CN219475232U - 一种led芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及LED芯片性能测试设备技术领域，且公开了一种LED芯片测试装置，包括安装座，所述安装座内侧的下方固定连接有滑轨，所述滑轨的内部活动连接有调节座，所述调节座的内部活动连接有固定筒，所述安装座内侧的上方固定连接有液压装置，所述安装座的底部固定连接有支柱，所述安装座的前侧固定连接有控制器，本实用新型通过设有调节座，有利于固定不同大小的芯片，通过调节两个调节座之间的距离，使得不同长度的芯片能够被固定住，通过调节其高度使得不同厚度的芯片能够被固定住，且调节方便，通过设有固定筒，使得芯片能够被固定的更加牢固，并且能够调节其对芯片的压力，使得其不会因为压力过大而损坏。

Description

一种LED芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及LED芯片性能测试设备技术领域，更具体地涉及一种LED芯片测试装置。

背景技术

LED就是发光二极管，是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，LED具有节能、适用性强、使用寿命长等优点，比一般灯的性能更好，广泛运用在照明领域中，为保证其质量需要对其进行测试。

现有技术的不足之处：现有的测试装置在对其进行测试时先要对其进行固定，但是其一般都是使用螺栓进行固定，固定起来较为麻烦，影响工作的效率，且不能够对不同大小的芯片进行固定，在固定时也不能很好的调节对芯片的压力，容易在固定时使得芯片发生损坏。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型提供了一种LED芯片测试装置，以解决上述背景技术中存在的问题。

本实用新型提供如下技术方案：一种LED芯片测试装置，包括安装座，所述安装座内侧的下方固定连接有滑轨，所述滑轨的内部活动连接有调节座，所述调节座的内部活动连接有固定筒，所述安装座内侧的上方固定连接有液压装置，所述安装座的底部固定连接有支柱，所述安装座的前侧固定连接有控制器。

优选的，安装座包括安装壳，所述安装壳的底部固定连接有底座。

优选的，液压装置包括固定块，所述固定块的底部固定连接有液压桶，所述液压桶的内部活动连接有液压柱。

优选的，调节座包括顶块，所述顶块的内部设有螺槽，所述顶块的底部固定连接有升降柱，所述升降柱的内部活动连接有升降螺栓，所述升降柱的外侧活动连接有底块，所述底块的一侧设有升降槽，所述底块的底部固定连接有滑块，所述滑块的内部活动连接有固定螺栓。

优选的，固定筒包括固定筒螺栓，所述固定筒螺栓的底部固定连接有固定筒主体，所述固定筒主体的内部设有固定筒槽，所述固定筒主体的内部活动连接有顶紧柱，所述固定筒主体和顶紧柱之间固定连接有弹簧，所述顶紧柱的底部固定连接有顶紧板，所述固定筒主体的底部固定连接有固定筒盖。

优选的，滑轨包括滑轨主体，所述滑轨主体的内部设有滑槽，所述滑轨主体的前侧设有调节座固定槽。

优选的，控制器包括控制器主体，所述控制器主体的前侧设有显示屏，所述控制器主体的前侧固定连接有按钮。

本实用新型的技术效果和优点：

1.本实用新型通过设有调节座，有利于固定不同大小的芯片，通过调节两个调节座之间的距离，使得不同长度的芯片能够被固定住，通过调节其高度使得不同厚度的芯片能够被固定住，且调节方便。

2.本实用新型通过设有固定筒，有利于固定芯片，使得芯片能够被固定的更加牢固，并且能够调节其对芯片的压力，使得其不会因为压力过大而损坏，保证芯片再被固定的同时不会发生损坏，固定起来方便，加快了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的测试装置整体结构示意图。

图2为本实用新型的安装座整体结构示意图。

图3为本实用新型的液压装置整体结构示意图。

图4为本实用新型的调节座整体结构示意图。

图5为本实用新型的固定筒剖面结构示意图。

图6为本实用新型的滑轨整体结构示意图。

图7为本实用新型的控制器整体结构示意图。

附图标记为：1、安装座；101、安装壳；102、底座；2、液压装置；201、固定块；202、液压桶；203、液压柱；3、调节座；301、顶块；302、螺槽；303、升降柱；304、底块；305、升降槽；306、升降螺栓；307、滑块；308、固定螺栓；4、支柱；5、固定筒；501、固定筒螺栓；502、固定筒主体；503、弹簧；504、固定筒盖；505、顶紧板；506、顶紧柱；507、固定筒槽；6、滑轨；601、滑轨主体；602、滑槽；603、调节座固定槽；7、控制器；701、控制器主体；702、显示屏；703、按钮。

具体实施方式

下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，另外，在以下的实施方式中记载的各结构的形态只不过是例示，本实用新型所涉及的LED芯片测试装置并不限定于在以下的实施方式中记载的各结构，在本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施方式都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了一种LED芯片测试装置，包括安装座1，安装座1内侧的下方固定连接有滑轨6，滑轨6的内部活动连接有调节座3，调节座3的内部活动连接有固定筒5，安装座1内侧的上方固定连接有液压装置2，安装座1的底部固定连接有支柱4，安装座1的前侧固定连接有控制器7，支柱4用于支撑整个装置。

进一步的，安装座1包括安装壳101，安装壳101的底部固定连接有底座102，安装座1用于装置各个部件的安装。

进一步的，液压装置2包括固定块201，固定块201的底部固定连接有液压桶202，液压桶202的内部活动连接有液压柱203，通过控制液压柱203，使得其能够在液压桶202的内部进行移动，进而使得其能够顶在芯片的表面，使得其能够测试芯片的抗断裂强度，液压柱203的内部设有压力传感器，在测试结束后其会将测试的压力数值传输到控制器7进行显示，便于工作人员进行查看和记录。

进一步的，调节座3包括顶块301，顶块301的内部设有螺槽302，顶块301的底部固定连接有升降柱303，升降柱303的内部活动连接有升降螺栓306，升降柱303的外侧活动连接有底块304，底块304的一侧设有升降槽305，底块304的底部固定连接有滑块307，滑块307的内部活动连接有固定螺栓308，螺槽302用于固定筒螺栓501的通过，升降柱303能够在底块304的内部进行移动，使得顶块301的高度能够进行改变，进而使得厚度的芯片能够被固定住，通过拧动升降螺栓306，使得其在升降柱303的内部移动，进而使得其一端能够压在底块304的外侧，进而使得升降柱303被固定在底块304内，拧松则可使得其对高度进行调节，滑块307能够在滑轨6的内部进行移动，进而使得两个调节座3之间的距离能够改变，使得不同长度的芯片能够被固定住，通过拧松固定螺栓308，使得其能够进行移动，拧紧时使得固定螺栓308的一端顶在滑轨6的前侧，进而使得滑块307被固定在滑轨6的内部，使得两个调节座3之间的距离固定。

进一步的，固定筒5包括固定筒螺栓501，固定筒螺栓501的底部固定连接有固定筒主体502，固定筒主体502的内部设有固定筒槽507，固定筒主体502的内部活动连接有顶紧柱506，固定筒主体502和顶紧柱506之间固定连接有弹簧503，顶紧柱506的底部固定连接有顶紧板505，固定筒主体502的底部固定连接有固定筒盖504，固定筒盖504用于限制顶紧柱506的移动，顶紧柱506能够在固定筒主体502的内部进行移动，从而能够压缩弹簧503，在弹簧503的作用下使得顶紧板505能够顶在芯片上，进而对芯片进行固定，且通过拧动固定筒螺栓501，使得其能够在调节座3的内部进行升降，进而使得固定筒5对芯片的压力能够进行改变，使得其能够被固定的更加稳定，且不会因为压力过大而损坏。

进一步的，滑轨6包括滑轨主体601，滑轨主体601的内部设有滑槽602，滑轨主体601的前侧设有调节座固定槽603，滑槽602用于调节座3的移动，调节座固定槽603用于固定螺栓308的移动。

进一步的，控制器7包括控制器主体701，控制器主体701的前侧设有显示屏702，控制器主体701的前侧固定连接有按钮703，控制器7用于控制装置的运行，且能够保存和显示测试的结果。

本实用新型的工作原理：使用时先根据芯片的大小对调节座3进行调节，通过拧松升降螺栓306，使得升降柱303能够在底块304的内部进行移动，使得顶块301的高度能够进行改变，进而使得厚度的芯片能够被固定住，调节到合适的高度后通过拧动升降螺栓306，使得其在升降柱303的内部移动，进而使得其一端能够压在底块304的外侧，进而使得升降柱303被固定在底块304内，通过拧松固定螺栓308，使得滑块307能够在滑轨6的内部进行移动，进而使得两个调节座3之间的距离能够改变，使得不同长度的芯片能够被固定住，调节完成后拧紧固定螺栓308，使得固定螺栓308的一端顶在滑轨6的前侧，进而使得滑块307被固定在滑轨6的内部，然后将芯片放置在顶紧柱506和底块304之间，在弹簧503的作用下使得顶紧柱506能够顶在芯片上，进而使得其被固定住，固定起来方便，且通过拧动固定筒螺栓501，使得其能够在调节座3的内部进行升降，进而使得固定筒5对芯片的压力能够进行改变，使得其能够被固定的更加稳定，且不会因为压力过大而损坏，固定完成后即可对其进行测试，通过控制液压柱203，使得其能够在液压桶202的内部进行移动，进而使得其能够顶在芯片的表面，使得其能够测试芯片的抗断裂强度，液压柱203的内部设有压力传感器，在测试结束后其会将测试的压力数值传输到控制器7进行显示，便于工作人员进行查看和记录。

最后应说明的几点是：首先，在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；

其次：本实用新型公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本实用新型同一实施例及不同实施例可以相互组合；

最后：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种LED芯片测试装置，包括安装座(1)，其特征在于：所述安装座(1)内侧的下方固定连接有滑轨(6)，所述滑轨(6)的内部活动连接有调节座(3)，所述调节座(3)的内部活动连接有固定筒(5)，所述安装座(1)内侧的上方固定连接有液压装置(2)，所述安装座(1)的底部固定连接有支柱(4)，所述安装座(1)的前侧固定连接有控制器(7)。

2.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述安装座(1)包括安装壳(101)，所述安装壳(101)的底部固定连接有底座(102)。

3.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述液压装置(2)包括固定块(201)，所述固定块(201)的底部固定连接有液压桶(202)，所述液压桶(202)的内部活动连接有液压柱(203)。

4.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述调节座(3)包括顶块(301)，所述顶块(301)的内部设有螺槽(302)，所述顶块(301)的底部固定连接有升降柱(303)，所述升降柱(303)的内部活动连接有升降螺栓(306)，所述升降柱(303)的外侧活动连接有底块(304)，所述底块(304)的一侧设有升降槽(305)，所述底块(304)的底部固定连接有滑块(307)，所述滑块(307)的内部活动连接有固定螺栓(308)。

5.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述固定筒(5)包括固定筒螺栓(501)，所述固定筒螺栓(501)的底部固定连接有固定筒主体(502)，所述固定筒主体(502)的内部设有固定筒槽(507)，所述固定筒主体(502)的内部活动连接有顶紧柱(506)，所述固定筒主体(502)和顶紧柱(506)之间固定连接有弹簧(503)，所述顶紧柱(506)的底部固定连接有顶紧板(505)，所述固定筒主体(502)的底部固定连接有固定筒盖(504)。

6.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述滑轨(6)包括滑轨主体(601)，所述滑轨主体(601)的内部设有滑槽(602)，所述滑轨主体(601)的前侧设有调节座固定槽(603)。

7.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试装置，其特征在于：所述控制器(7)包括控制器主体(701)，所述控制器主体(701)的前侧设有显示屏(702)，所述控制器主体(701)的前侧固定连接有按钮(703)。