CN219475423U - 一种芯片外观检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片外观检测装置，包括支撑板，支撑板的底部固定连接有若干条支撑腿，其顶部固定连接有固定架，固定架的前侧设置有一对固定筒，固定筒的底部固定连接在支撑板上，其筒内插入有活动块，活动块的顶部固定连接有检测台，检测台的中心开设有开口，开口内安装有玻璃板，固定架的后端面固定安装有电机，电机的输出轴末端贯穿固定架并固定连接有检测架，检测架的侧面呈C字形，其顶部和底部分别安装上检测组件和下检测组件。本实用新型可同时对芯片的正面和背面进行外观检测，而无需进行翻转操作，检测效率高，并且可调节检测角度，当相关的检测组件发生故障时可进行拆卸，以方便进行检修和更换。

Description

一种芯片外观检测装置

技术领域

本实用新型属于芯片检测技术领域，特别是涉及一种芯片外观检测装置。

背景技术

随着芯片技术和芯片封装技术的不断革新，芯片面积和封装面积越来越小、越来越轻、越来越薄，芯片的外观越来越难以检测，传统的人工检测方法难以满足高检测要求，不能适应大规模生产制造，因此，现多采用机器视觉检测技术来对芯片进行外观检测。

目前市面上存在一些外观检测设备，如中国专利网上公开了一种基于机器视觉的芯片外观检测装置，其公开号为CN216747471U，这种外观检测装置可用于芯片的外观检测，但是存在一些缺陷和不足有待改进：(1)现有的外观检测设备大多只能进行单面检测，而难以同时对芯片的正面和背面进行外观检测，当检测完一个面后，需要对芯片进行翻转操作，很不方便，从而降低了外观检测工作的效率；(2)现有的外观检测设备由于结构设计的原因，其检测角度较为固定，检测时往往只能正对着芯片，而难以从芯片的侧面等其他角度进行外观检测，从而使得芯片的外观检测结果不够准确；(3)现有的外观检测设备大多为一体化设计，其结构难以拆卸，当相关的检测组件发生故障时，不便于对其进行检修和更换。因此，针对以上问题，本实用新型提供的一种芯片外观检测装置具有重要意义。

实用新型内容

本实用新型提供了一种芯片外观检测装置，解决了以上问题。

为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

本实用新型的一种芯片外观检测装置，包括支撑板，所述支撑板的底部固定连接有若干条支撑腿，其顶部固定连接有固定架，所述固定架的前侧设置有一对固定筒，所述固定筒为方形筒结构，其底部固定连接在支撑板上，且所述固定筒内插入有活动块，所述活动块的顶部固定连接有检测台，所述检测台的中心开设有开口，所述开口内安装有玻璃板，所述固定架的侧面呈L形，其后端面固定安装有电机，所述电机的输出轴末端贯穿固定架并固定连接有检测架，所述检测架的侧面呈C字形，其顶部和底部分别安装上检测组件和下检测组件。

进一步地，所述上检测组件和下检测组件分别包括一对上安装板和一对下安装板，所述一对上安装板和一对下安装板分别固定连接在检测架的顶部内壁和底部内壁，其表面分别螺纹连接有上安装螺栓和下安装螺栓，且所述一对上安装板和一对下安装板之间分别安装有上安装座和下安装座，所述上安装座和下安装座上分别安装有上检测摄像头和下检测摄像头，且所述上安装座和下安装座的两侧侧壁表面分别开设有与上安装螺栓和下安装螺栓相配合的上安装槽和下安装槽。

进一步地，所述检测架的后端面固定连接有一对导杆，所述固定架的前端面表面开设有导槽，所述导槽为环形槽结构，其槽宽与导杆的杆径相等，每个所述导杆的末端均插入导槽并贴合在导槽的槽壁。

进一步地，所述固定筒的顶部前端面螺纹连接有调节螺栓，所述活动块的横截面呈矩形，其长度和宽度分别与固定筒的内壁长度和宽度对应相等，且所述活动块的表面开设有若干个与调节螺栓相配合的定位槽。

进一步地，所述固定架的顶部固定连接有一对固定块，所述固定块的顶部固定连接有挡盖，所述挡盖的顶部端面呈倒V字形。

本实用新型相对于现有技术包括有以下有益效果：

(1)本实用新型中的检测装置在使用时，可通过上检测组件中的上检测摄像头和下检测组件中的下检测摄像头同时对芯片的正面和背面进行外观检测，而无需进行翻转操作，从而大大提高了检测工作的效率；

(2)本实用新型中的检测装置在使用时，可通过电机带动检测架连同上检测组件和下检测组件一起转动，以便调节上检测摄像头和下检测摄像头的检测角度，使其可以根据需要从芯片的侧面等其他角度进行外观检测，从而能够充分发现芯片表面的所有外观缺陷，避免遗漏，继而有效提高了外观检测结果的准确性；

(3)本实用新型中的检测装置在使用时，可通过上安装螺栓和下安装螺栓与上安装槽和下安装槽之间的相互配合将上检测组件和下检测组件分别固定安装在检测架的顶部和底部，并且当上检测摄像头和下检测摄像头发生故障时，通过旋下上安装螺栓和下安装螺栓可将整个上检测组件和下检测组件从检测架上拆下，以便对上检测摄像头和下检测摄像头进行检修和更换；

(4)本实用新型中的检测装置在使用时，可通过挡盖起到一定的挡尘和挡水作用，以避免该检测装置上的相关元件沾灰和沾水而发生故障，并且当该检测装置的顶部受到重物撞击时，通过挡盖也可起到防护的效果，以避免相关元件因外力冲击而损坏。

当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的一种芯片外观检测装置的立体结构示意图；

图2为本实用新型的一种芯片外观检测装置的结构主视图；

图3为本实用新型中检测台的立体结构示意图；

图4为本实用新型中检测架、上检测组件和下检测组件的立体结构示意图；

图5为本实用新型中检测架、上检测组件和下检测组件的主剖视图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：

1、支撑板；2、支撑腿；3、固定架；4、固定筒；5、活动块；6、检测台；7、玻璃板；8、电机；9、检测架；10、上安装板；11、下安装板；12、上安装螺栓；13、下安装螺栓；14、上安装座；15、下安装座；16、上检测摄像头；17、下检测摄像头；18、上安装槽；19、下安装槽；20、导杆；21、导槽；22、调节螺栓；23、定位槽；24、固定块；25、挡盖。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“相对”、“一端”、“内部”、“横向”、“端部”、“两端”、“两侧”、“正面”、“一端面”、“另一端面”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

请参阅图1-5所示，本实用新型的一种芯片外观检测装置，包括支撑板1，支撑板1的底部固定连接有若干条支撑腿2，其顶部固定连接有固定架3，固定架3的前侧设置有一对固定筒4，固定筒4为方形筒结构，其底部固定连接在支撑板1上，且固定筒4内插入有活动块5，活动块5的顶部固定连接有检测台6，检测台6的中心开设有开口，开口内安装有玻璃板7，玻璃板7上用于放置待检测的芯片，固定架3的侧面呈L形，其后端面固定安装有电机8，电机8的输出轴末端贯穿固定架3并固定连接有检测架9，检测架9的侧面呈C字形，其顶部和底部分别安装上检测组件和下检测组件，通过上检测组件和下检测组件可同时对玻璃板7上的芯片正面和背面进行外观检测，而无需进行翻转操作，从而大大提高了检测工作的效率，通过驱动电机8可带动检测架9连同上检测组件和下检测组件一起转动，以便调节上检测摄像头16和下检测摄像头17的检测角度，使其可以根据需要从芯片的侧面等其他角度进行外观检测，从而能够充分发现芯片表面的所有外观缺陷，避免遗漏，继而有效提高了外观检测结果的准确性。

其中，上检测组件和下检测组件分别包括一对上安装板10和一对下安装板11，一对上安装板10和一对下安装板11分别固定连接在检测架9的顶部内壁和底部内壁，其表面分别螺纹连接有上安装螺栓12和下安装螺栓13，且一对上安装板10和一对下安装板11之间分别安装有上安装座14和下安装座15，上安装座14和下安装座15上分别安装有上检测摄像头16和下检测摄像头17，且上安装座14和下安装座15的两侧侧壁表面分别开设有与上安装螺栓12和下安装螺栓13相配合的上安装槽18和下安装槽19，上安装螺栓12和下安装螺栓13可分别旋入对应的上安装槽18和下安装槽19，通过上安装螺栓12和下安装螺栓13与上安装槽18和下安装槽19之间的相互配合可将上检测组件和下检测组件分别固定安装在检测架9的顶部和底部，以便利用上检测摄像头16和下检测摄像头17对芯片的外观进行检测，当上检测摄像头16和下检测摄像头17发生故障时，通过旋下上安装螺栓12和下安装螺栓13可将整个上检测组件和下检测组件从检测架9上拆下，以便对上检测摄像头16和下检测摄像头17进行检修和更换。

其中，检测架9的后端面固定连接有一对导杆20，固定架3的前端面表面开设有导槽21，导槽21为环形槽结构，其槽宽与导杆20的杆径相等，每个导杆20的末端均插入导槽21并贴合在导槽21的槽壁，检测架9转动时会带动导杆20绕着导槽21进行转动，此时通过导杆20与导槽21之间的相互配合可对检测架9进行限位，以避免其转动时发生晃动和偏移而影响上检测组件和下检测组件的稳定性。

其中，固定筒4的顶部前端面螺纹连接有调节螺栓22，活动块5的横截面呈矩形，其长度和宽度分别与固定筒4的内壁长度和宽度对应相等，且活动块5的表面开设有若干个与调节螺栓22相配合的定位槽23，通过上下移动活动块5可使其带动检测台6沿着固定筒4一起上下移动，以便根据需要调节检测台6的高度，调节螺栓22的末端可旋入至对应的定位槽23，通过调节螺栓22与定位槽23之间的相互配合可对检测台6的高度进行固定。

其中，固定架3的顶部固定连接有一对固定块24，固定块24的顶部固定连接有挡盖25，挡盖25的顶部端面呈倒V字形，通过挡盖25可起到一定的挡尘和挡水作用，以避免该检测装置上的相关元件沾灰和沾水而发生故障，与此同时，当该检测装置的顶部受到重物撞击时，通过挡盖25也可起到防护的效果，以避免相关元件因外力冲击而损坏。

本实用新型中的上检测摄像头16和下检测摄像头17以及涉及到的电路、电子元器件和芯片模块均为现有技术，本领域技术人员完全可以实现，无需赘言，本实用新型保护的内容也不涉及对于软件和方法的改进。

本实用新型的工作原理是：

本实用新型在使用时，首先将待检测的芯片放置于检测台6表面的玻璃板7上，然后通过活动块5带动检测台6沿着固定筒4上下移动，直至检测台6移动至合适的高度后，将调节螺栓22的末端旋入至对应的定位槽23，以便通过调节螺栓22与定位槽23之间的相互配合对检测台6的高度进行固定，接着通过检测架9上的上检测组件和下检测组件对芯片进行外观检测，检测时，上检测组件中的上检测摄像头16对准芯片的正面，而下检测组件中的下检测摄像头17则透过玻璃板7对准芯片的背面，此时通过上检测摄像头16和下检测摄像头17可利用机器视觉检测技术同时对芯片的正面和背面进行外观检测，而无需进行翻转操作，从而大大提高了检测工作的效率，检测过程中，可驱动电机8使其带动检测架9连同上检测组件和下检测组件一起转动，以便调节上检测摄像头16和下检测摄像头17的检测角度，使其可以根据需要从芯片的侧面等其他角度进行外观检测，从而能够充分发现芯片表面的所有外观缺陷，避免遗漏，继而有效提高了外观检测结果的准确性，当上检测摄像头16和下检测摄像头17发生故障时，通过旋下上安装螺栓12和下安装螺栓13可将整个上检测组件和下检测组件从检测架9上拆下，以便对上检测摄像头16和下检测摄像头17进行检修和更换。

以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (5)

1.一种芯片外观检测装置，其特征在于，包括支撑板，所述支撑板的底部固定连接有若干条支撑腿，其顶部固定连接有固定架，所述固定架的前侧设置有一对固定筒，所述固定筒为方形筒结构，其底部固定连接在支撑板上，且所述固定筒内插入有活动块，所述活动块的顶部固定连接有检测台，所述检测台的中心开设有开口，所述开口内安装有玻璃板，所述固定架的侧面呈L形，其后端面固定安装有电机，所述电机的输出轴末端贯穿固定架并固定连接有检测架，所述检测架的侧面呈C字形，其顶部和底部分别安装上检测组件和下检测组件。

2.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测装置，其特征在于，所述上检测组件和下检测组件分别包括一对上安装板和一对下安装板，所述一对上安装板和一对下安装板分别固定连接在检测架的顶部内壁和底部内壁，其表面分别螺纹连接有上安装螺栓和下安装螺栓，且所述一对上安装板和一对下安装板之间分别安装有上安装座和下安装座，所述上安装座和下安装座上分别安装有上检测摄像头和下检测摄像头，且所述上安装座和下安装座的两侧侧壁表面分别开设有与上安装螺栓和下安装螺栓相配合的上安装槽和下安装槽。

3.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测装置，其特征在于，所述检测架的后端面固定连接有一对导杆，所述固定架的前端面表面开设有导槽，所述导槽为环形槽结构，其槽宽与导杆的杆径相等，每个所述导杆的末端均插入导槽并贴合在导槽的槽壁。

4.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测装置，其特征在于，所述固定筒的顶部前端面螺纹连接有调节螺栓，所述活动块的横截面呈矩形，其长度和宽度分别与固定筒的内壁长度和宽度对应相等，且所述活动块的表面开设有若干个与调节螺栓相配合的定位槽。

5.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测装置，其特征在于，所述固定架的顶部固定连接有一对固定块，所述固定块的顶部固定连接有挡盖，所述挡盖的顶部端面呈倒V字形。