实施例中，如图1和图2所示，主控制部3包括相互电连接的处理器和显示器31。处理器配置成获取顶测量头22和底测量头12的测量数据，并处理成待测物4的厚度和平面度的测量结果。显示器31用以显示测量结果。主控制部3可自动获取其测量数据，处理成待测物4的厚度和平面度的测量结果，并将其传递给显示器31显示出来。主控制部3可快速、准确地将测量数据处理成测量结果，并直接显示出来，提高了测量的速度和准确度。另一方面，主控制部3还包括控制系统，控制系统的预设程序的控制下，操控顶测量头22在第二水平面21上移动并进行测量，如此，可实现全自动测量待测物4的上下表面，节省人力，进一步提高测量精度和效率。

至此，本领域技术人员应认识到，虽然本文已详尽示出和描述了本实用新型的多个示例性实施例，但是，在不脱离本实用新型精神和范围的情况下，仍可根据本实用新型公开的内容直接确定或推导出符合本实用新型原理的许多其他变型或修改。因此，本实用新型的范围应被理解和认定为覆盖了所有这些其他变型或修改。

Claims (10)

1.一种用于冰箱门体的厚度和平面度测量装置，其特征在于，包括：

底测量部，所述底测量部包括多个在第一水平面上呈矩阵排布的底测量头，每个所述底测量头可上下移动地设置，以与所述底测量部上侧的待测物接触，进而测量待测物的下表面与待测物下侧的预设参考基准之间的间距；

顶测量部，所述顶测量部包括在第二水平面上可移动设置的顶测量头，所述顶测量头设置在所述底测量部的上方，以利用所述顶测量头测量待测物的上表面与待测物上侧的预设参考基准之间的间距；

主控制部，所述主控制部根据所述底测量头和所述顶测量头至少获取待测物的下表面的平面度和待测物的至少一个位置处的厚度。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述底测量部还包括测量台面，所述测量台面水平设置；

所述测量台面在每个所述底测量头处开孔，以使所述底测量头穿过所述测量台面。

3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述底测量部包括多个驱动装置，每个所述驱动装置配置成驱动一个所述底测量头上下移动。

4.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述底测量部包括多个弹性复位件，每个所述弹性复位件配置成促使一个所述底测量头向上伸出。

5.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述顶测量部包括竖直设置的移动柱和横臂；所述顶测量头可滑动安装在所述横臂上；所述移动柱的下端沿垂直于横臂的水平方向可移动地连接于所述底测量部；所述测量装置还包括：

第一位移传感器，所述第一位移传感器设置在所述底测量部上，以测量所述移动柱的移动量；

第二位移传感器，所述第二位移传感器设置在所述底测量部上，以测量所述顶测量头沿所述横臂的移动量。

6.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述顶测量部包括竖直设置的支柱和绕竖直轴可转动地连接在所述支柱上的转臂；所述支柱连接于所述底测量部；所述顶测量头可滑动安装在所述转臂上；所述测量装置还包括：

角度传感器，所述角度传感器设置在所述顶测量部上，以测量所述转臂相对所述支柱转动的角度；

第三位移传感器，所述第三位移传感器设置在所述顶测量部上，以测量所述顶测量头沿所述转臂的移动量。

7.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述测量装置还包括多个第四位移传感器，多个所述第四位移传感器设置在所述底测量部上，以测量多个所述底测量头沿上下的移动量。

8.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，

所述测量装置还包括多个接触传感器，多个所述接触传感器设置在所述底测量部上，以使所述底测量头向上移动接触到待测物时停止移动。

9.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述顶测量头为接触式测量头，所述接触式测量头可上下移动地设置；所述接触式测量头为探针；或者，

所述顶测量头为非接触式测量头，所述非接触式测量头通过光信号或电磁信号获取所述非接触式测量头与待测物上表面的间距。

10.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

主控制部包括相互电连接的处理器和显示器；

所述处理器配置成获取所述顶测量头和所述底测量头的测量数据，并处理成待测物的厚度和平面度的测量结果；

所述显示器用以显示所述测量结果。