CN218630094U - 电路板批量测试电路及电路板批量测试工装 - Google Patents

Abstract

本申请涉及电路板测试技术领域，具体涉及一种电路板批量测试电路及电路板批量测试工装。电路板批量测试电路，包括第一信号转换模块、第二信号转换模块、MCU、第一多路复用器以及第二多路复用器。第一信号转换模块的第一端与第二信号转换模块的第一端电连接；第一信号转换模块的第二端与MCU的第一端电连接；第二信号转换模块的第二端与第一多路复用器的第一端电连接，第二信号转换模块的第三端与第二多路复用器的第一端电连接；MCU的第二端与第一多路复用器的第二端和第二多路复用器的第二端电连接。本申请实现通过多路复用器提供多条测试通道，一条测试通道连接的待测电路板测试完成后，自动切换至下一通道，中途无需测试人员手动切换测试接口。

Description

电路板批量测试电路及电路板批量测试工装

技术领域

本申请涉及电路板测试技术领域，具体涉及一种电路板批量测试电路及电路板批量测试工装。

背景技术

在电路板投入使用之前，为了确保电路板的质量可靠，必须对电路板的功能进行测试。

目前，通过PC机对待测电路板的功能进行测试时，一次只能连接一块待测电路板，工作人员需要在待测电路板测试完成后，手动将测试接口连接到下一块待测电路板。

针对上述相关技术，发明人认为，电路板测试的工作量较大，每测完一块电路板都需要工作人员手动切换至下一块待测电路板，电路板测试工作的效率较低。

发明内容

为了解决目前电路板测试电路进行测试工作时的效率较低的问题，本申请提供一种电路板批量测试电路及电路板批量测试工装。

在本申请的第一方面提供了一种电路板批量测试电路，应用于电路板批量测试工装中，所述电路包括：第一信号转换模块、第二信号转换模块、MCU、第一多路复用器以及第二多路复用器；所述第一信号转换模块的第一端与所述第二信号转换模块的第一端电连接；所述第一信号转换模块的第二端与所述MCU的第一端电连接；所述第二信号转换模块的第二端与所述第一多路复用器的第一端电连接，所述第二信号转换模块的第三端与所述第二多路复用器的第一端电连接；所述MCU的第二端与所述第一多路复用器的第二端电连接，所述MCU的第二端还与所述第二多路复用器的第二端电连接。

通过采用上述技术方案，多路复用器提供多条测试通道，第一信号转换模块接收PC机的开通道信号，并发送至MCU；MCU接收到开通道信号后，根据开通道信号对应的译码地址控制多路复用器对应的通道导通；MCU获取通道开启成功信号，并经第一信号转换模块发送通道开启成功信号至PC机；PC机收到通道开启成功信号后，发送测试信号至第二信号转换模块，第二信号转换模块经第二多路复用器导通的通道发送测试型号至待测试电路板；第一多路复用器获取测试完成信号，并将测试完成信号经导通的通道发送至第二信号转换模块；第二信号转换模块发送测试完成信号至PC机，PC机接收到测试完成信号后，发送下一开通道信号，以完成测试通道的切换，无需测试人员手动切换测试接口，直至完成对全部通道连接的待测电路板的测试，提高测试工作的效率。

可选的，所述第一信号转换模块的第二端用于发送或接收信号，所述MCU的第一端用于发送或接收信号，所述第一信号转换模块的信号发送端与所述MCU的信号发送端通过排针连接器电连接，所述第一信号转换模块的信号接收端与所述MCU的信号接收端通过所述排针连接器电连接。

可选的，所述MCU的第二端包括地址输入端，所述地址输入端用于控制所述第一多路复用器和所述第二多路复用器多条通道的通断。

可选的，所述MCU的第二端还包括使能端，所述使能端用于控制所述第一多路复用器和所述第二多路复用器的工作状态；若所述使能端为高电平，则所述第一多路复用器和所述第二多路复用器处于断路状态；若所述使能端为低电平，则所述第一多路复用器和所述第二多路复用器处于导通状态。

可选的，所述第一信号转换模块用于接收PC机的开通道信号，将所述开通道信号的USB电平转换为TTL电平，并通过所述排针连接器将转换后的所述开通道信号发送至所述MCU；所述MCU用于基于所述转换后的开通道信号，通过所述地址输入端控制所述第一多路复用器的通道导通，并控制所述第二多路复用器的通道导通。

可选的，所述第二信号转换模块用于接收PC机的测试信号，将所述测试信号的USB电平转换为TTL电平，并通过所述第二多路复用器的导通通道将转换后的所述测试信号发送至待测电路板。

可选的，待测电路板测试完成后，所述第一多路复用器用于获取待测电路板的测试完成信号，并通过所述第一多路复用器的导通通道将所述测试完成信号发送至所述第二信号转换模块，所述第二信号转换模块用于将所述测试完成信号的TTL电平转换为USB电平，并将转换后的所述测试完成信号发送至PC机。

在本申请的第二方面提供了一种电路板批量测试工装，包括本申请第一方面任意一项权利要求所述的电路板批量测试电路。

与相关技术相比，本申请的有益效果是：多路复用器提供多条测试通道，第一信号转换模块接收PC机的开通道信号，并发送至MCU；MCU接收到开通道信号后，根据开通道信号对应的译码地址控制多路复用器对应的通道导通；MCU获取通道开启成功信号，并经第一信号转换模块发送通道开启成功信号至PC机；PC机收到通道开启成功信号后，发送测试信号至第二信号转换模块，第二信号转换模块经第二多路复用器导通的通道发送测试型号至待测试电路板；第一多路复用器获取测试完成信号，并将测试完成信号经导通的通道发送至第二信号转换模块；第二信号转换模块发送测试完成信号至PC机，PC机接收到测试完成信号后，发送下一开通道信号，以完成测试通道的切换，无需测试人员手动切换测试接口，直至完成对全部通道连接的待测电路板的测试，提高测试工作的效率。

附图说明

图1是本申请实施例的一种电路板批量测试电路的原理示意图；

图2是本申请实施例的一种电路板批量测试电路的电路原理示意图。

附图标记说明：101、第一信号转换模块；102、第二信号转换模块；103、MCU；104、第一多路复用器；105、第二多路复用器；106、排针连接器。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本说明书中的技术方案，下面将结合本说明书实施例中的附图，对本说明书实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。

本申请实施例提供一种电路板批量测试电路，应用于电路板批量测试工装中。如图1所示，电路板批量测试电路包括第一信号转换模块101、第二信号转换模块102、MCU103、第一多路复用器104以及第二多路复用器105。

第一信号转换模块101的第一端与第二信号转换模块102的第一端电连接；第一信号转换模块101的第二端与MCU103的第一端电连接；第二信号转换模块102的第二端与第一多路复用器104的第一端电连接，第二信号转换模块102的第三端与第二多路复用器105的第一端电连接；MCU103的第二端与第一多路复用器104的第二端电连接，MCU103的第二端还与第二多路复用器105的第二端电连接。

其中，第一信号转换模块101和第二信号转换模块102均为USB转TTL模块，第一多路复用器104和第二多路复用器105可以为16通道模拟多路复用器CD4067；第一信号转换模块101的第一端和第二信号转换模块102的第一端均包括USB接口和VCC端，第一信号转换器和第二信号转换器的USB接口电连接，第一信号转换器和第二信号转换器的VCC端电连接。第二信号转换模块102的第二端为信号接收端RX₂，第一多路复用器104的第一端为公共输入/输出端Z₁；第二信号转换模块102的第三端为信号发送端TX₂，第二多路复用器105的第一端为公共输入/输出端Z₂。

可选的，如图2所示，第一信号转换模块101的第二端用于发送或接收信号，MCU103的第一端用于发送或接收信号，第一信号转换模块101的信号发送端TX₁与MCU103的信号发送端TX通过排针连接器106电连接，第一信号转换模块101的信号接收端RX₁与MCU103的信号接收端RX通过排针连接器106电连接。

需要说明的是，第一信号转换模块101还包括GND端，第一信号转换模块101的GND端与排针连接器106的GND端电连接。

可选的，如图2所示，MCU103的第二端包括地址输入端，地址输入端用于控制第一多路复用器104多条通道和第二多路复用器105多条通道的通断。

其中，MCU103地址输入端包括A0、A1、A2以及A3端口，第一多路复用器104的第二端包括A₁0、A₁1、A₁2以及A₁3端口，第二多路复用器105的第二端包括A₂0、A₂1、A₂2以及A₂3端口；MCU103的A0端口与第一多路复用器104的A₁0端口电连接，还与第二多路复用器105的A₂0端口电连接；MCU103的A1端口与第一多路复用器104的A₁1端口电连接，还与第二多路复用器105的A₂1端口电连接；MCU103的A2端口与第一多路复用器104的A₁2端口电连接，还与第二多路复用器105的A₂2端口电连接；MCU103的A3端口与第一多路复用器104的A₁3端口电连接，还与第二多路复用器105的A₂3端口电连接。

可选的，第一信号转换模块101用于接收PC机的开通道信号，将开通道信号的USB电平转换为TTL电平，并通过排针连接器106将转换后的开通道信号发送至MCU103；MCU103用于基于转换后的开通道信号，通过地址输入端控制第一多路复用器104的通道导通，并控制第二多路复用器105的通道导通。

举例来说，MCU103的A0、A1、A2、A3端口包括16种译码地址，即0000、0001、0010至1111，当MCU103接收到的开通道信号对应的译码地址为0000，则第一多路复用器104的A₁0、A₁1、A₁2、A₁3端口对应的译码地址为0000，第二多路复用器105的A₂0、A₂1、A₂2、A₂3端口对应的译码地址为0000，即第一多路复用器104的C0通道导通，第二多路复用器105的D0通道导通。

第一多路复用器104与第二多路复用器105共同提供16条通道，分别由16种译码地址对应控制每条通道的通断，当第一多路复用器104的C0通道导通时，C1-C15通道关闭；当第二多路复用器105的D0通道导通时，D1-D15通道关闭；第一多路复用器104的C0通道和第二多路复用器105的D0通道共同提供一条待测电路板的测试通道。

在MCU103控制第一多路复用器104打开C0通道，控制第二多路复用器105打开D0通道后，MCU103获取通道开启成功信号，并将通道开启成功信号发送至第一信号转换模块101，第一信号转换模块101将通道开启成功信号的TTL电平转换为USB电平，并将转换后的通道开启成功信号发送至PC机。

可选的，如图2所示，MCU103的第二端还包括使能端A5，用于控制第一多路复用器104和第二多路复用器105的工作状态；若MCU103的使能端为高电平，则第一多路复用器104和第二多路复用器105处于断路状态；若MCU103的使能端为低电平，则第一多路复用器104和第二多路复用器105处于导通状态。

其中，第一多路复用器104的第二端还包括使能端EN₁，第二多路复用器105的第二端还包括使能端EN₂，MCU103的使能端A4与第一多路复用器104的使能端EN₁电连接，还与第一多路复用器104的使能端EN₂电连接。

当MCU103的使能端A5为高电平时，第一多路复用器104的使能端EN₁和第二多路复用器105的使能端EN₂均为高电平，第一多路复用器104和第二多路复用器105的端口均处于断路状态；当MCU103的使能端A5为低电平时，第一多路复用器104的使能端EN₁和第二多路复用器105的使能端EN₂均为低电平，第一多路复用器104的A₁0、A₁1、A₁2、A₁3端口和第二多路复用器105的A₂0、A₂1、A₂2、A₂3端口可接收MCU103输出的译码地址，通过译码地址控制分别C0-C15以及D0-D15通道的通断。

可选的，第二信号转换模块102用于接收PC机的测试信号，将测试信号的USB电平转换为TTL电平，并通过第二多路复用器105的导通通道将转换后的测试信号发送至待测电路板。

PC机接收到通道开启成功信号后，发送测试信号至第二信号转换模块102，第二信号转换模块102将测试信号的USB电平转换为TTL电平，通过第二多路复用器105导通的D0通道，将转换后的测试信号发送至与D0通道连接的待测电路板，完成对待测电路板功能的测试。

可选的，待测电路板测试完成后，第一多路复用器104用于获取待测电路板的测试完成信号，并通过第一多路复用器104的导通通道将测试完成信号发送至第二信号转换模块102，第二信号转换模块102用于将测试完成信号的TTL电平转换为USB电平，并将转换后的测试完成信号发送至PC机。

待测电路板测试完成后，第一多路复用器104获取待测电路板的测试完成信号，通过第一多路复用器104导通的C0通道，将测试完成信号发送至第二信号转换模块102，第二信号转换模块102将测试完成信号的TTL电平转换为USB电平，并将转换后的测试完成信号发送至PC机。

PC机接收到测试完成信号后，发送包括译码地址为0001的开通道指令，以使电路板批量测试电路完成对与第一多路复用器104的C1通道和第二多路复用器105的D1通道组成的测试通道连接的待测电路板的测试。

综上所述，本实施例的实施原理为，第一信号转换模块101接收到PC机的开通道信号后，将开通到信号发送至MCU103；MCU103根据开通道信号对应的译码地址，控制第一多路复用器104和第二多路复用器105对应的通道导通；第一多路复用器104和第二多路复用器105的通道导通后，MCU103获取通道开启成功信号，并将通道开启成功信号发送至第一信号转换模块101；第一信号转换模块101发送通道开启成功信号至PC机；PC机接收到通道开启成功信号后，发送测试信号至第二信号转换模块102，第二信号转换模块102将测试信号经第二多路复用器105导通的通道发送至待测电路板，对待测电路板进行功能测试；待测电路板测试完成后，第一多路复用器104获取测试完成信号，并将测试完成信号经导通的通道发送至第二信号转换模块102；第二信号转换模块102发送测试完成信号至PC机，PC机接收到测试完成信号后，重复上述步骤，直至完成对全部通道连接的待测电路板的测试。

作为一种优选的方案，PC机发送的开通道指令对应的译码地址依次为0000、0001、0010至1010，MCU控制第一多路复用器104的C0-C9通道依次导通，控制第二多路复用器105的D0-D9通道依次导通，批量完成10块待测电路板的测试工作。

本申请实施例还提供一种电路板批量测试工装，包括上述任意一项电路板批量测试电路。

以上所述者，仅为本公开的示例性实施例，不能以此限定本公开的范围。即但凡依本公开教导所作的等效变化与修饰，皆仍属本公开涵盖的范围内。本领域技术人员在考虑说明书及实践真理的公开后，将容易想到本公开的其他实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未记载的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的范围和精神由权利要求限定。

Claims (8)

1.一种电路板批量测试电路，其特征在于，应用于电路板批量测试工装中，所述电路包括：第一信号转换模块（101）、第二信号转换模块（102）、MCU（103）、第一多路复用器（104）以及第二多路复用器（105）；

所述第一信号转换模块（101）的第一端与所述第二信号转换模块（102）的第一端电连接；

所述第一信号转换模块（101）的第二端与所述MCU（103）的第一端电连接；

所述第二信号转换模块（102）的第二端与所述第一多路复用器（104）的第一端电连接，所述第二信号转换模块（102）的第三端与所述第二多路复用器（105）的第一端电连接；

所述MCU（103）的第二端与所述第一多路复用器（104）的第二端电连接，所述MCU（103）的第二端还与所述第二多路复用器（105）的第二端电连接。

2.根据权利要求1所述的电路板批量测试电路，其特征在于，所述第一信号转换模块（101）的第二端用于发送或接收信号，所述MCU（103）的第一端用于发送或接收信号，所述第一信号转换模块（101）的信号发送端与所述MCU（103）的信号发送端通过排针连接器（106）电连接，所述第一信号转换模块（101）的信号接收端与所述MCU（103）的信号接收端通过所述排针连接器（106）电连接。

3.根据权利要求2所述的电路板批量测试电路，其特征在于，所述MCU（103）的第二端包括地址输入端，所述地址输入端用于控制所述第一多路复用器（104）和所述第二多路复用器（105）多条通道的通断。

4.根据权利要求1所述的电路板批量测试电路，其特征在于，所述MCU（103）的第二端还包括使能端，所述使能端用于控制所述第一多路复用器（104）和所述第二多路复用器（105）的工作状态；

若所述使能端为高电平，则所述第一多路复用器（104）和所述第二多路复用器（105）处于断路状态；

若所述使能端为低电平，则所述第一多路复用器（104）和所述第二多路复用器（105）处于导通状态。

5.根据权利要求3所述的电路板批量测试电路，其特征在于，所述第一信号转换模块（101）用于接收PC机的开通道信号，将所述开通道信号的USB电平转换为TTL电平，并通过所述排针连接器（106）将转换后的所述开通道信号发送至所述MCU（103）；所述MCU（103）用于基于所述转换后的开通道信号，通过所述地址输入端控制所述第一多路复用器（104）的通道导通，并控制所述第二多路复用器（105）的通道导通。

6.根据权利要求5所述的电路板批量测试电路，其特征在于，所述第二信号转换模块（102）用于接收PC机的测试信号，将所述测试信号的USB电平转换为TTL电平，并通过所述第二多路复用器（105）的导通通道将转换后的所述测试信号发送至待测电路板。

7.根据权利要求5所述的电路板批量测试电路，其特征在于，待测电路板测试完成后，所述第一多路复用器（104）用于获取待测电路板的测试完成信号，并通过所述第一多路复用器（104）的导通通道将所述测试完成信号发送至所述第二信号转换模块（102），所述第二信号转换模块（102）用于将所述测试完成信号的TTL电平转换为USB电平，并将转换后的所述测试完成信号发送至PC机。

8.一种电路板批量测试工装，其特征在于，包括权利要求1-7中任意一项所述的电路板批量测试电路。

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