CN219512373U - 一种电芯测试装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种电芯测试装置,包括:下压结构、探针模组和顶升结构;所述下压结构与所述探针模组连接,带动所述探针模组沿竖直方向运动;所述顶升结构设置在所述下压结构下方,并且与若干电芯连接,带动所述电芯沿竖直方向运动;所述探针模组包括若干探针组件,所述探针模组包括用于对所述电芯进行测试的若干探针组件,所述探针组件与所述电芯的电极的位置一一对应。通过所述下压结构带动所述探针模组向下运动,所述顶升结构带动所述电芯向上运动,实现对所述电芯的测试,可以在保证所述电芯定位精准的同时提升测试效率。
Description
技术领域
本申请涉及自动化装配技术领域,特别是一种电芯测试装置。
背景技术
目前对电芯进行测试时,需要人工将装有电芯的托盘放置在探针模组与底座之间,人工移动托盘时容易使电芯发生位移,对电芯的定位不够精准,并且探针模组与底座之间的空间较小,人工操作较为不便,对电芯的测试效率较低。
实用新型内容
鉴于所述问题,提出了本申请以便提供克服所述问题或者至少部分地解决所述问题的一种电芯测试装置,包括:
一种电芯测试装置,包括:下压结构、探针模组和顶升结构;所述下压结构与所述探针模组连接,带动所述探针模组沿竖直方向运动;所述顶升结构设置在所述下压结构下方,并且与若干电芯连接,带动所述电芯沿竖直方向运动;所述探针模组包括用于对所述电芯进行测试的若干探针组件,所述探针组件与所述电芯的电极的位置一一对应。
优选的,所述探针模组包括第一连接板、第一安装板、纵向滑轨、纵向滑块、第二连接板、第二安装板和若干所述探针组件;所述第一连接板和所述纵向滑轨分别与所述下压结构的活动端连接;所述第一安装板与所述第一连接板的侧边连接;所述纵向滑块与所述纵向滑轨滑动连接;所述第二连接板与所述纵向滑块连接;所述第二安装板与所述第二连接板的侧边连接;所述探针组件包括正极探针和负极探针,其中,所述正极探针设置在所述第一安装板上,并且与所述电芯的正极的位置相对应,所述负极探针设置在所述第二安装板上,并且与所述电芯的负极的位置相对应。
优选的,所述探针模组还包括第一横向滑轨和若干第一横向滑块;所述第一横向滑轨设置在所述第一安装板上;所述第一横向滑块与所述第一横向滑轨滑动连接,并且与所述正极探针一一对应连接。
优选的,所述探针模组还包括第二横向滑轨和若干第二横向滑块;所述第二横向滑轨设置在所述第二安装板上;所述第二横向滑块与所述第二横向滑轨滑动连接,并且与所述负极探针一一对应连接。
优选的,所述下压结构包括下压气缸和上支架;所述下压气缸与所述上支架连接,带动所述上支架沿竖直方向运动;所述探针模组设置在所述上支架的下方。
优选的,所述下压结构还包括下压滑轨;所述上支架的端部与所述下压滑轨滑动连接。
优选的,所述顶升结构包括顶升气缸和下支架;所述顶升气缸与所述下支架连接,带动所述下支架沿竖直方向运动;所述电芯设置在所述下支架的上方。
优选的,所述顶升结构还包括顶升滑轨;所述下支架的端部与所述顶升滑轨滑动连接。
本申请具有以下优点:
在本申请的实施例中,相对于现有电芯测试方法对电芯的定位不够精准和对电芯的测试效率较低的问题,本申请提供了采用下压结构、探针模组和顶升结构对电芯进行测试的解决方案,通过所述下压结构带动所述探针模组向下运动,所述顶升结构带动所述电芯向上运动,实现对所述电芯的测试,可以在保证所述电芯定位精准的同时提升测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请的技术方案,下面将对本申请的描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一实施例提供的一种电芯测试装置的结构示意图;
图2是本申请一实施例提供的一种电芯测试装置中探针模组的结构示意图。
说明书附图中的附图标记如下:
100、下压结构;110、下压气缸;120、上支架;200、探针模组;210、第一连接板;220、第一安装板;230、纵向滑轨;240、纵向滑块;250、第二连接板;260、第二安装板;270、正极探针;280、负极探针;221、第一横向滑轨;222、第一横向滑块;261、第二横向滑轨;262、第二横向滑块;300、顶升结构;310、顶升气缸;320、下支架;400、电芯。
具体实施方式
为使本申请的所述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本申请做进一步详细的说明。显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
参照图1-2,示出了本申请一实施例提供的一种电芯测试装置,包括:下压结构100、探针模组200和顶升结构300;所述下压结构100与所述探针模组200连接,带动所述探针模组200沿竖直方向运动;所述顶升结构300设置在所述下压结构100下方,并且与若干电芯400连接,带动所述电芯400沿竖直方向运动;所述探针模组200包括用于对所述电芯400进行测试的若干探针组件,所述探针组件与所述电芯400的电极的位置一一对应。
在本申请的实施例中,相对于现有电芯测试方法对电芯400的定位不够精准和对电芯400的测试效率较低的问题,本申请提供了采用下压结构100、探针模组200和顶升结构300对电芯400进行测试的解决方案,具体为:“一种电芯测试装置,包括:下压结构100、探针模组200和顶升结构300;所述下压结构100与所述探针模组200连接,带动所述探针模组200沿竖直方向运动;所述顶升结构300设置在所述下压结构100下方,并且与若干电芯400连接,带动所述电芯400沿竖直方向运动;所述探针模组200包括若干探针组件,所述探针模组200包括用于对所述电芯400进行测试的若干探针组件,所述探针组件与所述电芯400的电极的位置一一对应”。通过所述下压结构100带动所述探针模组200向下运动,所述顶升结构300带动所述电芯400向上运动,实现对所述电芯400的测试,可以在保证所述电芯400定位精准的同时提升测试效率。
下面,将对本示例性实施例中一种电芯测试装置做进一步地说明。
本实施例中,所述探针模组200包括第一连接板210、第一安装板220、纵向滑轨230、纵向滑块240、第二连接板250、第二安装板260和若干所述探针组件;所述第一连接板210和所述纵向滑轨230分别与所述下压结构100的活动端连接;所述第一安装板220与所述第一连接板210的侧边连接;所述纵向滑块240与所述纵向滑轨230滑动连接;所述第二连接板250与所述纵向滑块240连接;所述第二安装板260与所述第二连接板250的侧边连接;所述探针组件包括正极探针270和负极探针280,其中,所述正极探针270设置在所述第一安装板220上,并且与所述电芯400的正极的位置相对应,所述负极探针280设置在所述第二安装板260上,并且与所述电芯400的负极的位置相对应。具体的,所述第一连接板210设有两个,并且相对设置在所述上支架120下方的两侧;所述第一安装板220设置在两个所述第一连接版之间;所述纵向滑轨230、所述纵向滑块240和所述第二连接板250分别设有两个,所述纵向滑轨230相对设置在所述上支架120下方的两侧,所述纵向滑块240分别与对应的所述纵向滑轨230连接,所述第二连接板250分别与对应的所述纵向滑块240连接;所述第二安装板260设置在两个所述第二连接板250之间。通过设置所述纵向滑轨230和所述纵向滑块240,可以对所述负极探针280与所述正极探针270的间距进行调整,从而适用于对不同规格的所述电芯400进行测试。
本实施例中,所述探针模组200还包括第一横向滑轨221和若干第一横向滑块222;所述第一横向滑轨221设置在所述第一安装板220上;所述第一横向滑块222与所述第一横向滑轨221滑动连接,并且与所述正极探针270一一对应连接。通过设置所述第一横向滑轨221和所述第一横向滑块222,可以对相邻所述正极探针270的间距进行调整,从而适用于对不同规格的所述电芯400进行测试。
本实施例中,所述第一安装板220表面设有第一刻度尺。通过设置所述第一刻度尺,便于精准调整所述正极探针270的间距。
本实施例中,所述探针模组200还包括第二横向滑轨261和若干第二横向滑块262;所述第二横向滑轨261设置在所述第二安装板260上;所述第二横向滑块262与所述第二横向滑轨261滑动连接,并且与所述负极探针280一一对应连接。通过设置所述第二横向滑轨261和所述第二横向滑块262,可以对相邻所述负极探针280的间距进行调整,从而适用于对不同规格的所述电芯400进行测试。
本实施例中,所述第二安装板260表面设有第二刻度尺。通过设置所述第二刻度尺,便于精准调整所述负极探针280的间距。
本实施例中,所述下压结构100包括下压气缸110和上支架120;所述下压气缸110与所述上支架120连接,带动所述上支架120沿竖直方向运动;所述探针模组200设置在所述上支架120的下方。
本实施例中,所述下压结构100还包括下压滑轨;所述上支架120的端部与所述下压滑轨滑动连接。具体的,所述下压滑轨设有两个,并且相对设置在所述上支架120端部的两侧。通过设置两个所述下压滑轨,可以提高所述上支架120运动过程的稳定性。
本实施例中,所述下压结构100还包括下压限位件;所述下压限位件与所述下压滑轨滑动连接,用于限制所述上支架120的移动范围。
本实施例中,所述顶升结构300包括顶升气缸310和下支架320;所述顶升气缸310与所述下支架320连接,带动所述下支架320沿竖直方向运动;所述电芯400设置在所述下支架320的上方。
本实施例中,所述顶升结构300还包括顶升滑轨;所述下支架320的端部与所述顶升滑轨滑动连接。具体的,所述顶升滑轨设有两个,并且相对设置在所述下支架320端部的两侧。通过设置两个所述顶升滑轨,可以提高所述下支架320运动过程的稳定性。
本实施例中,所述顶升结构300还包括顶升限位件;所述顶升限位件与所述顶升滑轨滑动连接,用于限制所述下支架320的移动范围。
本实施例中,所述电芯400取料装置安装在线体移动平台中使用。
所述电芯测试装置的操作方法为:
预先通过线体移动平台将装有所述电芯400的托盘移动至所述下支架320表面的指定位置;控制所述顶升气缸310向上移动至指定高度,随后控制所述下压气缸110向下移动,使得所述正极探针270与所述电芯400的正极相接触,同时所述负极探针280与所述电芯400的负极相接触,完成一次测试。
尽管已描述了本申请实施例的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请实施例范围的所有变更和修改。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本申请所提供的一种电芯测试装置,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (8)
1.一种电芯测试装置,其特征在于,包括:下压结构、探针模组和顶升结构;所述下压结构与所述探针模组连接,带动所述探针模组沿竖直方向运动;所述顶升结构设置在所述下压结构下方,并且与若干电芯连接,带动所述电芯沿竖直方向运动;所述探针模组包括用于对所述电芯进行测试的若干探针组件,所述探针组件与所述电芯的电极的位置一一对应。
2.根据权利要求1所述的电芯测试装置,其特征在于,所述探针模组包括第一连接板、第一安装板、纵向滑轨、纵向滑块、第二连接板、第二安装板和若干所述探针组件;所述第一连接板和所述纵向滑轨分别与所述下压结构的活动端连接;所述第一安装板与所述第一连接板的侧边连接;所述纵向滑块与所述纵向滑轨滑动连接;所述第二连接板与所述纵向滑块连接;所述第二安装板与所述第二连接板的侧边连接;所述探针组件包括正极探针和负极探针,其中,所述正极探针设置在所述第一安装板上,并且与所述电芯的正极的位置相对应,所述负极探针设置在所述第二安装板上,并且与所述电芯的负极的位置相对应。
3.根据权利要求2所述的电芯测试装置,其特征在于,所述探针模组还包括第一横向滑轨和若干第一横向滑块;所述第一横向滑轨设置在所述第一安装板上;所述第一横向滑块与所述第一横向滑轨滑动连接,并且与所述正极探针一一对应连接。
4.根据权利要求2所述的电芯测试装置,其特征在于,所述探针模组还包括第二横向滑轨和若干第二横向滑块;所述第二横向滑轨设置在所述第二安装板上;所述第二横向滑块与所述第二横向滑轨滑动连接,并且与所述负极探针一一对应连接。
5.根据权利要求1所述的电芯测试装置,其特征在于,所述下压结构包括下压气缸和上支架;所述下压气缸与所述上支架连接,带动所述上支架沿竖直方向运动;所述探针模组设置在所述上支架的下方。
6.根据权利要求5所述的电芯测试装置,其特征在于,所述下压结构还包括下压滑轨;所述上支架的端部与所述下压滑轨滑动连接。
7.根据权利要求1所述的电芯测试装置,其特征在于,所述顶升结构包括顶升气缸和下支架;所述顶升气缸与所述下支架连接,带动所述下支架沿竖直方向运动;所述电芯设置在所述下支架的上方。
8.根据权利要求7所述的电芯测试装置,其特征在于,所述顶升结构还包括顶升滑轨;所述下支架的端部与所述顶升滑轨滑动连接。
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