CN219301982U - 一种玻璃切割取样装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于玻璃缺陷取样技术领域，具体是涉及到一种玻璃切割取样装置，包括底座、移载台、光源和切割头，所述移载台设置在底座上并可平行于底座表面移动，且移载台上设置有用于固定待取样玻璃的定位件，所述光源与底座固定连接，光源位于移载台的侧面，所述切割头朝向移载台用于放置待取样玻璃的一面设置，切割头可垂直于移载台移动，并可沿直线光束的方向平行于移载台移动，本实用新型可提高切割时的定位精度及切割精度，取样成功率更高，同时切割后表面参残余的玻璃层少，后期所需的打磨时间少甚至无需打磨，从而缩短整个取样过程的时间，提高取样效率。

Description

一种玻璃切割取样装置

技术领域

本实用新型属于玻璃缺陷取样技术领域，具体是涉及到一种玻璃切割取样装置。

背景技术

在玻璃制品的生产过程中，例如基板、盖板等，需要把控成品的质量，保障其良品率，因此生产后需要对上述玻璃制品质量检测，一些玻璃制品中，其玻璃内层有时会出现少量熔解缺陷，为了分析该缺陷部分，获取缺陷原因，需要将该缺陷部分的玻璃切割下来，以对缺陷部分进行相应的检测。由于缺陷部分的尺寸较小，甚至在300微米以下，而进行检测的缺陷玻璃样品一般需要控制在长宽约10mm的规则形状，保障样品整体尺寸满足检测仪器固定要求的情况下，同时保障使缺陷暴露出来，若缺陷玻璃样品尺寸过大，则需要进行二次切割或打磨，若缺陷玻璃样品尺寸过小，则无法固定在检测仪器上，即为取样失败。

目前针对上述缺陷的取样常用方式一般是，通过记号笔在缺陷周围划线，手持玻璃刀沿划线区域切割，或是人工直接目测缺陷位置，手持玻璃刀直接切割玻璃，从而逐渐将缺陷暴露出来，获得玻璃缺陷部分。但由于缺陷尺寸较小，同时需取样的尺寸也较小，手工划线后切割及直接目测切割的方式取样尺寸精度相对较低，切割后缺陷部分表面残余的玻璃层较厚，需要二次切割或长时间的反复打磨才能将缺陷暴露出来才能完成取样，导致整个取样过程耗时长，而手工切割的精度相对较低，二次切割的过程容易导致切割位置偏离，导致取样失败，致使取样的成功率较低。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种提高缺陷取样成功率及效率的玻璃切割取样装置。

本实用新型的内容包括底座、移载台、光源和切割头，所述移载台设置在底座上并可平行于底座表面移动，且移载台上设置有用于固定待取样玻璃的定位件，所述光源与底座固定连接，光源位于移载台的侧面，用于沿待取样玻璃的侧面发射直线光束，所述切割头朝向移载台用于放置待取样玻璃的一面设置，切割头可垂直于移载台移动，并可沿直线光束的方向平行于移载台移动，以对待取样玻璃进行切割。

更进一步地，所述光源为条状，条状的光源与移载台用于放置待取样玻璃的一面垂直。

更进一步地，还包括支架和横梁，支架固定设置在底座上，横梁设置在支架上，所述切割头设置在横梁上。

更进一步地，所述横梁可沿支架上平行于移载台用于放置待取样玻璃的一面移动，横梁沿支架上移动的方向与切割头沿直线光束移动的方向垂直。

更进一步地，所述支架上转动设置有螺杆一，横梁与螺杆一螺纹连接，且横梁与支架滑动连接。

更进一步地，还包括移动座，所述切割头滑动设置在移动座上，所述切割头沿移动座上滑动的方向为垂直于移载台用于放置待取样玻璃一面的方向，所述移动座滑动设置在横梁上，移动座沿横梁上滑动的方向与直线光束的方向平行。

更进一步地，所述移动座上设置有凸台，凸台上螺纹连接有螺杆二，所述螺杆二的端部与切割头转动连接。

更进一步地，所述移载台包括调节平台和取样平台，所述调节平台滑动设置在底座上，取样平台滑动设置在调节平台上，且取样平台沿调节平台上滑动的方向与调节平台沿底座上滑动的方向垂直，所述定位件设置在取样平台上。

更进一步地，所述定位件为压块，压块与取样平台之间的间距可调。

更进一步地，还包括放大镜，所述放大镜朝向切割头及移载台用于放置待取样玻璃的一面设置。

本实用新型的有益效果是，相对于传统直接手动切割的方式，本实用新型通过侧置式光源和切割头的配合，对待切割位置及切割头进行竖向上的定位，提高切割时的定位精度和切割精度，提高取样成功率，切割后缺陷玻璃样品表面残余的玻璃层更少，后期所需的打磨时间少甚至无需进行二次打磨，缩短整个取样过程的时间，提高取样效率。相较于在切割头一侧设置光源，使光源向下发射直接光束的方式，本实用新型在定位和切割时，能够在不干涉切割头的移动且直线光束始与切割头切割路径方向相同的情况下，使待切割位置、直线光束及切割头始终位于同一竖向的直线上，定位更加直观可靠。

附图说明

附图1为本实用新型第一视角的结构示意图。

附图2为本实用新型第二视角的结构示意图。

在图中，1-底座；2-移载台；21-调节平台；22-取样平台；23-螺杆三；24-螺杆四；3-光源；4-切割头；5-定位件；6-支架；7-横梁；71-螺杆一；8-移动座；81-螺杆二；9-放大镜。

具体实施方式

如附图1和2所示，本实用新型包括底座1、移载台2、光源3和切割头4，所述移载台2设置在底座1上并可平行于底座1表面移动，移载台2用于放置待取样玻璃，且移载台2上设置有定位件5，定位件5用于固定待取样玻璃的位置，避免其在取样切割时发生位移，所述光源3与底座1固定连接，光源3位于移载台2的侧面，且光源3不跟随移载台2移动，光源用于沿待取样玻璃的侧面发射直线光束，所述切割头4朝向移载台2用于放置待取样玻璃的一面设置，切割头4可垂直于移载台2的该面移动，使切割头4接触或远离待取样玻璃，且切割头4可平行于移载台2的该面移动，具体为沿以沿光源3发射的直线光束的方向平行与移载台2移动，从而沿直线光束的方向对待取样玻璃进行切割。其中，在切割头4切割前，预先设置切割头4与直线光束对齐。

本实用新型在使用时，通过定位件5将待取样玻璃固定在移载台2上，开启光源3，直线光束沿移载台2侧面及待取样玻璃侧面照射，移动移载台2，使待取样玻璃上的缺陷的边缘与光源3发出的直线光束对齐，再向下移动切割头4，使其与待取样玻璃接触，并沿直线光束方向移动切割头4，以进行切割，逐渐将待取样玻璃上的缺陷暴露出来，完成最终的缺陷取样作业。相对于传统直接手动切割的方式，本实用新型通过侧置式光源和切割头的配合，可对待切割位置及切割头进行竖向上的定位，提高切割时的定位精度和切割精度，取样成功率更高，切割后表面残余的玻璃层更少，后期所需的打磨时间少甚至无需进行二次打磨，缩短整个取样过程的时间，提高取样效率。而本实用新型将光源3设置在侧面，从侧面发出直线光束进行定位，相较于在切割头4一侧设置光源，使光源向下发射直接光束的方式，本实用新型在定位和切割时，能够在不干涉切割头4的移动且直线光束始与切割头4切割路径方向相同的情况下，使待切割位置、直线光束及切割头4始终位于同一竖向的直线上，定位更加直观可靠。

其中，为了便于操作者目测到光源3散发的直线光束，光源3散发的直线光束为鲜艳的颜色，例如红色。在本实用新型中，所述光源3为条状，条状的光源3与移载台2用于放置待取样玻璃的一面垂直。通过设置条状的光源3，在散发的直线光束宽度不变的情况下，增大了直线光束的高度，便于缺陷及切割头3与直线光束之间进行定位。

本实用新型还包括支架6和横梁7，支架6固定设置在底座1上，横梁7设置在支架6上，所述切割头4设置在横梁7上，以对切割头4进行支撑。参考图2所示，所述光源3固定在支架6上，且光源3所需连接的电气设备安装在支架6内。其中，所述光源3为激光光源，例如半导体激光器，激光器沿支架6上竖向设置有数个，以使光源3形成条状，所述支架6上位于光源3的前方设置有一块遮挡板，参考图2所示，遮挡板上开设有竖向的条形孔，光源3发射的直线光束透过条形孔发射出来，形成竖向条状的直线光束，优选遮挡板上条形孔的宽度为100-200μm，优选为100μm，使得发射出的直线光束在指定范围内。

其中，所述横梁7可沿支架6上平行于移载台2用于放置待取样玻璃的一面移动，且横梁7沿支架6上移动的方向与切割头4沿直线光束移动的方向垂直，通过移动横梁7，可调节切割头4的位置，保障本实用新型使用前，切割头4的刀锋位置与直线光束对齐。具体的，所述支架6上转动设置有螺杆一71，横梁7与螺杆一71螺纹连接，且横梁7与支架6滑动连接，通过转动螺杆一71，即可移动横梁7在支架6上的位置，螺杆一71的转动可以为手动转动或在支架6上设置电机驱动转动。

本实用新型还包括移动座8，所述切割头4设置在移动座8上并与移动座8滑动连接，所述切割头4沿移动座8上滑动的方向为垂直于移载台2放置待取样玻璃一面的方向，即移动切割头4使其接触或远离待取样玻璃时，切割头4沿移动座8上滑动，所述移动座8滑动设置在横梁7上，移动座8沿横梁7上滑动的方向与直线光束的方向平行，即移动切割头4使其沿直线光束的方向平行于移载台2移动，以对待取样玻璃进行切割时，切割头4通过移动座8沿横梁7上滑动。

其中，切割头4通过移动座8沿横梁7上滑动时，可以为手动推动移动座5滑动，或是通过气缸或直线驱动件推动移动座5滑动。所述移动座8上设置有凸台，凸台上螺纹连接有螺杆二81，所述螺杆二81的端部与切割头4转动连接，通过转动螺杆二81，即可驱动切割头4沿移动座8上移动，螺杆二81的转动可以为手动转动或在移动座8上设置电机驱动转动。

移载台2具体包括调节平台21和取样平台22，所述调节平台21滑动设置在底座1上，取样平台22滑动设置在调节平台21上，且取样平台22沿调节平台21上滑动的方向与调节平台21沿底座1上滑动的方向垂直，使得固定在移载台2上的待取样玻璃可相对于底座1进行十字形移动，待取样玻璃的位置调整更加方便，取样平台22表面即为用于放置待取样玻璃的一面，所述定位件5设置在取样平台22上。

所述定位件5为压块，压块与取样平台22之间的间距可调，便于对不同厚度的待取样玻璃进行固定，具体为，压块上穿设有螺栓，螺栓与压块转动连接，且螺栓的端部与取样平台22螺纹连接，通过旋动螺栓，即可调节压块与取样平台22之间的间距。

本实用新型还包括放大镜9，所述放大镜9通过朝向切割头4及移载台2用于放置待取样玻璃的一面设置，放大镜9具体可以为倾斜向下设置，或设置在移载台2的侧面，优选放大镜9的放大倍数为10倍。操作人员通过所述放大镜9，可更为精确的观察缺陷及切割头3与直线光束之间的位置关系，从而保障取样切割作业的精确进行。其中，放大镜9与支架6之间通过软支架(图中未示)连接，对放大镜9进行支撑的同时，便于调节放大镜9的位置，软支架具体为鹅颈管等可变形的金属软管。

Claims (10)

1.一种玻璃切割取样装置，其特征是，包括底座(1)、移载台(2)、光源(3)和切割头(4)，所述移载台(2)设置在底座(1)上并可平行于底座(1)表面移动，且移载台(2)上设置有用于固定待取样玻璃的定位件(5)，所述光源(3)与底座(1)固定连接，光源(3)位于移载台(2)的侧面，用于沿待取样玻璃的侧面发射直线光束，所述切割头(4)朝向移载台(2)用于放置待取样玻璃的一面设置，切割头(4)可垂直于移载台(2)移动，并可沿直线光束的方向平行于移载台(2)移动，以对待取样玻璃进行切割。

2.如权利要求1所述的玻璃切割取样装置，其特征是，所述光源(3)为条状，条状的光源(3)与移载台(2)用于放置待取样玻璃的一面垂直。

3.如权利要求1所述的玻璃切割取样装置，其特征是，还包括支架(6)和横梁(7)，支架(6)固定设置在底座(1)上，横梁(7)设置在支架(6)上，所述切割头(4)设置在横梁(7)上。

4.如权利要求3所述的玻璃切割取样装置，其特征是，所述横梁(7)可沿支架(6)上平行于移载台(2)用于放置待取样玻璃的一面移动，横梁(7)沿支架(6)上移动的方向与切割头(4)沿直线光束移动的方向垂直。

5.如权利要求4所述的玻璃切割取样装置，其特征是，所述支架(6)上转动设置有螺杆一(71)，横梁(7)与螺杆一(71)螺纹连接，且横梁(7)与支架(6)滑动连接。

6.如权利要求3-5任一项所述的玻璃切割取样装置，其特征是，还包括移动座(8)，所述切割头(4)滑动设置在移动座(8)上，所述切割头(4)沿移动座(8)上滑动的方向为垂直于移载台(2)用于放置待取样玻璃一面的方向，所述移动座(8)滑动设置在横梁(7)上，移动座(8)沿横梁(7)上滑动的方向与直线光束的方向平行。

7.如权利要求6所述的玻璃切割取样装置，其特征是，所述移动座(8)上设置有凸台，凸台上螺纹连接有螺杆二(81)，所述螺杆二(81)的端部与切割头(4)转动连接。

8.如权利要求1-5、7任一项所述的玻璃切割取样装置，其特征是，所述移载台(2)包括调节平台(21)和取样平台(22)，所述调节平台(21)滑动设置在底座(1)上，取样平台(22)滑动设置在调节平台(21)上，且取样平台(22)沿调节平台(21)上滑动的方向与调节平台(21)沿底座(1)上滑动的方向垂直，所述定位件(5)设置在取样平台(22)上。

9.如权利要求8所述的玻璃切割取样装置，其特征是，所述定位件(5)为压块，压块与取样平台(22)之间的间距可调。

10.如权利要求1-5、7、9任一项所述的玻璃切割取样装置，其特征是，还包括放大镜(9)，所述放大镜(9)朝向切割头(4)及移载台(2)用于放置待取样玻璃的一面设置。

Images