CN219065649U - 一种电感器综合性能测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电感器综合性能测试装置，包括导轨、行走机构、底座和多个电感器测试仪，多个所述电感器测试仪间隔设置于所述底座上，所述电感器测试仪的顶部设置有多个可上下升降的金属顶针，所述导轨设置于多个所述电感器测试仪的上方，所述行走机构可位移地设置于所述导轨上，所述行走机构的顶面设置有用于电感器定位的定位槽，所述定位槽的底面设置有多个对应所述电感器引脚的引脚孔，所述行走机构的底面设置有多个金属焊盘，多个所述金属焊盘与多个所述引脚孔一一对应电连接，多个所述金属顶针的位置与多个所述金属焊盘的位置一一对应。本技术方案用于解决现有电感器测试装置存在引脚磨损或偏折的问题。
Description
技术领域
本实用新型属于电感器生产装置技术领域，具体涉及一种电感器综合性能测试装置。
背景技术
电感器刚出产时，一些不良品没有经过恶劣环境长时间的考验，外施其额定电压和频率的电源作试验，绕组匝间、层间和段间的电压不足以达到电介质缺陷处的击穿电压，造成这些绝缘缺陷处的放电和击穿，故需要对电感器进行高压测试，检测其耐高压能力，同时也对电感器的电感、电阻等电性能进行测试。
由于测试的项目较多，现有的电感器生产后需要经过多道测试，每次测试均需要对引脚进行插拔，在测试的过程容易造成电感器的引脚出现磨损或偏折的问题，进而影响后续的检测结果和实际使用效果。
实用新型内容
针对上述存在的技术问题，本实用新型提供了一种电感器综合性能测试装置，以解决现有电感器测试装置存在引脚磨损或偏折的问题，该电感器综合性能测试装置能够避免对于电感器引脚的损伤，提高测试准确性。
本实用新型提供了一种电感器综合性能测试装置，包括导轨、行走机构、底座和多个电感器测试仪，多个所述电感器测试仪间隔设置于所述底座上，所述电感器测试仪的顶部设置有多个可上下升降的金属顶针，所述导轨设置于多个所述电感器测试仪的上方，所述行走机构可位移地设置于所述导轨上，所述行走机构的顶面设置有用于电感器定位的定位槽，所述定位槽的底面设置有多个对应所述电感器引脚的引脚孔，所述行走机构的底面设置有多个金属焊盘，多个所述金属焊盘与多个所述引脚孔一一对应电连接，多个所述金属顶针的位置与多个所述金属焊盘的位置一一对应，当所述行走机构移动至所述电感器测试仪的上方时，多个所述金属顶针上升并一一对应地抵触多个所述金属焊盘。
进一步的，所述引脚孔包括漏斗部和圆柱部，所述漏斗部位于所述圆柱部的上方。
进一步的，所述引脚孔的数量为4个，对应的，单个所述电感器测试仪上的金属顶针的数量为4个。
本电感器综合性能测试装置在进行电感器的性能测试时，可将电感器插入于所述行走机构的定位槽中，使所述电感器的多个引脚插入多个引脚孔中，并通过多个所述金属焊盘进行电性引出，再通过所述行走机构在所述导轨上的移动在不同的电感器测试仪的上方转换，通过上升的金属顶针与所述金属焊盘接触以实现电感器测试，在多道测试的过程中，不需要电感器进行重复插拔，同时，金属顶针也不直接与引脚接触，可以避免对于引脚的损伤，提高测试准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种电感器综合性能测试装置的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型公开了一种电感器综合性能测试装置，该电感器综合性能测试装置能够避免对于电感器引脚的损伤，提高测试准确性。
下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
参见图1所示，本实用新型公开了一种电感器综合性能测试装置，包括导轨9、行走机构10、底座8和多个电感器测试仪7，多个所述电感器测试仪7间隔设置于所述底座8上，所述电感器测试仪7的顶部设置有多个可上下升降的金属顶针4，所述导轨9设置于多个所述电感器测试仪7的上方，所述行走机构10可位移地设置于所述导轨9上，所述行走机构10的顶面设置有用于电感器定位的定位槽6，所述定位槽6的底面设置有多个对应所述电感器引脚的引脚孔5，所述行走机构10的底面设置有多个金属焊盘3，多个所述金属焊盘3与多个所述引脚孔5一一对应电连接，多个所述金属顶针4的位置与多个所述金属焊盘3的位置一一对应，当所述行走机构10移动至所述电感器测试仪7的上方时，多个所述金属顶针4上升并一一对应地抵触多个所述金属焊盘3。
所述引脚孔5包括漏斗部1和圆柱部2，所述漏斗部1位于所述圆柱部2的上方。
所述引脚孔5的数量为4个，对应的，单个所述电感器测试仪7上的金属顶针4的数量为4个。
本电感器综合性能测试装置在进行电感器的性能测试时，可将电感器插入于所述行走机构10的定位槽6中，使所述电感器的多个引脚插入多个引脚孔5中，并通过多个所述金属焊盘3进行电性引出，再通过所述行走机构10在所述导轨9上的移动在不同的电感器测试仪7的上方转换，通过上升的金属顶针4与所述金属焊盘3接触以实现电感器测试，在多道测试的过程中，不需要电感器进行重复插拔，同时，金属顶针4也不直接与引脚接触，可以避免对于引脚的损伤，提高测试准确性。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
Claims (3)
1.一种电感器综合性能测试装置，其特征在于，包括导轨、行走机构、底座和多个电感器测试仪，多个所述电感器测试仪间隔设置于所述底座上，所述电感器测试仪的顶部设置有多个可上下升降的金属顶针，所述导轨设置于多个所述电感器测试仪的上方，所述行走机构可位移地设置于所述导轨上，所述行走机构的顶面设置有用于电感器定位的定位槽，所述定位槽的底面设置有多个对应所述电感器引脚的引脚孔，所述行走机构的底面设置有多个金属焊盘，多个所述金属焊盘与多个所述引脚孔一一对应电连接，多个所述金属顶针的位置与多个所述金属焊盘的位置一一对应，当所述行走机构移动至所述电感器测试仪的上方时，多个所述金属顶针上升并一一对应地抵触多个所述金属焊盘。
2.根据权利要求1所述的一种电感器综合性能测试装置，其特征在于，所述引脚孔包括漏斗部和圆柱部，所述漏斗部位于所述圆柱部的上方。
3.根据权利要求1所述的一种电感器综合性能测试装置，其特征在于，所述引脚孔的数量为4个，对应的，单个所述电感器测试仪上的金属顶针的数量为4个。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202223119114.7U CN219065649U (zh) | 2022-11-23 | 2022-11-23 | 一种电感器综合性能测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202223119114.7U CN219065649U (zh) | 2022-11-23 | 2022-11-23 | 一种电感器综合性能测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN219065649U true CN219065649U (zh) | 2023-05-23 |
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Family Applications (1)
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| CN202223119114.7U Active CN219065649U (zh) | 2022-11-23 | 2022-11-23 | 一种电感器综合性能测试装置 |
Country Status (1)
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2022
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