CN210487943U - 一种MicroLED测试治具及MicroLED测试设备 - Google Patents

一种MicroLED测试治具及MicroLED测试设备 Download PDF

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CN210487943U CN201921038540.3U CN201921038540U CN210487943U CN 210487943 U CN210487943 U CN 210487943U CN 201921038540 U CN201921038540 U CN 201921038540U CN 210487943 U CN210487943 U CN 210487943U
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郑伶俐
林志阳
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Xiamen Teyi Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型涉及半导体产品检测技术领域,特别涉及一种MicroLED测试治具及MicroLED测试设备,MicroLED测试治具包括治具载板、PCB板和产品放置板;治具载板的一侧设置有凹槽,所述凹槽用于放置所述PCB板,所述产品放置板设置在所述治具载板和所述PCB板上;所述产品放置板的一侧设置有产品放置槽,另一侧设置有真空吸附模块,所述产品放置槽内设置有若干与产品进行导通连接的探针,所述探针还与所述PCB板电性连接。本实用新型提供的MicroLED测试治具,能够应用在MicroLED测试设备中,从而实现MicroLED的自动化测试,不仅能够提高生产效率,还能降低PCB板的损坏率,并提高产品测试的准确度,具有重要的实际生产应用价值。

Description

一种MicroLED测试治具及MicroLED测试设备
技术领域
本实用新型涉及半导体产品检测技术领域,特别涉及一种MicroLED测试治具及MicroLED测试设备。
背景技术
随着市场MicroLED尺寸越来越小化,市场遇到的最小产品尺寸 0.39inch,需要针对0.39inch产品进行点亮光学测试。测试时,如图1所示,一般将产品通过与定制的PCB板进行电性连接后,使产品点亮,再进行光学测试。由于产品为高清分辨率,产品测试不可有晃动,且产品需要匹配4300MCCD测试,需要产品放置在较高平整度进行测试,此外,产品连接器为压接式结构,现有使用中均为产品直接在PCB板上做拔插动作,且采用公、母头治具(如图2所示),结构复杂连接点多,使得拔插困难,工作效率低,容易损坏测试PCB板,且无法实现自动化。
实用新型内容
为解决上述背景技术中提到的现有的MicroLED测试中工作效率低,PCB 板容易损坏的问题,本实用新型提供一种MicroLED测试治具,包括治具载板、 PCB板和产品放置板;
治具载板的一侧设置有凹槽,所述凹槽用于放置所述PCB板,所述产品放置板设置在所述治具载板和所述PCB板上;
所述产品放置板的一侧设置有产品放置槽,另一侧设置有真空吸附模块,所述产品放置槽内设置有若干与产品进行导通连接的探针,所述探针还与所述PCB板电性连接。
在上述方案的基础上,进一步地,所述探针的针距为0.4mm,数量为60 个。
本实用新型还提供采用一种如上任意所述MicroLED测试治具的MicroLED 测试设备。
本实用新型提供的MicroLED测试治具,能够应用在自动化设备中,从而实现MicroLED的自动化测试,不仅能够提高生产效率,还能降低PCB板的损坏率,并提高产品测试的准确度,具有重要的实际生产应用价值。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中测试MicroLED的示意图;
图2为现有技术中公、母头治具的结构示意图;
图3为本实用新型提供一种MicroLED测试治具结构示意图;
图4为本实用新型提供MicroLED测试治具装载在机台上的结构示意图;
图5为MicroLED产品安装在MicroLED测试治具上的结构示意图。
附图标记:
100治具载板 200PCB板 300产品放置板
310产品放置槽 320真空吸附模块 311探针
400自动化机台 500机械手 600MicroLED测试治具
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
本实用新型提供一种MicroLED测试治具,如图3所示,包括治具载板100、 PCB板200和产品放置板300;
治具载板100的一侧设置有凹槽,所述凹槽用于放置所述PCB板200,所述产品放置板300设置在所述治具载板100和所述PCB板200上;
所述产品放置板300的一侧设置有产品放置槽310,另一侧设置有真空吸附模块320,所述产品放置槽310内设置有若干与产品进行导通连接的探针 311,所述探针311还与所述PCB板200电性连接;在某具一产品中,所述探针311的针距为0.4mm,数量为60个,根据具体需要,针距和数量均可进行重新设计。
具体地,将定制的PCB板200设置好后,如图4所示,先将MicroLED测试治具600设置在自动化机台400中,通过机械手500将产品进行抓取后,放置在MicroLED测试治具上,如图3所示,产品放置槽310用于对产品进行限位,真空吸附模块320通过真空吸附将产品固定,防止产品点亮后发生晃动;在操作时,在治具载板100底侧增加1um厚度的塞片进行平整度调整,可以控制平整度在10um以内。
本实用新型提供的MicroLED测试治具应用在MicroLED测试设备中,能够实现机台的自动化测试,提高生产效率,并降低PCB板的损坏率;具体产品性能测试如下表所示,其中,不良率的评判标准为接头是否接触不良;损坏率的标准为PCB板上的母头PIN发生损坏弯曲;
表1
Figure DEST_PATH_GDA0002403712400000041
此外,通过本实用新型提供的MicroLED测试治具能够大大降低产品的误判率,具体测试如下表所示:
表2
产品平整度 投入数 误判数 误判率 误判原因
11um 10 1 10% 平整度不行导致产品测试模糊
10um 10 0 0% /
5um 10 0 0% /
通过上表可以看出,即使在测试板面平整度为11um下,误判率仍未10%,而当平整度为10um以下时,能够使误判率降为0;其中,误判率的标准为产品点亮后测试相机是否产生模糊。
尽管本文中较多的使用了诸如治具载板、PCB板、产品放置板、产品放置槽、真空吸附模块、探针、机台、机械臂等术语,但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本实用新型的本质;把它们解释成任何一种附加的限制都是与本实用新型精神相违背的。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (3)

1.一种MicroLED测试治具,其特征在于:包括治具载板(100)、PCB板(200)和产品放置板(300);
治具载板(100)的一侧设置有凹槽,所述凹槽用于放置所述PCB板(200),所述产品放置板(300)设置在所述治具载板(100)和所述PCB板(200)上;
所述产品放置板(300)的一侧设置有产品放置槽(310),另一侧设置有真空吸附模块(320),所述产品放置槽(310)内设置有若干与产品进行导通连接的探针(311),所述探针(311)还与所述PCB板(200)电性连接。
2.根据权利要求1所述的MicroLED测试治具,其特征在于:所述探针(311)的针距为0.4mm,数量为60个。
3.一种MicroLED测试设备,其特征在于:采用如权利要求1或2任一项所述MicroLED测试治具。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115872084A (zh) * 2022-12-31 2023-03-31 中山市博测达电子科技有限公司 一种智能高柔性立库老化单元生产线

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