CN218675200U - 一种芯片检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种芯片检测装置，属于芯片检测技术领域。所述芯片检测装置包括工作台，所述工作台上方平行设置有装载芯片本体的芯片载台，并且所述芯片载台远离所述芯片本体的一面安装有伺服旋转电机，通过所述伺服旋转电机带动所述芯片载台以及所述芯片载台上装载的芯片本体转动；所述芯片载台上方设置有多组引脚检测机构，所述引脚检测机构能够沿竖直方向来回移动，从而检测芯片本体四边引脚是否在同一水平面。该芯片检测装置通过三组引脚检测机构同时检测芯片三个侧面的引脚，从而同时检测四个侧面的引脚，同时该芯片检测装置既能够检测对称两侧引脚芯片的水平度，又能够检测四边引脚芯片的水平度，大大提高了该芯片检测装置的使用范围。

Description

一种芯片检测装置

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，特别涉及一种芯片检测装置。

背景技术

芯片在生产完成后不光需要对其性能进行检测，还需要对其外观尺寸进行检测，其中芯片的引脚由于其数量多且需要保证所有的引脚都在同一水平面才能够方面后续焊接。

现有的芯片引脚水平度检测装置只能够对芯片对称两侧的引脚进行检测，当四边均有引脚的芯片进行检测时需要进行两次水平度检测，并且由于其是两两检测，所以只能检测出对称两侧的引脚水平度，无法检测相邻两直角边上引脚的在同一水平面上。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测装置，以解决现有芯片引脚水平度检测装置只能检测出对称两侧的引脚水平度，无法检测相邻两直角边上引脚的在同一水平面上的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种芯片检测装置，包括工作台，所述工作台上方平行设置有芯片载台，

所述芯片载台上装载芯片本体，并且所述芯片载台远离所述芯片本体的一面安装有伺服旋转电机，通过所述伺服旋转电机带动所述芯片载台以及所述芯片载台上装载的芯片本体转动；

所述芯片载台上方设置有多组引脚检测机构，所述引脚检测机构能够沿竖直方向来回移动，从而检测芯片本体四边引脚是否在同一水平面。

优选的，所述引脚检测机构包括水平尺、滑块和滑轨，所述水平尺沿水平方向延伸，所述滑块带动所述水平尺沿所述滑轨来回移动。

优选的，所述滑轨沿竖直方向延伸，且所述滑轨底部位于所述芯片载台以下，使得所述滑块能够带动所述水平尺与所述芯片载台上装载的芯片本体的引脚接触。

优选的，所述水平尺通过连接块与所述滑块连接，所述连接块固定连接于所述水平尺的中心。

优选的，所述工作台上设置有围挡，所述围挡包围所述工作台除上料位的其余面。

优选的，所述引脚检测机构设置有三组，相邻两组所述引脚检测机构之间的夹角为90度。

优选的，所述伺服旋转电机固定安装于所述工作台远离所述芯片载台的一面，且所述伺服旋转电机的旋转轴穿过所述工作台与所述芯片载台连接。

优选的，所述芯片载台中心开设有定位槽，用于定位装载所述芯片本体。

优选的，所述工作台四角均设置有支腿，用于支撑所述工作台。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.该芯片检测装置通过三组引脚检测机构同时检测芯片三个侧面的引脚，从而同时检测四个侧面的引脚；

2.该芯片检测装置既能够检测对称两侧引脚芯片的水平度，又能够检测四边引脚芯片的水平度，大大提高了该芯片检测装置的使用范围。

附图说明

图1是本实用新型提供的一种芯片检测装置的结构示意图；

图2是本实用新型提供的一种芯片检测装置检测时的结构示意图；

图3是本实用新型提供的一种芯片检测装置的局部放大示意图；

图4是本实用新型提供的一种芯片检测装置的正视图。

图中：1、工作台；2、芯片载台；3、伺服旋转电机；4、引脚检测机构；5、围挡；6、支腿；100、芯片本体；401、水平尺；402、滑块；403、滑轨。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型作出的进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

本实用新型提供了一种芯片检测装置，请参阅图1和图2，包括工作台1，所述工作台1上方平行设置有芯片载台2，所述芯片载台2上装载芯片本体100，并且所述芯片载台2远离所述芯片本体100的一面安装有伺服旋转电机3，通过所述伺服旋转电机3带动所述芯片载台2以及所述芯片载台2上装载的芯片本体100转动；所述芯片载台2上方设置有多组引脚检测机构4，所述引脚检测机构4能够沿竖直方向来回移动，从而检测芯片本体100四边引脚是否在同一水平面。

检测时，首先将芯片本体100放置于所述芯片载台2上，接着同时下降三组所述引脚检测机构4，检测芯片三个侧面的引脚的水平度，接着上升三组所述引脚检测机构4，同时将所述芯片载台2连同装载在其上的芯片本体100转动90度，再次下降三组所述引脚检测机构4，对未检测侧面的引脚与其相邻两侧的引脚进行水平对对比，从而完成四个侧边引脚水平度的检测。

具体的，如图3所示，所述引脚检测机构4包括水平尺401、滑块402和滑轨403，所述水平尺401沿水平方向延伸，所述滑块402带动所述水平尺401沿所述滑轨403来回移动。

所述滑轨403沿竖直方向延伸，且所述滑轨403底部位于所述芯片载台2以下，使得所述滑块402能够带动所述水平尺401与所述芯片载台2上装载的芯片本体100的引脚接触。

进一步的，所述水平尺401通过连接块与所述滑块402连接，所述连接块4固定连接于所述水平尺401的中心。

具体的，请参阅图1和图4，所述工作台1上设置有围挡5，所述围挡5包围所述工作台1除上料位的其余面，避免杂物或灰尘落入所述芯片载台2污染待检测的芯片。

具体的，所述引脚检测机构4设置有三组，相邻两组所述引脚检测机构4之间的夹角为90度，使得所述引脚检测机构4能够同时检测三边的引脚。

具体的，所述伺服旋转电机3固定安装于所述工作台1远离所述芯片载台2的一面，且所述伺服旋转电机3的旋转轴穿过所述工作台1与所述芯片载台2连接，从而带动所述芯片载台2以及所述芯片载台2上装载的芯片本体100转动。

具体的，所述芯片载台2中心开设有定位槽，用于定位装载所述芯片本体100，使得所述芯片本体100的中心永远在所述芯片载台2的中心，保证检测的稳定性。

具体的，所述工作台1四角均设置有支腿6，用于支撑所述工作台1，使得所述伺服旋转电机3能够有空间安装于所述工作台1下方。

上述描述仅是对本实用新型较佳实施例的描述，并非对本实用新型范围的任何限定，本实用新型领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。

Claims (6)

1.一种芯片检测装置，其特征在于，包括工作台(1)，所述工作台(1)上方平行设置有芯片载台(2)，

所述芯片载台(2)上装载芯片本体(100)，并且所述芯片载台(2)远离所述芯片本体(100)的一面安装有伺服旋转电机(3)，通过所述伺服旋转电机(3)带动所述芯片载台(2)以及所述芯片载台(2)上装载的芯片本体(100)转动；

所述芯片载台(2)上方设置有三组引脚检测机构(4)，相邻两组所述引脚检测机构(4)之间的夹角为90度，所述引脚检测机构(4)能够沿竖直方向来回移动，从而检测芯片本体(100)四边引脚是否在同一水平面；

所述引脚检测机构(4)包括水平尺(401)、滑块(402)和滑轨(403)，所述水平尺(401)沿水平方向延伸，所述滑块(402)带动所述水平尺(401)沿所述滑轨(403)来回移动；

所述滑轨(403)沿竖直方向延伸，且所述滑轨(403)底部位于所述芯片载台(2)以下，使得所述滑块(402)能够带动所述水平尺(401)与所述芯片载台(2)上装载的芯片本体(100)的引脚接触。

2.如权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述水平尺(401)通过连接块与所述滑块(402)连接，所述连接块固定连接于所述水平尺(401)的中心。

3.如权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述工作台(1)上设置有围挡(5)，所述围挡(5)包围所述工作台(1)除上料位的其余面。

4.如权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述伺服旋转电机(3)固定安装于所述工作台(1)远离所述芯片载台(2)的一面，且所述伺服旋转电机(3)的旋转轴穿过所述工作台(1)与所述芯片载台(2)连接。

5.如权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述芯片载台(2)中心开设有定位槽，用于定位装载所述芯片本体(100)。

6.如权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述工作台(1)四角均设置有支腿(6)，用于支撑所述工作台(1)。

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