CN219225007U - 一种芯片自动测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片自动测试装置，属于芯片测试技术领域，包括支撑座，支撑座的侧面固定有多个支撑腿，支撑座中转动设置有转动台，转动台通过驱动机构驱动其在支撑座上步进转动，转动台的表面开设有等距分布的芯片槽，支撑座的侧面安装有芯片检测部用于芯片的逐个检测；而在支撑座的侧面还设置有芯片转移组件，且芯片转移组件具有双向转动性用于芯片检测后的分类转移，从而方便使芯片至于在芯片槽中，进而方便在芯片检测部的作用下进行逐个检测，并根据检测后的芯片，使被检测的芯片能够分开转移放置。

Description

一种芯片自动测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片自动测试装置。

背景技术

在芯片技术领域，随着半导体工艺的不断进步，芯片上集成电路的密集程度也越来越高，使得芯片的功能及运行速度都得到了极大的提高。而以此同时，对芯片性能参数的测试成本也越来越高。

授权公告号CN208207148U一种芯片自动测试装置，包括装置本体，所述装置本体包括传送机构和测试机构，所述传送机构包括下底板，所述下底板上设有上底板，所述上底板上设有第一铰接座，芯片载板通过所述第一铰接座与所述上底板可转动的相连接，所述芯片载板上设有放置槽，所述放置槽内放置待测芯片，所述芯片载板的一端设有拉杆，所述拉杆的一侧设有第二铰接座，连接杆通过所述第二铰接座与所述拉杆可转动的相连接。

上述专利将待测芯片正面朝下的放入芯片载板的放置槽内，即待测芯片的引脚朝上，拉动拉杆，由于芯片载板通过第一铰接座可转动的与上底板相连接，连接杆通过第二铰接座可转动的与拉杆相连接，使滑动铁块沿着第一滑槽向下运动，从而使芯片载板向上翘起，将待测芯片往测试机构方向传送，芯片载板翘至最高处，同时滑动铁块运动至第一滑槽最底端，并被磁铁牢牢的磁吸附住，从而使得芯片载板的翘起位置保持相对稳定，测试头通过测试支架沿着第二滑槽往下移，移至第二限位孔的时候用限位杆将测试支架进行固定，此时测试头底部的测试探针压靠在待测芯片的引脚上面，使测试探针与待测芯片的引脚形成测试回路进行测试，减震弹簧使得测试头具有一定的高度弹性，可适应不同厚度的待测芯片，满足了不同规格型号芯片的测试需求，而上述专利虽然一定程度上，达到了自动芯片测试的目的，但是其仍需较为复杂的手动操作，完全达不到生产测试的需求，为此我们提出了一种芯片自动测试装置。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种芯片自动测试装置，解决了上述所提出的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种芯片自动测试装置，包括支撑座，支撑座的侧面固定有多个支撑腿，所述支撑座中转动设置有转动台，所述转动台通过驱动机构驱动其在支撑座上步进转动；

所述转动台的表面开设有等距分布的芯片槽；

所述支撑座的侧面安装有芯片检测部用于芯片的逐个检测；而在支撑座的侧面还设置有芯片转移组件，且芯片转移组件具有双向转动性用于芯片检测后的分类转移。

优选的，所述支撑座的顶面开设有支撑槽口，支撑槽口的内底面设置有轨道槽，所述转动台呈环形结构并滑动设置在轨道槽中。

优选的，所述驱动机构包括设置在驱动电机，驱动电机的轴端连接有轴杆，轴杆的端部连接有连接盘，连接盘的侧面与转动台的内壁之间连接有连接杆。

优选的，所述驱动电机设置在整个装置的中心处，且驱动电机的底面安装有加固板用于固定在地面。

优选的，所述芯片检测部包括固定在支撑座外侧面上的L型结构的支撑架，支撑架的顶面安装有第一电动推杆，第一电动推杆的推杆端设置有测试探针。

优选的，所述芯片转移组件包括安装在支撑座外侧面上的固定板，固定板的侧面安装有安装板，安装板上安装有转动电机，转动电机的轴端连接有连板，连板的侧面连接有架设在支撑座上部的工装板，工装板上设置有第二电动推杆，第二电动推杆的推杆端连接有真空吸盘。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种芯片自动测试装置。具备以下有益效果：方便使芯片至于在芯片槽中，进而方便在芯片检测部的作用下进行逐个检测，并根据检测后的芯片，使被检测的芯片能够分开转移放置。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中支撑座与转动台连接的俯视结构示意图；

图3为本实用新型中支撑座的俯视结构示意图；

图4为本实用新型中转动电机与工装板连接结构示意图。

图中：1、支撑座；101、支撑槽口；1011、轨道槽；2、支撑腿；3、转动台；31、芯片槽；4、加固板；5、驱动电机；6、轴杆；7、连接盘；8、连接杆；9、支撑架；10、第一电动推杆；11、测试探针；12、固定板；13、转动电机；14、工装板；15、安装板；16、连板；17、第二电动推杆；18、真空吸盘。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种芯片自动测试装置，包括支撑座1，支撑座1呈环形结构，支撑座1的侧面固定有多个支撑腿2，支撑腿2用于支撑架设保证整体的稳定，支撑座1中转动设置有转动台3，支撑座1的顶面开设有支撑槽口101，支撑槽口101延伸至支撑座1的内边缘处，支撑槽口101的内底面设置有环形结构的轨道槽1011，转动台3呈环形结构并滑动设置在轨道槽1011中，转动台3通过驱动机构驱动其在支撑座1上步进转动，进而方便转动台3沿着轨道槽1011步进移动转动；

驱动机构包括设置在驱动电机5，驱动电机5为步进电机，驱动电机5的轴端通过法兰连接有轴杆6，轴杆6的端部连接有连接盘7，连接盘7的侧面与转动台3的内壁之间连接有多个连接杆8，进而方便驱动电机5驱动轴杆6转动带动连接杆8驱动转动台3转动，驱动电机5设置在整个装置的中心处，且驱动电机5的底面安装有加固板4用于固定在地面，加固板4起到支撑驱动电机5的作用以及方便安装在指定的地面上；

转动台3的表面开设有等距分布的芯片槽31，芯片槽31用于放置芯片；

支撑座1的侧面安装有芯片检测部用于芯片的逐个检测，芯片检测部包括固定在支撑座1外侧面上的L型结构的支撑架9，使支撑架9的顶面位于支撑座1的上方处，支撑架9的顶面安装有第一电动推杆10，第一电动推杆10的推杆端活动贯穿支撑架10且其伸出端设置有测试探针11，进而方便带动侧视探针11与芯片进行作用；

而在支撑座1的侧面还设置有芯片转移组件，且芯片转移组件具有双向转动性用于芯片检测后的分类转移，使在芯片转移组件的作用方便带动合格的芯片向着一侧进行转动转移，不合格的芯片转移至另一侧，使其方便分类转移收纳，芯片转移组件包括安装在支撑座1外侧面上的固定板12，固定板12的端部安装有安装板15，安装板15上安装有转动电机13，转动电机13的轴端连接有连板16，连板16的侧面连接有架设在支撑座1上部的工装板14，进而方便转动电机13带动连板16转动，使连板16带动工装板14转动，使其方便带动工装板14按照芯片检测部检测的芯片质量通过信号控制，工装板14上设置有第二电动推杆17，第二电动推杆17的推杆端连接有真空吸盘18，真空吸盘18方便吸附在芯片上，且便于解除与芯片的吸附状态，使芯片方便转移以及脱落，进而便于转移。

在使用时，芯片至于在芯片槽31中，进而在驱动电机5的作用下带动转动台3沿着轨道槽1011步进移动，而芯片槽31移动至测试探针11的下方时，此时在控制器的作用下，使第一电动推杆10带动测试探针11向下移动对芯片进行检测，检测后第一电动推杆10带动侧视探针11复位，为转动台3又进一步向前转动，此时第二电动推杆17带动真空吸盘18向下吸附检测后的芯片，进而第二电动推杆17带动真空吸盘18上升后，在转动电机13的作用下带动工装板14向左转动或者向右转动，使该芯片根据检测情况被转移至不同的位置上收纳，从而方便使芯片至于在芯片槽中，进而方便在芯片检测部的作用下进行逐个检测，并根据检测后的芯片，使被检测的芯片能够分开转移放置。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下。由语句“包括一个......限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素”。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种芯片自动测试装置，包括支撑座(1)，支撑座(1)的侧面固定有多个支撑腿(2)，其特征在于：所述支撑座(1)中转动设置有转动台(3)，所述转动台(3)通过驱动机构驱动其在支撑座(1)上步进转动；

所述转动台(3)的表面开设有等距分布的芯片槽(31)；

所述支撑座(1)的侧面安装有芯片检测部用于芯片的逐个检测；而在支撑座(1)的侧面还设置有芯片转移组件，且芯片转移组件具有双向转动性用于芯片检测后的分类转移。

2.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述支撑座(1)的顶面开设有支撑槽口(101)，支撑槽口(101)的内底面设置有轨道槽(1011)，所述转动台(3)呈环形结构并滑动设置在轨道槽(1011)中。

3.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述驱动机构包括设置在驱动电机(5)，驱动电机(5)的轴端连接有轴杆(6)，轴杆(6)的端部连接有连接盘(7)，连接盘(7)的侧面与转动台(3)的内壁之间连接有连接杆(8)。

4.根据权利要求3所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述驱动电机(5)设置在整个装置的中心处，且驱动电机(5)的底面安装有加固板(4)用于固定在地面。

5.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述芯片检测部包括固定在支撑座(1)外侧面上的L型结构的支撑架(9)，支撑架(9)的顶面安装有第一电动推杆(10)，第一电动推杆(10)的推杆端设置有测试探针(11)。

6.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试装置，其特征在于：所述芯片转移组件包括安装在支撑座(1)外侧面上的固定板(12)，固定板(12)的侧面安装有安装板(15)，安装板(15)上安装有转动电机(13)，转动电机(13)的轴端连接有连板(16)，连板(16)的侧面连接有架设在支撑座(1)上部的工装板(14)，工装板(14)上设置有第二电动推杆(17)，第二电动推杆(17)的推杆端连接有真空吸盘(18)。

Images