CN219434982U - 一种位置自动调节的芯片检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种位置自动调节的芯片检测设备，包括底板，所述底板两侧固定连接有匚型杆，所述匚型杆顶部设有移动装置，所述匚型杆上套接有滑块，所述滑块底部固定连接有电动推杆，所述电动推杆伸缩端固定连接有检测头，所述底板顶部两端均固定连接有第一固定块，所述第一固定块一侧固定连接有第一电机。本实用新型通过设置第一丝杆带动工作台移动，第二丝杆带动检测台移动，可以保证待检测芯片可以移动到任意便于检测位置，设置多个检测盒，通过第三电机带动齿轮转动，滑块可以在齿条上移动，并且带动检测头在匚型杆上滑动，可以依次对多个芯片进行检测，智能化程度高，可操作性强。

Description

一种位置自动调节的芯片检测设备

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，具体涉及一种位置自动调节的芯片检测设备。

背景技术

芯片是现代信息社会的基石，在工业机器、电子设备、军事等众多领域都发挥着关键作用。随着信息技术的进步，芯片不断向高集成度、微型化和多功能化方向发展，芯片尺寸越来越小，种类规格多种多样，这使得芯片的识别、分类和缺陷检测显得尤为关键，检测设备有很多种类，工厂常用的检测设备有很多，包括测量设备卡尺、天平、打点机等，另外还有质量检测分析仪器，材质检测、包装检测设备等也是常见的检测设备。在包装环节中比较常见的有包装材料检测仪、金属检测设备、非金属检测设备以及无损检测设备等，该检测设备可以对芯片进行测试，从而可以检测出该芯片合不合格。

现有的芯片检测设备很难对芯片进行批量检测，工作效率较低，并且芯片和检测头大多都是固定的，不利于对芯片进行全方位检测。

因此，发明一种位置自动调节的芯片检测设备来解决上述问题很有必要。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种位置自动调节的芯片检测设备，通过设置第一丝杆带动工作台移动，第二丝杆带动检测台移动，可以保证待检测芯片可以移动到任意便于检测位置，设置多个检测盒，通过第三电机带动齿轮转动，滑块可以在齿条上移动，并且带动检测头在匚型杆上滑动，可以依次对多个芯片进行检测，智能化程度高，可操作性强，整个检测过程自动完成，不需要付出大量人力，节省了人工成本，提高了工作效率，同时自动化的检测也确保了检测的精确度，以解决技术中的上述不足之处。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种位置自动调节的芯片检测设备，包括底板，所述底板两侧固定连接有匚型杆，所述匚型杆顶部设有移动装置，所述匚型杆上套接有滑块，所述滑块底部固定连接有电动推杆，所述电动推杆伸缩端固定连接有检测头，所述底板顶部两端均固定连接有第一固定块，所述第一固定块一侧固定连接有第一电机，两个所述第一固定块之间设有第一丝杆，所述第一丝杆一端与第一固定块转动连接，另一端与第一电机输出轴固定连接，所述底板顶部两端均固定连接有第二固定块，两个所述第二固定块之间设有第一限位杆，所述第一限位杆两端分别与第二固定块固定连接，所述第一限位杆和第一丝杆之间设有工作台，所述工作台两端分别套接在第一限位杆和第一丝杆上，所述工作台与第一限位杆滑动连接，所述工作台与第一丝杆螺纹连接，所述工作台顶部两端均固定连接有第一矮板，所述第一矮板一侧固定连接有第二电机，两个所述第一矮板之间设有第二丝杆，所述第二丝杆一端与第一矮板转动连接，另一端与第二电机输出轴固定连接，所述工作台顶部两端均固定连接有第二矮板，两个所述第二矮板之间设有第二限位杆，所述第二限位杆两端分别与第二矮板固定连接，所述第二限位杆和第二丝杆之间设有检测台，所述检测台两端分别套接在第二限位杆和第二丝杆上，所述检测台与第二限位杆滑动连接，所述检测台与第二丝杆螺纹连接，所述检测台上固定连接有检测盒。

作为本实用新型的优选方案，所述移动装置包括齿条，所述齿条与匚型杆固定连接，所述匚型杆顶部位于齿条两侧固定连接有轨道，所述滑块内壁顶部均开设有滑槽，所述轨道在滑槽内与滑槽滑动连接，所述滑块顶部中心开设有方孔，所述方孔内设有齿轮，所述齿轮与齿条啮合连接，所述滑块一侧固定连接有第三电机，所述第三电机输出端与齿轮固定连接，通过设置第三电机带动齿轮转动，滑块可以在齿条上移动，并且带动检测头在匚型杆上滑动，可以实现对多个芯片依次检测，节省了人工成本，提高了工作效率。

作为本实用新型的优选方案，所述匚型杆顶部且位于轨道两端均固定连接有限位环，所述限位环与滑块相匹配，限位环可以防止滑块工作时滑出轨道。

作为本实用新型的优选方案，所述检测盒的数量设置为多个，多个检测盒呈阵列分布，多个检测盒，检测头在匚型杆上滑动，可以依次对多个芯片进行检测，智能化程度高，可操作性强。

作为本实用新型的优选方案，所述检测盒内两侧均设有固定板，所述固定板与检测盒之间设有弹簧，所述弹簧两端分别与固定板和检测盒固定连接，设置固定板和弹簧，可以将芯片稳定放置在检测盒内，在检测时防止芯片移动。

作为本实用新型的优选方案，所述检测头外侧设有LED灯，所述LED灯呈环形分布，环形分布的LED灯可以为芯片提供照明，保证检测过程中光线明亮，提高检测结果的准确性。

在上述技术方案中，本实用新型提供的技术效果和优点：

1、通过设置第一丝杆带动工作台移动，第二丝杆带动检测台移动，可以保证待检测芯片可以移动到任意便于检测位置，设置多个检测盒，通过第三电机带动齿轮转动，滑块可以在齿条上移动，并且带动检测头在匚型杆上滑动，可以依次对多个芯片进行检测，智能化程度高，可操作性强，整个检测过程自动完成，不需要付出大量人力，节省了人工成本，提高了工作效率，同时自动化的检测也确保了检测的精确度；

2、通过设置固定板和弹簧，可以将芯片稳定放置在检测盒内，在检测时防止芯片移动，设置环形分布的LED灯可以为芯片提供照明，保证检测过程中光线明亮，提高检测结果的准确性，限位环可以防止滑块工作时滑出轨道。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的第一视角立体图；

图2为本实用新型的第二视角立体图；

图3为本实用新型的图2中的A部分结构放大图；

图4为本实用新型的检测盒结构俯视图。

附图标记说明：

1、底板；2、匚型杆；3、移动装置；4、滑块；5、电动推杆；6、检测头；7、第一固定块；8、第一电机；9、第一丝杆；10、第二固定块；11、第一限位杆；12、工作台；13、第一矮板；14、第二丝杆；15、第二电机；16、第二矮板；17、第二限位杆；18、检测台；19、检测盒；20、齿条；21、轨道；22、滑槽；23、方孔；24、齿轮；25、第三电机；26、固定板；27、弹簧；28、LED灯；29、限位环。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面将结合附图对本实用新型作进一步的详细介绍。

本实用新型提供了如图1-4所示的一种位置自动调节的芯片检测设备，包括底板1，底板1两侧固定连接有匚型杆2，匚型杆2顶部设有移动装置3，匚型杆2上套接有滑块4，滑块4底部固定连接有电动推杆5，电动推杆5伸缩端固定连接有检测头6，底板1顶部两端均固定连接有第一固定块7，第一固定块7一侧固定连接有第一电机8，两个第一固定块7之间设有第一丝杆9，第一丝杆9一端与第一固定块7转动连接，另一端与第一电机8输出轴固定连接，底板1顶部两端均固定连接有第二固定块10，两个第二固定块10之间设有第一限位杆11，第一限位杆11两端分别与第二固定块10固定连接，第一限位杆11和第一丝杆9之间设有工作台12，工作台12两端分别套接在第一限位杆11和第一丝杆9上，工作台12与第一限位杆11滑动连接，工作台12与第一丝杆9螺纹连接，工作台12顶部两端均固定连接有第一矮板13，第一矮板13一侧固定连接有第二电机15，两个第一矮板13之间设有第二丝杆14，第二丝杆14一端与第一矮板13转动连接，另一端与第二电机15输出轴固定连接，工作台12顶部两端均固定连接有第二矮板16，两个第二矮板16之间设有第二限位杆17，第二限位杆17两端分别与第二矮板16固定连接，第二限位杆17和第二丝杆14之间设有检测台18，检测台18两端分别套接在第二限位杆17和第二丝杆14上，检测台18与第二限位杆17滑动连接，检测台18与第二丝杆14螺纹连接，检测台18上固定连接有检测盒19。

进一步的，在上述技术方案中，移动装置3包括齿条20，齿条20与匚型杆2固定连接，匚型杆2顶部位于齿条20两侧固定连接有轨道21，滑块4内壁顶部均开设有滑槽22，轨道21在滑槽22内与滑槽22滑动连接，滑块4顶部中心开设有方孔23，方孔23内设有齿轮24，齿轮24与齿条20啮合连接，滑块4一侧固定连接有第三电机25，第三电机25输出端与齿轮24固定连接；

具体的，启动第三电机25，第三电机25带动齿轮24转动，滑块4带动检测头6在轨道21上移动到芯片上方，启动电动推杆5，将检测头6移动到检测芯片的最佳位置，通过启动关闭第三电机25，可以实现对芯片依次检测，节省了人力，提高了工作效率。

进一步的，在上述技术方案中，匚型杆2顶部且位于轨道21两端均固定连接有限位环29，限位环29与滑块4相匹配；

具体的，在滑块4带动检测头6移动时，限位环29可以防止滑块4移出轨道21影响设备工作。

进一步的，在上述技术方案中，检测盒19的数量设置为多个，多个检测盒19呈阵列分布；

具体的，将需要检测的芯片依次放置在检测盒19内，启动第一电机8和第二电机15，第一电机8带动第一丝杆9转动，第一丝杆9带动工作台12移动，第二电机15带动第二丝杆14转动，第二丝杆14带动检测台18移动，将芯片移动到合适的位置，方便进行自动检测。

进一步的，在上述技术方案中，检测盒19内两侧均设有固定板26，固定板26与检测盒19之间设有弹簧27，弹簧27两端分别与固定板26和检测盒19固定连接；

具体的，在弹簧27弹性作用下，固定板26对芯片产生压力，固定住芯片。

进一步的，在上述技术方案中，检测头6外侧设有LED灯28，LED灯28呈环形分布；

具体的，LED灯28在检测头6对芯片进行检测时可以提供照明，提高了检测的准确性。

本实用新型提供的一种位置自动调节的芯片检测设备在使用时，其工作过程为：

将需要检测的芯片放置在检测盒19内，在弹簧27弹性作用下，固定板26对芯片产生压力，固定住芯片，启动第一电机8和第二电机15，第一电机8带动第一丝杆9转动，第一丝杆9带动工作台12移动，第二电机15带动第二丝杆14转动，第二丝杆14带动检测台18移动，将芯片移动到合适的位置，启动第三电机25，第三电机25带动齿轮24转动，滑块4带动检测头6在轨道21上移动到芯片上方，启动电动推杆5，将检测头6移动到检测芯片的最佳位置，通过启动关闭第三电机25，可以实现对芯片依次检测，节省了人力，提高了工作效率，在滑块4带动检测头6移动时，限位环29可以防止滑块4移出轨道21影响设备工作。

以上只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例，毋庸置疑，对于本领域的普通技术人员，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，上述附图和描述在本质上是说明性的，不应理解为对本实用新型权利要求保护范围的限制。

Claims (6)

1.一种位置自动调节的芯片检测设备，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)两侧固定连接有匚型杆(2)，所述匚型杆(2)顶部设有移动装置(3)，所述匚型杆(2)上套接有滑块(4)，所述滑块(4)底部固定连接有电动推杆(5)，所述电动推杆(5)伸缩端固定连接有检测头(6)，所述底板(1)顶部两端均固定连接有第一固定块(7)，所述第一固定块(7)一侧固定连接有第一电机(8)，两个所述第一固定块(7)之间设有第一丝杆(9)，所述第一丝杆(9)一端与第一固定块(7)转动连接，另一端与第一电机(8)输出轴固定连接，所述底板(1)顶部两端均固定连接有第二固定块(10)，两个所述第二固定块(10)之间设有第一限位杆(11)，所述第一限位杆(11)两端分别与第二固定块(10)固定连接，所述第一限位杆(11)和第一丝杆(9)之间设有工作台(12)，所述工作台(12)两端分别套接在第一限位杆(11)和第一丝杆(9)上，所述工作台(12)与第一限位杆(11)滑动连接，所述工作台(12)与第一丝杆(9)螺纹连接，所述工作台(12)顶部两端均固定连接有第一矮板(13)，所述第一矮板(13)一侧固定连接有第二电机(15)，两个所述第一矮板(13)之间设有第二丝杆(14)，所述第二丝杆(14)一端与第一矮板(13)转动连接，另一端与第二电机(15)输出轴固定连接，所述工作台(12)顶部两端均固定连接有第二矮板(16)，两个所述第二矮板(16)之间设有第二限位杆(17)，所述第二限位杆(17)两端分别与第二矮板(16)固定连接，所述第二限位杆(17)和第二丝杆(14)之间设有检测台(18)，所述检测台(18)两端分别套接在第二限位杆(17)和第二丝杆(14)上，所述检测台(18)与第二限位杆(17)滑动连接，所述检测台(18)与第二丝杆(14)螺纹连接，所述检测台(18)上固定连接有检测盒(19)。

2.根据权利要求1所述的一种位置自动调节的芯片检测设备，其特征在于：所述移动装置(3)包括齿条(20)，所述齿条(20)与匚型杆(2)固定连接，所述匚型杆(2)顶部位于齿条(20)两侧固定连接有轨道(21)，所述滑块(4)内壁顶部均开设有滑槽(22)，所述轨道(21)在滑槽(22)内与滑槽(22)滑动连接，所述滑块(4)顶部中心开设有方孔(23)，所述方孔(23)内设有齿轮(24)，所述齿轮(24)与齿条(20)啮合连接，所述滑块(4)一侧固定连接有第三电机(25)，所述第三电机(25)输出端与齿轮(24)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种位置自动调节的芯片检测设备，其特征在于：所述匚型杆(2)顶部且位于轨道(21)两端均固定连接有限位环(29)，所述限位环(29)与滑块(4)相匹配。

4.根据权利要求1所述的一种位置自动调节的芯片检测设备，其特征在于：所述检测盒(19)的数量设置为多个，多个检测盒(19)呈阵列分布。

5.根据权利要求1所述的一种位置自动调节的芯片检测设备，其特征在于：所述检测盒(19)内两侧均设有固定板(26)，所述固定板(26)与检测盒(19)之间设有弹簧(27)，所述弹簧(27)两端分别与固定板(26)和检测盒(19)固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种位置自动调节的芯片检测设备，其特征在于：所述检测头(6)外侧设有LED灯(28)，所述LED灯(28)呈环形分布。