CN219201502U - 一种芯片设计用试验检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片试验技术领域，且公开了一种芯片设计用试验检测设备，包括底板和U形板，所述U形板固定连接于底板的上表面，所述所述底板的上表面固定连接有检测台，所述检测台的上表面开设有检测放置槽，所述U形板的内部设置有气缸，所述气缸的输出端固定连接有连接板，所述连接板的下表面固定连接有第一伸缩杆，所述第一伸缩杆的另一端固定连接有连接块，所述连接块的底部固定连接有检测板，所述第一伸缩杆的杆壁活动套接有第一弹簧，所述第一弹簧的两端分别于连接板以及连接块的侧壁固定连接。本实用新型能够将芯片从检测放置槽的内部自动取出，便于更换芯片进行检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片试验技术领域，尤其涉及一种芯片设计用试验检测设备。
背景技术
芯片又称集成电路，在芯片的生产设计过程中，为了保证芯片的生产质量通常会对芯片进行检测，检测时，需要将芯片放置于检测放置槽的内部，通过气缸驱动检测板向下运动并与芯片接触，从而实现检测，在检测完成后，需要工作人员手动将芯片从检测放置槽的内部取出，取出过程较为繁琐，具有一定地局限性。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中不便于将芯片从检测放置槽的内部取出的问题，而提出的一种芯片设计用试验检测设备。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种芯片设计用试验检测设备，包括底板和U形板，所述U形板固定连接于底板的上表面，所述底板的上表面固定连接有检测台，所述检测台的上表面开设有检测放置槽，所述U形板的内部设置有气缸，所述气缸的输出端固定连接有连接板，所述连接板的下表面固定连接有第一伸缩杆，所述第一伸缩杆的另一端固定连接有连接块，所述连接块的底部固定连接有检测板，所述第一伸缩杆的杆壁活动套接有第一弹簧，所述第一弹簧的两端分别于连接板以及连接块的侧壁固定连接，所述连接板的下表面远离第一伸缩杆的一侧设置有取料机构，所述U形板的内设置有驱动机构，所述驱动机构与气缸传动连接。
优选的，所述取料机构包括安装板、波纹管、吸盘和抽气管，所述安装板的内部开设有通孔，所述波纹管和吸盘对称固定套接于通孔的内部，所述抽气管固定套接于连接板的内部且位于连接板下方的一端与波纹管固定连接，所述连接板的上表面设置有限位机构且通过限位机构与连接板传动连接。
优选的，所述驱动机构包括电机、滑块、固定板和丝杆，所述电机固定连接于U形板的一侧外壁，所述丝杆转动连接于U形板的内部且一端贯穿U形板并与电机的输出端固定连接，所述滑块螺纹套接于丝杆的杆壁且与固定板固定连接，所述气缸固定连接于固定板的下表面。
优选的，所述限位机构包括两个第二伸缩杆和两个第二弹簧，两个所述第二伸缩杆对称固定连接于安装板的上表面且另一端均与连接板固定连接，两个所述第二弹簧分别与对应的第二伸缩杆的杆壁活动套接，两个所述第二弹簧的两端分别与安装板和连接板固定连接。
优选的，所述滑块上表面固定连接有限位块，所述U形板的顶部下表面开设有限位槽，两个所述限位块分别滑动设置于对应的限位槽的内部。
优选的，所述底板的两侧均固定连接有固定块。
与现有技术相比，本实用新型提供了一种芯片设计用试验检测设备，具备以下有益效果：
该芯片设计用试验检测设备，通过设置的吸盘和抽气管，能够在通过抽气管抽气时使吸盘内部处于负压状态，从而能够在吸盘与芯片接触时能够对芯片进行吸附，进而能够在气缸带动吸盘向上运动的过程中将芯片自动取出。
该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本实用新型能够将芯片从检测放置槽的内部自动取出，便于更换芯片进行检测。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种芯片设计用试验检测设备的结构示意图；
图2为图1中局部A部分的结构放大图；
图3为图1中局部B部分的结构放大图。
图中：1底板、2U形板、3检测台、4气缸、5连接板、6第一伸缩杆、7连接块、8检测板、9第一弹簧、10安装板、11波纹管、12吸盘、13抽气管、14电机、15固定块、16滑块、17固定板、18丝杆、19第二伸缩杆、20第二弹簧、21限位块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
实施例一
参照图1-3，一种芯片设计用试验检测设备，包括底板1和U形板2，U形板2固定连接于底板1的上表面，底板1的上表面固定连接有检测台3，检测台3的上表面开设有检测放置槽，U形板2的内部设置有气缸4，气缸4的输出端固定连接有连接板5，连接板5的下表面固定连接有第一伸缩杆6，第一伸缩杆6的另一端固定连接有连接块7，连接块7的底部固定连接有检测板8，第一伸缩杆6的杆壁活动套接有第一弹簧9，第一弹簧9的两端分别于连接板5以及连接块7的侧壁固定连接，连接板5的下表面远离第一伸缩杆6的一侧设置有取料机构，U形板2的内设置有驱动机构，驱动机构与气缸4传动连接。
参照图1和图3，取料机构包括安装板10、波纹管11、吸盘12和抽气管13，安装板10的内部开设有通孔，波纹管11和吸盘12对称固定套接于通孔的内部，抽气管13固定套接于连接板5的内部且位于连接板5下方的一端与波纹管11固定连接，利用设置的取料机构，能够在吸盘12与芯片的表面接触后利用抽气管13将吸盘12的内部形成负压，从而能够将芯片取出，无需工作人员手动操作，有效降低了更换芯片过程的复杂程度。
参照图1，驱动机构包括电机14、滑块16、固定板17和丝杆18，电机14固定连接于U形板2的一侧外壁，丝杆18转动连接于U形板2的内部且一端贯穿U形板2并与电机14的输出端固定连接，滑块16螺纹套接于丝杆18的杆壁且与固定板17固定连接，气缸4固定连接于固定板17的下表面，利用设置的驱动机构，能够在驱动机构工作的过程中驱动气缸4左、右移动，从而能够实现对检测板8以及吸盘12的位置调节，便于进行检测以及将芯片从检测放置槽的内部吸出。
实施例二
在实施例一的基础上，参照图3，连接板5的上表面设置有限位机构且通过限位机构与连接板5传动连接，限位机构包括两个第二伸缩杆19和两个第二弹簧20，两个第二伸缩杆19对称固定连接于安装板10的上表面且另一端均与连接板5固定连接，两个第二弹簧20分别与对应的第二伸缩杆19的杆壁活动套接，两个第二弹簧20的两端分别与安装板10和连接板5固定连接，利用设置的限位机构，能够使波纹管11始终保持垂直状态，避免安装板10和吸盘12摆动。
实施例三
在实施例一的基础上，参照图1，滑块16上表面固定连接有限位块21，U形板2的顶部下表面开设有限位槽，两个限位块21分别滑动设置于对应的限位槽的内部，利用设置的限位块21，通过限位块21与限位槽之间的滑动连接能够实现对滑块16的限位，避免丝杆18转动的过程中驱动滑块16转动。
实施例四
在实施例一的基础上，参照图1，底板1的两侧均固定连接有固定块15，利用设置的固定块15，能够便于对整个装置固定安装，从而保证整个装置的稳定。
本实用新型中，使用时，启动电机14，电机14的输出端带动丝杆18转动，丝杆18转动的过程中通过限位块21与限位槽之间的滑动连接能够实现对滑块16的位置调节，滑块16运动的过程中能够带动固定板17运动，固定板17运动的过程中能够驱动气缸4运动，气缸4运动的过程中能够驱动连接板5运动，当检测板8移动至检测放置槽的正上方时，启动气缸4，气缸4的输出端能够带动连接板5向下运动，从而能够使检测板8与检测放置槽中的芯片贴合，以便于对芯片进行检测，在检测完成后，利用驱动机构将吸盘12移动至芯片的正上方，通过气缸4控制吸盘12的高度，当吸盘12与芯片贴合后，吸盘12内部在抽气管13的作用下形成负压，从而能够实现对芯片的吸附，以便于将芯片取出更换。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种芯片设计用试验检测设备，包括底板(1)和U形板(2)，其特征在于，所述U形板(2)固定连接于底板(1)的上表面，所述底板(1)的上表面固定连接有检测台(3)，所述检测台(3)的上表面开设有检测放置槽，所述U形板(2)的内部设置有气缸(4)，所述气缸(4)的输出端固定连接有连接板(5)，所述连接板(5)的下表面固定连接有第一伸缩杆(6)，所述第一伸缩杆(6)的另一端固定连接有连接块(7)，所述连接块(7)的底部固定连接有检测板(8)，所述第一伸缩杆(6)的杆壁活动套接有第一弹簧(9)，所述第一弹簧(9)的两端分别于连接板(5)以及连接块(7)的侧壁固定连接，所述连接板(5)的下表面远离第一伸缩杆(6)的一侧设置有取料机构，所述U形板(2)的内设置有驱动机构，所述驱动机构与气缸(4)传动连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片设计用试验检测设备，其特征在于，所述取料机构包括安装板(10)、波纹管(11)、吸盘(12)和抽气管(13)，所述安装板(10)的内部开设有通孔，所述波纹管(11)和吸盘(12)对称固定套接于通孔的内部，所述抽气管(13)固定套接于连接板(5)的内部且位于连接板(5)下方的一端与波纹管(11)固定连接，所述连接板(5)的上表面设置有限位机构且通过限位机构与连接板(5)传动连接。
3.根据权利要求1所述的一种芯片设计用试验检测设备，其特征在于，所述驱动机构包括电机(14)、滑块(16)、固定板(17)和丝杆(18)，所述电机(14)固定连接于U形板(2)的一侧外壁，所述丝杆(18)转动连接于U形板(2)的内部且一端贯穿U形板(2)并与电机(14)的输出端固定连接，所述滑块(16)螺纹套接于丝杆(18)的杆壁且与固定板(17)固定连接，所述气缸(4)固定连接于固定板(17)的下表面。
4.根据权利要求2所述的一种芯片设计用试验检测设备，其特征在于，所述限位机构包括两个第二伸缩杆(19)和两个第二弹簧(20)，两个所述第二伸缩杆(19)对称固定连接于安装板(10)的上表面且另一端均与连接板(5)固定连接，两个所述第二弹簧(20)分别与对应的第二伸缩杆(19)的杆壁活动套接，两个所述第二弹簧(20)的两端分别与安装板(10)和连接板(5)固定连接。
5.根据权利要求3所述的一种芯片设计用试验检测设备，其特征在于，所述滑块(16)上表面固定连接有限位块(21)，所述U形板(2)的顶部下表面开设有限位槽，两个所述限位块(21)分别滑动设置于对应的限位槽的内部。
6.根据权利要求1所述的一种芯片设计用试验检测设备，其特征在于，所述底板(1)的两侧均固定连接有固定块(15)。
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| CN219201502U true CN219201502U (zh) | 2023-06-16 |
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2022
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