CN219350742U - 一种同轴电缆连接器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型旨在提供一种结构简单使用方便,可直接与产品接触导通接触的同轴电缆连接器。本实用新型包括底座、盖帽、导通件以及探针组,所述导通件与所述底座相连接,所述探针组与所述导通件的一面导通配合,所述导通件的另一面与若干信号线相连接,所述盖帽与所述底座滑动配合并设有与所述探针组相配合的通孔,所述底座设有弹性件,所述弹性件与所述盖帽顶压配合,所述盖帽接触按压时回缩使所述探针组露出并与测试产品连接导通。本实用新型应用于同轴电缆连接器的技术领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及同轴电缆连接器的技术领域,特别涉及一种同轴电缆连接器。
背景技术
表示可以辐射到空间的电磁频率,频率范围从300KHz~110GHz之间,射频简称RF,是高频交流变化电磁波的简称,其每秒变化小于1000次被称为低频电流,超过10000次的称为高频电流,常用的射频测试需要将探针模组通过RF连接器转接再连到同轴电缆线上方可进行对产品测试,中间的转接会对测试有一定的影响,还有使用RF连接器后体积尺寸会比较大,对于测试时会受到很多限制使用。
公开号为CN110137756A的中国专利,一种浮动射频连接器公开;包括相互配合的公端和母端,公端包括第一PCB板和至少一个固定于第一PCB板上的公头,母端包括第二PCB板和至少一个对应于公头的弹性外导体,公头可以半径为R的圆周范围内轴向偏移地插接于弹性外导体中,使用时需要将信号线接入母端中,母端与公端配合连接进而实现信号导通,安装过程中所需要的场地空间较大,且信号线连接母端后不能直接与产品连接测试,还需配合公端连接,具有较大的局限性。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种结构简单使用方便,可直接与产品接触导通接触的同轴电缆连接器。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括底座、盖帽、导通件以及探针组,所述导通件与所述底座相连接,所述探针组与所述导通件的一面导通配合,所述导通件的另一面与若干信号线相连接,所述盖帽与所述底座滑动配合并设有与所述探针组相配合的通孔,所述底座设有弹性件,所述弹性件与所述盖帽顶压配合,所述盖帽接触按压时回缩使所述探针组露出并与测试产品连接导通。
进一步,所述导通件包括基板以及若干组电路板,若干组所述电路板设置在所述基板上,所述基板设有若干台阶孔,若干所述台阶孔对应与若干所述信号线连接配合,若干所述电路板均与所述信号线导通连接。
进一步,所述探针组包括若干导通探针以及探针定位块,所述探针定位块与所述导通件相适配,所述探针定位块上设有若干让位孔,若干所述让位孔对应与若干所述信号线相配合,若干所述导通探针均与所述探针定位块导通连接。
进一步,所述盖帽设有凸台,所述凸台的上表面设有两组定位块,两组所述定位块与外部定位机构相配合,两组所述定位块之间设有若干通孔,若干所述通孔对应与若干所述导通探针相适配,所述盖帽的内壁与所述底座滑动配合,所述盖帽内设有与所述探针定位块相适配的凹槽。
进一步,所述导通件上设置有两组限位螺丝,所述限位螺丝与所述盖帽顶压配合。
本实用新型的有益效果是:由于本实用新型采用导通件将信号线整合到导通件上,导通件配合探针组对测试产品实现测试,底座使用连接片和导套结构,信号线穿过导套整合更加方便高效,整体机构更小,且信号线无需与RF连接器连接后再与产品接触测试,结构简单使用方便,具有良好的环境适用性,有效降低测试成本和减少测试工序。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的爆炸图;
图3是本实用新型导通件的结构示意图;
图4是本实用新型导通件的剖视图;
图5是本实用新型探针组的结构示意图;
图6是本实用新型盖帽的结构示意图;
图7是本实用新型盖帽的剖视图;
图8是本实用新型实施例二盖帽的结构示意图;
图9是本实用新型实施例三盖帽的结构示意图。
具体实施方式
如图1至图9所示,在本实施例中,本实用新型包括底座1、盖帽2、导通件3以及探针组4,所述导通件3与所述底座1相连接,所述探针组4与所述导通件3的一面导通配合,所述导通件3的另一面与若干信号线5相连接,所述盖帽2与所述底座1滑动配合并设有与所述探针组4相配合的通孔,所述底座1设有弹性件6,所述弹性件6与所述盖帽2顶压配合,所述盖帽2接触按压时回缩使所述探针组4露出并与测试产品连接导通,底座1设有连接片和导套,连接片的两端设有螺丝孔,连接片的中部开设有与导套相适配的开孔,导套的尾部设有一定位片,导套穿过开孔后位于尾部的定位片与连接片顶压配合使导套与连接片卡合连接,导套远离定位片的一端的直径与盖帽2相等并与盖帽2滑动配合,弹性件6为压缩弹簧,压缩弹簧的一端与连接片紧密贴合,压缩弹簧的另一端与盖帽2顶压配合,信号线5从导套靠近定位片的一端探入并焊接在导通件3上,探针组4与导通件3紧贴导通,盖帽2与底座1导向配合并与探针组4导向连接,盖帽2与外部测试产品按压接触时,沿导套方向移动并压缩弹性件6,探针组4穿出盖帽2并与外部产品接触进行导通测试,信号线5另一端与外部测试机构实现信号传递。采用导通件3将信号线5整合到导通件3上,导通件3配合探针组4对测试产品实现测试,底座1使用连接片和导套结构,信号线5穿过导套整合更加方便高效,整体机构更小,且信号线5无需与RF连接器连接后再与产品接触测试,结构简单使用方便,具有良好的环境适用性,有效降低测试成本和减少测试工序。
在本实施例中,所述导通件3包括基板31以及若干组电路板32,若干组所述电路板32设置在所述基板31上,所述基板31设有若干台阶孔33,若干所述台阶孔33对应与若干所述信号线5连接配合,若干所述电路板32均与所述信号线5导通连接,四层电路板32紧贴与基板31上,台阶孔33直径与信号线5外部保护层相适配,基板31与四层电路板32开设有若干与信号线5内部传导层相连接的预留孔。
在本实施例中,所述探针组4包括若干导通探针41以及探针定位块42,所述探针定位块42与所述导通件3相适配,所述探针定位块42上设有若干让位孔,若干所述让位孔对应与若干所述信号线5相配合,若干所述导通探针41均与所述探针定位块42导通连接。
在本实施例中,所述盖帽2设有凸台,所述凸台的上表面设有两组定位块21,两组所述定位块21与外部定位机构相配合,两组所述定位块21之间设有若干通孔,若干所述通孔对应与若干所述导通探针41相适配,所述盖帽2的内壁与所述底座1滑动配合,所述盖帽2内设有与所述探针定位块42相适配的凹槽,定位块21呈方形状用于与外部测试产品快速定位卡合。
在本实施例中,所述导通件3上设置有两组限位螺丝,所述限位螺丝与所述盖帽2顶压配合,盖帽2上设有与限位螺丝相适配的限位孔。
本实用新型的工作原理:
实施例一
信号线5穿过底座1与导通件3连接导通,信号线5的保护层部分与台阶孔33定位配合,信号线5内部的传导层焊接在电路板32上,焊接完成后,探针定位块42和导通探针41安装在电路板32上并与其信号导通,随后将盖帽2置于底座1上使其与导套滑动配合,盖帽2上设有五个通孔,导通探针41对应穿出盖帽2上的通孔;
测试时盖帽2接触外部测试产品并收到按压力,盖帽2挤压弹性件6使弹性件6压缩,导通探针41与测试产品接触并进行测试。
实施例二
该实施例中盖帽2设有两组通孔。
实施例三
该实施例中盖帽2设有四组通孔。
虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的,但是并不构成对本实用新型含义的限制,对于本领域的技术人员,根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。
Claims (5)
1.一种同轴电缆连接器,它包括底座(1),其特征在于:所述同轴电缆连接器还包括盖帽(2)、导通件(3)以及探针组(4),所述导通件(3)与所述底座(1)相连接,所述探针组(4)与所述导通件(3)的一面导通配合,所述导通件(3)的另一面与若干信号线(5)相连接,所述盖帽(2)与所述底座(1)滑动配合并设有与所述探针组(4)相配合的通孔,所述底座(1)设有弹性件(6),所述弹性件(6)与所述盖帽(2)顶压配合,所述盖帽(2)接触按压时回缩使所述探针组(4)露出并与测试产品连接导通。
2.根据权利要求1所述的一种同轴电缆连接器,其特征在于:所述导通件(3)包括基板(31)以及若干组电路板(32),若干组所述电路板(32)设置在所述基板(31)上,所述基板(31)设有若干台阶孔(33),若干所述台阶孔(33)对应与若干所述信号线(5)连接配合,若干所述电路板(32)均与所述信号线(5)导通连接。
3.根据权利要求1所述的一种同轴电缆连接器,其特征在于:所述探针组(4)包括若干导通探针(41)以及探针定位块(42),所述探针定位块(42)与所述导通件(3)相适配,所述探针定位块(42)上设有若干让位孔,若干所述让位孔对应与若干所述信号线(5)相配合,若干所述导通探针(41)均与所述探针定位块(42)导通连接。
4.根据权利要求3所述的一种同轴电缆连接器,其特征在于:所述盖帽(2)设有凸台,所述凸台的上表面设有两组定位块(21),两组所述定位块(21)与外部定位机构相配合,两组所述定位块(21)之间设有若干通孔,若干所述通孔对应与若干所述导通探针(41)相适配,所述盖帽(2)的内壁与所述底座(1)滑动配合,所述盖帽(2)内设有与所述探针定位块(42)相适配的凹槽。
5.根据权利要求4所述的一种同轴电缆连接器,其特征在于:所述导通件(3)上设置有两组限位螺丝,所述限位螺丝与所述盖帽(2)顶压配合。
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