CN219285361U - 一种用于电池老化测试的连接装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于电池老化测试的连接装置，包括PCB底板、连接器母座、正极端口、SMBC端口、NTC/ID端口、负极端口和SMBD端口；PCB底板上贴片12个连接器母座，包括8个9PIN连接器母座和4个11PIN连接器母座，12个连接器母座分为12种不同PIN线序排列，通过PCB底板布局线路使每个PIN脚都连通到对应的正极端口、负极端口、SMBC端口、SMBD端口和NTC/ID端口，实现12种不同PIN线序排列装在一块PCB底板上；正极端口、负极端口、SMBC端口、SMBD端口和NTC/ID端口通过导线连接到电池老化柜的接口。该连接装置通用产品种类多，两面都可以用，节省使用空间。
Description
技术领域
本实用新型涉及老化测试技术领域，具体涉及一种用于电池老化测试的连接装置。
背景技术
连接器是我们电子工程技术人员经常接触的一种部件，老化工序是通讯电池组必不可少的工序。它在电池组和老化检测设备之问起到一种对接，起到接口转换连接作用，架起沟通的桥梁，从而使电流、电压、内阻、通讯信号流通，使电路实现预定的功能。
现在使用的情况是没有一种有效的连接器转接，传统方法用鳄鱼夹导线，具有以下缺陷：
1、产品有多根导线，每根线都用鳄鱼夹会存在没有固定好，线与线之间容易碰到，发生短路；
2、鳄鱼夹夹线头，容量使五金端子铜片弹片变形，铜片出现移位，导致连接器接触不良，因为笔记本电脑电池经常移动，而导致连接器会因为振动而开裂损坏；
3、不同的品牌和产品PIN线序排列不同，更换型号起来非常繁琐，耗费大量人工。
实用新型内容
有鉴于此，为了解决现有技术中的上述问题，本实用新型提出一种用于电池老化测试的连接装置，该连接装置接口定义灵活，通用不同电池产品接口排列，通用性强。
本实用新型通过以下技术手段解决上述问题：
一种用于电池老化测试的连接装置，包括PCB底板、连接器母座、正极端口、SMBC端口、NTC/ID端口、负极端口和SMBD端口；
所述PCB底板上贴片连接器母座，总共贴片有12个连接器母座；
其中包括8个9PIN连接器母座和4个11PIN连接器母座，12个连接器母座分为12种不同PIN线序排列，通过PCB底板布局线路使每个PIN脚都连通到对应的正极端口、负极端口、SMBC端口、SMBD端口和NTC/ID端口，实现12种不同PIN线序排列装在一块PCB底板上，PIN脚都导通端口；
正极端口、负极端口、SMBC端口、SMBD端口和NTC/ID端口通过导线连接到电池老化柜的接口。
作为优选地，所述PCB底板双面贴片12个连接器母座；PCB底板正面贴片有6个连接器母座，背面贴片有6个连接器母座。
作为优选地，12个连接器母座PIN定义分类为以下排列：
| A | P-P-P-C D T P+P+P+ | G | P+P+P+T D C P-P-P- |
| B | P+P+P+C D T P-P-P- | H | P-P-P-T D C P+P+P+ |
| C | P-P-P-P-C D T P+P+P+P+ | I | P+P+P+P+T D C P-P-P-P- |
| D | P+P+P+P+T C D P-P-P-P- | J | P-P-P-P-D C T P+P+P+P+ |
| E | P-P-P-T C D P+P+P+ | K | P+P+P+D T C P-P-P- |
| F | P+P+P+T C D P-P-P- | L | P-P-P-D C T P+P+P+ |
。
作为优选地，所述PCB底板为正六边形。
作为优选地，所述连接器母座为PH＝1.25mm连接器母座。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果至少包括：
本实用新型的连接装置能节省工人换线，提升产品合格率，减少返修率，节省操作工序，多种接口，通用产品种类多，结构灵活，双面布端子母座，两面都可以用，节省使用空间。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型用于电池老化测试的连接装置的结构示意图；
图2是本实用新型连接器公座和连接器母座的装配结构示意图；
附图标记说明：
1、PCB底板；2、连接器母座；3、正极端口；4、SMBC端口；5、NTC/ID端口；6、负极端口；7、SMBD端口。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面将结合附图和具体的实施例对本实用新型的技术方案进行详细说明。需要指出的是，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示，本实用新型提供一种用于电池老化测试的连接装置，包括PCB底板1、连接器母座2、正极端口3、SMBC端口4、NTC/ID端口5、负极端口6和SMBD端口7。
所述PCB底板1双面贴片连接器母座2，总共贴片有12个连接器母座2；PCB底板1正面贴片有6个连接器母座2，背面贴片有6个连接器母座2。
其中包括8个9PIN连接器母座和4个11PIN连接器母座，12个连接器母座2分为12种不同PIN线序排列，通过PCB底板1布局线路使每个PIN脚都连通到对应的正极端口3、负极端口6、SMBC端口4、SMBD端口7和NTC/ID端口5，实现12种不同PIN线序排列装在一块PCB底板1上，PIN脚都导通端口。
正极端口3、负极端口6、SMBC端口4、SMBD端口7和NTC/ID端口5通过导线连接到电池老化柜的接口。
本实施例中，12个连接器母座2PIN定义分类为以下排列：
| A | P-P-P-C D T P+P+P+ | G | P+P+P+T D C P-P-P- |
| B | P+P+P+C D T P-P-P- | H | P-P-P-T D C P+P+P+ |
| C | P-P-P-P-C D T P+P+P+P+ | I | P+P+P+P+T D C P-P-P-P- |
| D | P+P+P+P+T C D P-P-P-P- | J | P-P-P-P-D C T P+P+P+P+ |
| E | P-P-P-T C D P+P+P+ | K | P+P+P+D T C P-P-P- |
| F | P+P+P+T C D P-P-P- | L | P-P-P-D C T P+P+P+ |
本实施例中，所述PCB底板1为正六边形；所述连接器母座2为PH＝1.25mm连接器母座。
如图2所示，以笔记本电池为例，当笔记本电池不同的机种端子线有不同PIN顺序排列，把相同PIN顺序排列的端子线公座，插入相同PIN顺序排列的母座，起桥梁连接作用，老化检测柜的端口PIN顺序排列是固定的一种，通用连接线焊在PCB底板1上的正极端口3、负极端口6、SMBC端口4、SMBD端口7和NTC/ID端口5，从面实现笔记本电池端子线与老化检测柜端口连接。
传统的方法一种笔记本电池端子线PIN定义换一次板，若有12种端子线就要换12次连接板，或用鳄鱼夹对应的端子线，本实用新型就解决了12种不同PIN顺序排列采用就一块板就实现了转接，节省换连接板频次。
通过本实用新型的连接装置有效解决人工换笔记本电池不同的PIN线序排列，节省一对一换线时间，提高了作业效率，鳄鱼夹引起五金端子铜片变形接触不良；线与线之间容易短路；本实用新型用一个通用的治具有效解决12种不同产品(1～9,1～12PIN)线序不同排列等一系列问题。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (5)
1.一种用于电池老化测试的连接装置，其特征在于，包括PCB底板、连接器母座、正极端口、SMBC端口、NTC/ID端口、负极端口和SMBD端口；
所述PCB底板上贴片连接器母座，总共贴片有12个连接器母座；
其中包括8个9PIN连接器母座和4个11PIN连接器母座，12个连接器母座分为12种不同PIN线序排列，通过PCB底板布局线路使每个PIN脚都连通到对应的正极端口、负极端口、SMBC端口、SMBD端口和NTC/ID端口，实现12种不同PIN线序排列装在一块PCB底板上，PIN脚都导通端口；
正极端口、负极端口、SMBC端口、SMBD端口和NTC/ID端口通过导线连接到电池老化柜的接口。
2.根据权利要求1所述的用于电池老化测试的连接装置，其特征在于，所述PCB底板双面贴片12个连接器母座；PCB底板正面贴片有6个连接器母座，背面贴片有6个连接器母座。
3.根据权利要求1所述的用于电池老化测试的连接装置，其特征在于，12个连接器母座PIN定义分类为以下排列：
第A个连接器母座PIN定义分类为：P-P-P-C D T P+P+P+；
第B个连接器母座PIN定义分类为：P+P+P+C D T P-P-P-；
第C个连接器母座PIN定义分类为：P-P-P-P-C D T P+P+P+P+；
第D个连接器母座PIN定义分类为：P+P+P+P+T C D P-P-P-P-；
第E个连接器母座PIN定义分类为：P-P-P-T C D P+P+P+；
第F个连接器母座PIN定义分类为：P+P+P+T C D P-P-P-；
第G个连接器母座PIN定义分类为：P+P+P+T D C P-P-P-；
第H个连接器母座PIN定义分类为：P-P-P-T D C P+P+P+；
第I个连接器母座PIN定义分类为：P+P+P+P+T D C P-P-P-P-；
第J个连接器母座PIN定义分类为：P-P-P-P-D C T P+P+P+P+；
第K个连接器母座PIN定义分类为：P+P+P+D T C P-P-P-；
第L个连接器母座PIN定义分类为：P-P-P-D C T P+P+P+。
4.根据权利要求1所述的用于电池老化测试的连接装置，其特征在于，所述PCB底板为正六边形。
5.根据权利要求1所述的用于电池老化测试的连接装置，其特征在于，所述连接器母座为PH＝1.25mm连接器母座。
Priority Applications (1)
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| CN202223304751.1U CN219285361U (zh) | 2022-12-09 | 2022-12-09 | 一种用于电池老化测试的连接装置 |
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Publications (1)
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| CN219285361U true CN219285361U (zh) | 2023-06-30 |
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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2022
- 2022-12-09 CN CN202223304751.1U patent/CN219285361U/zh active Active
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