CN213411372U - 一种零部件平面度测量系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种零部件平面度测量系统，包括控制器、测量机构、顶升机构，测量机构包括固定支架、三个LVDT位移传感器、运动气缸，固定支架与运动气缸相固定，固定支架底部设有测量基准面板；三个LVDT位移传感器以圆周等分方式设置于固定支架顶部以及测量基准面板上的安装孔内，所述LVDT位移传感器底部设有可伸缩接触探头，接触探头延伸至测量基准面板以外；所述顶升机构设置于测量机构的正下方，用于带动零部件移动至零件基准面与固定支架底部测量基准面板相接触，所述顶升机构、运动气缸、三个LVDT位移传感器均与控制器相连接。本实用新型所述的零部件平面度测量系统可克服人工测量存在的缺陷，测量准确性和稳定性高，且可与生产体系配套设置。

Description

一种零部件平面度测量系统

技术领域

本实用新型涉及零部件测量领域，具体涉及一种用于测量零部件平面度的测量系统。

背景技术

在零部件生产加工过程中，可通过对零部件平面度进行检测，以判断所加工、生产的产品是否达到相应的质量标准。目前，现有的零部件平面度度测量装置主要为：三坐标测量仪。具体测量过程如下：首先将测量工件固定于三坐标测量仪的测量平台上，通过扫描点，确定工件基准面，然后再利用三坐标测量仪扫描点确定测量平面，对数据进行分析、计算，得到测量结果。这种测量方式，主要存在以下缺陷：(1)需要专业的测量人员进行测量，测量效率低；(2) 测量误差大、测量结果重复性和再现性差；(3)无法与生产体系配套设置，实现在线实时测量。

实用新型内容

为了克服人工测量存在的缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种测量准确性和稳定性高，可与生产体系配套设置的自动化零部件平面度测量系统。

本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案是：一种零部件平面度测量系统，包括控制器、测量机构、顶升机构，所述测量机构包括固定支架、三个LVDT位移传感器、运动气缸，

所述固定支架与运动气缸相固定，并由运动气缸带动上、下移动，所述固定支架底部设有测量基准面板；

所述三个LVDT位移传感器以圆周等分方式设置于固定支架顶部以及测量基准面板上的安装孔内，所述LVDT位移传感器底部设有可伸缩接触探头，所述接触探头延伸至固定支架底部测量基准面板以外；

所述顶升机构设置于测量机构的正下方，用于放置测量零部件，并带动零部件移动至零件基准面与固定支架底部测量基准面板相接触；

所述顶升机构、运动气缸、三个LVDT位移传感器均与控制器相连接。

进一步地，所述顶升机构采用点接触的方式支撑测量零部件。

作为优选，所述测量零部件上对称设有两个限位孔，所述固定支架底部测量基准面板上设有两个定位柱，两个所述定位柱之间的距离等于所述两个限位孔之间的距离。

作为优选，所述测量零部件上对称设有两个限位孔，所述固定支架底部测量基准面板上设有两个定位柱，两个所述定位柱之间的距离可调。

本实用新型同现有技术相比具有以下优点及效果：

1、本实用新型所述零部件平面度测量系统，通过以圆周等分方式将三个 LVDT位移传感器设置于固定支架以及测量基准面板的安装孔内，伸出固定支架底部测量基准面板的三个可伸缩接触探头所形成的圆形测量面与测量零部件的基准面重合，继而实现测量工件表面同圆周三点(120°均分圆周)的采样测量，测量过程不受人为和外界因素的干扰，测量稳定性好，且测量速度快、准确性高。

2、本实用新型所述的测量系统，将固定支架安装于运动气缸上，以实现测量机构与顶升机构之间的高度调节，所述顶升机构可与整个零部件生产体系配套设置，以实现零部件生产、加工与测量同时进行。

3、在本实用新型所述的零部件平面度测量系统中，所述LVDT位移传感器、运动气缸、顶升机构均与控制器相连接，整个测量过程可自动化运行、测量效率高，具有良好的测量重复性和再现性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例所述零部件平面度测量系统的立体结构示意图。

图2为本实用新型实施例所述零部件平面度测量系统局部主视图。

图3为本实用新型实施例所述固定支架底部截面图。

图4为本实用新型实施例所述零部件采样测量示意图。

标号说明：1、LVDT位移传感器；11、接触探头；2、固定支架；3、运动气缸；4、顶升机构；5、定位柱；6、测量基准面板；7、零部件；71、限位孔。

具体实施方式

下面结合实施例对本实用新型做进一步的详细说明，以下实施例是对本实用新型的解释而本实用新型并不局限于以下实施例。

实施例1：

如图1至4所示，一种零部件平面度测量系统，包括控制器、测量机构、顶升机构4，所述测量机构包括固定支架2、三个LVDT位移传感器1、运动气缸3，所述固定支架2与运动气缸3相固定，并由运动气缸3带动上、下移动，所述固定支架2底部设有测量基准面板6，所述三个LVDT位移传感器1以圆周等分的方式设置于固定支架2顶部以及测量基准面板6的安装孔内，所述LVDT 位移传感器1底部设有可伸缩接触探头11，所述接触探头11延伸至固定支架2 底部测量基准面板6以外，所述顶升机构4设置于测量机构的正下方，用于放置测量零部件7，并带动零部件移动至零件基准面与固定支架2底部测量基准面板6相接触，所述顶升机构4、运动气缸3、三个LVDT位移传感器1均与控制器相连接。

其中，本实施例1中，所述顶升机构4采用点接触的方式支撑测量零部件7，具体点支撑的结构设置可参考现有技术，本实用新型不作赘述。在测量过程中，所述顶升机构4与零部件7底面为点接触，并带动零部件7上升运动至零部件表面基准面与测量基准面板6完全贴合，LVDT位移传感器1的接触探头11被顶起，三个LVDT位移传感器1同时读取测量数值，并传输至控制器，由控制器处理计算平面度，并判断测量零部件是否合格。

实施例2：

如图2、图3、图4所示，一种零部件平面度测量系统，与实施例1的区别在于，所述测量零部件7上对称设有两个限位孔71，所述固定支架2底部测量基准面板6上设有两个定位柱5，两个所述定位柱5之间的距离等于所述两个限位孔71之间的距离。其中，所述测量基准面板6上定位柱5的设置，主要用于限制零部件在进行测量时，产生非轴向方向的运动。

实施例3：

如图2、图3、图4所示，一种零部件平面度测量系统，与实施例1的区别在于，所述测量零部件7上对称设有两个限位孔71，所述固定支架2底部测量基准面板6上设有两个定位柱5，两个所述定位柱5之间的距离可调。当所述两个定位柱5之间的距离可调时，本实用新型所述的测量系统可适用多种不同尺寸的零部件。

进一步地，如图4所示，在本实施例1至3所述的零部件平面度测量系统中，所述三个LVDT位移传感器1通过圆周等分的方式确定采样点，实现以平面布局的方式来测量零部件表面同圆周(120°均分)，如图4所示的A、B、C 三点的高度值，并计算零部件的平面度。这种采样点的确定方式，可以有效保证测量结果的准确性、稳定性以及较好的再现性。

此外，需要说明的是，本说明书中所描述的具体实施例，其零、部件的形状、所取名称等可以不同。凡依本实用新型专利构思所述的构造、特征及原理所做的等效或简单变化，均包括于本实用新型专利的保护范围内。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离本实用新型的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1.一种零部件平面度测量系统，其特征在于，包括控制器、测量机构、顶升机构(4)，所述测量机构包括固定支架(2)、三个LVDT位移传感器(1)、运动气缸(3)，

所述固定支架(2)与运动气缸(3)相固定，并由运动气缸(3)带动上、下移动，所述固定支架(2)底部设有测量基准面板(6)；

所述三个LVDT位移传感器(1)以圆周等分方式设置于固定支架(2)顶部以及测量基准面板(6)上的安装孔内，所述LVDT位移传感器(1)底部设有可伸缩接触探头(11)，所述接触探头(11)延伸至固定支架(2)底部测量基准面板(6)以外；

所述顶升机构(4)设置于测量机构的正下方，用于放置测量零部件，并带动零部件移动至零件基准面与固定支架(2)底部测量基准面板(6)相接触；

所述顶升机构(4)、运动气缸(3)、三个LVDT位移传感器(1)均与控制器相连接。

2.根据权利要求1所述的零部件平面度测量系统，其特征在于，所述顶升机构(4)采用点接触的方式支撑测量零部件。

3.根据权利要求2所述的零部件平面度测量系统，其特征在于，所述测量零部件(7)上对称设有两个限位孔(71)，所述固定支架(2)底部测量基准面板(6)上设有两个定位柱(5)，两个所述定位柱(5)之间的距离等于所述两个限位孔(71)之间的距离。

4.根据权利要求2所述的零部件平面度测量系统，其特征在于，所述测量零部件(7)上对称设有两个限位孔(71)，所述固定支架(2)底部测量基准面板(6)上设有两个定位柱(5)，两个所述定位柱(5)之间的距离可调。

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