CN218824565U - 一种芯片测试用多工位测试板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片测试用多工位测试板，包括底座，底座上侧开设有凹槽，凹槽内部通过转轴旋转安装有测试座，测试座上侧设有滑槽和螺杆，螺杆上通过滑块螺纹滑动安装有测试板，且测试板内中部开设有测试接孔，且滑槽、螺杆和测试板设置有多组，底座上侧中部安装有立架，立架内顶部通过气缸安装有测试笔，转轴下端通过齿轮组传动连接有电机，本实用新型由于测试板通过滑块和螺杆滑动设置在测试座的滑槽内，且滑槽、螺杆和测试板设置有多组，测试座的转轴下端通过齿轮组传动连接有电机，使得通过电机和齿轮组能够驱动测试座水平旋转调节，从而能够切换不同的测试板进行测试使用处理，上下料交替设置测试，极大提高了芯片测试的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，具体是一种芯片测试用多工位测试板。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。集成电路芯片包括硅基板、电路、固定封环、接地环混合至少一组防护环的电子元件。集成电路芯片在加工完成后需要进行相关的测试处理，进行判断出所测试的集成电路芯片的好坏。
现有技术中申请号为CN201920840072.5的一种多工位PCBA板测试台，其解决了原有多工位PCBA板测试台不便调节、稳定性较差的问题，该实用新型结构合理，稳固效果好，调节便利，但是，不便于对测试座旋转调节，从而不便于切换不同的测试板进行测试使用处理，不利于上下料交替设置测试，从而影响芯片测试的效率。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种芯片测试用多工位测试板，以解决现有技术中不便于对测试座旋转调节，从而不便于切换不同的测试板进行测试使用处理，不利于上下料交替设置测试，从而影响芯片测试的效率的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试用多工位测试板，包括底座，所述底座上侧中部开设有凹槽，所述凹槽内部通过转轴旋转安装有测试座，所述测试座上侧开设有滑槽，所述滑槽内旋转安装有螺杆，所述螺杆上通过滑块螺纹滑动安装有测试板，且测试板内中部开设有测试接孔，且滑槽、螺杆和测试板设置有多组，所述底座上侧中部安装有立架，所述立架内顶部通过气缸安装有测试笔，所述转轴下端通过齿轮组传动连接有电机。
进一步的，所述立架设置成U型支架，所述立架外侧安装有PLC控制柜。
进一步的，所述底座一侧安装有上料台，所述底座的另一侧安装有下料台。
进一步的，所述滑槽设置成矩形槽，且滑块两端与滑槽滑动连接。
进一步的，所述螺杆一端贯穿测试座外壁设置，且螺杆一端安装有调节旋钮。
进一步的，所述齿轮组包括设置在转轴下端的从动齿轮，所述电机一端传动连接有主动齿轮，且从动齿轮和主动齿轮啮合连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型由于测试板通过滑块和螺杆滑动设置在测试座的滑槽内，且滑槽、螺杆和测试板设置有多组，测试座的转轴下端通过齿轮组传动连接有电机，使得通过电机和齿轮组能够驱动测试座水平旋转调节，从而能够切换不同的测试板进行测试使用处理，上下料交替设置测试，极大提高了芯片测试的效率。
2、本实用新型通过滑槽设置成矩形槽，且滑块两端与滑槽滑动连接，螺杆一端贯穿测试座外壁设置，且螺杆一端安装有调节旋钮，使得通过旋转螺杆，从而能够对测试板移动调节处理，从而便于调节插设在测试接孔内芯片的测试位置，有利于提高测试的效率。
3、本实用新型通过底座上侧中部安装有立架，立架内顶部通过气缸安装有测试笔，通过气缸驱动测试笔下移与芯片接触，便于对芯片上部进行测试处理，操作方便快捷，使用安全性较高。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：
图1为本实用新型的整体结构俯视图；
图2为本实用新型的底座结构左视图；
图3为本实用新型的测试座结构俯视图；
图4为本实用新型的测试板结构示意图。
图中：1、底座；2、凹槽；3、测试座；4、滑槽；5、测试板；6、螺杆；7、上料台；8、下料台；9、立架；10、测试接孔；11、PLC控制柜；12、转轴；13、从动齿轮；14、主动齿轮；15、电机；16、气缸；17、测试笔；18、滑块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1，图2，图3，图4，本实用新型实施例中，一种芯片测试用多工位测试板，包括底座1，底座1上侧中部开设有凹槽2，凹槽2内部通过转轴12旋转安装有测试座3，测试座3上侧开设有滑槽4，滑槽4内旋转安装有螺杆6，螺杆6上通过滑块18螺纹滑动安装有测试板5，且测试板5内中部开设有测试接孔10，且滑槽4、螺杆6和测试板5设置有多组，便于设置组检测工位，有利于提高芯片测试的效率，底座1上侧中部安装有立架9，立架9内顶部通过气缸16安装有测试笔17，通过气缸16驱动测试笔17下移与芯片接触，便于对芯片上部进行测试处理，操作方便快捷，使用安全性较高，转轴12下端通过齿轮组传动连接有电机15，使得通过电机15和齿轮组能够驱动测试座3水平旋转调节，从而能够切换不同的测试板5进行测试使用处理。
优选的，立架9设置成U型支架，用于对底座1上部进行稳固支撑处理，立架9外侧安装有PLC控制柜11，且各设备的控制端均与PLC控制柜11电性连接，便于进行整体操控。
优选的，底座1一侧安装有上料台7，底座1的另一侧安装有下料台8，便于通过上下料台交替设置，极大提高了芯片测试的效率。
优选的，滑槽4设置成矩形槽，且滑块18两端与滑槽4滑动连接，使得便于将测试板5一侧滑动卡设在滑槽4内。
优选的，螺杆6一端贯穿测试座3外壁设置，且螺杆6一端安装有调节旋钮，使得通过旋转螺杆6，从而能够对测试板5移动调节处理，从而便于调节插设在测试接孔10内芯片的测试位置，有利于提高测试的效率。
优选的，齿轮组包括设置在转轴12下端的从动齿轮13，电机15一端传动连接有主动齿轮14，且从动齿轮13和主动齿轮14啮合连接，使得便于通过电机15驱动测试座3水平旋转，从而能够切换不同的测试板5进行连续测试加工处理。
本实用新型的工作原理及使用流程：由于测试板5通过滑块18和螺杆6滑动设置在测试座3的滑槽4内，且滑槽4、螺杆6和测试板5设置有多组，测试座3的转轴12下端通过齿轮组传动连接有电机15，使得通过电机15和齿轮组能够驱动测试座3水平旋转调节，从而能够切换不同的测试板5进行测试使用处理，而且上下料台交替设置，极大提高了芯片测试的效率。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种芯片测试用多工位测试板，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上侧中部开设有凹槽(2)，所述凹槽(2)内部通过转轴(12)旋转安装有测试座(3)，所述测试座(3)上侧开设有滑槽(4)，所述滑槽(4)内旋转安装有螺杆(6)，所述螺杆(6)上通过滑块(18)螺纹滑动安装有测试板(5)，且测试板(5)内中部开设有测试接孔(10)，且滑槽(4)、螺杆(6)和测试板(5)设置有多组，所述底座(1)上侧中部安装有立架(9)，所述立架(9)内顶部通过气缸(16)安装有测试笔(17)，所述转轴(12)下端通过齿轮组传动连接有电机(15)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用多工位测试板，其特征在于：所述立架(9)设置成U型支架，所述立架(9)外侧安装有PLC控制柜(11)。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试用多工位测试板，其特征在于：所述底座(1)一侧安装有上料台(7)，所述底座(1)的另一侧安装有下料台(8)。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试用多工位测试板，其特征在于：所述滑槽(4)设置成矩形槽，且滑块(18)两端与滑槽(4)滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试用多工位测试板，其特征在于：所述螺杆(6)一端贯穿测试座(3)外壁设置，且螺杆(6)一端安装有调节旋钮。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试用多工位测试板，其特征在于：所述齿轮组包括设置在转轴(12)下端的从动齿轮(13)，所述电机(15)一端传动连接有主动齿轮(14)，且从动齿轮(13)和主动齿轮(14)啮合连接。
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| CN (1) | CN218824565U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116148640A (zh) * | 2023-04-19 | 2023-05-23 | 深圳市华芯邦科技有限公司 | 一种集成电路测试设备 |
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2022
- 2022-08-29 CN CN202222272214.7U patent/CN218824565U/zh active Active
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